專利名稱：掃描測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于集成電路的掃描測試，特別是關(guān)于可用于此掃描測試期間的壓縮技術(shù)及結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
集成電路(IC)中更大及更多的復(fù)雜邏輯設(shè)計(jì)導(dǎo)致需要更多的精密測試，以確保那些IC的無故障(fault-free)性能。此測試可代表集成電路(IC)的設(shè)計(jì)、制造以及服務(wù)成本的一重要部分。在一簡單的模型中，一 IC的測試可包含對(duì)一電路的輸入應(yīng)用多重測試型樣，以及監(jiān)控其輸出以偵測故障的發(fā)生。故障涵蓋率(fault coverage)指的是所述的測試型樣在偵測一范圍潛在故障的每個(gè)故障的效率。因此，如果一組測試型樣能夠?qū)嵸|(zhì)上地偵測每個(gè)潛在故障，則故障涵蓋率已達(dá)到近乎100%。為了幫助達(dá)到更好的故障涵蓋率以及最小化測試成本，可使用DFT〔測試用設(shè)計(jì)(design-for-test)〕。在一 DFT技術(shù)中,可使用邏輯設(shè)計(jì)中的結(jié)果。具體而言,在IC中實(shí)施的一邏輯設(shè)計(jì)一般包含多個(gè)狀態(tài)元件，例如連續(xù)儲(chǔ)存元件，如正反器。這些狀態(tài)元件可連接至計(jì)算過長度的掃描鏈中，所述的長度基于所述的設(shè)計(jì)而不同。在一具體實(shí)施例中，在一設(shè)計(jì)中的所有狀態(tài)元件是可掃描的，即，每個(gè)狀態(tài)元件是在一掃描鏈中。在所述的掃描鏈中的所述的狀態(tài)兀件典型地稱為掃描胞兀。在DFT中，每個(gè)掃描鏈包含一掃描輸入插腳以及一掃描輸出插腳，其做為所述的測試模式期間的控制及觀察節(jié)點(diǎn)。所述的掃描鏈經(jīng)由所述的掃描胞元而通過在預(yù)定的邏輯信號(hào)中計(jì)時(shí)而負(fù)載。因此，如果最長的掃描鏈包含500個(gè)掃描胞元，則使用至少500個(gè)時(shí)鐘周期以完成所述的負(fù)載程序。注意，在實(shí)際的具體實(shí)施例中，軟件可補(bǔ)償不同的掃描鏈長度，藉此確保來自每個(gè)測試型樣的輸出被相應(yīng)地辨識(shí)及分析。可使用一外部測試裝置而產(chǎn)生所述的掃描鏈的所述的測試型樣。產(chǎn)生這樣的一種裝置，可通過對(duì)具有N個(gè)輸入及掃描胞元的一設(shè)計(jì)應(yīng)用2N個(gè)輸入型樣而完成一徹底的測試。然而，由于輸入數(shù)量的增加，此測試方法在商業(yè)上是不可行的。為了解決此問題，當(dāng)提供故障涵蓋率接近100%時(shí)，可使用決定性的自動(dòng)測試型樣產(chǎn)生(ATPG)以產(chǎn)生一較小組的型樣。具體而言，在決定性的ATPG中，每個(gè)測試型樣被設(shè)計(jì)成去測試盡可能多的故障。然而，即使具有減少的測試型樣，在決定性的ATPG型樣在所述的測試應(yīng)用設(shè)備中仍需要重要的儲(chǔ)存區(qū)域以提供給被直接輸入至所述的掃描鏈的大量型樣，以及給來自所述的掃描鏈的預(yù)期輸出值。此外，此測試方法因其晶片外(off-chip)的存取時(shí)間而不具效率?；蛘咻^常地，在目前復(fù)雜的IC中，可將結(jié)構(gòu)加至允許所述的IC快速測試本身的設(shè)計(jì)中。這些內(nèi)建的自我測試(BIST)結(jié)果可包含不同的型樣產(chǎn)生器，最典型的為一偽隨機(jī)的型樣產(chǎn)生器(PRPG)。在PRPG所產(chǎn)生的型樣經(jīng)由所述的測試設(shè)計(jì)的掃描鏈而傳播后，分析所述的輸出以決定是否偵測到一故障。在2007年6月26日申請(qǐng)、標(biāo)題為「對(duì)不確定掃描鏈輸出具耐性的的決定性BIST構(gòu)造」的美國專利號(hào)7，237，162中描述了使用PRPG的一示范性掃描測試系統(tǒng)及技術(shù)，其于此并入以做為參考。為了在IC掃描測試期間達(dá)到高瑕疵涵蓋率，特別是在光的縮小制程技術(shù)以及新的IC材料中，可使用不同的故障模型〔例如安裝性(stuck-at)、轉(zhuǎn)態(tài)延遲(transitiondelay)以及短路/斷路模型〕。不幸的是，雖然用于時(shí)機(jī)取決及序列取決故障模式的測試型樣對(duì)于新技術(shù)日漸重要，這種測試型樣可需要多至2-5倍的測試器時(shí)間及資料。對(duì)于下一代的工具，目前測試資料量及測試應(yīng)用時(shí)間呈現(xiàn)持續(xù)增加至少一數(shù)量級(jí)。因此，單獨(dú)掃描的掃描測試已變成不足以做為控制測試成本的方法。即使是以現(xiàn)代化ATPG所產(chǎn)生的高度壓縮向量集也需要晶片內(nèi)(on-chip)的壓縮及解壓縮，以減少測試成本。掃描壓縮通過減低測試型樣數(shù)量、測試應(yīng)用時(shí)間以及測試器的插腳數(shù)需要而降低了測試成本。掃描負(fù)載壓縮技術(shù)利用了相比于「不關(guān)注」位元(即在所述的測試設(shè)計(jì)中那些不代表故障的位元)的「關(guān)注」位元(即儲(chǔ)存于預(yù)定掃描胞元中的值，所述的掃描胞元可達(dá)到目標(biāo)故障的偵測)的不足。掃描卸載壓縮技術(shù)利用了錯(cuò)誤值大約隨機(jī)出現(xiàn)并一次只出現(xiàn)在一些掃描鏈上的事實(shí)。具體而言，除了關(guān)注位元及不關(guān)注位元外，所述的測試設(shè)計(jì)可偶爾輸出不確定的位兀。如其名所指，一不確定位兀(于此稱為一“X”)具有一未知的值(即無法通過所述的ATPG程序期間所使用的模擬而準(zhǔn)確預(yù)測的一個(gè)值)。因此，X位元可誤導(dǎo)所述的掃描輸出的分析。此外，這種X位元可通過遮蔽觀察而限制卸載壓縮，也可通過要求額外的關(guān)注位元而限制負(fù)載壓縮，以防止X或避免他們對(duì)掃描輸出的效應(yīng)。不幸的是，積極進(jìn)取的設(shè)計(jì)與技術(shù)以及精密的故障模型可增加擷取一 X值的掃描胞元的數(shù)量。靜態(tài)X—般指的是在對(duì)操作參數(shù)不敏感的一零遲延模擬中所見的未知的值。示范性的靜態(tài)X包含未建模(un-modeled)區(qū)塊(例如類比記憶體區(qū)塊)以及匯排流沖突。雖然靜態(tài)X在設(shè)計(jì)時(shí)為已知，大部分不具有簡單的定位。此外，因?yàn)闀r(shí)機(jī)、操作參數(shù)(例如電壓以及溫度)或制造瑕疵而可能產(chǎn)生「動(dòng)態(tài)」X。因此產(chǎn)生一種掃描壓縮方法的需要，所述的方法可以同時(shí)達(dá)到數(shù)個(gè)積極的目標(biāo)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種用以測試一集成電路(IC)設(shè)計(jì)的系統(tǒng)，所述的集成電路設(shè)計(jì)包含多個(gè)掃描鏈。此掃描測試系統(tǒng)可包含兩個(gè)偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)處理鏈以及一卸載區(qū)塊。所述的第一 PRPG處理鏈可接收一第一種子以產(chǎn)生用以鑒定所述的設(shè)計(jì)的故障的型樣。也就是說，所述的型樣應(yīng)用于所述的多個(gè)掃描鏈。所述的第二 PRPG處理鏈可接收一第二種子(注此處的更正請(qǐng)參考原文“The second PRPG processing chain canreceive a second seed to generate X~to lerant (XTOL) control bits···”)以產(chǎn)生超耐性(XTOL)控制位元，所述的XTOL控制位元決定所述的掃描鏈的可觀察性的一等級(jí)。所述的卸載區(qū)塊可接收來自所述的多個(gè)掃描鏈的所述的掃描輸出以及所述的XTOL控制位元，并產(chǎn)生用以分析所述的設(shè)計(jì)的測試輸出。在一具體實(shí)施例中，所述的第一 PRPG處理鏈可包含一關(guān)注PRPG (CARE PRPG)以及一關(guān)注移相器(CARE phase shifter)。所述的關(guān)注PRPG可接收所述的第一種子。所述的關(guān)注移相器可提供解壓縮的輸出至所述的多個(gè)掃描鏈。所述的第一 PRPG處理鏈也可包含一關(guān)注影子暫存器，其接收來自所述的關(guān)注PRPG的輸入以及提供輸出至所述的關(guān)注移相器。