專利名稱：微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法及其設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種微小環(huán)型磁性元件的檢測領域，尤其涉及一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法及其設備。
背景技術：
微小環(huán)型磁性元件的批量生產須經過燒結這道工藝，之后手工掰離這些微小元件。這個過程必然造成微小環(huán)型磁性元件端面的損傷，此外燒結過程中不可避免地帶來元件表面的結晶。為保證產品質量，必須對產品進行檢測。目前，檢測工作大多是人工進行，勞動強度大，每個工人的效率和評判標準也不一致，影響對微小環(huán)型磁性元件檢測的速率和準確度。

發(fā)明內容
本發(fā)明旨在提供一種快速檢測微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品的視覺檢測方法及其設備。為了實現上述目的，本發(fā)明首先提出的一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法為一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法，包括步驟S1、對微小環(huán)型磁性元件的兩個端面進行拍照并將照片發(fā)送到圖片處理器上；S2、圖片處理器對圖片進行分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度，其中，線度為微小環(huán)型磁性元件上的缺陷的各點之間最長的一條連線的長度；S3、確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品，其中，圖片處理器中預存不同缺陷線度的允許值，圖片處理器將所述微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度與對應的允許值比較，若微小環(huán)型磁性元件上的各缺陷的線度中至少一處大于對應缺陷線度的允許值，則確定該微小環(huán)型磁性元件為殘次品，若微小環(huán)型磁性元件上的各缺陷的線度值均小于對應缺陷線度的允許值，則確定該微小環(huán)型磁性元件為合格品。本發(fā)明的一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法的有益效果為區(qū)別于現有人工進行測量檢測，本發(fā)明采用圖像分析的方法，通過圖片處理器分析處理得到的微小環(huán)型磁性元件上的各種缺陷的線度與預先設定的各種缺陷線度的允許值進行比較，確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品，1、提高了檢測的效率，節(jié)約人力和降低勞動強度；2、提高了檢測的準確度，避免檢測人員因工作疲勞引起的視覺誤差以及測量者固有習慣引起的誤差等。其中，所述步驟S3后還包括步驟S4取出殘次品，其方法是，確定殘次品的同時確定其位置，并驅動氣動裝置將殘次品吹進一專門收集殘次品的裝置中。其中，所述步驟S2中，圖片處理器同時對多個圖片進行分析處理。為了實現上述方法，本發(fā)明同時提出了一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，包括滾道、攝像機、驅動裝置和主控裝置；所述滾道由所述驅動裝置驅動，用于傳送微小環(huán)型磁性元件；所述攝像機數量為兩個，分列于滾道兩側相對設置，攝像機的鏡頭前設有用于放大微小環(huán)型磁性元件的光學顯微鏡；所述驅動裝置、攝像機分別連接所述主控裝置，該主控裝置內設置有圖片處理器，且所述圖片處理器內存儲有微小環(huán)型磁性元件不同缺陷線度的允許值；當滾道上的微小環(huán)型磁性元件進入攝像機鏡頭的拍攝區(qū)域時，攝像機發(fā)送信號到所述主控裝置，主控裝置根據該信號控制驅動裝置停止驅動，同時控制攝像機對微小環(huán)型磁性元件拍照并接收照片由圖片處理器對照片處理分析，圖片處理器根據圖片分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度，并將該微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度與不同缺陷線度的允許值進行比較，確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品。本發(fā)明的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備的有益效果為使用兩臺攝像機對微小環(huán)型磁性元件的兩端進行拍照，而在攝像機的鏡頭前設有光學顯微鏡，使得拍照的效果更加清晰，使用圖片處理器進行分析處理，以及按照上述的方法進行確定殘次品，可以快速準確的得到檢測出殘次品，提高檢測效率和準確率，避免人為的檢測錯誤發(fā)生。