專利名稱：塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于工業(yè)技術(shù)中的量具檢驗(yàn)領(lǐng)域，具體涉及一種便于校驗(yàn)用塊規(guī)精準(zhǔn) 固定于塊規(guī)支架的對準(zhǔn)裝置。
背景技術(shù)：
塊規(guī)，簡單地說就是方形塊量規(guī)，所以叫塊規(guī)。一組塊規(guī)由各種規(guī)格不一，尺寸不 同的方塊組成，一般是鋼質(zhì)的，精度非常高。用以滿足各種工件尺寸測量的需求。三坐標(biāo)測 量機(jī)校驗(yàn)可以采用塊規(guī)。三坐標(biāo)測量機(jī)是一種非常精密的儀器，要求的精度非常高，然而任 何機(jī)械在運(yùn)行中，受各種因素的干擾都會(huì)有誤差，要保證三坐標(biāo)測量機(jī)時(shí)刻保持允許范圍 內(nèi)的精度，要經(jīng)常進(jìn)行校驗(yàn)，檢驗(yàn)設(shè)備精度是否有變化，校驗(yàn)時(shí)必須有一個(gè)參照物，例如塊 規(guī)。因?yàn)閴K規(guī)是不同規(guī)格的長方形塊狀物，有時(shí)多達(dá)上百件，三坐標(biāo)測量機(jī)在校驗(yàn)時(shí)，需要 用到多種規(guī)格的塊規(guī)來校準(zhǔn)，所以需要用到三坐標(biāo)塊規(guī)支架來把多塊的塊規(guī)固定。所以簡 單地說，三坐標(biāo)塊規(guī)支架是用于三坐標(biāo)測量機(jī)校驗(yàn)時(shí)塊規(guī)固定和支撐用的，以便三坐標(biāo)測 頭能從三維空間各個(gè)不同的方向來對塊規(guī)進(jìn)行尺寸采集，來校驗(yàn)三坐標(biāo)測量機(jī)的精準(zhǔn)度。 現(xiàn)有技術(shù)較多采用的三坐標(biāo)塊規(guī)支架的結(jié)構(gòu)如中國專利201120081322. 5所公開的一種塊 規(guī)支架，包括一基座、固定于基座上的立柱、固定于立柱上端的底板以及可轉(zhuǎn)動(dòng)固定于底板 上的塊規(guī)支撐板，塊規(guī)支撐板上端面平行分布多道滑槽，還設(shè)有多個(gè)塊規(guī)固定架，塊規(guī)固定 架下端設(shè)置與滑槽配合的滑塊，塊規(guī)固定架能夠沿滑槽做位置調(diào)整以適應(yīng)不同規(guī)格的塊 規(guī)，塊規(guī)穿設(shè)固定在塊規(guī)固定架中，這種塊規(guī)支架的特殊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)能夠使得塊規(guī)支撐板上 的不同位置處所承載的塊規(guī)規(guī)格也可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需要而調(diào)整。塊規(guī)在三坐標(biāo)塊規(guī)支架 上的固定方式如下①需要先將塊規(guī)固定架移動(dòng)至與塊規(guī)支點(diǎn)相對應(yīng)的位置并固定；②然 后再將塊規(guī)支點(diǎn)與塊規(guī)固定架對齊并固定塊規(guī)?，F(xiàn)有技術(shù)中，在進(jìn)行操作①時(shí)，一般可以采 用下述幾種方法一、根據(jù)操作人員的經(jīng)驗(yàn)將塊規(guī)固定支架移動(dòng)至與塊規(guī)支點(diǎn)相對應(yīng)位置 并固定，這種方法雖然操作簡便，但是塊規(guī)固定架與塊規(guī)支點(diǎn)之間的定位偏差較大，不確定 因素較多；二、采用塊規(guī)作為參照物，將塊規(guī)支架移動(dòng)至與塊規(guī)支點(diǎn)相對應(yīng)的位置并固定， 但是這種方法需要使用所用的每一種塊規(guī)作為參照物，因此比較繁瑣，而且塊規(guī)也較重，增 加了操作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度、降低了工作效率，再者塊規(guī)又容易在此過程中受到損傷，從而影 響塊規(guī)的精度和壽命；三、使用量測工具先量測塊規(guī)支點(diǎn)，然后再將量測工具作為參照物將 塊規(guī)支架移動(dòng)至與塊規(guī)支點(diǎn)相對應(yīng)的位置并固定，由于塊規(guī)的兩個(gè)支點(diǎn)只是兩條線，沒有 刻度和其它任何尺寸表示，因此這種方法不僅需要量測塊規(guī)支點(diǎn)，而且還要量測所用到的 每一種塊規(guī)的支點(diǎn)，因此增加了操作人員的工作量、降低了工作效率，而且測量塊規(guī)支點(diǎn)時(shí) 容易出現(xiàn)偏差。