所述的關(guān)注PRPG可提供一 Pwr_ctrl (功率控制)信號(hào),所述的Pwr_ctrl信號(hào)使所述的關(guān)注影子暫存器處于一保持(Hold)模式，使得常數(shù)被位移至所述的掃描鏈中，以降低位移功率。所述的第二 PRPG處理鏈可包含一 XTOL PRPG、一 XTOL移相器以及一 XTOL影子暫存器。所述的XTOL PRPG可接收所述的第二種子。所述的XTOL移相器可接收所述的XTOLPRPG的輸出。所述的XTOL影子暫存器可接收所述的XTOL移相器的輸出以及提供所述的XTOL控制位元。在一具體實(shí)施例中，所述的XTOL PRPG被配置成用以產(chǎn)生一保持信號(hào)，所述的保持信號(hào)使所述的XTOL影子暫存器處于一保持模式。所述的掃描測試系統(tǒng)可進(jìn)一步包含一可尋址的PRPG影子，其配置成用以接收來自一測試器的輸入，以及用以提供輸出至所述的第一 PRPG處理鏈以及所述的第二 PRPG處理鏈的其中之一。所述的關(guān)注PRPG及所述的XT0LPRPG被配置成在任何位移周期，當(dāng)需要時(shí)用以再播種。因此，所述的掃描測試系統(tǒng)可有利地提供一預(yù)位移的X控制。在一具體實(shí)施例中，所述的卸載區(qū)塊可包含一 XTOL選擇器、一 X-解碼器、一壓縮器以及一多輸入移位暫存器(MISR)。所述的XTOL選擇器可接收所述的內(nèi)部掃描鏈輸出。所述的X-解碼器可使用所述的XTOL控制位元而控制所述的XTOL選擇器。所述的壓縮器可接收所述的XTOL選擇器的輸出。所述的MISR可接收所述的壓縮器的輸出，并產(chǎn)生所述的測試輸出。有利地，所述的XTOL選擇器以及所述的X-解碼器可被配置成用以提供一完全可觀察性模式、一無可觀察性模式、一單鏈模式以及一多重可觀察性模式其中之一。在一具體實(shí)施例中，所述的X-解碼器可包含一解碼區(qū)塊，所述的解碼區(qū)塊具有與所述的多個(gè)掃描鏈的每一個(gè)掃描鏈連接的輸出。用于一特定掃描鏈的所述的解碼區(qū)塊可接收群組的一集合，所述的特定掃描鏈可以是所述的群組中的一員。在一具體實(shí)施例中，所述的卸載區(qū)塊可進(jìn)一步由一 XTOL賦能位元所控制，所述的XTOL賦能位元可由所述的PRPG影子暫存器所產(chǎn)生。在一具體實(shí)施例中，所述的X-解碼器可包含一雙層級(jí)解碼系統(tǒng)的第一個(gè)。例如，在一第一層級(jí)，所述的X-解碼器提供每個(gè)群組的(而非每個(gè)鏈的)輸出。在第二層級(jí)，在每個(gè)個(gè)別的鏈中執(zhí)行群組至鏈的解碼。一第一及閘(AND gate)可接收來自一掃描鏈的一第一輸入，以及一多工器可提供一第二輸入至所述的第一及閘。一第二及閘及一或閘(0Rgate)都可接收所述的XTOL控制位元，其中所述的多工器選擇來自所述的第二及閘與所述的或閘其中之一的一輸出。上述所描述的掃描測試系統(tǒng)可有利地適用于任何從O至幾乎100%的X密度，以及可以提供非常高的壓縮，其具有與最佳掃描ATPG相同的測試涵蓋率?？啥x如同一單一掃描輸入及掃描輸出一樣少。有利地，所述的設(shè)計(jì)邏輯可維持不變，藉此幫助上述掃描測試的并入。本發(fā)明還提供了一種用于測試一設(shè)計(jì)的掃描測試系統(tǒng)，所述的設(shè)計(jì)于一集成電路(IC)中實(shí)施，所述的設(shè)計(jì)包含多個(gè)掃描鏈，所述的系統(tǒng)包含一偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)影子暫存器，用以接收種子；一關(guān)注PRPG，用以從所述的PRPG影子暫存器接收一種子；一關(guān)注影子暫存器，用以接收所述的關(guān)注PRPG的輸出；一關(guān)注移相器，用以接收所述的關(guān)注影子暫存器的輸出、最小化通道之間的線性依賴性、以及產(chǎn)生用于所述的多個(gè)掃描鏈的掃描位元；一 X-耐性(XTOL) PRPG，用以從所述的PRPG影子暫存器接收另一種子；一 XTOL移相器，用以接收所述的XTOL PRPG的輸出，以及最小化通道之間的線性依賴性；一XT0L影子暫存器，用以接收所述的XTOL移相器的輸出；以及一卸載區(qū)塊，用以從所述的多個(gè)掃描鏈以及所述的XTOL影子暫存器接收掃描輸出、提供一每位移的X-控制、以及產(chǎn)生用以分析所述的設(shè)計(jì)的測試輸出。
在一具體實(shí)施例中，所述的XTOL PRPG可被配置用以產(chǎn)生一保持信號(hào)，所述的保持信號(hào)可使所述的XTOL影子暫存器處于一保持模式。在一具體實(shí)施例中，所述的卸載區(qū)塊可包含一 XTOL選擇器，用以接收所述的掃描輸出；一 X-解碼器，用以使用所述的XTOL影子的XTOL控制輸出來控制所述的XTOL選擇器；一壓縮器，用以接收所述的XTOL選擇器的輸出；以及一多輸入移位暫存器(MISR)，用以接收所述的壓縮器的輸出、以及產(chǎn)生所述的測試輸出。在一具體實(shí)施例中，所述的XTOL選擇器以及所述的X-解碼器可被配置用以提供一完全可觀察性模式、一無可觀察性模式、一單鏈模式以及一多重可觀察性模式的其中之
O在一具體的實(shí)施例中，所述的X解碼器可包含一解碼區(qū)塊，所述的解碼區(qū)塊可具有與所述的多個(gè)掃描鏈的各掃描鏈連接的輸出。在一具體的實(shí)施例中，用于一特定掃描鏈的所述的X解碼器可接收群組的一集合，所述的特定掃描鏈可以是所述的群組中的一員。在一具體的實(shí)施例中，所述的卸載區(qū)塊可進(jìn)一步由一 XTOL賦能位元所控制，所述的XTOL賦能位元可由所述的PRPG影子暫存器所產(chǎn)生。也提供了一種用以將關(guān)注位元映射至一關(guān)注偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)的方法。此方法包含決定所有關(guān)注位?？捎成渲烈粏我环N子的位移的一最大窗口。決定所述的最大窗口可包含以位移周期分類所述的關(guān)注位元，以及對(duì)于每個(gè)位移周期計(jì)算一最大窗口，使得在一窗口中的關(guān)注位元總數(shù)不過一預(yù)先計(jì)算的限制。當(dāng)所述的窗口中的所有關(guān)注位元可映射成一單一種子，則所述的單一種子可載至所述的關(guān)注PRPG中。當(dāng)并非所有的關(guān)注位元可映射成所述的單一種子時(shí)，則所述的窗口可被線性地降低。也提供了一種用以將X-耐性(XTOL)控制位元映射至一偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)的方法。此方法包含決定所有XTOL控制位元可映射至一單一種子的位移的一最大窗口，以及決定所述的最大窗口的一最佳開始。對(duì)于一完全可觀察性模式，所述的方法可進(jìn)一步包含決定關(guān)掉一 XTOL可行位元的一第一選擇或是留下所述的XTOL可行位元的一第二選擇何者較佳，然后選擇所述的較佳的選擇。本發(fā)明也提供了一種選擇用于一掃描測試的可觀察性模式的方法。此方法可包含初始化與所述的可觀察性模式相關(guān)的模式優(yōu)點(diǎn)。對(duì)于每個(gè)位移，讓一未知值(X)通過的任何可觀察性模式可被消除。此外，無法偵測所述的掃描測試中一主要目標(biāo)(primarytarget)的任何可觀察性模式也可被消除。基于所觀察到的次要目標(biāo)而可增加模式優(yōu)點(diǎn)以用于次要故障。對(duì)于每個(gè)位移，可決定基于總模式優(yōu)點(diǎn)的一位移的一最佳的可觀察性模式以及一第二佳的可觀察性模式。所造成的可觀察性模式可被映射成XTOL種子。所述的可觀察性模式可包含完全可觀察性、無可觀察性、單一可觀察性以及多重可觀察性(以及他們的補(bǔ)充)。


圖1示例了具有一晶片內(nèi)壓縮器及一解壓縮器的一簡化的掃描測試系統(tǒng)；圖2A示例了被配置成用以提供完全超耐性(X-耐性)的一掃描測試系統(tǒng)；圖2B示例了更包含一關(guān)注影子暫存器的所述的掃描測試系統(tǒng)；圖3A示例了一示范性的PRPG影子暫存器；圖3B示例了所述的XTOL PRPG的一示范性胞元，以及所述的XTOL移相器與所述的XTOL影子暫存器的其相應(yīng)胞元；圖3C示例了所述的關(guān)注PRPG的一示范性胞元以及所述的關(guān)注移相器及所述的關(guān)注影子暫存器的其相應(yīng)胞元；圖4示例了與測試器及ATPG型樣相關(guān)的示范性波形；圖5示例了應(yīng)用壓縮型樣的一示范性狀態(tài)流程；圖6示例了一示范性的卸載區(qū)塊，所述的卸載區(qū)塊在最大化可觀察性時(shí)可使用最少的XTOL-控制位元而有效地阻斷X ；圖7示例了用于所述的X-解碼器中的一示范性2層級(jí)解碼區(qū)塊；圖8示例了展示在多重可觀察性模式中所述的不同群組的使用的一圖表；圖9不例了顯不XTOL選擇器品質(zhì)的兩種測量的一圖表；圖10示例了一示范性的映射技術(shù)，其將關(guān)注位元映射成關(guān)注PRPG種子；圖11示例了 一觀察模式選擇技術(shù)；圖12示例了一示范性的映射技術(shù)，其將XTOL-控制位元映射成XT0LPRPG種子；圖13示例了一示范性數(shù)位ASIC設(shè)計(jì)流程的一簡化呈現(xiàn)，所述的數(shù)位ASIC設(shè)計(jì)包含所描述的適合的掃描壓縮技術(shù)。
