專利名稱：一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域，尤其涉及一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置。
背景技術(shù)：
隨著信息社會的發(fā)展，人們對顯示設(shè)備的需求得到了增長。為了滿足這種需求，最近幾種平板顯示設(shè)備，例如IXD液晶顯示器件，F(xiàn)1DP (Plasma Display Panel,等離子顯示板)，OLED (Organic Light-Emitting Diode有機發(fā)光二極管)都得到了迅猛的發(fā)展。在平板顯示器件當(dāng)中，液晶顯示器件由于其重量低、體積小、能耗低的優(yōu)點，正在逐步取代冷陰極顯示設(shè)備。但最初出現(xiàn)的TN(Twisted nematic,扭曲向列型)或STN(Super twisted nematic,超扭曲向列型)液晶顯示器都存在對比度低,視角差等問題點。隨著人們生活水平的提高，對顯示器件的要求也越來越高，因此IPS (In Plan Switch,面內(nèi)開關(guān)顯示模式)，VA (Vertical Alignment,垂直配向顯示模式)等廣視角顯示技術(shù)得到了飛躍的發(fā)展。對于IPS面內(nèi)開關(guān)顯示模式，其具有非常好的廣視角顯示效果，但是為了實現(xiàn)較好的面內(nèi)開關(guān)顯示模式的顯示效果，在其生產(chǎn)過程中，對于摩擦工序的要求也就非常的高，這在很大程度上造成其摩擦的工藝冗余度較小。在大規(guī)模生產(chǎn)過程中，容易時不時地出現(xiàn)問題。同IPS面內(nèi)開關(guān)模式相比，VA垂直配向模式在生產(chǎn)過程中不需要摩擦工藝，所以大大提高了其在大規(guī)模生產(chǎn)上的優(yōu)勢。目前，比較流行的是采用攙有高分子聚合單體的液晶，在后續(xù)的工藝過程中，通過紫外光和電的雙重效果，實現(xiàn)光配向。這種顯示模式被稱為PSVA (PSVA Polymer stainedvertical alignment,高分子穩(wěn)定垂直配向模式),其特點表現(xiàn)在彩膜側(cè)既不存在突起,也不存在ITO slit (裂縫)。這不僅節(jié)省了彩膜的制作成本，而且還提高了整體的透過率。但是，由于高分子穩(wěn)定垂直配向模式使用紫外光配向，且紫外光是通過玻璃基板、配向膜上的各個層別后，才照射到液晶上的，所以實際照射到液晶上的紫外光的照度受基板的影響非常大。在一般的生產(chǎn)控制上，都是通過控制照射時間來進行生產(chǎn)管理的。但是由于大量生產(chǎn)時，基板的個體差異非常大，所以單純的控制照射時間往往會造成配向不足或者配向過度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置，通過檢測光配向的終止點控制配向的反應(yīng)終點，降低玻璃基板個體差異對光配向的影響，且不會影響反應(yīng)單體進行配向的反應(yīng)過程。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明公開了一種光配向液晶材料的終點檢測方法，包括以下步驟
對液晶材料進行光配向，其包括在電場作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)；
檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值，判斷檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。優(yōu)選的，所述檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的步驟包括以下步驟 對所述液晶材料進行紅外光照射；
根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值。優(yōu)選的，所述根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的步驟包括 獲取所述肉桂酸成分中碳碳雙鍵對特定波長紅外光吸收強度的步驟。優(yōu)選的，所述對所述液晶材料進行紅外光照射的步驟包括以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光對所述液晶材料進行照射。優(yōu)選的，所述檢測所述液晶盒厚度變化數(shù)值的步驟至少包括以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對所述液晶盒進行照射的步驟。優(yōu)選的，所述入射光的波長為580nm。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一種技術(shù)方案為一種光配向液晶材料的終點檢測裝置，至少包括
用以產(chǎn)生電場的電場裝置；
用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進而實現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置；
用以檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的第一檢測裝置；以及用以判斷所述檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第一判斷裝置，當(dāng)所述第一判斷裝置判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。優(yōu)選的，所述第一檢測裝置至少包括
紅外線發(fā)射探頭，裝設(shè)在液晶材料液晶盒的頂部，用于向液晶盒發(fā)射以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光；
紅外線接收探頭，裝設(shè)在液晶盒的底部，用于接收穿透所述液晶盒的所述紅外光；以及用于根據(jù)所述紅外線發(fā)射探頭發(fā)射紅外光和所述紅外線接收探頭接收紅外光情況，獲取所述液晶盒中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，及反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的濃度檢測器。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一種技術(shù)方案為一種光配向液晶材料的終點檢測裝置，至少包括
用以產(chǎn)生電場的電場裝置；
用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進而實現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置；
