專利名稱：一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶制造領(lǐng)域，尤其涉及一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著印刷電路板(Printed Circuit Board ;PCB)工藝的不斷進(jìn)步，印刷電路板布 線的線寬和線間距越來越小，以便滿足不同產(chǎn)品的電路板需求和節(jié)省電路板的寬間。但是 由于布線的寬度及線間的間距都非常小，容易發(fā)生斷路或短路的現(xiàn)象，從而對生產(chǎn)造成困 擾。為了解決這一問題，現(xiàn)有技術(shù)中一般采用電學(xué)測試的方法，以檢測電路板布線是否存在 短路或斷路的情況。
但是電學(xué)測試的方法只能檢測電路板布線是否存在短路或斷路，而無法反饋出電 路板上布線中存在短路或斷路缺陷的具體坐標(biāo)位置，進(jìn)而造成不良品無法及時發(fā)現(xiàn)，影響 產(chǎn)線的生產(chǎn)效率。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種方法布線檢測方法及檢測系統(tǒng)，以解決問題現(xiàn)有技術(shù)中 電學(xué)測試無法檢測反饋電路板缺陷具體位置的問題。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的
本發(fā)明實施例提供一種布線檢測方法，步驟如下
預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布 線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于 識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值；
根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，光學(xué)掃描待檢測電 路板的當(dāng)前待檢測布線，判斷所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；以 及，
根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)組和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，光學(xué)掃描所述當(dāng) 前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是 否短路。
優(yōu)選的，預(yù)先在所述待檢測電路板上設(shè)置機(jī)讀碼，并將所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)保存在 所述數(shù)據(jù)信息中，所述機(jī)讀碼用于標(biāo)識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
優(yōu)選的，檢測所述當(dāng)前待檢測布線斷路的步驟如下
根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線；
根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標(biāo)，光學(xué)掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待 檢測布線，當(dāng)掃描到的光照反饋值是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述 測試點的坐標(biāo)的位置正常；掃描到的光照反饋值不是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待 檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置斷路。
優(yōu)選的，檢測所述當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下
根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)所述測試點的坐標(biāo)組，光學(xué)掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線，當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值不具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間未短路；當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間短路。優(yōu)選的，還包括根據(jù)所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果，以及所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。優(yōu)選的，所述機(jī)讀碼為所述光學(xué)檢測設(shè)備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。本發(fā)明的有益效果如下通過光學(xué)檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準(zhǔn)確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。本發(fā)明實施例提供一種布線檢測系統(tǒng)，預(yù)設(shè)單元，用于預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值；光學(xué)掃描單元，用于根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線；或者，根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)組和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描所述當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線；判斷單元，用于判斷所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；或者，用于判斷所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。優(yōu)選的，所述預(yù)設(shè)單元還用于預(yù)先在所述數(shù)據(jù)信息中設(shè)置機(jī)讀碼的坐標(biāo)；其中，所述機(jī)讀碼設(shè)置在所述待檢測電路板上，用于標(biāo)識所述待檢測電路板上的待檢測布線。優(yōu)選的，還包括所述光學(xué)掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標(biāo)，掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線；所述判斷單元，具體用于當(dāng)掃描到的光照反饋值是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置正常；掃描到光照反饋值不是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置斷路。