具體實(shí)施例方式圖1示例了一簡化的先前技術(shù)測試系統(tǒng)100，所述的測試系統(tǒng)100包含用以從一測試器接收輸入(即種子)的一負(fù)載解壓縮器101、用以接收由所述的負(fù)載解壓縮器101所產(chǎn)生的掃描位元的多個(gè)掃描鏈，以及用以接收來自所述的掃描鏈102的所述的掃描輸出的一卸載壓縮器104。在一具體實(shí)施例中，負(fù)載解壓縮器101可包含一偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)，因?yàn)橹貜?fù)地以來自所述的測試器的決定ATPG計(jì)算值而再播種的一 PRPG可有利地提供非常高的負(fù)載資料壓縮。注意在決定性ATPG期間所計(jì)算的負(fù)載值可被「編碼」成(或「映射」成)PRPG狀態(tài)，使得所有的關(guān)注位元被適當(dāng)?shù)刎?fù)載于所述的PRPG種子中。在典型的具體實(shí)施例中，可從每個(gè)PRPG種子產(chǎn)生多重測試型樣。除了故障偵測所需的關(guān)注位元，負(fù)載解壓縮器101也可支援X-控制位元，其用以經(jīng)由一控制線103而提供至卸載壓縮器。雖然卸載壓縮器104可確保在存在一些X時(shí)的錯(cuò)誤偵測，但除非以衍生自負(fù)載解壓縮器101控制過多的X，額外的X可導(dǎo)致測試涵蓋率損失。特別是，假若X不被控制，如果所增加的XTOL控制位元比所需的所述的輸出位元少，增加X-控制位元可實(shí)際地減低總壓縮資料量。
然而，決定哪個(gè)X-控制位元是所需的可為有挑戰(zhàn)性的。為了減低測試應(yīng)用時(shí)間，一掃描型樣的負(fù)載可與先前的卸載重迭。因此，負(fù)載解壓縮器101必須同時(shí)支援目前型樣的負(fù)載關(guān)注位元(其提供給掃描鏈102)以及先前卸載的X-控制位元，使得過多的X不會(huì)造成涵蓋率的損失或在型樣數(shù)無法接受的增加。不幸的是，在一典型的掃描ATPG流程中，當(dāng)所述的X-控制位元為已知時(shí)已太遲了。也就是說，所述的X-控制位元只有在負(fù)載關(guān)注位元已為了先前的M(例如32)型樣而被設(shè)定之后才為已知，此時(shí)，負(fù)載解壓縮器101中的沖突可能會(huì)導(dǎo)致無法滿足的情況。注意每掃描胞元可儲(chǔ)存先前的型樣資訊以預(yù)測哪個(gè)胞元可能需要用以觀察的X-控制。然而，此儲(chǔ)存需要額外的記憶體及CPU來進(jìn)行。此外，當(dāng)所述的預(yù)測失敗時(shí)，可能需要一填補(bǔ)的型樣，其不合意地加至測試資料及周期中。在一具體實(shí)施例中，X-控制位元可被限制為內(nèi)部鏈的每負(fù)載的一單一群組，即，在所有的位移周期不改變，具有可能過度遮蔽X且因此增加型樣數(shù)以達(dá)到完全涵蓋率的不利條件。根據(jù)一第圖2A中所示的一掃描測試系統(tǒng)200的構(gòu)想，當(dāng)避免與負(fù)載關(guān)注位元的沖突時(shí)，可使用雙重PRPG以提供所述的X位元的一每位移(per-shift)控制。為了提供此最佳化，一關(guān)注位元PRPG (CARE PRPG) 202可產(chǎn)生關(guān)注(以及不關(guān)注)位元，以及一分開的X-耐性PRPG (XTOL PRPG) 206可產(chǎn)生XTOL控制位元。注意一 PRPG影子暫存器201可接收來自所述的測試器的種子，并產(chǎn)生關(guān)注PRPG 202或XTOL PRPG 206的適當(dāng)種子。圖3A示例了一簡化的PRPG影子暫存器330，其包含多工器331以及正反器332。多工器331，其由相同的控制信號(hào)Mux_控制所控制，所述的多工器331接收來自所述的測試器的種子，以及當(dāng)可用時(shí)，接收來自先前胞元的種子。正反器332，其由相同的時(shí)鐘所計(jì)時(shí)(為求簡化而未示)，所述的正反器332接收所述的先前胞元的一正反器332的一輸出或所述的先前胞元的一多工器331的一輸出。美國專利號(hào)7，237，162描了更進(jìn)一步細(xì)節(jié)的一PRPG影子暫存器的一示范性配置。PRPG影子暫存器300的輸出，即讓XTOL賦能(eable)以及所述的關(guān)注PRPG或所述的XTOL PRPG的位元，是由正反器332所提供?；仡^參見圖2A，關(guān)注PRPG 202可提供其輸出至一關(guān)注移相器203，其可具有比輸入還多的輸出。因此，組合起來，關(guān)注PRPG 202和關(guān)注移相器203可提供所述的關(guān)注(以及不關(guān)注)位元的負(fù)載壓縮。在一截然不同的配置中，XTOL PRPG 206可提供其輸出至一XTOL移相器207，其可包含比輸出還多的輸入。注意一 PRPG實(shí)際上是具有一預(yù)定回饋配置的一移位暫存器。因此，所述的PRPG的鄰近胞元彼此具有依賴性，即，在一第一胞元下游的一第二胞元可儲(chǔ)存一值，所述的值先前在一時(shí)鐘前是由所述的第一胞元所儲(chǔ)存。移相器，其典型地使用互斥或閘(XOR gate)來實(shí)施，所述的互斥或閘接收來自預(yù)定胞元的輸入，所述的移相器減少所述的PRPG的鄰近胞元之間的線性依賴性，使得故障偵測最低限度地由所述的PRPG的所述的線性依賴性所中斷。一 PRPG和一移相器的不同配置對(duì)于本IC測試領(lǐng)域的技術(shù)人員來說是已知的，因此此處沒有細(xì)節(jié)地解釋。在一具體實(shí)施例中，PRPG影子暫存器201可提供一 XTOL賦能位元(其可被儲(chǔ)存于一個(gè)一位元的暫存器中)，以關(guān)掉在一卸載區(qū)塊205的XTOL耐性。關(guān)掉所述的賦能位元可通過不需用于鄰近位移周期的一窗口的XT0LPRPG而減低壓縮的資料量，所述的鄰近位移周期不需X控制。XTOL PRPG206繼續(xù)位移，但其對(duì)于卸載區(qū)塊205的控制可被所述的XTOL賦能信號(hào)去能(disable)。當(dāng)被賦能時(shí)，XTOL PRPG 206可提供每位移的X-控制至卸載區(qū)塊 205。在一具體實(shí)施例中，只有當(dāng)關(guān)注PRPG 202或XTOL PRPG 206被再播種時(shí)才可改變所述的XTOL賦能位元。因此，所述的XTOL賦能位元可顯著地以非常低的X密度而減少用于設(shè)計(jì)的XTOL位元，但提供相對(duì)粗糙的控制。為了進(jìn)一步減少用于中度或高X密度的XTOL位元，也可提供一更好的控制。特別是，在大部分的設(shè)計(jì)中，X分布是高度不均勻的，藉此讓所述的XTOL控制位元可以重新使用于鄰近的周期(以及如同由ATPG所產(chǎn)生的型樣可被調(diào)整以有利于重新使用)。因此，根據(jù)一具體實(shí)施例，XTOL PRPG 206的一專用通道可提供一保持位元至XTOL影子暫存器208。此保持位元確保在XTOL影子暫存器208中的所述的XTOL PRPG資料維持不變。注意當(dāng)XTOL影子暫存器208提供固定XTOL控制位元至卸載壓縮器205時(shí)，當(dāng)需要XTOL控制位元的一新狀態(tài)時(shí)，XTOL PRPG 206可提升到下一個(gè)狀態(tài)。在一具體實(shí)施例中，從XTOL移相器至控制XTOL影子暫存器208，需要每位移的一單一位元。如上所述，XTOL移相器207有利地具有比輸入還少的輸出。因此，將XTOL影子暫存器208置于XTOL移相器207的輸出上(而非置于XTOL PRPG206的輸出上)導(dǎo)致較小許多的影子暫存器。在一具體實(shí)施例中，XTOL-控制位元的數(shù)量約為log(#掃描鏈)。同樣地，從XTOL PRPG 206至卸載區(qū)塊205的長組合路徑通過將XTOL影子暫存器208置于XTOL移相器207之后而大大地減小。圖3B示例了 XTOL PRPG 206的一示范性的胞元以及XTOL移相器207與XTOL影子暫存器208的其相對(duì)應(yīng)胞元。