專利名稱：一種x-probe測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
X-PROBE測試夾具是指利用X-PROBE探針(見圖1)進(jìn)行線路板測試的ICT夾具。當(dāng)前常規(guī)疊層結(jié)構(gòu)的X-PROBE測試夾具由于針板太厚，鉆孔進(jìn)度無法達(dá)到理想要求，導(dǎo)致ICT夾具探針定位精度不高，探針安裝和更換困難致?lián)p壞探針的現(xiàn)象，嚴(yán)重影響夾具制作品質(zhì)。傳統(tǒng)的X-PROBE測試夾具常規(guī)的板材疊層機(jī)構(gòu)，由針板、間隔板和端子板組成。X-PROBE探針安裝時(shí)，通過針板和間隔板上與其相匹配的過孔(過孔直徑比X-PROBE探針直徑大0. 02-0. 04mm)安裝到X-PROBE端子上，X-PROBE探針的定位精度由針板和間隔板鉆孔的直徑、位置和垂直度決定。鉆孔直徑過大，X-PROBE探針安裝后會發(fā)生傾斜，針尖的定位精度會受到影響，鉆孔直徑過小，則插不進(jìn)去。鉆孔位置偏離，X-PROBE探針安裝的位置也會跟著偏離，定位精度也會受到影響。鉆孔不垂直，X-PROBE探針安裝后也不垂直，針尖偏離正常位置，定位精度同樣受到影響。由此可見，常規(guī)疊層結(jié)構(gòu)的X-PROBE夾具，受鉆孔設(shè)備、工具及工藝等因素的影響非常大，比如受鉆孔刀具刃長的限制，三塊板材需分開鉆孔，各板材鉆孔時(shí)，受定位、板材密度、刀具磨損程度等因素影響，板材的鉆孔品質(zhì)各不相同，其孔在疊加后極易出現(xiàn)錯(cuò)位，上下板孔軸線交叉等現(xiàn)象，制作出來的測試夾具，不僅測試精度不高，而且探針安裝和更換也都非常困難，嚴(yán)重影響了夾具的日常使用和維護(hù)，因此，X-PROBE測試夾具的測試精度不高和難以維護(hù)的問題急待改善。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型為了解決現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，提供了一種X-PROBE測試夾具板材疊
層結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型的上述目的通過以下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)，包括針板、間隔板和端子板，其特征在于所述針板上層設(shè)有上導(dǎo)針板，所述針板和間隔板之間也設(shè)有下導(dǎo)針板。所述針板、下導(dǎo)針板、間隔板、端子板之間均設(shè)有密封墊，所述密封墊的厚度為0. 5mm。以替代原來的密封圈，使夾具氣密封性更好。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)是1、X-PROBE探針不再利用針板和間隔板孔壁定位,改用上導(dǎo)針板和下導(dǎo)針板的孔壁定位，因上導(dǎo)針板和下導(dǎo)針板為較薄的板材(l-5mm)，刀具在鉆孔時(shí)不易讓刀，易于貫穿，鉆出的孔較為垂直，能有效提高X-PROBE探針安裝時(shí)的垂直度；2、將不再用于X-PROBE探針定位的針板、間隔板過孔直徑鉆大，使其孔壁與X-PROBE探針有足夠的間隙，消除了其孔壁與X-PROBE探針7的摩擦力，使X-PROBE探針很容易安裝和更換。使用此實(shí)用新型疊層機(jī)構(gòu)的X-PROBE測試夾具更易于維護(hù)；3、在針板、下導(dǎo)針板、間隔板、端子板之間鋪設(shè)整層的密封墊，相比常規(guī)疊層結(jié)構(gòu)局部放置密封圈的密封效果更好。局部設(shè)置密封圈的常規(guī)疊層結(jié)構(gòu)，板材結(jié)合時(shí)，因受力不均容易導(dǎo)致板材變形，密封效果不佳，改用整層鋪設(shè)的密封墊，解決板材結(jié)合時(shí)產(chǎn)生的變形，板材貼合更平整更緊密，夾具氣密性好。

圖1是X-PROBE探針I(yè)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是X-PROBE端子的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)一步詳述如圖3所示，一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)，包括針板1、間隔板2和端子板3，其特征在于所述針板I上層設(shè)有上導(dǎo)針板4，所述針板I和間隔板2之間也設(shè)有下導(dǎo)針板5。同時(shí)，將上導(dǎo)針板4、下導(dǎo)針板5鉆成與X-PROBE探針7直徑相匹配的孔徑，以控制X-PROBE探針7的精度和垂直度，將針板I和間隔板2的鉆孔直徑加大，使其孔壁與X-PROBE探針7有充分的間隙，以降低孔壁與探針的摩擦力，降低板材錯(cuò)位的機(jī)率，以降低X-PROBE探針7安裝和更換的難度。所述針板1、下導(dǎo)針板5、間隔板2、端子板3之間均設(shè)有密封墊6，以替代原來的密封圈，使夾具氣密封性更好。本實(shí)用新型的實(shí)施步驟如下1、在傳統(tǒng)的X-PROBE測試夾具疊層結(jié)構(gòu)上增加上導(dǎo)針板4、下導(dǎo)針板5、密封墊6，產(chǎn)品總厚度與傳統(tǒng)疊層結(jié)構(gòu)相同，同時(shí)降低針板1、間隔板2的厚度，使板材疊層厚度同常規(guī)疊層結(jié)構(gòu)一樣；2、鉆孔。上導(dǎo)針板4、下導(dǎo)針板5、端子板3按X-PROBE探針7使用手冊指定鉆孔直徑進(jìn)行鉆孔，間隔板2、針板1、密封墊6按X-PROBE探針7使用手冊指定鉆孔直徑的1. 2倍鉆孔；3、在端子板上安裝X-PROBE端子8，與傳統(tǒng)疊層結(jié)構(gòu)夾具的端子安裝方式一樣；4、將密封墊6、間隔板2、下導(dǎo)針板5、針板1、上導(dǎo)針板4通過定位銷釘按圖3順序疊加到一起，并鎖上固定螺絲；5、安裝X-PROBE探針7，與傳統(tǒng)疊層結(jié)構(gòu)夾具X-PROBE探針7安裝方式一樣。但是，上述的具體實(shí)施方式
只是示例性的，是為了更好的使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠理解本專利，不能理解為是對本專利包括范圍的限制；只要是根據(jù)本專利所揭示精神的所作的任何等同變更或修飾，均落入本專利包括的范圍。
權(quán)利要求1.一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)，包括針板、間隔板和端子板，其特征在于所述針板上層設(shè)有上導(dǎo)針板，所述針板和間隔板之間也設(shè)有下導(dǎo)針板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)，其特征在于所述針板、下導(dǎo)針板、間隔板、端子板之間均設(shè)有密封墊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)，其特征在于所述密封墊的厚度為O. 5mm。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種X-PROBE測試夾具板材疊層結(jié)構(gòu)，包括針板、間隔板和端子板，其特征在于所述針板上層設(shè)有上導(dǎo)針板，所述針板和間隔板之間也設(shè)有下導(dǎo)針板。采用本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)，能有效提高X-PROBE探針安裝時(shí)的垂直度；更易于X-PROBE探針的安裝、更換和維護(hù)；夾具氣密性更好；結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理。
文檔編號G01R1/04GK202837346SQ20122053071
公開日2013年3月27日 申請日期2012年10月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月17日
發(fā)明者黃建平, 黃建明, 劉建昌 申請人:蘇州工業(yè)園區(qū)世紀(jì)?？萍加邢薰?br>