專利名稱：大平片光譜測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及用于物質(zhì)成分分析的光譜儀器領(lǐng)域，具體講就是涉及一種可以對大尺寸樣品小通光孔進(jìn)行垂直測試的大平片光譜測試儀。
背景技術(shù)：
大平片光譜測試儀的基本工作原理是溶液中的物質(zhì)在光的照射激發(fā)下，產(chǎn)生了對光的吸收效應(yīng)，物質(zhì)對光的吸收是具有選擇性的，各種不同的物質(zhì)都具有其各自的吸收光譜，因此當(dāng)某單色光通過溶液時，其能量就會被吸收而減弱，光能量減弱的程度和物質(zhì)的濃 度有一定的比例關(guān)系，大平片光譜測試儀就是利用這一原理來對被分析樣品和標(biāo)樣光強度的對比來分析物質(zhì)成分的。大平片光譜測試儀在農(nóng)產(chǎn)品、食品、衛(wèi)生、醫(yī)藥、化工、人民生活等各個領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，是現(xiàn)代工業(yè)、農(nóng)業(yè)、科學(xué)研究不可缺少的分析儀器。大平片光譜測試儀基本結(jié)構(gòu)由光源、單色器、樣品室、光電檢測裝置和信號指示裝置五部分組成。大平片光譜測試儀有一個超大樣品室是放置被檢測樣品的地方，傳統(tǒng)的測試儀器樣品室體積較小，一旦待測試樣品為板型樣品時，樣品只能豎立在測試平臺上，不利于樣品的定位，嚴(yán)重地的影響了測試精度和測試準(zhǔn)確性，如果需要測試尺寸大于80mmX IOOmm的樣品時，還需要將大塊樣品進(jìn)行破壞，裁剪成小于80mmX IOOmm的尺寸才能測試，操作復(fù)雜，無法測試尺寸較大且不允許破壞的樣品。同時目前傳統(tǒng)的測試儀器在測試過程中，測試光斑較大，不適用于現(xiàn)有越來越多科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域?qū)y試光斑的要求。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的提供一種大平片光譜測試儀，通過對傳統(tǒng)測試儀器中光路傳輸方向的改變，同時設(shè)計了超大的樣品室，以及可選擇不同大小的四檔測試光斑，縮小測試光斑，實現(xiàn)了大尺寸待測樣品的小通光孔測試，使待測樣品可以直接放在工作臺上測試，保證了測試精度和測試準(zhǔn)確性，操作簡便，又可以不破壞測試樣品，節(jié)約了成本。技術(shù)方案為了實現(xiàn)上述的技術(shù)目的，本實用新型設(shè)計一種大平片光譜測試儀，包括外殼、底板、光源燈室、單色器、出射光狹縫組件、入射光狹縫組件、樣品室、檢測裝置、測試平臺、按鍵、顯示器、儀器面板和通訊接口，所述光源燈室裝在底板內(nèi)，底板上光源燈室下方裝有單色器，出射光出狹縫組件和入射光狹縫組件分別安裝在單色器底座上互成90°垂直的相鄰二側(cè)面上，樣品室裝在底板的右側(cè)，檢測裝置和測試平臺都設(shè)置在樣品室內(nèi)，外殼罩在底板上，外殼的正面上還設(shè)有儀器面板，儀器面板上設(shè)有顯示器和按鍵，外殼后側(cè)下部設(shè)有通訊接口，其特征在于所述出射光狹縫組件和入射光狹縫組件各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0[0010]所述外殼由工程塑料制成。所述底板由2. Omm鈑金材料制成。所述光源燈室中光源為鎢燈。所述樣品室由I. Omm鈑金材料制成,尺寸規(guī)格為300mmX400mm。有益效果本實用新型大平片光譜測試儀進(jìn)行了新的設(shè)計，單色光經(jīng)透鏡再經(jīng)45°的反射鏡將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器，從而實現(xiàn)了樣品可以直接平放在放在工作臺上進(jìn)行測試，確保了小孔徑樣品的定位，同時采用可調(diào)狹縫，減小了測試光斑，實現(xiàn)對大尺寸樣品小通光孔進(jìn)行垂直測試，保證了測試精度和準(zhǔn)確性。