在一具體實(shí)施例中，所述的XT0LPRPG的一胞元301可包含一多工器312，所述的多工器312接收作為輸入的來自所述的PRPG影子的一位元(例如PRPG影子201，圖2A)以及來自先前的XTOL PRPG胞元的一位元(注意以非必須XOR 311所代表的一互斥或閘可產(chǎn)生所述的先前的XTOL PRPG胞元的輸出)。這些位元之間的選擇是由一XTOL影子_傳送(shadow_transfer)信號(hào)所決定,其由所述的測試所產(chǎn)生。在一具體實(shí)施例中，當(dāng)所述的XTOL影子傳送開啟時(shí)，多工器312選擇所述的PRPG影子輸入。胞元301可進(jìn)一步包含一計(jì)時(shí)的儲(chǔ)存裝置(例如一 D-正反器)313，其接收多工器312的被選擇輸出位元，并提供一信號(hào)至下一個(gè)XTOL PRPG胞元。所述的XTOL移相器的一胞元320可包含一互斥或閘，其接收作為輸入的多工器312的至少所述的選擇輸出。在一具體實(shí)施例中，為了提供所述的移相功能性，此互斥或閘也可接收來自另一 XTOL PRPG胞元的至少一其他多工器輸出。注圖3B中所示的每個(gè)移相器通道可具有胞元的一獨(dú)特組合，所述的胞元用以產(chǎn)生一相移輸出。每個(gè)組合的胞元選擇對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員是已知的，因此此處不進(jìn)一步地進(jìn)行細(xì)節(jié)的描述。在一具體實(shí)施例中，所述的XTOL影子暫存器的一胞元302可包含一多工器322，所述的多工器322接收作為輸入的胞元320的輸出以及一回饋信號(hào)。在一具體實(shí)施例中，在這些位元之間的選擇是通過將一！保持信號(hào)(即所述的保持信號(hào)的對(duì)立物)與一 XTOL影子傳送信號(hào)進(jìn)行或閘運(yùn)算而決定，所述的XTOL影子傳送信號(hào)是由所述的測試所產(chǎn)生。具體而言，在一具體實(shí)施例中，當(dāng)所述的XTOL影子傳送是開啟的或不是保持著，多工器322選擇XTOL移相器胞元320的輸出。當(dāng)保持著時(shí)，多工器322選擇來自儲(chǔ)存裝置323的回饋。胞元302可進(jìn)一步包含一計(jì)時(shí)儲(chǔ)存裝置(例如一 D型正反器)323，其接收多工器322的所述的選擇輸出，并提供一 X解碼信號(hào)。注意此X解碼信號(hào)是提供至多工器322而作為一輸入的回饋信號(hào)。進(jìn)一步注意儲(chǔ)存裝置313及323可由一相同的時(shí)鐘信號(hào)所控制，即XTOLPRPGclko在此配置中，多工器322可有利地作為一再計(jì)算多工器而作用，所述的再計(jì)算多工器將資料保持在所述的XTOL影子中，或擷取自XTOL PRPG 206的資料至XTOL影子暫存器208。在一具體實(shí)施例中，當(dāng)多工器312選擇所述的PRPG影子輸入時(shí)，多工器322選擇來自XTOL移相器胞元320的輸入。此外，當(dāng)多工器312選擇先前的PRPG胞元輸入時(shí)，根據(jù)所述的保持信號(hào)，多工器322選擇所述的移相器的胞元320的輸出或323的輸出。為了提供具有一組新的XTOL-控制的所述的XTOL影子的一立即更新，從XTOL PRPG胞元的輸入獲得所述的XTOL移相器輸入(不像傳統(tǒng)的配制是具有連接到PRPG胞元輸出的移相器)。注意可使用一子集的總XTOL PRPG胞元而產(chǎn)生所述的保持信號(hào)。例如，如圖3B中所示，多工器312的輸出以及至少一其他相似的輸出可提供至一移相元件314。在一具體實(shí)施例中，移相元件314可包含一互斥或閘。移相元件314的輸出是所述的保持信號(hào)。進(jìn)一步注意雖然示出了一中間XTOL PRPG胞元301，除了下述例外之外，所述的第一及最后XTOL PRPG胞元具有相似的配置。具體而言，所述的第一 XTOL PRPG胞元包含一多工器312，所述的多工器312接收所述的最后XTOL PRPG胞元的一輸出，而非接收來自先前的XTOL PRPG胞元的一輸入。其邏輯上地了解是，所述的最后XTOL PRPG胞元包含一儲(chǔ)存裝置313，所述的儲(chǔ)存裝置313提供一輸出至所述的第一 XTOL PRPG胞元，而非提供一輸出至下一個(gè)XTOL PRPG胞元。在圖2B中所示的一具體實(shí)施例中，一關(guān)注影子暫存器可包含于掃描測試系統(tǒng)200 (圖2A)中。圖3C示例了關(guān)注PRPG202的一示范性胞元以及關(guān)注影子1001的其相應(yīng)胞元。在一具體實(shí)施例中，所述的關(guān)注PRPG的一胞元350可包含一多工器342，所述的多工器342接收作為輸入的來自所述的PRPG影子的一位元(例如PRPG影子201，圖2A)以及來自先前的關(guān)注PRPG胞元的一位元(注意如非必須的X0R341所指,一互斥或閘可能產(chǎn)生所述的先前的XTOL PRPG胞元的輸出)。在這些位元之間的選擇是由所述的測試器所產(chǎn)生的一關(guān)注影子傳送信號(hào)所決定。胞元350可進(jìn)一步包含一計(jì)時(shí)儲(chǔ)存裝置(例如一 D-正反器)343，其接收多工器342的所述的選擇輸出位元，并提供一信號(hào)至下一個(gè)關(guān)注PRPG胞
J Li ο注意一子集的總關(guān)注PRPG胞元可用于產(chǎn)生一功率控制信號(hào)。例如，如圖3C所示，可提供多工器342的輸出以及至少一其他相似的輸出至一移相元件344。在一具體實(shí)施例中，移相元件344可包含一互斥或閘。移相元件344的輸出是所述的PwrCtrl信號(hào)。在一具體實(shí)施例中，所述的關(guān)注影子暫存器的一胞元351可包含一多工器346，所述的多工器346接收作為輸入的多工器342的輸出以及一回饋信號(hào)。在一具體實(shí)施例中，這些位元之間的選擇是通過一 ！ Pwr賦能信號(hào)〔即所述的Pwr賦能信號(hào)的相對(duì)物(所述的Pwr賦能信號(hào)是一種由所述的測試器所提供以及儲(chǔ)存于例如一個(gè)一位元暫存器中的全球功率信號(hào))〕、一！ Pwr Ctrl信號(hào)以及一關(guān)注影子傳送信號(hào)(其由所述的測試器所產(chǎn)生)的或閘運(yùn)算而決定。胞元351可進(jìn)一步包含一計(jì)時(shí)儲(chǔ)存裝置(例如一 D型正反器)347，其接收多工器346的所述的選擇輸出，并提供一輸出至關(guān)注移相器203的一相應(yīng)胞兀。注意此輸出是提供作為一輸入至多工器346的回饋信號(hào)。進(jìn)一步注意儲(chǔ)存裝置343和347是由一相同的時(shí)鐘信號(hào)所控制，即CAREPRPGclk，其被反轉(zhuǎn)用于計(jì)時(shí)儲(chǔ)存裝置347。在一具體實(shí)施例中，如果所述的Pwr賦能信號(hào)是0，則忽略所述的Pwr控制信號(hào)及所述的關(guān)注影子傳送信號(hào)，以及關(guān)注影子胞元351以多工器342復(fù)制關(guān)注PRPG胞元350的內(nèi)容作為輸出。然而，如果所述的Pwr賦能信號(hào)是I,則所述的Pwr ctrl信號(hào)及所述的關(guān)注影子傳送信號(hào)決定關(guān)注影子胞元351保持其目前的值或從關(guān)注PRPG胞元350計(jì)時(shí)一新的值。有利的是，通過在重復(fù)的值中位移成掃描鏈，所述的關(guān)注PRPG胞元350以及關(guān)注影子胞元351的此配置可提供顯著的功率降低。具體而言，任何非關(guān)注位移可用于權(quán)衡關(guān)注位元相對(duì)于功率?；仡^參見圖2A，PRPG影子暫存器201的特征是可作為具有任意重迭的一可尋址的影子。具體而言，PRPG影子暫存器201可有利地負(fù)載關(guān)注PRPG202的下一個(gè)關(guān)注種子或XTOL PRPG 206的下一個(gè)XTOL種子。特別是，此負(fù)載可在位移或保持掃描鏈的值時(shí)執(zhí)行，藉此允許再播種周期與內(nèi)部位移周期任意重迭。因此所述的再播種頻率不受負(fù)載一種子所需的周期數(shù)而限制。有利的是，PRPG影子201的內(nèi)容可在一單一周期中被傳送至關(guān)注PRPG202 或 XTOL PRPG 206。最佳化的掃描ATPG可通過合并每個(gè)型樣所測試的多重故障而顯著地降低型樣數(shù)。一開始，合并是非常有效的，且每個(gè)型樣使用大量的關(guān)注位元以測試大量的故障。