實(shí)用新型內(nèi)容為了克服上述缺陷，本實(shí)用新型提供了一種塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，該塊規(guī)支點(diǎn) 測量對準(zhǔn)裝置能夠便于塊規(guī)固定架與塊規(guī)的定位固定，并能夠有效減少塊規(guī)固定架與塊規(guī)支點(diǎn)之間的定位偏差，且結(jié)構(gòu)簡單、操作簡便、易于實(shí)施。本實(shí)用新型為了解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，具有一參照平面，所述參照平面上設(shè)有若干組標(biāo)記， 每一組標(biāo)記對應(yīng)一種規(guī)格的塊規(guī)，每一組標(biāo)記由若干個(gè)對照符構(gòu)成，且每一組的若干個(gè)對 照符與對應(yīng)規(guī)格的塊規(guī)上的若干支點(diǎn)的位置相對應(yīng)。本實(shí)用新型為了解決其技術(shù)問題所采用的進(jìn)一步技術(shù)方案是進(jìn)一步地，所述參照平面的其中一邊是直邊，所述若干組標(biāo)記沿所述直邊分布。所述參照平面可以是長方體形的條狀板的一個(gè)面。所述條狀板可以是由一塊或一塊以上的單元板沿縱長方向拼接而成的條狀板。每一種規(guī)格的塊規(guī)具有兩個(gè)支點(diǎn)，每一組標(biāo)記由兩個(gè)對照符構(gòu)成。每個(gè)對照符可以包括一根與塊規(guī)的支點(diǎn)相對應(yīng)的對照線。每個(gè)對照符還可以包括一個(gè)用于識別對應(yīng)塊規(guī)規(guī)格的標(biāo)注符。本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置具有一參照平 面，參照平面上設(shè)有若干組標(biāo)記，每一組標(biāo)記對應(yīng)一種規(guī)格的塊規(guī)，每一組標(biāo)記由若干個(gè)對 照符構(gòu)成，且每一組的若干個(gè)對照符與對應(yīng)規(guī)格的塊規(guī)上的若干支點(diǎn)的位置相對應(yīng)，將塊 規(guī)固定于塊規(guī)支架之前，先在本實(shí)用新型塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置的參照平面上找出與該規(guī) 格塊規(guī)相對應(yīng)的一組標(biāo)記，對照該組標(biāo)記中的各個(gè)對照符將塊規(guī)固定架移動(dòng)至對應(yīng)的位置 處并固定，然后再將塊規(guī)于支點(diǎn)處固定于塊規(guī)固定架上，因此該塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置能 夠便于塊規(guī)固定架與塊規(guī)的快速定位固定，并能夠有效減少塊規(guī)固定架與塊規(guī)支點(diǎn)之間的 定位偏差。

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例一種塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，具有一參照平面1，所述參照平面上設(shè)有若 干組標(biāo)記，每一組標(biāo)記對應(yīng)一種規(guī)格的塊規(guī)，每一組標(biāo)記由若干個(gè)對照符構(gòu)成，且每一組的 若干個(gè)對照符與對應(yīng)規(guī)格的塊規(guī)上的若干支點(diǎn)的位置相對應(yīng)。所述參照平面的其中一邊是直邊2，所述若干組標(biāo)記沿所述直邊分布。所述參照平面可以是長方體形的條狀板的一個(gè)面，即該塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置可 以是條狀的，當(dāng)然也可以是其它可能的形態(tài)。所述條狀板是由一塊或一塊以上的單元板沿縱長方向拼接而成的條狀板。S卩，所 述條狀板是一段式或者多段式的條狀板。