開關(guān)矩陣、自動(dòng)測試系統(tǒng)及其中的開關(guān)矩陣的檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種開關(guān)矩陣、自動(dòng)測試系統(tǒng)及其中的開關(guān)矩陣的檢測方法，該開關(guān)矩陣包括一插有多個(gè)子板的插槽板，每個(gè)子板均包括一存儲(chǔ)芯片、一判斷模塊以及一傳輸模塊，該存儲(chǔ)芯片用于記錄該子板的功能信息，該判斷模塊用于判斷該子板的繼電器的線圈電壓是否變化，若是，則調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作成功的信息發(fā)送出去，若否，則調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作失敗的信息發(fā)送出去。本發(fā)明的開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板的存儲(chǔ)芯片均能記錄子板的功能信息，并且子板能夠反饋繼電器的操作信息，滿足了現(xiàn)代化測試儀器高速度、及時(shí)反饋的要求，本發(fā)明的自動(dòng)測試系統(tǒng)還能夠?qū)﹂_關(guān)矩陣進(jìn)行檢測，保證了子板輸出數(shù)據(jù)的正確性。
【專利說明】開關(guān)矩陣、自動(dòng)測試系統(tǒng)及其中的開關(guān)矩陣的檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種開關(guān)矩陣、自動(dòng)測試系統(tǒng)及其中的開關(guān)矩陣的檢測方法，特別是涉及一種能夠記錄其中的子板的功能以及子板能夠反饋繼電器的操作信息的開關(guān)矩陣、一種包括該開關(guān)矩陣的自動(dòng)測試系統(tǒng)以及一種該自動(dòng)測試系統(tǒng)中的開關(guān)矩陣的檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]由于在目前的實(shí)際生產(chǎn)過程中，設(shè)備的測試效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于設(shè)備的生產(chǎn)效率，再加上人力成本的提升，導(dǎo)致設(shè)備的自動(dòng)測試很花費(fèi)成本且效率偏低。而通過設(shè)計(jì)開關(guān)矩陣可以大大減少測試時(shí)間，同時(shí)也能很好的節(jié)省人力資源。開關(guān)矩陣主要能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化測試設(shè)備與被測電路單元之間的信息交換，由于被測單元種類繁多，被測通道數(shù)量大，導(dǎo)致傳統(tǒng)的開關(guān)矩陣體積大、切換速度慢、電氣性能差，并且傳統(tǒng)的開關(guān)矩陣中的子板的功能都沒有被一一記錄，且子板無法及時(shí)反饋繼電器的操作信息，導(dǎo)致信息反饋不及時(shí)，已經(jīng)無法滿足現(xiàn)代測試儀器高速、便攜的要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中開關(guān)矩陣切換速度慢、電氣性能差，且其中的子板的功能沒有被記錄、子板無法及時(shí)反饋繼電器的操作信息，導(dǎo)致信息反饋不及時(shí)的缺陷，提供一種能夠記錄其中的子板的功能以及子板能夠反饋繼電器的操作信息的開關(guān)矩陣、一種包括該開關(guān)矩陣的自動(dòng)測試系統(tǒng)以及一種該自動(dòng)測試系統(tǒng)中的開關(guān)矩陣的檢測方法。
[0004]本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的:
[0005]本發(fā)明提供了一種開關(guān)矩陣，其特點(diǎn)在于，其包括一插有多個(gè)子板的插槽板，每個(gè)子板均包括一存儲(chǔ)芯片、一判斷模塊以及一傳輸模塊，該存儲(chǔ)芯片用于記錄該子板的功能信息，該判斷模塊用于判斷該子板的繼電器的線圈電壓是否變化，若是，則調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作成功的信息發(fā)送出去，若否，則調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作失敗的信息發(fā)送出去。
[0006]本發(fā)明的開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板的存儲(chǔ)芯片均能記錄子板的功能信息，如額定電壓、額定電流的大小，觸點(diǎn)類型是常開還是常閉以及子板的通道數(shù)，進(jìn)而就能根據(jù)這些功能信息判斷出每個(gè)子板的功能。