用以檢測液晶材料中液晶盒厚度變化數(shù)值的第二檢測裝置；以及用以判斷所述檢測出的所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第二判斷裝置，當(dāng)所述第二判斷裝置判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。
優(yōu)選的，所述第二檢測裝置至少包括
光源，用于產(chǎn)生以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對所述液晶盒進行照射。本發(fā)明所提供的光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置，具有如下有益效果通過檢測反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或液晶盒的厚度變化情況，判斷光配向液晶材料的終止點，進而可以實施對光配向照射時間的自動控制，能夠降低玻璃基板因個體差異對光配所造成的影響，且不會干擾反應(yīng)單體進行光配向的反應(yīng)過程。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以 根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測方法實施例一的流程框圖。圖2是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測方法實施例一的具體流程框圖。圖3是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測方法實施例一中肉桂酸的分子結(jié)構(gòu)圖。圖4是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測方法實施例二的流程框圖。圖5是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測裝置實施例一的結(jié)構(gòu)框圖。圖6是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測裝置實施例一中檢測反應(yīng)單體殘留數(shù)量的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測裝置實施例二的結(jié)構(gòu)框圖。圖8是本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測裝置實施例二中檢測液晶盒厚度變化數(shù)值的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面參考附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行描述。結(jié)合參見圖I-圖3，為本發(fā)明光配向液晶材料終點檢測方法的實施例一。本實施例中的光配向液晶材料的終點檢測方法應(yīng)用在PSVA高分子穩(wěn)定垂直配向模式中，參見圖1，為發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測方法實施例一的流程框圖，其包括以下步驟
對液晶材料進行光配向，其包括在電場作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)；
檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量，判斷檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。步驟S10，對液晶材料進行光配向，例如，使用紫外光配向，且紫外光是通過玻璃基板、配向膜上的各個層別后，照射到液晶材料上。紫外光使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)。步驟S201，檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量。本步驟通過檢測反應(yīng)單體殘留的數(shù)量為后續(xù)判斷光配向的終止點做好準(zhǔn)備。相對于僅通過使用控制照射時間對光配向進行管理的單一管理模式，通過該步驟可以克服僅通過控制照射時間對光配向進行管理造成的配向不足或配向過度。進一步的，如圖2所示，位本發(fā)明用于光配向液晶材料的終點檢測方法實施例一的具體流程框圖。檢測液晶材料中反應(yīng)單體殘留數(shù)量的步驟通過如下方式實施。步驟S202，對液晶材料進行紅外光照射。紅外光照射的作用是使反應(yīng)單體在一定程度上吸收紅外光，進而實施檢測液晶材料中反應(yīng)單體殘留數(shù)量的步驟。此外，由于反應(yīng)單體在紅外光的照射下，不會弓I發(fā)聚合反應(yīng)，所以在整個反應(yīng)過程中，可以一直進行測量，根據(jù)預(yù)先的規(guī)格，確定反應(yīng)終止點。也就是說，該步驟以不引發(fā)反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光對液晶材料進行照射即可。步驟S203，獲取所述肉桂酸成分中碳碳雙鍵對特定波長紅外光吸收強度的步驟。 步驟S204，根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值。上述兩步驟的作用是由于上述光配向反應(yīng)完畢后，反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度會下降，所以通過分析肉桂酸化學(xué)結(jié)構(gòu)中鄰苯碳碳雙鍵的特定波長的紅外吸收強度，就可以計算出液晶盒內(nèi)的反應(yīng)單體的殘留數(shù)量，進而可以通過判斷得到光配向反應(yīng)的終止點，其中，肉桂酸的分子結(jié)構(gòu)如圖3所示。步驟S301，判斷檢測出的反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時，則為液晶材料光配向的終止點。該步驟包括以下
步驟S302，判斷反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，若肉桂酸的濃度下降值達(dá)到了預(yù)設(shè)值，說明液晶材料中反應(yīng)單體的殘留數(shù)量也相應(yīng)達(dá)到了預(yù)設(shè)值，進而轉(zhuǎn)入步驟S40，該時間點為光配向的終止點，應(yīng)該采取停止配向的措施，否則容易配向過度。若肉桂酸的濃度下降值還未達(dá)到預(yù)設(shè)值，說明液晶材料中反應(yīng)單體的殘留數(shù)量也未達(dá)到相應(yīng)的預(yù)設(shè)值，此時，需要繼續(xù)光配向過程，防止配向不足，并轉(zhuǎn)入繼續(xù)判斷的步驟。參見圖4，為本發(fā)明光配向液晶材料終點檢測方法的實施例二。本實施例與上述實施例一的不同之處在于本實施例是通過檢測液晶材料，也就是液晶盒厚度的變化數(shù)值獲得光配向液晶材料的終止點。本實施例的原理是；在光配向的液晶盒的光配向反應(yīng)過程中，由于反應(yīng)單體發(fā)生聚合，會伴隨液晶盒盒厚的降低，所以通過檢測液晶盒的盒厚，就可以得到光配向的反應(yīng)進度。其包括以下步驟