其中，所述滾道的側上方對應于攝像機的拍攝區(qū)域設有向滾道噴氣的噴氣孔，該噴氣孔連接氣動裝置，該氣動裝置連接所述主控裝置；所述滾道的側面對應所述噴氣孔處適配的設有殘次品收集盒；當所述主控裝置確定殘次品時，主控裝置控制氣動裝置啟動通過噴氣孔將殘次品吹入所述殘次品收集盒。其中，所述攝像機同時對多個微小環(huán)型磁性元件拍照，所述滾道的側上方適配的設有與多個微小環(huán)型磁性元件一一對應的所述噴氣孔。其中，所述滾道分為在同一豎直面上的上滾道和下滾道。其中，所述上滾道和下滾道的殘次品收集盒分別位于下滾道的兩側。其中，所述攝像機安裝于一豎直軌道上且由一電機驅動其沿豎直軌道上下移動，所述電機連接所述主控裝置。其中，所述滾道的一端設有用于將微小環(huán)型磁性元件撥入所述滾道的撥盤，所述滾道上設有用于穩(wěn)定微小環(huán)型磁性元件的定位機構。


圖1為本發(fā)明的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法的一實施例的流程框圖。圖2為本發(fā)明的微小環(huán)型磁性元件示意圖；圖3為本發(fā)明的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備的結構示意圖；圖4為本發(fā)明的支架的結構示意圖。圖中1、微小環(huán)型磁性元件；101、微小環(huán)型磁性元件上的缺陷；2、支架；3、攝像機；4、光學顯微鏡；5、噴氣孔；6、電機；7、殘次品收集盒；8、撥盤；9、豎直軌道；10、上滾道；11、下滾道。
具體實施例方式為詳細說明本發(fā)明的技術內容、構造特征、所實現目的及效果，以下結合實施方式并配合附圖詳予說明。請參閱圖1、圖2、圖3以及圖4，本實施方式一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法，其步驟包括S1、對微小環(huán)型磁性元件I的兩個端面進行拍照并將照片發(fā)送到圖片處理器上；
S2、圖片處理器對圖片進行分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度， 其中，線度為微小環(huán)型磁性元件I上的缺陷的各點之間最長的一條連線的長度，所述的缺 陷一般包括微小環(huán)型磁性元件I上的缺口、晶斑、毛刺、裂紋和整體形變等，如圖1所示的微 小環(huán)型磁性元件上的缺陷101是一種缺口，其中點a到點b的直線距離為該缺陷的線度；在 本實施例中，圖片處理器同時對圖片上的多個微小環(huán)型磁性元件圖案進行分析處理，提高 檢測的速度，提高生產效率。
S3、確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品，其中，圖片處理器中預存不同缺陷線度 的允許值，圖片處理器將所述微小環(huán)型磁性元件I上各種缺陷的線度與對應的允許值比 較，若微小環(huán)型磁性元件上的各缺陷的線度中至少一處大于對應缺陷線度的允許值，則確 定該微小環(huán)型磁性元件為殘次品，若微小環(huán)型磁性元件上的各缺陷的線度值均小于對應缺 陷線度的允許值，則確定該微小環(huán)型磁性元件為合格品；
S4、取出殘次品。在本實施例中，取出殘次品的方法為，確定殘次品的同時確定其 位置，并驅動氣動裝置將殘次品吹進一專門收集殘次品的裝置中，當然，在另一實施例中， 也可以是手動取出殘次品。
通過圖片處理器分析處理得到的微小環(huán)型磁性元件I上的各種缺陷的線度與預 先設定的各種缺陷線度的允許值進行比較，確定微小環(huán)型磁性元件I是否為殘次品，一、提 高了檢測的效率，節(jié)約人力和降低勞動強度；二、提高了檢測的準確度，避免檢測人員因工 作疲勞引起的視覺誤差以及測量者固有習慣引起的誤差等。
在本實施例中，為了實現上述的方法，提出了一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測 設備，包括滾道、攝像機3、驅動裝置和主控裝置；所述滾道由所述驅動裝置驅動，用于傳送 微小環(huán)型磁性元件I ;所述攝像機3數量為兩個，分列于滾道兩側相對設置，攝像機3的鏡 頭前設有用于放大微小環(huán)型磁性元件的光學顯微鏡4 ;所述驅動裝置、攝像機3分別連接所 述主控裝置，該主控裝置內設置有圖片處理器，且所述圖片處理器內存儲有微小環(huán)型磁性 元件I不同缺陷線度的允許值；當滾道上的微小環(huán)型磁性元件I進入攝像機3的鏡頭的拍 攝區(qū)域時，攝像機3發(fā)送信號到所述主控裝置，主控裝置根據該信號控制驅動裝置停止驅 動，同時控制攝像機3對微小環(huán)型磁性元件I拍照并接收照片由圖片處理器對照片處理分 析，圖片處理器根據圖片分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度，并將該微小 環(huán)型磁性元件I上各種缺陷的線度與不同缺陷線度的允許值進行比較，確定微小環(huán)型磁性 元件I是否為殘次品。本發(fā)明的工作原理是將微小環(huán)型磁性元件I放入滾道上，并有滾道 帶動進入攝像機3的拍攝區(qū)域內，此時主控裝置控制傳送裝置停止運動，滾道兩側的攝像 機3對微小環(huán)型磁性元件I拍照，然后將照片發(fā)送給主控裝置進行圖片分析處理確定微小 環(huán)型磁性元件I是否為殘次品，當確定殘次品完成后，可以手動取出殘次品或機械取出殘 次品，主控裝置命令傳送裝置繼續(xù)運動，當待測微小環(huán)型磁性元件I進入攝像機3的拍攝區(qū) 域內時，再次重復上述過程。