當(dāng)尚未測試的故障數(shù)量隨著每個(gè)隨后產(chǎn)生的測試型樣而減少，每型樣用來合并故障的機(jī)會(huì)快速地降低，所以每型樣使用越來越少的關(guān)注位元。關(guān)注位元被映射成種子，所初始的型樣需要大量的種子，而較晚的型樣需要越來越少的種子。另一方法，測試器被最佳化地配置成支援每負(fù)載一固定數(shù)量的位元。所述的PRPG影子201可重復(fù)地從所述的測試器被再播種，以獲得所想要的決定性測試?；蛘撸琍RPG 202及206可連續(xù)地接收一測試器資料流(其中每個(gè)測試周期提供一子集可被儲(chǔ)存于PRPG影子201中的總位元數(shù)，即一遞增的)，使得想要的關(guān)注位元被產(chǎn)生。然而設(shè)計(jì)可具有關(guān)注-位元熱點(diǎn)，即需要大量的關(guān)注位元用于許多測試型樣。因?yàn)橛邢薜臏y試器頻寬，每個(gè)位移周期只能提供一些資料值至所述的PRPG，其可能不足以滿足所有的關(guān)注位元。在此案例中，應(yīng)停止某些周期的掃描鏈204的負(fù)載。因此，在一具體實(shí)施例中，PRPG影子201的再播種可用于避免由于穿越型樣邊界的川流不息的資料所造成的復(fù)雜性(即，處理一遞增的再播種可比處理一新的、完全的種子而來得復(fù)雜許多)。此外，為了維持負(fù)載之間的獨(dú)立，可以一完全的關(guān)注PRPG負(fù)載來開始每個(gè)型樣負(fù)載。為了最大化可用于每個(gè)位移的關(guān)注位元數(shù)量，當(dāng)需要時(shí)，可將再播種與停止掃描鏈位移的能力結(jié)合。在一具體實(shí)施例中，一新的種子可常到在每個(gè)位移被負(fù)載(如果需要的話)，藉此最大化供應(yīng)至獨(dú)立于測試器頻寬的PRPG影子201的值。因此，按照PRPG影子201的再播種，當(dāng)需要時(shí)可在任何位移周期再播種關(guān)注PRPG202或XTOL PRPG 206。如果需要的話，當(dāng)再播種關(guān)注PRPG 202及/或XTOL PRPG 206時(shí)，可停止掃描鏈204的位移。此PRPG影子201的再播種與掃描鏈204的位移的重迭可由ATPG決定。在一具體實(shí)施例中，關(guān)注PRPG 202及XTOL PRPG 206是相同的長度，所以每個(gè)測試器負(fù)載(種子)具有相同量的資料。如上所提及，因?yàn)镻RPG影子201包含所述的XTOL賦能位元，PRPG影子201可比關(guān)注PRPG 202或XTOL PRPG 206長一位元。注意當(dāng)PRPG影子201的內(nèi)容被傳送(平行地)至關(guān)注PRPG 202或XTOL PRPG 206時(shí)，所述的XTOL賦能位元被設(shè)定，且維持不變直到下一個(gè)影子傳送。特別地，只有在需要時(shí)才負(fù)載種子。所述的測試器將每個(gè)再播種視為一固定大小的負(fù)載；內(nèi)部地，一或更多種子控制一內(nèi)部負(fù)載/卸載操作。圖4示例了與測試器及ATPG型樣相關(guān)的示范性波形400。波形401可代表從一測試器負(fù)載一 PRPG影子。波形402可代表基于所述的ATPG型樣負(fù)載的掃描鏈位移。如這些波形所示，如果負(fù)載一種子的周期數(shù)是4 (波形401所示)，一型樣的前4個(gè)周期用以負(fù)載一種子，接著一周期用以傳送所述的種子至所述的關(guān)注PRPG (見周期410)，然后所述的內(nèi)部鏈位移2個(gè)周期(波形402所示)，以及再等待2個(gè)周期讓第二種子以完成負(fù)載。然后內(nèi)部位移繼續(xù)，2個(gè)周期后，第三種子開始負(fù)載，與內(nèi)部(即掃描胞元)位移重迭。在此具體實(shí)施例中，所述的測試器供應(yīng)相等的型樣，4負(fù)載接著一傳送，或重復(fù)測試器周期(周期411所示)。注意所述的內(nèi)部負(fù)載可需要多重種子，所述的內(nèi)部負(fù)載獨(dú)立于所述的外部觀點(diǎn)，且可使用一較快或較慢的時(shí)鐘。 回頭參見圖2，掃描測試系統(tǒng)200可同時(shí)使用三種壓縮技術(shù)。第一，因?yàn)榭梢浪璧囟鴷r(shí)常再播種關(guān)注PRPG 202，測試產(chǎn)生可合并每型樣的多重故障。比起編碼許多稀少的型樣，編碼極少密集的型樣至種子中(多重種子至一型樣)導(dǎo)致比較少的總資料。因此，ATPG可有利地「重新使用」在一型樣中用于多種故障的關(guān)注位元。第二，關(guān)注位元的PRPG編碼可提供非常高的資料壓縮。特別地，分開的關(guān)注及XTOL PRPG允許關(guān)注及XTOL控制位元的壓縮的獨(dú)立最佳化。第三，測試器重復(fù)周期可用作為一無負(fù)擔(dān)、獨(dú)立的負(fù)載資料壓縮技術(shù)。在一具體實(shí)施例中，當(dāng)沒有再播種正在進(jìn)行中時(shí)，測試器重復(fù)可用于位移掃描鏈204的值。圖5示例了應(yīng)用壓縮型樣的一示范性狀態(tài)流程。型樣開始于「測試器模式」501中，其中所述的第一種子被負(fù)載至所述的PRPG影子，以及，可選擇地，資料卸載。注意因?yàn)槊總€(gè)型樣需要負(fù)載關(guān)注位元，但可能不需XTOL位元，所述的第一種子被指定用于所述的關(guān)注PRPG。內(nèi)部鏈在「測試器模式」501期間不位移。相反地，所述的內(nèi)部鏈保持值。在一具體實(shí)施例中，「測試器模式」501可獲得#位移/種子周期(即重新負(fù)載所述的PRPG影子的周期數(shù))(例如圖4中波形401的前四個(gè)周期)。然后，在一周期中，在「影子至PRPG模式」502中將所述的PRPG影子內(nèi)容傳送至所述的關(guān)注或XT0LPRPG。當(dāng)在「影子至PRPG模式」502時(shí)，有三種可能的下一階段。如果立即需要另一種子(例如在所述的初始關(guān)注種子之后的一 XTOL種子)，則可再次進(jìn)入「測試器模式」501。如果在一些周期后需要另一種子，可進(jìn)入一「影子模式」504。最后，如果一些周期不需另一種子，則可進(jìn)入一「自主模式」503。當(dāng)在C周期中需要另一種子且C彡#位移/種子時(shí)(即重新負(fù)載所述的PRPG影子所需的周期數(shù))，可使用「影子模式」504。對(duì)于C周期，從測試器負(fù)載所述的PRPG影子與位移所述的內(nèi)部鏈重迭(即所述的#位移/種子-C)。在「影子模式」504中，通過盡可能地與內(nèi)部位移負(fù)載重迭，所述的PRPG影子可用于最小化測試周期的總數(shù)。依次，可將所述的ATPG程序調(diào)整至盡可能地去間隔再播種，以最大化重迭。在一具體實(shí)施例中，「影子模式」504獲得#位移/種子周期(例如在圖4中的4周期，其C = 2)。在此具體實(shí)施例中，「影子模式」504之后總是傳送所述的PRPG影子的內(nèi)容至在「影子至PRPG模式」502中所選擇的PRPG。當(dāng)在目前的型樣中不需要其他的種子時(shí)，或當(dāng)在C周期中需要另一種子且C > #位移/種子時(shí)，可使用「自主模式」503。當(dāng)在目前的型樣中不需要其他的種子時(shí)，可使用一測試器重復(fù)以完成具有由所述的PRPG所提供的資料的所述的內(nèi)部負(fù)載/卸載。在此案例中，所述的測試器只需暫停所述的位移時(shí)鐘一些周期，以接著在「擷取模式」505中的一或更多的擷取周期(其擷取在預(yù)定掃描胞元中的值)。相反地，當(dāng)在C周期中需要另一種子且C > #位移/種子時(shí)，一測試器重復(fù)可用于C-#位移/種子周期，接著是「影子模式」504。例如，在圖4中，C = 6，前2個(gè)周期是在「自主模式」503中，所述的「自主模式」503之后是「影子模式」504中的4個(gè)周期。在此具體實(shí)施例中，「測試器模式」501總是跟在「擷取模式」505之后。雖然理論上提供非常高的卸載壓縮，甚至一單一 X值可使多輸入移位暫存器(MISRs)變成無用的。可使用積極的DFT(設(shè)計(jì)用測試)以從所述的設(shè)計(jì)中移除所有的X，但其成本可能是不可接受的，且動(dòng)態(tài)X可能仍會(huì)出現(xiàn)。在一已知的技術(shù)中，可在所述的MISR之前阻斷所有的X，以控制所述的阻斷以及因過于粗糙的阻斷所造成的降低的可觀察性，其代價(jià)為大量輸入資料的增加。在另一已知的技術(shù)中，可通過將每個(gè)已知的值與其本身進(jìn)行互斥或閘運(yùn)算而從所述的MISR將X周期性地清除。此技術(shù)需要大量的高X密度輸入資料。