[0007]并且，當(dāng)有外部指令控制子板中的繼電器執(zhí)行操作時(shí)，該判斷模塊還能夠通過判斷該子板的繼電器的線圈電壓是否變化，若變化，則說明該繼電器執(zhí)行操作成功，進(jìn)而就調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作成功的信息發(fā)送出去進(jìn)行反饋，若不變化，則說明該繼電器沒有動(dòng)作，即執(zhí)行操作失敗，此時(shí)就調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作失敗的信息發(fā)送出去進(jìn)行反饋。從而能夠及時(shí)反饋信息，滿足了現(xiàn)代化測試儀器高速度、及時(shí)反饋的要求。
[0008]較佳地，該存儲(chǔ)芯片為EEPROM (電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器)芯片。[0009]較佳地，該子板的功能信息包括該子板的額定電壓、額定電流、繼電器的觸點(diǎn)類型以及該子板的通道數(shù)。
[0010]本發(fā)明還提供了一種自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特點(diǎn)在于，其包括一上位機(jī)以及一下位機(jī)，該下位機(jī)包括一個(gè)上述的開關(guān)矩陣以及一 MCU (微控制單元)控制板，該上位機(jī)與該開關(guān)矩陣之間通過該MCU控制板進(jìn)行通信，該上位機(jī)用于發(fā)送一地址獲取指令至該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板，該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板均用于將各自的地址發(fā)送至該上位機(jī)，該上位機(jī)還用于在接收到地址后發(fā)送一功能確定指令至每個(gè)子板，每個(gè)子板均用于將各自的功能信息發(fā)送至該上位機(jī)，該上位機(jī)在接收到功能信息后將一設(shè)置信息發(fā)送至一目標(biāo)子板，以將該目標(biāo)子板設(shè)置為具有輸入數(shù)據(jù)的功能或輸出數(shù)據(jù)的功能，該上位機(jī)還用于接收該目標(biāo)子板的傳輸模塊發(fā)送的信息，以對(duì)該目標(biāo)子板的繼電器的執(zhí)行操作進(jìn)行檢測。
[0011]其中的每個(gè)子板都具有一個(gè)唯一的地址，因此該上位機(jī)就能夠發(fā)送特定的地址來選擇對(duì)應(yīng)的特定的子板。
[0012]其中上位機(jī)可以采用VC (—種開發(fā)工具，具有集成開發(fā)環(huán)境，可提供編程語言)編程，并發(fā)送數(shù)據(jù)控制該MCU控制板，該MCU控制板解析數(shù)據(jù)，進(jìn)而傳輸給該開關(guān)矩陣，達(dá)到控制該開關(guān)矩陣的目的。
[0013]該開關(guān)矩陣則接收由該上位機(jī)發(fā)送的數(shù)據(jù)，并解析數(shù)據(jù)，然后控制其中的子板進(jìn)行信息反饋的操作，以實(shí)現(xiàn)對(duì)該開關(guān)矩陣的檢測。
[0014]較佳地，該上位機(jī)為一 PC機(jī)(個(gè)人計(jì)算機(jī))。
[0015]較佳地，該上位機(jī)與該MCU控制板之間通過RS232接口(個(gè)人計(jì)算機(jī)上的通訊接口之一，由電子工業(yè)協(xié)會(huì)制定的異步標(biāo)準(zhǔn)傳輸接口)進(jìn)行通信，該MCU控制板與該開關(guān)矩陣之間通過I2C總線(一種兩線式串行總線，用于連接微控制器及其外圍設(shè)備)進(jìn)行通信。
[0016]本發(fā)明還提供了一種上述的自動(dòng)測試系統(tǒng)中的開關(guān)矩陣的檢測方法，其特點(diǎn)在于，其包括以下步驟:
[0017]S1、該上位機(jī)發(fā)送該地址獲取指令至該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板；
[0018]S2、該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板均將各自的地址發(fā)送至該上位機(jī)；
[0019]S3、該上位機(jī)發(fā)送該功能確定指令至每個(gè)子板；
[0020]S4、每個(gè)子板均將各自的功能信息發(fā)送至該上位機(jī)；