使用兩臺攝像機3對微小環(huán)型磁性元件I的兩端進行拍照，而在攝像機3的鏡頭 前設有光學顯微鏡4，使得拍照的效果更加清晰，使用圖片處理器進行分析處理，以及按照 上述的方法進行確定殘次品，可以快速準確的得到檢測出殘次品，提高檢測效率和準確率， 避免人為的檢測錯誤發(fā)生。
在本實施例中，所述滾道的側上方對應于攝像機3的拍攝區(qū)域設有向滾道噴氣的噴氣孔5，噴氣孔5連接氣動裝置，該氣動裝置連接所述主控裝置；所述滾道的側面對應所 述噴氣孔5處適配的設有殘次品收集盒7 ;當所述主控裝置確定殘次品時，主控裝置控制氣 動裝置啟動通過噴氣孔5將殘次品吹入所述殘次品收集盒7，噴氣孔5位于滾道的側上方， 這樣噴氣孔5是斜向滾道的，容易將滾道上的微小環(huán)型磁性元件I吹落。在本實施中，所述 滾道設置與支架2上，噴氣孔5安裝在支架2的滾道上方的側面上。
在本實施例中，所述攝像機3同時對多個微小環(huán)型磁性元件I拍照，所述滾道的側 上方適配的設有與多個微小環(huán)型磁性元件I 一一對應的所述噴氣孔5。這樣可以同時檢測 多個微小環(huán)型磁性元件1，提高檢測效率，而在主控裝置確定某個位置的個微小環(huán)型磁性元 件I為殘次品后，發(fā)出指令啟動氣動裝置從對應的噴氣孔5中吹氣，吹落該殘次的微小環(huán)型 磁性元件I。
在本實施例中，所述滾道分為在同一豎直面上的上滾道10和下滾道11。分上滾道 10和下滾道11，這樣可以在攝像機3的拍攝區(qū)域內盡可能的多的排列微小環(huán)型磁性元件1， 提高檢測速率。所述上滾道10和下滾道11的殘次品收集盒7分別位于下滾道的兩側，對 應的噴氣孔5對應的設在上滾道10的側上方，且傾斜方向根據實際情況調整。如本實施例 中上滾道10和下滾道11對應的檢測區(qū)域分別可以排列五個微小環(huán)型磁性元件1，而殘次品 收集盒7對應的在滾道兩側各設有五個，當然，也可以每邊只設有一個大的殘次品收集盒 7，或者殘次品收集盒7只設計在滾道的一側。
在本實施例中，所述攝像機3安裝于一豎直軌道9上且由一電機6驅動其沿豎直 軌道上下移動，所述電機連接所述主控裝置，這樣可以調整攝像機3的高度，可以對規(guī)格不 同的微小環(huán)型磁性元件I進行拍照檢測。在本實施例中，所述電機6是步進電機，可調性更 強和準確。
在本實施例中，所述滾道的一端設有用于將微小環(huán)型磁性元件I撥入所述滾道的 撥盤8，可以快速的將待檢測的微小環(huán)型磁性元件I撥入到滾道上，所述滾道上設有用于穩(wěn) 定微小環(huán)型磁性元件I的定位機構，可以使的微小環(huán)型磁性元件I在滾道上傳送的更加穩(wěn) 定，拍照的角度和效果更好，提高該設備的檢測準確性。
在本實施例中，微小環(huán)型磁性元件的主要量化界定為
①缺口 微小環(huán)型磁性元件I的內外徑邊緣允許有缺口，但缺口線度不大于O.2mm,大于為殘次品；磁環(huán)表面允許有缺口，但缺口在表面上的線度不大于O. 4mm,大于為 不合格產品。
②晶斑微小環(huán)型磁性元件I表面允許有結晶產生的亮斑(稱為晶斑)，但晶斑在 圓周方向上的線度不大于周長的三分之一，大于為殘次品。
③毛刺微小環(huán)型磁性元件I的磁環(huán)內外徑邊緣允許有小毛刺，但毛刺在磁環(huán)表 面上的線度不大于O. 3mm，大于為殘次品。
④裂紋微小環(huán)型磁性元件I允許有裂紋，但裂紋在圓周方向上的線度不大于四 分之一周長，大于為殘次品。
⑤變形微小環(huán)型磁性元件I允許有輕微變形，但變形磁環(huán)的徑向尺寸和高度都 應當符合標準產品尺寸的公差要求。
以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā) 明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括 在本發(fā)明的專利保護范圍內。
權利要求
1.一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法，其特征在于，包括步驟 51、對微小環(huán)型磁性元件的兩個端面進行拍照并將照片發(fā)送到圖片處理器上； 52、圖片處理器對圖片進行分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度，其中，線度為微小環(huán)型磁性元件上的缺陷的各點之間最長的一條連線的長度； 53、確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品，其中，圖片處理器中預存不同缺陷線度的允許值，圖片處理器將所述微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度與對應的允許值比較，若微小環(huán)型磁性元件上的各缺陷的線度中至少一處大于對應缺陷線度的允許值，則確定該微小環(huán)型磁性元件為殘次品，若微小環(huán)型磁性元件上的各缺陷的線度值均小于對應缺陷線度的允許值，則確定該微小環(huán)型磁性元件為合格品。
