專利名稱：電能表芯片測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電表技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電能表芯片測試裝置。
背景技術(shù)：
電表的生產(chǎn)制作已經(jīng)規(guī)模化，批量化，電表芯片作為電表必不可少的物料之一,也要經(jīng)過批量化的生產(chǎn)與制作，而且芯片一般都在出廠之前都需要進行測試以保證質(zhì)量，傳統(tǒng)的芯片測試裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜，價格昂貴，操作麻煩，且傳統(tǒng)的電能表芯片測試裝置還存在不足芯片座與主電路板一體設(shè)置，且芯片座上設(shè)有卡槽，主要通過與卡槽插接來固定芯片，測試過程中插接次數(shù)過多會損壞芯片座,維修麻煩,且維修費用高。

發(fā)明內(nèi)容針對現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)設(shè)計合理、操作方便、工作可靠、維修成本低的芯片測試裝置。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了如下技術(shù)方案一種電能表芯片測試裝置，包括電表和測試器，所述電表的殼體上設(shè)置有用于安裝芯片的芯片座，所述芯片座通過導(dǎo)線與電表內(nèi)的電路板電連接，所述芯片座與電表的殼體可拆卸連接。通過采用上述技術(shù)方案，芯片座位置設(shè)置合理，與殼體可拆卸連接，通過導(dǎo)線與電表內(nèi)的電路板構(gòu)成電連接，連接方式靈活，工作可靠，維修方便且維修費用低。本實用新型進一步設(shè)置為所述芯片座上設(shè)置有用于固定芯片并與芯片座轉(zhuǎn)動連接的翻蓋。通過本設(shè)置，芯片安裝操作更加方便。本實用新型還進一步設(shè)置為所述芯片座和翻蓋均由絕緣材料制造而成。通過本設(shè)置，使本實用新型工作更加安全可靠。本實用新型還進一步設(shè)置為所述測試器上設(shè)有數(shù)據(jù)傳輸線，所述測試器通過數(shù)據(jù)傳輸線與電表電連接。通過本設(shè)置，測試器與電表連接合理，操作方便。本實用新型的優(yōu)點是與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，芯片座與電表內(nèi)的電路板分開設(shè)置，通過導(dǎo)線連接，并與電表殼體可拆卸連接，連接方式靈活，工作可靠，芯片座與電表殼體裝拆方便，維修方便且維修費用低。下面結(jié)合說明書附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步說明。

圖I為本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
參見圖1，本實用新型公開的一種電能表芯片測試裝置，包括電表I和測試器2，所述電表I的殼體上設(shè)置有用于安裝芯片的芯片座3，所述芯片座3通過導(dǎo)線與電表I內(nèi)的電路板電連接，所述芯片座3與電表I的殼體可拆卸連接。所述的芯片座3與電表I可以通過卡接或者螺栓連接來達到方便拆卸的目的。此技術(shù)方案的優(yōu)點是，芯片座3與電表I內(nèi)的電路板分開設(shè)置，通過導(dǎo)線連接，并與電表殼體可拆卸連接，連接方式靈活，工作可靠，芯片座3與電表殼體裝拆方便，維修方便且維修費用低。所述芯片座3上設(shè)置有用于固定芯片并與芯片座3轉(zhuǎn)動連接的翻蓋4。為使本實用新型工作更加可靠，所述芯片座3和翻蓋4均由絕緣材料制造而成。另外，所述測試器2上設(shè)有數(shù)據(jù)傳輸線5，所述測試器通過數(shù)據(jù)傳輸線5與電表I電連接。連接比較靈活，操作方便。 上述實施例對本實用新型的具體描述，只用于對本實用新型進行進一步說明，不能理解為對本實用新型保護范圍的限定，本領(lǐng)域的技術(shù)工程師根據(jù)上述實用新型的內(nèi)容對本實用新型作出一些非本質(zhì)的改進和調(diào)整均落入本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種電能表芯片測試裝置，包括電表(I)和測試器(2)，其特征在于所述電表(I)的殼體上設(shè)置有用于安裝芯片的芯片座(3)，所述芯片座(3)通過導(dǎo)線與電表(I)內(nèi)的電路板電連接，所述芯片座(3)與電表(I)的殼體可拆卸連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電能表芯片測試裝置，其特征在于所述芯片座(3)上設(shè)置有用于固定芯片并與芯片座(3)轉(zhuǎn)動連接的翻蓋(4)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電能表芯片測試裝置，其特征在于所述芯片座(3)和翻蓋(4)均由絕緣材料制造而成。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電能表芯片測試裝置，其特征在于所述測試器(2)上設(shè)有數(shù)據(jù)傳輸線(5 )，所述測試器(2 )通過數(shù)據(jù)傳輸線(5 )與電表(I)電連接。
專利摘要本實用新型公開了一種電能表芯片測試裝置，包括電表和測試器，所述電表的殼體上設(shè)置有用于安裝芯片的芯片座，所述芯片座通過導(dǎo)線與電表內(nèi)的電路板電連接，所述芯片座與電表的殼體可拆卸連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，芯片座與電表內(nèi)的電路板分開設(shè)置，通過導(dǎo)線連接，并與電表殼體可拆卸連接，連接方式靈活，工作可靠，芯片座與電表殼體裝拆方便，維修方便且維修費用低。
文檔編號G01R1/04GK202770960SQ201220504999
公開日2013年3月6日 申請日期2012年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月28日
發(fā)明者蔣夢影, 時方輝, 劉先進, 謝峰, 姜國峰, 金燦 申請人:浙江八達電子儀表有限公司, 金華電業(yè)局, 國家電網(wǎng)公司