每一種規(guī)格的塊規(guī)具有兩個(gè)支點(diǎn)，每一組標(biāo)記由兩個(gè)對照符構(gòu)成。每個(gè)對照符包括一根與塊規(guī)的支點(diǎn)相對應(yīng)的對照線3。每個(gè)對照符還包括一個(gè)用 于識別對應(yīng)塊規(guī)規(guī)格的標(biāo)注符4。本實(shí)用新型的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置使用范圍廣，不僅適用于如 ZL201120081322. 5所述的塊規(guī)支架以及類似的塊規(guī)支架，還可用于其它用于支撐塊規(guī)的支 撐裝置以及塊規(guī)的存放。
權(quán)利要求1.一種塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于具有一參照平面(I)，所述參照平面上設(shè)有若干組標(biāo)記，每一組標(biāo)記對應(yīng)一種規(guī)格的塊規(guī)，每一組標(biāo)記由若干個(gè)對照符構(gòu)成，且每一組的若干個(gè)對照符與對應(yīng)規(guī)格的塊規(guī)上的若干支點(diǎn)的位置相對應(yīng)。
2.如權(quán)利要求I所述的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于所述參照平面的其中一邊是直邊(2 )，所述若干組標(biāo)記沿所述直邊分布。
3.如權(quán)利要求2所述的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于所述參照平面是長方體形的條狀板的一個(gè)面。
4.如權(quán)利要求3所述的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于所述條狀板是由一塊或一塊以上的單元板沿縱長方向拼接而成的條狀板。
5.如權(quán)利要求I所述的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于每一種規(guī)格的塊規(guī)具有兩個(gè)支點(diǎn)，每一組標(biāo)記由兩個(gè)對照符構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求I至5中任一項(xiàng)所述的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于每個(gè)對照符包括一根與塊規(guī)的支點(diǎn)相對應(yīng)的對照線(3)。
7.如權(quán)利要求6所述的塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，其特征在于每個(gè)對照符還包括一個(gè)用于識別對應(yīng)塊規(guī)規(guī)格的標(biāo)注符(4 )。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置，具有一參照平面，所述參照平面上設(shè)有若干組標(biāo)記，每一組標(biāo)記對應(yīng)一種規(guī)格的塊規(guī)，每一組標(biāo)記由若干個(gè)對照符構(gòu)成，且每一組的若干個(gè)對照符與對應(yīng)規(guī)格的塊規(guī)上的若干支點(diǎn)的位置相對應(yīng)，將塊規(guī)固定于塊規(guī)支架之前，先在本實(shí)用新型塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置的參照平面上找出與該規(guī)格塊規(guī)相對應(yīng)的一組標(biāo)記，對照該組標(biāo)記中的各個(gè)對照符將塊規(guī)固定架移動(dòng)至對應(yīng)的位置處并固定，然后再將塊規(guī)于支點(diǎn)處固定于塊規(guī)固定架上，因此該塊規(guī)支點(diǎn)測量對準(zhǔn)裝置能夠便于塊規(guī)固定架與塊規(guī)的快速定位固定，并能夠有效減少塊規(guī)固定架與塊規(guī)支點(diǎn)之間的定位偏差。
文檔編號G01B3/30GK202757540SQ20122041012
公開日2013年2月27日 申請日期2012年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月17日
發(fā)明者甘太喜 申請人:蘇州卓爾測量技術(shù)有限公司