2.根據權利要求1所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法，其特征在于，所述步驟S3后還包括步驟S4取出殘次品，其方法是，確定殘次品的同時確定其位置，并驅動氣動裝置將殘次品吹進一專門收集殘次品的裝置中。
3.根據權利要求1或2所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法，其特征在于，所述步驟S2中，圖片處理器同時對圖片上的多個微小環(huán)型磁性元件圖案進行分析處理。
4.一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，包括滾道、攝像機、驅動裝置和主控裝置； 所述滾道由所述驅動裝置驅動，用于傳送微小環(huán)型磁性元件；所述攝像機數量為兩個，分列于滾道兩側相對設置，攝像機的鏡頭前設有用于放大微小環(huán)型磁性元件的光學顯微鏡; 所述驅動裝置、攝像機分別連接所述主控裝置，該主控裝置內設置有圖片處理器，且所述圖片處理器內存儲有微小環(huán)型磁性元件不同缺陷線度的允許值； 當滾道上的微小環(huán)型磁性元件進入攝像機鏡頭的拍攝區(qū)域時，攝像機發(fā)送信號到所述主控裝置，主控裝置根據該信號控制驅動裝置停止驅動，同時控制攝像機對微小環(huán)型磁性元件拍照并接收照片由圖片處理器對照片處理分析，圖片處理器根據圖片分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度，并將該微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度與不同缺陷線度的允許值進行比較，確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品。
5.根據權利要求4所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，所述滾道的側上方對應于攝像機的拍攝區(qū)域設有向滾道噴氣的噴氣孔，該噴氣孔連接氣動裝置，該氣動裝置連接所述主控裝置； 所述滾道的側面對應所述噴氣孔處適配的設有殘次品收集盒； 當所述主控裝置確定殘次品時，主控裝置控制氣動裝置啟動通過噴氣孔將殘次品吹入所述殘次品收集盒。
6.根據權利要求5所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，所述攝像機同時對多個微小環(huán)型磁性元件拍照，所述滾道的側上方適配的設有與多個微小環(huán)型磁性兀件對應的所述噴氣孔。
7.根據權利要求6所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，所述滾道分為在同一豎直面上的上滾道和下滾道。
8.根據權利要求7所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，所述上滾道和下滾道的殘次品收集盒分別位于下滾道的兩側。
9.根據權利4-8所述的任一項所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，所述攝像機安裝于一豎直軌道上且由一電機驅動其沿豎直軌道上下移動，所述電機連接所述主控裝置。
10.根據權利4-8所述的任一項所述的微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測設備，其特征在于，所述滾道的一端設有用于將微小環(huán)型磁性元件撥入所述滾道的撥盤，所述滾道上設有用于穩(wěn)定微小環(huán)型磁性元件的定位機構。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種微小環(huán)型磁性元件的視覺檢測方法，包括步驟S1、對微小環(huán)型磁性元件的兩個端面進行拍照并將照片發(fā)送到圖片處理器上；S2、圖片處理器對圖片進行分析處理得到微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度，其中，線度為微小環(huán)型磁性元件上的缺陷的各點之間最長的一條連線的長度；S3、確定微小環(huán)型磁性元件是否為殘次品，其中，圖片處理器中預存不同缺陷線度的允許值，圖片處理器將微小環(huán)型磁性元件上各種缺陷的線度與對應的允許值比較檢測出殘次品，同時公布了一種完成上述方法的設備，使用本發(fā)明的方法和設備檢測微小環(huán)型磁性元件，提高了檢測的效率、提高了檢測的準確度人物的引起的錯誤檢測。
文檔編號G01N21/88GK103033518SQ201210581458
公開日2013年4月10日 申請日期2012年12月28日 優(yōu)先權日2012年12月28日
發(fā)明者余羅兼, 何炳蔚, 陳世輝, 龔世代 申請人:福建工程學院