專利名稱：分析儀器試管及比色皿樣本信息非接觸式讀寫記憶芯片卡環(huán)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及各種分析儀器試管和比色皿的樣本信息非接觸式讀寫記憶芯片卡環(huán)，適用于各種分光光度計及分析儀器的試管及比色皿的樣本全部信息讀寫存儲。
技術(shù)背景目前，分析類儀器特別是各種分光光度計的樣本試管及比色皿的標(biāo)識信息都是使用條形碼，這些條碼由打印機(jī)打印，再由條碼掃描設(shè)備讀出。由于條形碼的信息很有限，最多十余個字母和數(shù)字，之后的檢測結(jié)果也不可以反映于其上。并且，條形碼的讀出設(shè)備對于 儀器整體來說造價高，體積大，條碼標(biāo)準(zhǔn)也不統(tǒng)一，諸多原因，使得條形碼在試管及比色皿的標(biāo)識信息上有極大的局限性，特別是在今天的信息時代的技術(shù)應(yīng)用更顯得性能落后和缺失。使用更有效率的信息標(biāo)示技術(shù)的非接觸式射頻存儲芯片代替條形碼是目前最高性價比的解決方案之一。
發(fā)明內(nèi)容分析儀器試管及比色皿樣本信息非接觸式讀寫記憶芯片卡環(huán)，其技術(shù)特征是帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置非接觸式射頻記憶芯片。本實用新型的技術(shù)方案為解決條形碼的使用局限，缺陷及低性能，本實用新型采用一種分析儀器試管及比色皿樣本信息非接觸式讀寫記憶芯片卡環(huán)，其技術(shù)方案是帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置非接觸式射頻記憶芯片，用于記錄樣本的全部測試信息。具體技術(shù)方案是非接觸式射頻集成電路記憶芯片嵌入具有彈性的卡環(huán)。使用時卡在樣本試管及比色皿上。使用前由操作者通過計算機(jī)將樣本信息寫入記憶芯片，檢測時芯片卡與樣本器皿放置的同時使芯片接近儀器內(nèi)置的非接觸式射頻記憶芯片發(fā)射-接收天線部件。儀器自動讀出識別樣本的標(biāo)示信息，根據(jù)其要求進(jìn)行檢測，待檢測結(jié)束后結(jié)果由儀器自動存入記憶芯片。取出樣本器皿時，記憶卡同時拔出。其可以由樣本用戶自己重新讀出結(jié)果，轉(zhuǎn)存，分析和長期保存。記憶片的讀寫設(shè)備或接口技術(shù)簡單，通用，成本低。記憶芯片的信息容量范圍可選。滿足幾乎所有樣本及檢測方法的信息存儲需要。本實用新型的有益效果是不同于條形碼所反映的簡單名稱序號信息，本實用新型使得樣本的名稱，序號，方法，方法參數(shù)，以及用以記憶每個樣本的檢測過程數(shù)據(jù)及檢測結(jié)果，其包括連續(xù)時間檢測及全頻譜掃描的全部數(shù)據(jù)，可以重復(fù)使用，可以長期保存測試結(jié)果，用以替代以往傳統(tǒng)的條形碼信息及文字印刷信息。全部完整的樣本檢測前后的全量信息可因其得以全面記錄和使用。并且省略了分析類儀器為條形碼讀取所設(shè)計安裝的復(fù)雜的機(jī)械，光學(xué)電子裝置，為此極大地節(jié)省了儀器的空間和由條形碼所引入的儀器多方面的制造和使用成本。


以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進(jìn)一步說明。圖I是本實用新型的原理圖。圖2是樣本信息讀寫記憶芯片卡環(huán)示意圖。
具體實施方式
圖I中I.樣本試管或比色皿，2.內(nèi)嵌非接觸式射頻記憶芯片的卡環(huán)，3.內(nèi)嵌非接觸式射頻記憶芯片，4.儀器內(nèi)置的非接觸式射頻記憶芯片發(fā)射-接收天線部件，5.控制導(dǎo)線，6.儀器(如分光光度計)的電子電路部分。圖2中I.記憶芯片卡環(huán)的彈性部分，2.內(nèi)嵌非接觸式射頻記憶芯片部分，3.內(nèi)嵌非接觸式射頻記憶芯片。在圖I中記憶芯片卡環(huán)⑵內(nèi)嵌非接觸式射頻記憶芯片，樣本檢測之前，將該樣本的序號，名稱及方法參數(shù)寫入非接觸式射頻記憶芯片中，將其卡在(I)樣本試管或比色皿一起。將樣本試管或比色皿放置分析儀器的檢測位，同時非接觸式射頻記憶芯片卡環(huán)(3)的芯片部位接近儀器內(nèi)置的非接觸式射頻記憶芯片發(fā)射-接收天線部件(4)，以便射頻信號工作。儀器開始自動或手動檢測該樣本。檢測結(jié)束后，全部結(jié)果信息寫入記憶芯片卡環(huán)內(nèi)，連同樣本試管或比色皿一同取出，以備用戶長期存儲和讀取。
權(quán)利要求1.一種分析儀器試管及比色皿樣本信息非接觸式讀寫記憶芯片卡環(huán)，其技術(shù)特征是帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置非接觸式射頻記憶芯片。
專利摘要一種分析儀器試管及比色皿樣本信息非接觸式讀寫記憶芯片卡環(huán)，其技術(shù)特征是帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內(nèi)置非接觸式射頻記憶芯片。它用于記錄單個樣本的全部測試信息，如名稱，序號，方法，方法參數(shù)，以及檢測過程數(shù)據(jù)及檢測結(jié)果，包括記憶連續(xù)時間檢測及全頻譜掃描的全部數(shù)據(jù)。它可以重復(fù)使用，也可以長期保存測試結(jié)果。它克服了條形碼信息及文字印刷信息的局限性和缺點。用于存儲樣本的全部測試信息，包括條形碼及文字印刷所不能反映的全部樣本檢測信息。在分析儀器上用以替代以往傳統(tǒng)的樣本條形碼信息及樣本文字印刷信息技術(shù)。
文檔編號G06K19/077GK202711295SQ20122006706
公開日2013年1月30日 申請日期2012年2月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月28日
發(fā)明者劉可滇 申請人:劉可滇