優(yōu)選的，還包括所述光學(xué)掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)所述測試點的坐標(biāo)組，掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線；所述判斷單元，具體用于當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值不具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間未短路；當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間短路。優(yōu)選的，還包括輸出單元，用于根據(jù)所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果，以及所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。本發(fā)明的有益效果如下通過光學(xué)檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準(zhǔn)確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。


圖1為本發(fā)明實施例一所述布線檢測方法的流程圖；圖2為本發(fā)明實施例二所述布線檢測原理的示意圖；圖3為本發(fā)明實施例二所述布線檢測反饋的示意圖；圖4為本發(fā)明實施例三所述布線檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式下面結(jié)合說明書附圖對本發(fā)明實施例的實現(xiàn)過程進(jìn)行詳細(xì)說明。本發(fā)明實施例一，提供一種布線檢測方法，如圖1所示，步驟如下步驟S101，預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值；步驟S102，根據(jù)坐標(biāo)系、測試點的坐標(biāo)和光照反饋值，光學(xué)掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線，判斷當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；以及，步驟S103，根據(jù)坐標(biāo)系、測試點的坐標(biāo)組和預(yù)設(shè)光照反饋值，光學(xué)掃描當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間是否短路。優(yōu)選的，預(yù)先在待檢測電路板上設(shè)置機(jī)讀碼，并將機(jī)讀碼的坐標(biāo)保存在數(shù)據(jù)信息中，機(jī)讀碼用于標(biāo)識待檢測電路板上的待檢測布線。優(yōu)選的，檢測當(dāng)前待檢測布線斷路的步驟如下根據(jù)坐標(biāo)系查找機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)待檢測布線的測試點的坐標(biāo)，光學(xué)掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線，當(dāng)掃描到的光照反饋值是預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)的位置正常；掃描到的光照反饋值不是預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)的位置斷路。優(yōu)選的，檢測當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下根據(jù)坐標(biāo)系查找機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)測試點的坐標(biāo)組，光學(xué)掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線，當(dāng)掃描到的坐標(biāo)組之間的光照反饋值不具有預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標(biāo)組之間未短路；當(dāng)掃描到的坐標(biāo)組之間的光照反饋值具有預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標(biāo)組之間短路。優(yōu)選的，還包括根據(jù)當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果，以及當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間在測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。優(yōu)選的，機(jī)讀碼為光學(xué)檢測設(shè)備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。
本發(fā)明的有益效果如下通過光學(xué)檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準(zhǔn)確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。本發(fā)明實施例二，根據(jù)本發(fā)明提供的方法對電路板布線進(jìn)行檢測，如圖2所示，包括待檢測布線1，機(jī)讀碼2，缺陷3和缺陷4。其中缺陷3為斷路缺陷，缺陷4為短路缺陷。步驟一，首先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值。為了方便說明，只例舉幾個檢測點，其中，測試點11至14，坐標(biāo)分另Ij為(30，50 )、( 50，70 )、( 95，50 )和(155，50 )，并且測試點13和測試點14的坐標(biāo)組成坐標(biāo)組(95, 50), (155, 50)。同時,本發(fā)明實施例中，光照反饋值為電路板布線的光反射強(qiáng)度值或光透過強(qiáng)度值，反之，也可以設(shè)置布線區(qū)域中除布線外的空白區(qū)域的光反射強(qiáng)度值或光透過強(qiáng)度值作為檢測的光照反饋值，與本發(fā)明實施例的方法相似，不再重復(fù)舉例。需要說明的是，金板為無缺陷的電路板，在本方案中具體指布線區(qū)域沒有缺陷的基板，可以作為標(biāo)準(zhǔn)基板來使用；坐標(biāo)系為金板和待檢測電路板統(tǒng)一的坐標(biāo)系，這樣就可以根據(jù)這一統(tǒng)一的坐標(biāo)系在待檢測電路板上快速定位檢測的起始位和測試點的坐標(biāo)；用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組可以包含測試點的橫縱坐標(biāo)、同一縱坐標(biāo)下的橫坐標(biāo)或同一橫坐標(biāo)下的縱坐標(biāo)。第一種情況，光學(xué)掃描的過程可以沿兩坐標(biāo)組之間的連線進(jìn)行掃描，例如，坐標(biāo)組(200，120 )和(220，140 )，此時在兩個坐標(biāo)點之間進(jìn)行光學(xué)掃描；第二種情況，若縱坐標(biāo)相同，光學(xué)掃描的過程可以沿與橫坐標(biāo)平行的連線進(jìn)行掃描，例如，縱坐標(biāo)均為120，橫坐標(biāo)組(200，220)，此時，在縱坐標(biāo)為120，橫坐標(biāo)由200至220進(jìn)行光學(xué)掃描；第三種情況，若橫坐標(biāo)相同，光學(xué)掃描過程可以沿與縱坐標(biāo)平行的連線進(jìn)行掃描，例如，橫坐標(biāo)均為220，縱坐標(biāo)組(120，140)，此時，在橫坐標(biāo)為220，縱坐標(biāo)由120至140進(jìn)行光學(xué)掃描。