附圖I是實用新型的立體結(jié)構(gòu)圖。附圖2是本實用新型的俯視方向示意圖。附圖3是本實用新型的外形示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例，對本實用新型做進(jìn)一步說明。如附圖1、2和3所示，一種大平片光譜測試儀，包括工程塑料制成的外殼1、2. Omm鈑金材料制成底板2、光源燈室3、單色器4、出射光狹縫組件5、入射光狹縫組件6、樣品室7、檢測裝置8、測試平臺9、按鍵10、顯示器11、儀器面板12和通訊接口 13，所述光源燈室3裝在底板2內(nèi)，底板2上光源燈室3下方裝有單色器4，出射光出狹縫組件5和入射光狹縫組件6分別安裝在單色器4底座上互成90°垂直的相鄰二側(cè)面上，樣品室7裝在底板2的右側(cè)，檢測裝置80和測試平臺90都設(shè)置在樣品室7內(nèi)，外殼I罩在底板2上，外殼I的正面上還設(shè)有儀器面板12，儀器面板12上設(shè)有顯示器11和按鍵10，外殼I后側(cè)下部設(shè)有通訊接口 13，其特征在于所述出射光狹縫組件5和入射光狹縫組件6各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0所述光源燈室3中光源為鎢燈。所述超大樣品室由I. Omm鈑金材料制成,尺寸規(guī)格為300mmX400mm。首先啟動大平片光譜測試儀，預(yù)熱20分鐘后儀器自動自檢完畢，接著開啟控制系統(tǒng)，聯(lián)機工作，儀器狹縫位置調(diào)至光譜帶寬為3nm，成像光斑小于直徑Imm位置，建立基線，根據(jù)需要輸入波長范圍，波長自動回到540nm;打開樣品室蓋，將樣品的通光孔對準(zhǔn)光斑，儀器掃描，通過顯示器11即得測量結(jié)果。本實用新型大平片光譜測試儀進(jìn)行了新的設(shè)計，單色光經(jīng)透鏡再經(jīng)45°的反射鏡將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器，從而實現(xiàn)了樣品可以直接平放在放在工作臺上進(jìn)行測試，確保了小孔徑樣品的定位，同時采用可調(diào)狹縫，減小了測試光斑，實現(xiàn)對大尺寸樣品小通光孔進(jìn)行垂直測試，保證了測試精度和準(zhǔn)確性。
權(quán)利要求1.一種大平片光譜測試儀，包括外殼(I)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測裝置(8)、測試平臺(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接ロ(13)，所述光源燈室(3)裝在底板(2)內(nèi)，底板(2)上光源燈室(3)下方裝有単色器(4)，出射光出狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)分別安裝在單色器(4)底座上互成90°垂直的相鄰ニ側(cè)面上，樣品室(7)裝在底板(2)的右側(cè)，檢測裝置⑶和測試平臺(9)都設(shè)置在樣品室(7)內(nèi)，外殼⑴罩在底板(2)上，外殼⑴的正面上還設(shè)有儀器面板(12)，儀器面板(12)上設(shè)有顯示器(11)和按鍵(10)，外殼(I)后側(cè)下部設(shè)有通訊接ロ(13)，其特征在干 所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0
2.如權(quán)利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特征在于所述外殼(I)由工程塑料制成。
3.如權(quán)利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特征在干所述底板(2)由2.Omm鈑金材料制成。
4.如權(quán)利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特征在干所述光源燈室(3)中光源為鶴燈。
5.如權(quán)利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特征在于所述樣品室由I.Omm鈑金材料制成，尺寸規(guī)格為300mmX400mm。
專利摘要一種大平片光譜測試儀，包括外殼(1)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測裝置(8)、測試平臺(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接口(13)，其特征在于所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6.6nm、10nm。本實用新型通過對傳統(tǒng)大平片光譜測試儀中光路傳輸方向的改變，縮小測試光斑，實現(xiàn)了大尺寸待測樣品的小通光孔測試，使待測樣品可以直接放在工作臺上測試，保證了測試精度和測試準(zhǔn)確性，操作簡便，又可以不破壞測試樣品，節(jié)約了成本。
文檔編號G01N21/31GK202512054SQ20122011605
公開日2012年10月31日 申請日期2012年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月23日
發(fā)明者馮邁東 申請人:上海欣茂儀器有限公司