而在另一個(gè)已知的技術(shù)中，可通過移除MISR回饋以及持續(xù)地觀察一輸出資料流而限制X在所述的MISR中的生命，藉此減少壓縮以作為一些X-耐性的交換(然后可通過以更多的輸入資料來阻斷X而增強(qiáng)所述的X-耐性)。而在另一個(gè)技術(shù)中，代替一 MISR的組合壓縮需要觀察一輸出資料流，權(quán)衡了對(duì)于X-耐性的壓縮。在一具體實(shí)施例中，每位移X-耐性的精確控制(上述)可與以一 MISR所實(shí)現(xiàn)的所述的非常高壓縮結(jié)合。圖6示例了一示范性的卸載區(qū)塊205，所述的卸載區(qū)塊205在最大化可觀察性時(shí)可使用最少的XTOL-控制位元而有效地阻斷X。在一具體實(shí)施例中，卸載區(qū)塊205可包含一 X-解碼器601、一 XTOL選擇器602、一壓縮器604以及一 MISR 606。XTOL選擇器602可接收來自掃描鏈204的輸入，并提供其輸出至壓縮器604。XTOL選擇器602可由X-解碼器601所控制。X-解碼器601可接收所述的XTOL控制信號(hào)(其可改變每個(gè)位移)以及所述的XTOL賦能信號(hào)(其可改變每個(gè)再播種)。在一具體實(shí)施例中，可將壓縮器604設(shè)計(jì)成以保證沒有對(duì)于1、2、3或任何奇數(shù)的錯(cuò)誤(X)沒有失真，其是可能的，因?yàn)槠漭敵鲞B接至MISR 606而因此不受限為一小量的接口。壓縮器604也可設(shè)計(jì)成用以消除2-錯(cuò)誤MISR取消。在XTOL選擇器601的一具體實(shí)施例中，可將每個(gè)解碼器70的一輸出提供至壓縮器604的三個(gè)移相元件(即互斥或閘)(即使用一 3的扇出)。決定移相元件的哪一組接收每個(gè)扇出(fanout)是本測試領(lǐng)域的技術(shù)人員所已知的，因此此處不描述。在一具體實(shí)施例中，可在「測試器模式」501(圖5)中的每個(gè)測試型樣之后卸載MISR 606，并在已卸載時(shí)將MISR 606重設(shè)成O。如果分開的掃描輸入及輸出接腳是可用的，所述的MISR卸載可與所述的種子負(fù)載重迭，以最小化測試器周期?？煞治鏊龅氖〉腻e(cuò)誤簽章以提供失敗型樣的診斷?；蛘撸龅氖褂谜呖蛇x擇只有在所述的型樣集的結(jié)束時(shí)卸載MISR 606，藉此提供高資料壓縮，但沒有直接的診斷支援。XTOL選擇器602可被配置成用以支援下列模式完全可觀察性模式、無可觀察性模式、單鏈模式以及多重可觀察性模式。所述的完全可觀察性模式可用于無X(X-free)位移，且在可能時(shí)為較佳的。在其關(guān)掉狀態(tài)的所述的XTOL賦能信號(hào)賦能了再播種之間的完全可觀察性(當(dāng)可改變所述的XTOL賦能信號(hào)時(shí))。注意當(dāng)所述的XTOL賦能信號(hào)在其開啟狀態(tài)時(shí)，仍可以一最小化數(shù)量的XTOL控制位元選擇完全可觀察性。如果配置了 X-鏈(即包含一或更多X的掃描鏈)，在此模式中不觀察所述的X-鏈(于2008年9月30日所申請(qǐng)的、標(biāo)題為「通過使用X-鏈的增加的掃描壓縮」的美國專利申請(qǐng)案號(hào)12/242，573中所細(xì)節(jié)描述的X-鏈)。所述的無可觀察性模式可用于必須阻斷每個(gè)MISR輸入時(shí)的位移。有些大量X(X-heavy)設(shè)計(jì)將相對(duì)常使用此模式，所以其必定是以極少XTOL控制位元可選擇的。所述的單鏈模式可用于觀察被標(biāo)靶的胞元在被觀察時(shí)的位移的一單一內(nèi)部鏈。此模式是唯一允X-鏈觀察的模式，且可有利地提供完全X-耐性，即無論多少其他的胞元為X，任何胞元可被觀察。由于在一典型的設(shè)計(jì)中有大量的內(nèi)部鏈，選擇一單鏈通常需要許多XTOL位元。因此，應(yīng)謹(jǐn)慎地使用此模式。所述的多重可觀察性模式可針對(duì)每個(gè)設(shè)計(jì)客制化。在此模式中，可觀察不同子集的掃描鏈。因此，所述的多重可觀察性模式涵蓋了單一及完全可觀察性模式之間的中間范圍?？删幋a此模式的選擇，使得需要最少的可能位元以選擇一指定子集的掃描鏈。 在一具體實(shí)施例中，只要沒有X通過至壓縮器604，可選擇用于XTOL選擇器602的一模式可。可每位移使用一單一 XTOL位元而于鄰近的位移周期重復(fù)任何模式選擇。可配置多重可觀察性模式，使得在每個(gè)群組中沒有兩個(gè)在一起的掃描鏈，因此在所述的掃描鏈中其中一個(gè)上的一 X不排除用于觀察另一個(gè)掃描鏈的每個(gè)多重可觀察性模式的選擇。為了創(chuàng)造多重可觀察性模式，兩個(gè)或更多的分區(qū)被定義在非X鏈的集合上。每個(gè)分區(qū)包含整體的集合。互相排除的群組被定義于每個(gè)分區(qū)內(nèi)，使得每條鏈確實(shí)地屬于每個(gè)分區(qū)的一群組。此外，每一條鏈?zhǔn)怯谝华?dú)特集合的群組中，每分區(qū)一群組，所以每分區(qū)的群組數(shù)產(chǎn)物必定至少與鏈的數(shù)量一樣大?？稍谒龅亩嘀乜捎^察性模式中選擇任何群組或其關(guān)于其分區(qū)的互補(bǔ)。可使用10條鏈以及2個(gè)分區(qū)來解釋依照所述的多重可觀察性模式的簡單鏈的劃分。例如，分區(qū)I可包含2組，每組5條鏈，而分區(qū)2可包含5組，每組2條鏈。群組的總數(shù)為7(即2+5)。示范性的群組可包含第O組0(0，I，2，3，4)、第I組(5，6，7，8，9)、第2組(0，5)、第3組(1，6)、第4組(2，7)、第5組(3，8)、第6組(4，9)。在一具體實(shí)施例中，為了確保沒有2條鏈在相同的2組中，容許10(2x5)個(gè)觀察〔例如觀察第O組、觀察第I組、觀察第2組、觀察第 2組(即1，2，3，4，6，7，8，9)，等等〕。在另一更實(shí)際的設(shè)計(jì)范例中，考慮1024條鏈及4分區(qū)。在此范例中，分區(qū)I可包含2組，每組中具有512條鏈，分區(qū)2可包含4組，每組中具有256條鏈，分區(qū)3可包含8組，每組中具有128條鏈，以及分區(qū)4可包含16組，每組中具有64條鏈。群組的總數(shù)為30 (即2+4+8+16)。沒有2條鏈在相同的4組中，所以容許1024個(gè)組合(2x4x8x16)。提供選擇任何一鏈的能力需要對(duì)布局的特殊注意。一單純的(naive )實(shí)施可導(dǎo)致線路擁塞，在所述的實(shí)施中所述的X-解碼器完全地解碼其輸入以提供個(gè)別的鏈阻斷。特別地，在圖7中非常細(xì)節(jié)地示出的解碼區(qū)塊700可提供一有效率線路的配置。在一具體實(shí)施例中，區(qū)塊700可包含一及閘701，所述的及閘701接收一掃描鏈輸出及來自一多工器702的輸出。多工器702可接收來自兩個(gè)邏輯閘(稱為共享邏輯703)的輸出，即或閘704與及閘705。注意只是為了示例，所示出的及閘701是與多工器702及共享邏輯703分開的。每個(gè)掃描鏈711只具有一相應(yīng)的解碼區(qū)塊700。注意鄰近的掃描鏈可能能夠共享一些在解碼的第二層級(jí)的一些邏輯，即共享邏輯703。此共享為本解碼領(lǐng)域的技術(shù)人員所已知的，因此此處不描述。因此，解碼區(qū)塊700代表一邏輯實(shí)施，但可具有一不同的實(shí)體實(shí)施。邏輯閘704和705接收相同的輸入，即指定一群組集。然而，根據(jù)所述的掃描鏈711，所述的輸入集合(即選自所述的31種可能)可在解碼區(qū)塊700之間變化。注意X-解碼器601可提供每組一輸出，再加上一「單鏈」控制(其對(duì)所有的多工器702是普通的)，所述的「單鏈」控制指示所述的單鏈模式何時(shí)是活化的。例如，在一 1024鏈中(見上述更復(fù)雜的劃分)，X-解碼器601可提供31個(gè)輸出(相對(duì)在一單純實(shí)施中的1024) 710，并接收作為輸入的十三個(gè)XTOL控制信號(hào)以及一 XTOL賦能信號(hào)，每個(gè)共享邏輯703接收4個(gè)輸入的一集合。產(chǎn)生來自所述的14個(gè)解碼器輸入的所述的31個(gè)解碼器輸出為本解碼領(lǐng)域的技術(shù)人員所已知的，因此此處不討論。提供每掃描鏈一解碼區(qū)塊允許以一獨(dú)特「位址」的個(gè)別鏈選擇，所述的獨(dú)特「位址」單純地是所述的鏈所屬的所有群組的所述的集合。例如，回頭參見上述的所述的簡單劃分，所述的集合(第O組、第2組)獨(dú)特地選擇鏈0，而所述的集合(第O組、第3組)則獨(dú)特地選擇鏈I。注意所述的單鏈控制，其也產(chǎn)生自所述的X-解碼器601，所述的單鏈控制作為對(duì)所有多工器702的唯一控制。提供一簡單范例以用于進(jìn)一步的示例。