步驟S205，檢測液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值，通過檢測液晶盒的盒厚變化，得到光配向的反應(yīng)進度，其包括以不引發(fā)反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對液晶盒進行照射，例如，使用波長為580nm的可見光進行照射。本步驟通過對液晶盒進行照射為后續(xù)檢測液晶盒的盒厚變化及判斷光配向的終止點做好準(zhǔn)備。步驟S304，判斷檢測出的液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，若判斷為是，轉(zhuǎn)入步驟S40，該時間點為光配向的終止點，應(yīng)采取停止配向的措施，否則容易配向過度。若判斷為否，則需繼續(xù)光配向的過程，防止配向不足，并轉(zhuǎn)入繼續(xù)判斷的步驟。本發(fā)明公開了一種光配向液晶材料的終點檢測裝置，結(jié)合參見圖5、圖6所示，為本發(fā)明光配向液晶材料終點檢測裝置的實施例一。參見圖5， 本發(fā)明光配向液晶材料的終點檢測裝置至少包括
電場裝置101，用以產(chǎn)生電場；
輻射光裝置102，用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進而實現(xiàn)液晶材料的配向；
第一檢測裝置201，用以檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量；以及第一判斷裝置301，用以判斷所述檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到預(yù)設(shè)值，當(dāng)所述第一判斷裝置301判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。如圖6所示，第一檢測裝置201至少包括
紅外線發(fā)射探頭2011，裝設(shè)在液晶材料液晶盒4的頂部，用于向液晶盒4發(fā)射以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光；
紅外線接收探頭2012，裝設(shè)在液晶盒4的底部，用于接收穿透液晶盒4的紅外光；以及用于根據(jù)所述紅外線發(fā)射探頭2011發(fā)射紅外光和所述紅外線接收探頭2012接收紅外光情況，獲取所述液晶盒4中反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，及反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的濃度檢測器2013。紅外線發(fā)射探頭2011和紅外線接收探頭2012的作用是使反應(yīng)單體在一定程度上吸收紅外光，進而實施檢測液晶材料中反應(yīng)單體的殘留數(shù)量。此外，由于反應(yīng)單體在紅外光的照射下，不會弓I發(fā)聚合反應(yīng)，所以在整個反應(yīng)過程中，可以一直進行測量，根據(jù)預(yù)先的規(guī)格，確定反應(yīng)終止點。濃度檢測器2013的作用是在上述光配向反應(yīng)完畢后，反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度會下降，所以濃度檢測器2013可以通過分析肉桂酸化學(xué)結(jié)構(gòu)中鄰苯碳碳雙鍵的特定波長的紅外吸收強度，計算出液晶盒內(nèi)的反應(yīng)單體的殘留數(shù)量，進而可以通過第一判斷裝置301的判斷得到光配向反應(yīng)的終止點。實施時，第一判斷裝置301判斷反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，若肉桂酸的濃度下降值達(dá)到了預(yù)設(shè)值，說明液晶材料中反應(yīng)單體的殘留數(shù)量也相應(yīng)達(dá)到了預(yù)設(shè)值，該時間點為光配向的終止點，應(yīng)該采取停止配向的措施，否則容易配向過度；若第一判斷裝置301判斷肉桂酸的濃度下降值還未達(dá)到預(yù)設(shè)值，則相應(yīng)的，液晶材料中反應(yīng)單體的殘留數(shù)量也未達(dá)到預(yù)設(shè)值，此時，需要繼續(xù)光配向過程，以防止配向不足。結(jié)合參見圖7、圖8所示，為本發(fā)明光配向液晶材料終點檢測裝置的實施例二。參見圖7，本發(fā)明光配向液晶材料的終點檢測裝置至少包括
電場裝置101，用以產(chǎn)生電場；
輻射光裝置102，用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進而實現(xiàn)液晶材料的配向；
第二檢測裝置202，用以檢測液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值；以及第二判斷裝置302，用以判斷所述檢測出的所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到預(yù)設(shè)值，當(dāng)所述第二判斷裝置302判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。本實施例的原理是；在光配向的液晶盒的光配向反應(yīng)過程中，由于反應(yīng)單體發(fā)生聚合，會伴隨液晶盒盒厚的降低，所以通過檢測液晶盒的盒厚，就可以得到光配向的反應(yīng)進度。
如圖8所示，第二檢測裝置202至少包括
