專利名稱：分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫(xiě)記憶芯片卡環(huán)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及各種分析儀器試管和比色皿的樣本信息讀寫(xiě)記憶芯片卡環(huán)(后簡(jiǎn)稱記憶芯片卡環(huán))，適用于各種分光光度計(jì)及分析儀的試管及比色皿的樣本全部信息讀寫(xiě)存儲(chǔ)。
技術(shù)背景目前，分析類儀器特別是各種分光光度計(jì)的樣本試管及比色皿的標(biāo)識(shí)信息都是使用條形碼，這些條碼由打印機(jī)打印，再由條碼掃描設(shè)備讀出。由于條形碼的信息很有限，最多十余個(gè)字母和數(shù)字，之后的檢測(cè)結(jié)果也不可以反映于其上。并且，條形碼的讀出設(shè)備對(duì)于儀器整體來(lái)說(shuō)造價(jià)高，體積大，條碼標(biāo)準(zhǔn)也不統(tǒng)一，諸多原因，使得條形碼在試管及比色皿 的標(biāo)識(shí)信息上有極大的局限性，特別是在今天的信息時(shí)代的技術(shù)應(yīng)用更顯得性能落后和缺失。使用更有效率的信息標(biāo)示技術(shù)的存儲(chǔ)芯片代替條形碼是目前最高性價(jià)比的解決方案。
發(fā)明內(nèi)容為了克服現(xiàn)有的試管及比色皿的標(biāo)識(shí)信息都是使用條形碼的多方面的缺點(diǎn)和局限性，本實(shí)用新型所發(fā)明的技術(shù)方案是一個(gè)卡環(huán)帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫(xiě)的I2C總線的外接信號(hào)插頭部分。本實(shí)用新型的技術(shù)方案為解決條形碼的使用局限，缺陷及低性能，本實(shí)用新型采用一種分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫(xiě)記憶芯片卡環(huán)，其技術(shù)方案是憶芯片卡環(huán)帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫(xiě)的I2C總線的外接信號(hào)插頭部分，可以重復(fù)使用，可以長(zhǎng)期保存測(cè)試結(jié)果，用以替代以往傳統(tǒng)的條形碼信息及文字印刷 目息。本實(shí)用新型其技術(shù)特征是用于記錄樣本的全部測(cè)試信息，名稱，序號(hào)，方法，方法參數(shù)，以及用以記憶每個(gè)樣本的檢測(cè)過(guò)程數(shù)據(jù)及檢測(cè)結(jié)果，其包括連續(xù)時(shí)間檢測(cè)及全頻譜掃描的全部數(shù)據(jù)。24系列集成電路記憶芯片(例如24C02，24C512等等型號(hào))，將其嵌入具有彈性的卡環(huán)，做成外露插頭的一體卡環(huán)。使用時(shí)卡在樣本試管及比色皿上。使用前由操作者通過(guò)計(jì)算機(jī)將樣本信息寫(xiě)入記憶芯片，檢測(cè)時(shí)芯片卡與樣本器皿放置的同時(shí)插街道在儀器內(nèi)置的接口插座。儀器自動(dòng)讀出識(shí)別樣本的標(biāo)示信息，根據(jù)其要求進(jìn)行檢測(cè)，待檢測(cè)結(jié)束后結(jié)果由儀器自動(dòng)存入記憶芯片。取出樣本器皿時(shí)，記憶卡同時(shí)拔出。其可以由樣本用戶自己重新讀出結(jié)果，轉(zhuǎn)存，分析和長(zhǎng)期保存。記憶片的讀寫(xiě)設(shè)備或接口技術(shù)非常簡(jiǎn)單，通用，成本低，常用I2C總線。記憶芯片的信息容量從128字節(jié)到64Κ字節(jié)甚至更大范圍可選。滿足幾乎所有樣本及檢測(cè)方法的信息存儲(chǔ)需要。本實(shí)用新型的有益效果是不同于條形碼所反映的簡(jiǎn)單名稱序號(hào)信息，本實(shí)用新型使得全部完整的樣本檢測(cè)前后的全量信息可因其得以全面記錄和使用。并且省略了分析類儀器為條形碼讀取所設(shè)計(jì)安裝的復(fù)雜的機(jī)械，光學(xué)電子裝置，為此極大地節(jié)省了儀器的空間和由條形碼所引入的儀器多方面的制造和使用成本。


以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明。圖I是本實(shí)用新型的原理圖。圖2是樣本信息讀寫(xiě)記憶芯片卡環(huán)示意圖。
具體實(shí)施方式
圖I中I.樣本試管或比色皿，2.內(nèi)嵌24系列記憶芯片，具外插頭的卡環(huán)，3.對(duì)外·信號(hào)插頭，4. I2C總線插座，5.儀器(分光光度計(jì))的電子電路部分。圖2中I.記憶芯片卡環(huán)的彈性部分，2.內(nèi)嵌24系列記憶芯片的部分，3.內(nèi)置記憶芯片的I2C總線的外接信號(hào)插頭部分。在圖I中記憶芯片卡環(huán)⑵內(nèi)置24系列記憶芯片，樣本檢測(cè)之前，將該樣本的序號(hào)，名稱及方法參數(shù)寫(xiě)入內(nèi)置24系列記憶芯片中，將其卡在(I)樣本試管或比色皿一起。將樣本試管或比色皿放置分析儀器的檢測(cè)位，同時(shí)記憶芯片卡環(huán)的信號(hào)插頭正確插入(4)儀器的I2C總線插座中，以連接電路。儀器開(kāi)始自動(dòng)或手動(dòng)檢測(cè)該樣本。檢測(cè)結(jié)束后，全部結(jié)果信息寫(xiě)入記憶芯片卡環(huán)內(nèi)，連同樣本試管或比色皿一同取出，以備用戶長(zhǎng)期存儲(chǔ)和讀取。
權(quán)利要求1.一種分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫(xiě)記憶芯片卡環(huán)，其技術(shù)特征是記憶芯片卡環(huán)帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫(xiě)的I2C總線的外接信號(hào)插頭部分。
專利摘要一種分析儀器特別是分光光度計(jì)的樣本標(biāo)示用的樣本全部信息讀寫(xiě)記憶芯片卡環(huán)。它由帶彈性部分的卡環(huán)，內(nèi)嵌24系列記憶芯片的部分，以及記憶芯片讀寫(xiě)的I2C總線的外接信號(hào)插頭部分組成。它用于記錄單個(gè)樣本的全部測(cè)試信息，如名稱，序號(hào)，方法，方法參數(shù)，以及檢測(cè)過(guò)程數(shù)據(jù)及檢測(cè)結(jié)果，包括記憶連續(xù)時(shí)間檢測(cè)及全頻譜掃描的全部數(shù)據(jù)。它可以重復(fù)使用，也可以長(zhǎng)期保存測(cè)試結(jié)果。它克服了條形碼信息及文字印刷信息的局限性和缺點(diǎn)。用于存儲(chǔ)樣本的全部測(cè)試信息，包括條形碼及文字印刷所不能反映的全部樣本檢測(cè)信息。在分析儀器上用以替代以往傳統(tǒng)的樣本條形碼信息及樣本文字印刷信息技術(shù)。
文檔編號(hào)G01N21/31GK202711714SQ201220046639
公開(kāi)日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年2月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月14日
發(fā)明者劉可滇 申請(qǐng)人:劉可滇