當(dāng)然坐標(biāo)組也可以為(200，120)和(200，140)，或(200，120)和(220，120)，此時與第二、三種情況的數(shù)據(jù)意義相同。當(dāng)然，在實際操作中，需要統(tǒng)一坐標(biāo)組的設(shè)置。以上舉例數(shù)值均為了說明，并未對本發(fā)明的方案做任何限定。在此實施例中，應(yīng)用第一種情況進(jìn)行舉例，其它類似的能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的方式不再重復(fù)舉例。其中，待檢測電路板中的坐標(biāo)原點0 (0，0)，第I條布線機(jī)讀碼坐標(biāo)(0，-5)，第2條布線機(jī)讀碼坐標(biāo)(65，-5)，第3條布線機(jī)讀碼坐標(biāo)(130，-5)，第4條布線機(jī)讀碼坐標(biāo)(195，-5)，第5條布線機(jī)讀碼坐標(biāo)(260，-5)。步驟二，根據(jù)坐標(biāo)系查找第I條布線機(jī)讀碼的坐標(biāo)(0，-5)，并命中第I條布線。步驟三，根據(jù)第I條布線的測試點11的坐標(biāo)(30，50)，掃描到的光照反饋值不是預(yù)設(shè)光照反饋值，從而確定第I條布線在測試點11存在斷路故障；根據(jù)第I條布線的測試點12的坐標(biāo)(50，70)，掃描到的光照反饋值是預(yù)設(shè)光照反饋值，從而確定第I條布線在測試點12正常。步驟四，根據(jù)坐標(biāo)系查找第2條布線機(jī)讀碼的坐標(biāo)(65，_5)，并命中第2條布線，同時也可以根據(jù)第3條布線機(jī)讀碼的坐標(biāo)(130，-5)驗證是否可以命中第3條布線。步驟五，根據(jù)第2條布線的測試點13和測試點14的坐標(biāo)組(95，50)和(155，50)，由坐標(biāo)(95，50)至坐標(biāo)(155，50)進(jìn)行光學(xué)掃描，掃描過程中獲得的光照反饋值全部或部分為預(yù)設(shè)的光照反饋值；因此判斷第2條布線與第3條布線在測試點13和測試點14之間短路。
根據(jù)步驟一至步驟五，對圖2所示的電路板布線進(jìn)行掃描，其中，根據(jù)固定的縱坐標(biāo)增量，橫向掃描布線I包括的第I條布線至第5條布線，可以得到如圖3所示的圖形，其中橫線所示部分為布線描述反饋結(jié)果，兩列橫線之間的空白列為電路板中兩條相鄰布線之間的空白區(qū)域，得到如圖3所示的缺陷3和缺陷4。本發(fā)明實施例提供一種布線檢測系統(tǒng)，如圖4所示，包括預(yù)設(shè)單元301，用于預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值；光學(xué)掃描單元302，用于根據(jù)坐標(biāo)系、測試點的坐標(biāo)和預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線；或者，根據(jù)坐標(biāo)系、測試點的坐標(biāo)組和預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線；判斷單元303，用于判斷當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；或者，用于判斷當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間是否短路。優(yōu)選的，預(yù)設(shè)單元301還用于預(yù)先在數(shù)據(jù)信息中設(shè)置機(jī)讀碼的坐標(biāo)；其中，機(jī)讀碼設(shè)置在待檢測電路板上，用于標(biāo)識待檢測電路板上的待檢測布線。優(yōu)選的，還包括光學(xué)掃描單元302，具體用于根據(jù)坐標(biāo)系查找機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)待檢測布線的測試點的坐標(biāo)，掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線；判斷單元303，具體用于當(dāng)掃描到的光照反饋值是預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)的位置正常；掃描到光照反饋值不是預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)的位置斷路。優(yōu)選的，還包括光學(xué)掃描單元302，具體用于根據(jù)坐標(biāo)系查找機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)測試點的坐標(biāo)組，掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線；判斷單元303，具體用于當(dāng)掃描到的坐標(biāo)組之間的光照反饋值不具有預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標(biāo)組之間未短路；當(dāng)掃描到的坐標(biāo)組之間的光照反饋值具有預(yù)設(shè)光照反饋值時，當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標(biāo)組之間短路。優(yōu)選的，還包括輸出單元304，用于根據(jù)當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果，以及當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間在測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。本發(fā)明的有益效果如下通過光學(xué)檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準(zhǔn)確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進(jìn)行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種布線檢測方法，其特征在于，步驟如下 預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值； 根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，光學(xué)掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線，判斷所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；以及， 根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)組和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，光學(xué)掃描所述當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，預(yù)先在所述待檢測電路板上設(shè)置機(jī)讀碼，并將所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)保存在所述數(shù)據(jù)信息中，所述機(jī)讀碼用于標(biāo)識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，檢測所述當(dāng)前待檢測布線斷路的步驟如下 根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線； 根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標(biāo)，光學(xué)掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線，當(dāng)掃描到的光照反饋值是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置正常；掃描到的光照反饋值不是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置斷路。