如果所述的單鏈控制信號(hào)是開啟的，則可在所述的單鏈模式觀察到任何掃描鏈。如果所述的單鏈控制信號(hào)是關(guān)掉的，則在其他的模式中可觀察到所述的掃描鏈(即所述的完全可觀察性、所述的無可觀察性以及所述的多重可觀察性)。至或閘704與及閘705的所述的共享輸入是那個(gè)掃描鏈所屬的所述的4個(gè)群組(見上述劃分)(即每個(gè)掃描鏈確實(shí)地是4個(gè)群組中的一員，每個(gè)劃分一個(gè))。在完全可觀察性模式中，XTOL賦能是0(關(guān))所述的單鏈控制信號(hào)是O (即不在單鏈控制中)，且X-解碼器601的其他的30個(gè)輸出將會(huì)是I。如圖7中所示，如果所述的單鏈控制信號(hào)是0，所有的多工器702將選擇或閘704的輸出。因?yàn)樗兄粱蜷l704的輸入是1，則多工器702只輸出I。所述的應(yīng)用至及閘701的I容許所有掃描鏈的可觀察性。另一方面，如果XTOL賦能是1，則所述的XTOL控制信號(hào)用于決定所述的可觀察性模式。例如，在一無可觀察性模式中，則所述的單鏈控制信號(hào)是0，且X-解碼器601的其他30個(gè)輸出也是O。多工器702再一次選擇或閘704的輸出，在此案例中，或閘704輸出O。應(yīng)用至及閘701的O阻斷了所有的掃描鏈值。在一單鏈模式中，所述的單鏈控制信號(hào)是I。因此，多工器702選擇及閘705的輸出。在X-解碼器601的其他30個(gè)輸出中，其中的4個(gè)將為1，且其他的26個(gè)將為O。特別地，將只一個(gè)接收所述的4個(gè)I的掃描鏈，即選擇用以觀察的掃描鏈。在一多重可觀察性模式中，所述的單鏈控制信號(hào)是O。因此，多工器702選擇或閘704的輸出。在至X-解碼器601的其他30個(gè)輸出中，有些將為0，且其他的將為I。如果至一或閘704的所述的4個(gè)輸入中的至少一個(gè)是1，則觀察所述的相應(yīng)的掃描鏈?？赏ㄟ^計(jì)算鏈觀察的機(jī)率以作為每位移的X數(shù)量的一函數(shù)而估計(jì)在多重可觀察性模式中的分組品質(zhì)。1024條鏈的結(jié)果示于圖8和圖9中。在每個(gè)案例中選擇最高的可觀察性，即所述的無X模式，所以對(duì)于無X選擇完全可觀察性，對(duì)于I或極少X選擇15/16模式中的一個(gè)，然后是7/8模式中的一個(gè)，接著是3/4、1/2、1/4、1/8及1/16。如圖8中所示，15/16專門用于I個(gè)X，很少用于2個(gè)X，且?guī)缀鯊牟挥糜诟嗟腦。圖8中的所有曲線的總合是對(duì)于任何數(shù)量的X的100%。例如，1/4是用于每位移2至7個(gè)X的最可能的模式，然后1/8模式最可能用于每位移7至19個(gè)X，然后1/16用于更多的X。圖8中不包含單一可觀察性模式。注意所述的補(bǔ)充模式，15/16,7/8及3/4，只可用于每位移約2個(gè)X的一非常狹窄的區(qū)域，但這在真實(shí)的設(shè)計(jì)中是非常常發(fā)生的情況，因此補(bǔ)充模式是最常使用的。圖9不例了 XTOL選擇器品質(zhì)的兩種測量。一第一曲線901顯不所觀察到的鏈的平均數(shù)量，其隨著增加的X數(shù)量而快速地降低。引人注意地，在每位移6個(gè)X時(shí)仍可觀察到20%的所述的鏈，以及在高至每位移19個(gè)X時(shí)仍可觀察到10%的所述的鏈。注意此可觀察性遠(yuǎn)高于先前情況的可能性。例如，對(duì)于一組合壓縮器或選擇器，所觀察到的鏈的平均通常只有約3%。圖9中的一第二曲線902指示了可觀察鏈，即可在一多重觀察模式中被觀察，不一定要立即地，的鏈百分比，在所述的多重觀察模式中假定其他鏈?zhǔn)窃赬。因?yàn)閄傾向集中在X用于大部分型樣的特定設(shè)計(jì)胞元中，所以可觀察鏈?zhǔn)呛苤匾摹＿@對(duì)于ATPG有效率地觀察用于故障偵測的其他鏈?zhǔn)菦Q定性的，不一定全在相同的型樣中，且不一定要求助于單鏈可觀察性，其具有一高XTOL位元代價(jià)。如第二曲線所指，僅管每位移有高量的X，仍可維持高可觀察性。例如，僅管每位移15個(gè)X，仍可維持50%的可觀察性?，F(xiàn)在描述被修飾用以把測試型樣最佳化及映射成關(guān)注與XTOL種子的ATPG程序。圖10示例了一示范性的映射技術(shù)1000，所述的映射技術(shù)1000把關(guān)注位元映射成關(guān)注PRPG種子。在技術(shù)1000中，對(duì)于每個(gè)型樣，所述的測試產(chǎn)生器儲(chǔ)存想要的關(guān)注位元，如果主要及次要故障需要的話，關(guān)注位元被打上旗號(hào)。一計(jì)數(shù)維持在每位移的關(guān)注位元數(shù)量。次要故障的合并被位元的最大數(shù)量所限制，所述的位元可于一單一位移中被滿足，其相等于所述的關(guān)注PRPG減掉一小邊緣的長度。關(guān)注位元的列表被用于技術(shù)1000中，其一型樣、一型樣地計(jì)算并儲(chǔ)存了所需的關(guān)注種子。在映射技術(shù)1000中，關(guān)注位元以位移周期來分類(1001)，可變的開始_位移(start_shift)被初始化成O,以及可變的限制被初始化為所述的PRPG長度減掉一邊緣,而讓映射成一種子是適合的。位移的一最大的窗口，開始_位移至結(jié)束_位移(end_shift)被計(jì)算，使得所述的窗口中的關(guān)注位元總數(shù)不超過預(yù)計(jì)算的限制(1002)。如果在所述的窗口中所有的關(guān)注位元可被映射成一單一種子(即所述的線性系統(tǒng)具有一解決方法)(1003及1004)，則儲(chǔ)存所述的種子(1005)，且所述的種子在開始_位移的周期將被負(fù)載至所述的關(guān)注PRPG中，并經(jīng)由結(jié)束_位移+1的周期來產(chǎn)生所有的關(guān)注位元。除非已包含最后的位移(1006)，可隨后相似地處理位移的一新窗口(1002)。如果剛好已包含所述的最后的位移，則所述的程序已完成(1007)。如果不是所述的窗口中的所有關(guān)注位元可被映射成一單一種子(1004)，則假定結(jié)束_位移仍大于開始_位移，所述的窗口是線性的減低(結(jié)束_位移一)(1008)，且進(jìn)行一嘗試以把所造成的關(guān)注位元映射成一種子(1003)。在很稀有的案例中，甚至一單一位移的關(guān)注位元不能被映射成一種子，在此時(shí)結(jié)束_位移>開始_位移為非真。在此案例中，隨后執(zhí)行一二元搜尋(1009)以決定可被映射成一種子的最大關(guān)注位元數(shù)。在所述的搜尋的每一步驟，找到關(guān)注位元的線性系統(tǒng)的解決方法。如果有任何為了所述的主要故障而而打上旗號(hào)的關(guān)注位元的話，給予所述的關(guān)注位元較次要故障關(guān)注位元還高的優(yōu)先性，因?yàn)樗龅闹饕收喜槐凰龅臏y試產(chǎn)生器所重新標(biāo)靶。把從所述的種子計(jì)算出的PRPG值負(fù)載至所述的掃描鏈中，并執(zhí)行故障模擬。因?yàn)楸粊G棄的關(guān)注位元而不被偵測的次要故障隨后在未來的型樣中被重新標(biāo)靶。在已產(chǎn)生M(例如32)型樣且每個(gè)已被映射成關(guān)注種子之后，可執(zhí)行模擬以基于從所述的關(guān)注PRPG負(fù)載的值而決定哪個(gè)掃描胞元擷取被標(biāo)靶的故障，以及哪個(gè)胞元擷取X。此資訊接著可用于計(jì)算用于每個(gè)型樣的XTOL種子。圖11示例了 一觀察模式選擇技術(shù)1100。特別地，對(duì)于每個(gè)型樣以及每個(gè)位移，必須選擇一模式，使得沒有X被允許通過，如果有主要目標(biāo)故障的話，觀察到所述的主要目標(biāo)故障，也觀察到盡可能多的次要目標(biāo)，觀察到盡可能多的非目標(biāo)胞元，以及需要盡可能少的XTOL位元。對(duì)于每個(gè)型樣，最初地指定每個(gè)模式(即完全可觀察性、無可觀察性、單一、多重以及其補(bǔ)充物)一優(yōu)點(diǎn)值，所述的優(yōu)點(diǎn)值與其可觀察性成比例，并與其需要多少XTOL-控制以用以選擇成反比(1101)。在一具體實(shí)施例中，也加入一小隨機(jī)元件，使得不同的模式較佳于具有相似X-分布的不同型樣，因此促使所有可觀察鏈的偶然觀察。注意，在此時(shí)，對(duì)于所有的位移，一模式的優(yōu)點(diǎn)值是相同的。然后，對(duì)于每個(gè)位移，于那個(gè)位移中從考慮中移除在X選擇一或更多胞元的模式(1102)。對(duì)于觀察到所述的主要目標(biāo)故障的位移，消除沒觀察到所述的主要目標(biāo)觀察胞元的所有模式(1103)。