專利名稱：鎢絲繩繞制機ccd取像放大顯示方法及其檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于晶體生長裝備配套設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域、微細(xì)絲繩繞制設(shè)備制造領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
鎢絲繩是用微細(xì)鎢絲繞制而成，在繞制過程中需要隨時觀察、監(jiān)控鎢絲、股、繩的工作狀態(tài)，由于比較細(xì)，所以肉眼觀察困難。在合股過程中，出現(xiàn)斷絲或不符合要求的情況下，無法及時監(jiān)控發(fā)現(xiàn)，會造成鎢絲繩質(zhì)量瑕疵。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種鎢絲繩繞制機CXD取像放大顯示方法及其檢測裝置，以解決鎢絲繩繞制過程中的監(jiān)控問題。鎢絲繩繞制機CXD取像放大顯示方法，其特征是在鎢絲繩絞捻中，將被監(jiān)控工作件成像，并用精密顯微鏡放大，其影像被投放在CXD芯片上，通過CXD將圖像處理成電信息輸送到顯示處理系統(tǒng)，并放大、顯示在顯示器圖面中。實現(xiàn)所述的鎢絲繩繞制機CXD取像放大顯示方法的檢測裝置，其特征是CXD取像放大顯示檢測裝置通過顯微鏡底座與鎢絲繩繞制機上特定位置固定連接在一起；顯微鏡底座上部設(shè)有直接照在鎢絲繩上的光源，顯微鏡上部具有(XD，CXD的芯片上與顯示器相連。本發(fā)明優(yōu)點是本身很微細(xì)的絲、股、繩被放大，使觀察更方便，更直接，更清楚。有助于發(fā)現(xiàn)鎢絲、股、繩生產(chǎn)過程中的瑕疵，增強了鎢絲繩產(chǎn)品質(zhì)量的保證和監(jiān)控水平的提聞。


圖為本發(fā)明原理示意圖。圖號說明1-(XD，2-顯微鏡，3-光源，4-鎢絲繩，5-顯微鏡底座，6_座，7_顯不器,8_設(shè)備外殼。
具體實施例方式本發(fā)明為了更好的觀察及檢驗精細(xì)鎢絲繩(或股)的繞制狀態(tài)，在鎢絲繩繞制機設(shè)備采用了 C⑶取像放大顯示檢測裝置。其原理是將被監(jiān)控工作件成像，并用精密顯微鏡放大，其影像被投放在C⑶芯片上，CXD將圖像處理成電信息輸送到顯示處理系統(tǒng)，并放大、顯示在顯示器圖面中。如圖所示，CXD取像放大顯示檢測裝置通過顯微鏡底座5與鎢絲繩繞制機上的座6固定連接在一起。光源3直接照在鎢絲繩4上，使攝像更加清晰。顯微鏡2取像放大鎢絲繩4，其影像被投放在CXDl芯片上，將圖像處理成電信息輸送到顯示處理系統(tǒng)，并放大、顯示在顯示器7的圖面中，便于觀察及檢驗鎢絲繩(或股)的形狀和運行狀態(tài)。
權(quán)利要求
1.鎢絲繩繞制機CCD取像放大顯示方法，其特征是在鎢絲繩絞捻中將被監(jiān)控工作件成像，并用精密顯微鏡放大，其影像被投放在CXD芯片上，通過CXD將圖像處理成電信息輸送到顯示處理系統(tǒng)，并放大、顯示在顯示器圖面中。
2.實現(xiàn)如權(quán)利要求1所述的鎢絲繩繞制機CCD取像放大顯示方法的檢測裝置，其特征是CXD取像放大顯示檢測裝置通過顯微鏡底座(5)與鎢絲繩繞制機上的座(6)固定連接在一起；顯微鏡底座(5 )上部設(shè)有直接照在鎢絲繩(4 )上的光源(3 )，顯微鏡(2 )上部具有CXD(1)，(XD (I)的芯片上與顯示器(7)相連。
全文摘要
本發(fā)明目的是提供一種鎢絲繩繞制機CCD取像放大顯示方法及其檢測裝置，以解決鎢絲繩繞制過程中的監(jiān)控問題。鎢絲繩繞制機CCD取像放大顯示方法，其特征是在鎢絲繩絞捻中將將被監(jiān)控工作件成像，并用精密顯微鏡放大，其影像被投放在CCD芯片上，通過CCD將圖像處理成電信息輸送到顯示處理系統(tǒng)，并放大、顯示在顯示器圖面中。實現(xiàn)所述的鎢絲繩繞制機CCD取像放大顯示方法的檢測裝置，其特征是CCD取像放大顯示檢測裝置通過顯微鏡底座與鎢絲繩繞制機上的特定座固定連接在一起；顯微鏡底座上部設(shè)有直接照在鎢絲繩上的光源，顯微鏡上部具有CCD，CCD的芯片上與顯示器相連。本發(fā)明優(yōu)點是本身很微細(xì)的絲、股、繩被放大，使觀察、監(jiān)控更方便，更直接，更清楚。有助于發(fā)現(xiàn)鎢絲、股、繩生產(chǎn)過程中的瑕疵，增強了鎢絲繩產(chǎn)品質(zhì)量的保證和監(jiān)控水平的提高。
文檔編號G01N21/95GK103063681SQ20121056028
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月21日
發(fā)明者符云舒 申請人:符云舒