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，檢測所述當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下 根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線； 根據(jù)所述測試點的坐標(biāo)組，光學(xué)掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線，當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間不具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間未短路；當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間短路。
5.如權(quán)利要求3或4所述的方法，其特征在于，還包括根據(jù)所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果，以及所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述機(jī)讀碼為所述光學(xué)檢測設(shè)備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。
7.一種布線檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括 預(yù)設(shè)單元，用于預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值； 光學(xué)掃描單元，用于根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線；或者，根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)組和所述預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描所述當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線； 判斷單元，用于判斷所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；或者，用于判斷所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。
8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述預(yù)設(shè)單元還用于預(yù)先在所述數(shù)據(jù)信息中設(shè)置機(jī)讀碼的坐標(biāo)；其中，所述機(jī)讀碼設(shè)置在所述待檢測電路板上，用于標(biāo)識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
9.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 所述光學(xué)掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標(biāo)，掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線； 所述判斷單元，具體用于當(dāng)掃描到的光照反饋值是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置正常；掃描到光照反饋值不是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置斷路。
10.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 所述光學(xué)掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)，以命中所述當(dāng)前待檢測布線；根據(jù)所述測試點的坐標(biāo)組，掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線； 所述判斷單元，具體用于當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值不具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間未短路；當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時，所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間短路。
11.如權(quán)利要求9或10所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括輸出單元，用于根據(jù)所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果，以及所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)，方法步驟如下預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值；根據(jù)坐標(biāo)系、測試點的坐標(biāo)和預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線，判斷當(dāng)前待檢測布線在測試點的坐標(biāo)位置是否斷路；以及，根據(jù)坐標(biāo)系、測試點的坐標(biāo)組和預(yù)設(shè)光照反饋值，掃描當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間是否短路。本發(fā)明的有益效果如下通過光學(xué)檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準(zhǔn)確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。
文檔編號G01N21/956GK103033521SQ20121054032
公開日2013年4月10日 申請日期2012年12月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月13日
發(fā)明者王守坤, 孫亮, 李梁梁, 郭會斌, 劉曉偉 申請人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司