光源2021，用于產(chǎn)生以不引發(fā)反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對液晶盒4進行照射，例如，使用波長為580nm的可見光進行照射。裝設(shè)在液晶盒4頂部的偏光器2022，以及裝設(shè)在液晶盒4底部的檢偏器2023。偏光器2022和檢偏器2023相互配合能夠檢測液晶盒的厚度變化數(shù)值，通過檢測液晶盒的盒厚變化，得到光配向的反應(yīng)進度。實施時，偏光器2022和檢偏器2023檢測液晶盒的盒厚變化可為后續(xù)判斷光配向的終止點做好準(zhǔn)備。第二判斷裝置302判斷檢測出的液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，若判斷為是，說明該時間點為光配向的終止點，應(yīng)采取停止配向的措施，否則容易發(fā) 生配向過度。若第二判斷裝置302判斷為否，則需繼續(xù)光配向的過程，防止配向不足。實施本發(fā)明的光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置，通過檢測反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或液晶盒的厚度變化情況，判斷光配向液晶材料的終止點，進而可以實施對光配向照射時間的自動控制，能夠降低玻璃基板因個體差異對光配所造成的影響，且不會干擾反應(yīng)單體進行光配向的反應(yīng)過程。以上所揭露的僅為本發(fā)明較佳實施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種光配向液晶材料的終點檢測方法，包括以下步驟 對液晶材料進行光配向，其包括在電場作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)； 檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值，判斷檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時，所述液晶材料光配向終止。
2.如權(quán)利要求I所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的步驟包括以下步驟 對所述液晶材料進行紅外光照射； 根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值。
3.如權(quán)利要求2所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的步驟包括 獲取所述肉桂酸成分中碳碳雙鍵對特定波長紅外光吸收強度的步驟。
4.如權(quán)利要求2或3所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述對所述液晶材料進行紅外光照射的步驟包括 以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光對所述液晶材料進行照射。
5.如權(quán)利要求I所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述檢測所述液晶盒厚度變化數(shù)值的步驟至少包括 以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對所述液晶盒進行照射的步驟。
6.如權(quán)利要求5所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述入射光的波長為580nm。
7.—種光配向液晶材料的終點檢測裝置，至少包括 用以產(chǎn)生電場的電場裝置； 用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進而實現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置； 用以檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的第一檢測裝置；以及 用以判斷所述檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第一判斷裝置，當(dāng)所述第一判斷裝置判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。
8.如權(quán)利要求7所述的光配向液晶材料的終點檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測裝置至少包括 紅外線發(fā)射探頭，裝設(shè)在液晶材料液晶盒的頂部，用于向液晶盒發(fā)射以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光； 紅外線接收探頭，裝設(shè)在液晶盒的底部，用于接收穿透所述液晶盒的所述紅外光；以及 用于根據(jù)所述紅外線發(fā)射探頭發(fā)射紅外光和所述紅外線接收探頭接收紅外光情況，獲取所述液晶盒中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，及反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的濃度檢測器。
9.一種光配向液晶材料的終點檢測裝置，至少包括用以產(chǎn)生電場的電場裝置； 用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進而實現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置； 用以檢測液晶材料中液晶盒厚度變化數(shù)值的第二檢測裝置；以及用以判斷所述檢測出的所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第二判斷裝置，當(dāng)所述第二判斷裝置判斷為是時，所述液晶材料光配向終止。
10.如權(quán)利要求9所述的光配向液晶材料的終點檢測裝置，其特征在于，所述第二檢測裝置至少包括 光源，用于產(chǎn)生以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對所述液晶盒進行照射。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光配向液晶材料的終點檢測方法，包括以下步驟對液晶材料進行光配向，其包括在電場作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)；檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值，判斷檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。本發(fā)明還公開了一種光配向液晶材料的終點檢測裝置。實施本發(fā)明的光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置，通過檢測光配向的終止點控制配向的反應(yīng)終點，降低玻璃基板個體差異對光配向的影響，且不會影響反應(yīng)單體進行配向的反應(yīng)過程。
文檔編號G01N21/35GK102929017SQ20121046733
公開日2013年2月13日 申請日期2012年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月19日
發(fā)明者徐亮 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司