[0021]S5、該上位機(jī)將該設(shè)置信息發(fā)送至該目標(biāo)子板，以將該目標(biāo)子板設(shè)置為具有輸入數(shù)據(jù)的功能或輸出數(shù)據(jù)的功能；
[0022]S6、該上位機(jī)接收該目標(biāo)子板的傳輸模塊發(fā)送的信息，以對(duì)該目標(biāo)子板的繼電器的執(zhí)行操作進(jìn)行檢測。
[0023]較佳地，該上位機(jī)為一 PC機(jī)。
[0024]本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于:本發(fā)明的開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板的存儲(chǔ)芯片均能記錄子板的功能信息，并且子板能夠反饋繼電器的操作信息，滿足了現(xiàn)代化測試儀器高速度、及時(shí)反饋的要求，本發(fā)明的自動(dòng)測試系統(tǒng)還能夠?qū)﹂_關(guān)矩陣進(jìn)行檢測，保證了子板輸出數(shù)據(jù)的正確性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0025]圖1為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的開關(guān)矩陣的結(jié)構(gòu)圖。[0026]圖2為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的自動(dòng)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
[0027]圖3為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的自動(dòng)測試系統(tǒng)中的開關(guān)矩陣的檢測方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)方案。
[0029]如圖1所示，本發(fā)明的開關(guān)矩陣包括一插槽板1，該插槽板I中插有多個(gè)子板2，其中每個(gè)子板2均包括一 EEPROM芯片21、一判斷模塊22以及一傳輸模塊23。
[0030]該EEPROM芯片21能夠記錄該子板2的功能信息，具體包括額定電壓、額定電流的大小，觸點(diǎn)類型是常開還是常閉以及子板2的通道數(shù)，進(jìn)而就能根據(jù)這些功能信息判斷出每個(gè)子板2的功能。
[0031]并且，當(dāng)有外部指令控制子板2中的繼電器執(zhí)行操作時(shí)，該判斷模塊22還能夠通過判斷該子板2的繼電器的線圈電壓是否變化，若變化，則說明該繼電器執(zhí)行操作成功，進(jìn)而就調(diào)用該傳輸模塊23將該繼電器執(zhí)行操作成功的信息發(fā)送出去進(jìn)行反饋，若不變化，則說明該繼電器沒有動(dòng)作，即執(zhí)行操作失敗，此時(shí)就調(diào)用該傳輸模塊23將該繼電器執(zhí)行操作失敗的信息發(fā)送出去進(jìn)行反饋。從而能夠及時(shí)反饋信息，滿足了現(xiàn)代化測試儀器高速度、及時(shí)反饋的要求。
[0032]如圖2所示，本發(fā)明的自動(dòng)測試系統(tǒng)則包括一 PC機(jī)3、一 MCU控制板4以及該開關(guān)矩陣，其中該P(yáng)C機(jī)3為該自動(dòng)測試系統(tǒng)中的上位機(jī)，該MCU控制板4與該開關(guān)矩陣則組成該自動(dòng)測試系統(tǒng)中的下位機(jī)。
[0033]該P(yáng)C機(jī)3與該開關(guān)矩陣之間通過該MCU控制板4進(jìn)行通信，該P(yáng)C機(jī)3首先發(fā)送一地址獲取指令至該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板2，該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板2在接收到該地址獲取指令之后均將各自的地址發(fā)送至該P(yáng)C機(jī)3，接著，該P(yáng)C機(jī)3還在接收到地址后根據(jù)地址發(fā)送一功能確定指令至每個(gè)子板2，每個(gè)子板2在接收到該功能確定指令后均將各自的功能信息發(fā)送至該P(yáng)C機(jī)3。
[0034]之后，該P(yáng)C機(jī)3在接收到功能信息后根據(jù)地址將一設(shè)置信息發(fā)送至一目標(biāo)子板2，以將該目標(biāo)子板2設(shè)置為具有輸入數(shù)據(jù)的功能或輸出數(shù)據(jù)的功能，該P(yáng)C機(jī)3最后還接收該目標(biāo)子板2的傳輸模塊23發(fā)送的信息，以對(duì)該目標(biāo)子板2的繼電器的執(zhí)行操作進(jìn)行檢測。若接收到的是該繼電器執(zhí)行操作成功的信息，則表明該繼電器正常工作，執(zhí)行操作成功，若接收到的是該繼電器執(zhí)行操作失敗的信息，則表明該繼電器工作異常，執(zhí)行操作失敗。
