專利名稱：一種用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試裝置的設(shè)計，具體涉及一種用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置。
背景技術(shù)：
在各種電氣設(shè)備中，電連接器的用量越來越大，一個設(shè)備上的電連接器的使用量可達數(shù)百件至幾千件，牽扯到好幾萬個線路，電連接器在器件與器件、組件與組件、系統(tǒng)與系統(tǒng)之間進行電氣連接和信號傳遞，是構(gòu)成一個完整系統(tǒng)所必須的基礎(chǔ)元件，電連接器主要包括插頭和插座兩部分；因此，對電連接器的性能檢測也變得尤為重要，本實用新型特別提供一種用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)誤差小，可靠性高，性能穩(wěn)定?！?br/>實用新型內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是對電連接器的高溫高壓密封性能的檢測，保證電連接器的高壓密封性能。本實用新型解決其及時問題所采用的技術(shù)方案是一種用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，主要包括殼體(I)、高壓堵頭(2)、墊圈(3)，其中，墊圈(3)置于殼體(I)內(nèi)，殼體(I) 一端與高壓堵頭(2)連接。本實用新型所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，其中，所述高壓堵頭(2)的安裝處設(shè)置有通氣孔。本實用新型所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，其中，殼體(I)為保證裝置的抗壓強度，壁厚設(shè)計在15mm以上，安裝時，為避免殼體(I)內(nèi)出現(xiàn)高壓影響測試指標(biāo)，并減少安裝難度，將高壓堵頭(2)取下后再對測試產(chǎn)品(5)進行安裝，然后安裝高壓堵頭(2)，通過殼體(I)上的通氣孔，將安裝的氣壓誤差降到最低，殼體(I)內(nèi)的密封腔上設(shè)置有墊圈(3)，保證了產(chǎn)品測試后外觀無損傷，不發(fā)生變形影響取出，裝配時，需要在密封槽內(nèi)涂上潤滑脂，保證徑向的密封性。本實用新型所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，為保證測試裝置對產(chǎn)品的檢測有效，使用測試驗證件(4)對測試裝置進行驗證，驗證件(4)外形尺寸與產(chǎn)品殼體(I)外形尺寸一致，但不會受到燒結(jié)結(jié)構(gòu)密封性能的影響，將驗證件(4)裝配安裝后，整體投入高壓容器進行高壓密封試驗，試驗后密封腔沒有水，則說明測試裝置合格有效。本實用新型所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，密封性能高，可對高壓密封插座進行雙向高溫高壓(220°C、172MPa)密封試驗；采用氟硅膠硬質(zhì)密封圈，在高溫高壓(220°C、172MPa)下能夠表現(xiàn)出良好的密封性能；裝置配備高壓密封驗證件(4)，可在正式測試前對裝置的外密封性能進行驗證，確保試驗數(shù)據(jù)準確、可靠；驗證件模擬實際產(chǎn)品結(jié)構(gòu)，僅將玻璃燒結(jié)結(jié)構(gòu)去除。
圖I為用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置剖面圖；圖2為用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置立體圖；圖3為用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置雙向測試狀態(tài)圖I ;圖4為用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置雙向測試狀態(tài)圖II ；圖5為用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置的驗證件測試狀態(tài)圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進一步詳細的說明本實施例所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，如圖1、2所示，主要包括殼體(I)、高壓堵頭(2)、墊圈(3)，其中，墊圈(3)置于殼體(I)內(nèi)，殼體(I) 一端與高壓堵頭(2)連接。本實施例所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，其中，所述高壓堵頭(2)的安裝處設(shè)置有通氣孔。本實施例所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，如圖5所示，殼體(I)為保證裝置的抗壓強度，壁厚設(shè)計在15mm以上，安裝時，為避免殼體(I)內(nèi)出現(xiàn)高壓影響測試指標(biāo)，并減少安裝難度，將高壓堵頭(2)取下后再對測試產(chǎn)品(5)進行安裝，然后安裝高壓堵頭(2)，通過殼體(I)上的通氣孔，將安裝的氣壓誤差降到最低，殼體(I)內(nèi)的密封腔(6)上設(shè)置有墊圈(3)，保證了產(chǎn)品測試后外觀無損傷，不發(fā)生變形影響取出，裝配時，需要在密封槽內(nèi)涂上潤滑脂，保證徑向的密封性。本實施例所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，如圖3、4所示，為保證測試裝置對產(chǎn)品的檢測有效，使用測試驗證件(4)對測試裝置進行驗證，驗證件(4)外形尺寸與產(chǎn)品殼體(I)外形尺寸一致，但不會受到燒結(jié)結(jié)構(gòu)密封性能的影響，將驗證件
(4)裝配安裝后，整體投入高壓容器進行高壓密封試驗，試驗后密封腔沒有水，則說明測試裝置合格有效。以上所述僅為本實用新型的較佳實施方案，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，其特征在于所述裝置主要包括殼體(I)、高壓堵頭(2)、墊圈(3)，其中，墊圈(3)置于殼體(I)內(nèi)，殼體(I) 一端與高壓堵頭(2)連接。
2.按照權(quán)利要求I所述用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，其特征在于所述高壓堵頭(2)的安裝處設(shè)置有通氣孔。
專利摘要一種用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，主要包括殼體(1)、高壓堵頭(2)、墊圈(3)，其中，墊圈(3)置于殼體(1)內(nèi)，殼體(1)一端與高壓堵頭(2)連接；本實用新型特別提供的用于測試穿墻密封插座高溫高壓密封性能的裝置，密封性能高，雙向都可以承受高溫高壓密封試驗；采用氟硅膠硬質(zhì)密封圈，在高溫高壓下能夠表現(xiàn)出良好的密封性能；設(shè)置雙重密封圈結(jié)構(gòu)，保證產(chǎn)品在腐蝕性介質(zhì)的侵蝕下，殼體(1)采用高溫合金，720℃高溫下具有耐蝕、抗氧化功能，強度高，夠承受220℃、172MPa高溫高壓，并且生產(chǎn)成本低，具有重大的經(jīng)濟價值和社會價值。
文檔編號G01M3/00GK202735031SQ201220301738
公開日2013年2月13日 申請日期2012年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月26日
發(fā)明者姜睿智, 張永剛, 趙斌, 遲彩闊, 于慧敏, 趙越超 申請人:沈陽興華航空電器有限責(zé)任公司