專利名稱：一種半導體分立器件測試系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及電子設備測試儀技術領域，特別與一種半導體分立器件測試系統(tǒng)有關。
背景技術：
臺灣冠魁公司的TVR6000是目前業(yè)界產(chǎn)業(yè) 化程度最高、應用最廣泛、性能最優(yōu)秀的二極管多功能分類專業(yè)測試設備，在國際同類產(chǎn)品處理國際領先水平。TVR6000測試機是以單機形式提供測試服務的一體機，機內(nèi)雖然是多板卡結(jié)構，但各板卡功能固定，位置固定，不能提供技術的橫向升級和縱向升級，為解決橫向升級的問題，必須要重新設計機器，并命名為6000系列，各機之間設計思路不同，還造成很多內(nèi)部相同板卡重置的現(xiàn)象，造成資源浪費和干擾問題的出現(xiàn)，并爭奪機內(nèi)的系統(tǒng)總線，工作電源
坐寸ο為了解決上述問題，本發(fā)明人設計出一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，本案由此產(chǎn)生。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，是以自由組合形式提供測試服務的測試平臺，可根據(jù)用戶的測試組態(tài)方案類選擇各色各樣測試功能的板卡，使用靈活方便。為了達到上述目的，本實用新型通過以下技術方案來實現(xiàn)一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，包括主控平臺系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個測試功能卡、顯示系統(tǒng)；各測試功能模塊獨立掛置在總線通訊系統(tǒng)上，總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺系統(tǒng)中，主控平臺系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng)，將測試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。所述的各個測試功能卡通過數(shù)據(jù)線并列連接兩個測試工位。所述的主控平臺系統(tǒng)連接有為主控平臺系統(tǒng)供電的電源系統(tǒng)、將數(shù)據(jù)輸入的鍵盤輸入系統(tǒng)、以及用于反饋信號狀態(tài)的狀態(tài)指示系統(tǒng)。所述的測試功能卡包括VF測試卡、VR測試卡、IR測試卡。采用上述方案后，本實用新型具有諸多有益效果本實用新型中采用總線的方式，將各個獨立測試卡直接掛接上總線通訊系統(tǒng)上形成數(shù)據(jù)交換傳遞，這樣只需要根據(jù)用戶的測試組態(tài)方案，選擇相適應的板卡，主控平臺系統(tǒng)能自動識別和控制新的板卡，達到既插既用的目的，同時也解決橫向升級的問題。本實用新型中具有兩個測試工位，可同時測試，測試效率提高一倍，更經(jīng)濟更實
惠O本實用新型中的主控平臺程序按功能要求分別加載給不同測試卡上，由測試卡獨立完成，簡化了主控平臺的工作程序，同時，可再在相同的時間段內(nèi)，兩個工作流程并列運行，所用的時間較短，可以解決系統(tǒng)資源的重置等問題。
圖I為本實用新型較佳實施例的功能模塊連接示意圖。
具體實施方式
結(jié)合附圖，對本實用新型較佳實施例做進一步詳細說明。一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，主要涉及到的部件包括主控平臺系統(tǒng)I、總線通訊系統(tǒng)2、各個測試功能卡、LED顯不系統(tǒng)3、電源系統(tǒng)4、鍵盤輸入系統(tǒng)5、狀態(tài)指不系統(tǒng)6、弟一測試工位81、第二測試工位82。其中本實施例中測試功能卡包括VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73。主控平臺系統(tǒng)I (MCU)是本實用新型的核心控制平臺，通過總線通訊系統(tǒng)2與各個測試功能卡進行數(shù)據(jù)交換，對應的程序下載到各個測試功能卡中，并將各個測試功能卡 上的測試所得的數(shù)據(jù)通過總線通訊系統(tǒng)2進行反饋，并反饋顯示在LED顯示系統(tǒng)3中。主控平臺系統(tǒng)I上連接有電源系統(tǒng)4為其供電。本實施例中采用50Hz的AC220V的電源通過開關電源供電，對于電容來說開關電源是準直流，充電迅速，測試速率明顯提高，可以應對高速的測試應用，使得整機重量減清，體積變小，電源的效率大幅升高。鍵盤輸入系統(tǒng)5是采用鍵盤形式與主控平臺系統(tǒng)I進行連接，通過鍵盤操作將信息輸入至主控平臺系統(tǒng)I中。狀態(tài)指示系統(tǒng)6是采用各種發(fā)光二極管構成，連接在主控平臺系統(tǒng)I上，用于反饋內(nèi)部信號狀態(tài)。實施例中總線通訊系統(tǒng)2采用CAN總線形式，各個測試功能卡包括VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73都各自獨立掛置連接在CAN總線上。VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73可以采用原有TVR6000測試機的測試卡模塊，VF測試卡完成VF的測試，VR測試卡完成VR的測試，IR測試卡完成IR的測試，其內(nèi)部結(jié)構和原理與原有結(jié)構相同，因此不做贅述。本實用新型中可以在CAN總線上橫向拓展多個測試卡，一般8個為宜。同時本實施例中，每個VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73并聯(lián)接連在兩個測試工位上，第一測試工位81、第二測試工位82，這樣方便同時進行兩個獨立測試，提高測試效率。上述實施例僅用于解釋說明本實用新型的發(fā)明構思，而非對本實用新型權利保護的限定，凡利用此構思對本實用新型進行非實質(zhì)性的改動，均應落入本實用新型的保護范圍。
權利要求1.一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于包括主控平臺系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個測試功能卡、顯示系統(tǒng)；各測試功能模塊獨立掛置在總線通訊系統(tǒng)上，總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺系統(tǒng)中，主控平臺系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng)，將測試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。
2.如權利要求I所述的一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于所述的各個測試功能卡通過數(shù)據(jù)線并列連接兩個測試工位。
3.如權利要求I所述的一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于所述的主控平臺系統(tǒng)連接有為主控平臺系統(tǒng)供電的電源系統(tǒng)、將數(shù)據(jù)輸入的鍵盤輸入系統(tǒng)、以及用于反饋信號狀態(tài)的狀態(tài)指示系統(tǒng)。
4.如權利要求I所述的一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于所述的測試功能卡包括VF測試卡、VR測試卡、IR測試卡。
專利摘要本實用新型主要公開了一種半導體分立器件測試系統(tǒng)，包括主控平臺系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個測試功能卡、顯示系統(tǒng)。各測試功能模塊獨立掛置在總線通訊系統(tǒng)上，總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺系統(tǒng)中，主控平臺系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng)，將測試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。本實用新型是一種自由組合形式提供測試服務的測試平臺，可根據(jù)用戶的測試組態(tài)方案類選擇各色各樣測試功能的板卡，使用靈活方便。
文檔編號G01R31/26GK202770958SQ20122044584
公開日2013年3月6日 申請日期2012年9月4日 優(yōu)先權日2012年9月4日
發(fā)明者張新華, 張若煜 申請人:紹興文理學院