注意觀察到任何單鏈的能力確保至少所述的主要目標(biāo)總是是可觀察到的。然后，以所觀察到的次級(jí)目標(biāo)胞元數(shù)而正比地提升剩余模式的優(yōu)點(diǎn)值(1104)。接著把對(duì)最后的位移具有最高優(yōu)點(diǎn)值的兩個(gè)模式儲(chǔ)存成最佳以及次佳(1105)。對(duì)于每個(gè)位移，從倒數(shù)第二(next-to-last)下至第一，每個(gè)模式具有其優(yōu)點(diǎn)值，所述的優(yōu)點(diǎn)值更新成較好的值，所述的較好的值隨后是位移+1的兩個(gè)最佳的模式的其中之一(儲(chǔ)存成curr及curr2) (1106)。保持一模式具有最低的XTOL控制成本，即一單一位元。具有目前位移的最高優(yōu)點(diǎn)值的兩個(gè)模式隨后被儲(chǔ)存成最佳以及最佳2，并用于下一個(gè)位移(1106)。在一具體實(shí)施例中，為了達(dá)到最快的性能，只計(jì)算并使用兩個(gè)最佳模式。最后，所選擇的最佳模式被映射成XTOL種子(1108)，然后不能觀察的次要故障被再次活化(1209)，所以他們可被一未來的測試型樣所標(biāo)靶。圖12示例了一示范性的映射技術(shù)1200(例如圖12的步驟1208)，其將XTOL-控制位元映射成XTOL PRPG種子(即執(zhí)行圖11的步驟1108)。為了開始映射技術(shù)1200，將可變的開始_位移初始化為0，且決定可變的限制為所述的PRPG長度減掉一個(gè)邊緣，讓映射成一種子是可能的。計(jì)算一窗口的初始位移首先考慮一新的XTOL種子是否可以供應(yīng)足夠的位元以保持用于在前所有完全可觀察性周期的XTOL影子(需要每位移一位元以用以保持)(1202)。如果留下的位元不足，立即把XTOL賦能關(guān)掉是有利的(例如使用一假的種子)(1203)。除非已包含最后的位移(1204),隨后可處理位移的一新窗口(1206)。計(jì)算位移的一最大窗口，開始_位移至結(jié)束_位移，使得在所述的窗口中XTOL-控制位元的總數(shù)不超過預(yù)計(jì)算的限制。解答一線性系統(tǒng)以計(jì)算一種子(1207)。如果在所述的窗口中的所有關(guān)注位元可被映射成一單一種子(即所述的線性系統(tǒng)具有一解答)(1208)，則儲(chǔ)存所述的種子(1209)，且所述的種子將被負(fù)載至在開始_位移周期的所述的XTOLPRPG中，并經(jīng)由結(jié)束_位移周期而產(chǎn)生所有的關(guān)注位元。除非已包含最后的位移(1210)，可相似地處理位移的一新窗口(1202)。如果剛好包含所述的最后的位移，則所述的程序已完成(1206)。如果不是在所述的窗口中的所有XTOL-控制位元可被映射成一單一種子(1208)，所述的窗口線性地減低(結(jié)束_位移一)，且嘗試將所造成的關(guān)注位元映射成一種子(1207)。注意因?yàn)閄TOL控制位元的數(shù)量遠(yuǎn)小于XT0LPRPG的長度，沒有需要的位元曾被丟棄，因?yàn)橛成湟粏我晃灰剖聦?shí)上是永遠(yuǎn)可行的。表1(如下)示出了一設(shè)計(jì)的一測試型樣的一范例以及XTOL控制的一有效率使用，所述的設(shè)計(jì)具有內(nèi)部鏈長100。在前20個(gè)位移周期(位移周期O... 19)中沒有X，所以XTOL賦能是設(shè)定為關(guān)掉，其具有初始關(guān)注PRPG種子的負(fù)載，且選擇完全可觀察性模式(F0)。在這些周期中有100%的可觀察性(假設(shè)沒有X鏈)。周期20具有I個(gè)X。因此，周期20之前是一 XT0LPRPG負(fù)載以及將XTOL賦能設(shè)定成開啟(所述的種子與先前周期中的所述的內(nèi)部位移重復(fù)負(fù)載)。使用衍生于所述的XTOL PRPG的8位元而選擇一 15/16模式。周期21至29再次為無X的；然而，現(xiàn)在XTOL賦能是開啟的，所以在周期21中，使用所述的XTOL PRPG的3位元選擇所述的完全可觀察性模式。此后，在周期22至29，每位移只使用I位元以保持所述的XTOL影子的值。周期30具有5個(gè)X。在此案例中，從所述的XTOL PRPG使用8位元以選擇一 1/4模式，其也被選擇用以符合下一個(gè)周期的需要。具體而言，周期31至39每位移具有3至7個(gè)X之間，且使用相同的1/4模式。注意每位元只有使用I位元以保持所述的XTOL影子的值。最后的60周期沒有X。因此，為了完全可觀察性，負(fù)載另一個(gè)種子并將XTOL賦能設(shè)定為關(guān)掉的。特別地，在此范例中，只有使用36個(gè)XTOL位元以阻斷11個(gè)周期中的共50X，并達(dá)到92%的一平均可觀察性。表1:XT0L 范例
權(quán)利要求
1.一種用以將關(guān)注位元映射至一關(guān)注偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)的方法，其中，所述的方法包含 決定位移的一最大窗口，所述的最大窗口的所有關(guān)注位?？捎成涑梢粏我环N子。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，決定所述的最大窗口包含 以位移周期分類所述的關(guān)注位元，以及對(duì)于每個(gè)位移周期進(jìn)行分類； 計(jì)算一最大窗口，使得在一窗口中的一關(guān)注位元總數(shù)不超過一預(yù)先計(jì)算的限制；以及當(dāng)所述的窗口中所有的關(guān)注位元可映射成一單一種子時(shí)，將所述的單一種子載入至所述的關(guān)注PRPG中。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述方法還包含 當(dāng)非所有的關(guān)注位元可映射成所述的單一種子時(shí)，則線性地減少所述的窗口。
4.一種用以將X-耐性(XTOL)控制位元映射成一 XTOL偽隨機(jī)型樣產(chǎn)生器(PRPG)的方法，其中，所述的方法包含 決定位移的一最大窗口，所述的最大窗口的所有XTOL位?？捎成涑梢粏我环N子；以及 決定所述的最大窗口的一最佳開始。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中，所述方法還包含 對(duì)于一完全可觀察性模式，決定關(guān)掉一 XTOL賦能位元的一第一選擇或是讓所述的XTOL賦能位元開啟的一第二選擇何者較佳；以及選擇所述的較佳的選擇。
6.一種選擇用于一掃描測試的可觀察性模式的方法，其中，所述的方法包含 初始化與所述的可觀察性模式相關(guān)的模式優(yōu)點(diǎn)； 對(duì)于每個(gè)位移，消除任何讓一未知值(X)經(jīng)過的可觀察性模式； 對(duì)于每個(gè)位移，消除任何無法偵測所述的掃描測試的一主要目標(biāo)的可觀察性模式； 基于所觀察到的次要目標(biāo)的一數(shù)量而增加對(duì)于次要故障的模式優(yōu)點(diǎn)； 對(duì)于每個(gè)位移，基于總模式優(yōu)點(diǎn)而決定一位移的一最佳可觀察性模式以及一次佳的可觀察性模式；以及 將產(chǎn)生的可觀察性模式映射成XTOL種子。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中 所述的可觀察性模式包含完全可觀察性、無可觀察性、單一可觀察性以及多重可觀察性。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中 所述的可觀察性模式包含每個(gè)可觀察性模式的補(bǔ)充物。
全文摘要
掃描測試以及掃描壓縮是實(shí)現(xiàn)成本降低以及運(yùn)送品質(zhì)的關(guān)鍵。在更加復(fù)雜的設(shè)計(jì)中，新的瑕疵類型需要增加的壓縮。然而，增加的未知(X)值密度減低了有效率的壓縮。一掃描壓縮方法可達(dá)到對(duì)于任何未知值的任何密度的非常高壓縮以及完全涵蓋率。所描述的技術(shù)可完全地并入所述的測試用設(shè)計(jì)(DFT)以及自動(dòng)化測試型樣產(chǎn)生(ATPG)流程中。比起其他方法，在工業(yè)設(shè)計(jì)上來自使用這些技術(shù)的結(jié)果展現(xiàn)了一致且可預(yù)測的優(yōu)勢。
文檔編號(hào)G01R31/3185GK103018661SQ20121046070
公開日2013年4月3日 申請(qǐng)日期2009年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月1日
發(fā)明者彼得·沃爾, 約翰·A·威庫考斯基, 弗瑞德里克·J·紐費(fèi)克斯 申請(qǐng)人:新諾普系統(tǒng)公司