[0035]其中，該P(yáng)C機(jī)3與該MCU控制板4之間通過RS232接口進(jìn)行通信，而該MCU控制板4與該開關(guān)矩陣之間則通過I2C總線進(jìn)行通信。并且，該P(yáng)C機(jī)3可以采用VC編程，并發(fā)送數(shù)據(jù)控制該MCU控制板4，該MCU控制板4解析數(shù)據(jù)，進(jìn)而傳輸給該開關(guān)矩陣，達(dá)到控制該開關(guān)矩陣的目的。
[0036]該開關(guān)矩陣則接收由該P(yáng)C機(jī)3發(fā)送的數(shù)據(jù)，并解析數(shù)據(jù)，然后控制其中的子板2進(jìn)行信息反饋的操作，以實(shí)現(xiàn)對(duì)該開關(guān)矩陣的檢測。而在具體檢測時(shí)，每個(gè)子板2上的所有繼電器檢測完畢后，在進(jìn)行下一個(gè)子板2的檢測之間之前，都需要將檢測完的子板2進(jìn)行復(fù)位，同樣在所有的子板2均檢測完畢后，需要將整個(gè)開關(guān)矩陣復(fù)位。
[0037]如圖3所示，本發(fā)明對(duì)自動(dòng)測試系統(tǒng)中的開關(guān)矩陣的檢測方法包括以下步驟:[0038]步驟100、該P(yáng)C機(jī)3發(fā)送該地址獲取指令至該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板2。
[0039]步驟101、該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板2均將各自的地址發(fā)送至該P(yáng)C機(jī)3。
[0040]步驟102、該P(yáng)C機(jī)3發(fā)送該功能確定指令至每個(gè)子板2。
[0041]步驟103、每個(gè)子板2均將各自的功能信息發(fā)送至該P(yáng)C機(jī)3。
[0042]步驟104、該P(yáng)C機(jī)3將該設(shè)置信息發(fā)送至該目標(biāo)子板2，以將該目標(biāo)子板2設(shè)置為具有輸入數(shù)據(jù)的功能或輸出數(shù)據(jù)的功能。
[0043]步驟105、該P(yáng)C機(jī)3接收該目標(biāo)子板2的傳輸模塊發(fā)送的信息，以對(duì)該目標(biāo)子板2的繼電器的執(zhí)行操作進(jìn)行檢測。
[0044]而在具體的檢測過程中，下位機(jī)的發(fā)送和接收數(shù)據(jù)的部分程序列出如下:
[0045]
【權(quán)利要求】
1.一種開關(guān)矩陣，其特征在于，其包括一插有多個(gè)子板的插槽板，每個(gè)子板均包括一存儲(chǔ)芯片、一判斷模塊以及一傳輸模塊，該存儲(chǔ)芯片用于記錄該子板的功能信息，該判斷模塊用于判斷該子板的繼電器的線圈電壓是否變化，若是，則調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作成功的信息發(fā)送出去，若否，則調(diào)用該傳輸模塊將該繼電器執(zhí)行操作失敗的信息發(fā)送出去。
2.如權(quán)利要求1所述的開關(guān)矩陣，其特征在于，該存儲(chǔ)芯片為EEPROM芯片。
3.如權(quán)利要求2所述的開關(guān)矩陣，其特征在于，該子板的功能信息包括該子板的額定電壓、額定電流、繼電器的觸點(diǎn)類型以及該子板的通道數(shù)。
4.一種自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，其包括一上位機(jī)以及一下位機(jī)，該下位機(jī)包括一個(gè)如權(quán)利要求1所述的開關(guān)矩陣以及一 MCU控制板，該上位機(jī)與該開關(guān)矩陣之間通過該MCU控制板進(jìn)行通信，該上位機(jī)用于發(fā)送一地址獲取指令至該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板，該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板均用于將各自的地址發(fā)送至該上位機(jī)，該上位機(jī)還用于在接收到地址后發(fā)送一功能確定指令至每個(gè)子板，每個(gè)子板均用于將各自的功能信息發(fā)送至該上位機(jī)，該上位機(jī)在接收到功能信息后將一設(shè)置信息發(fā)送至一目標(biāo)子板，以將該目標(biāo)子板設(shè)置為具有輸入數(shù)據(jù)的功能或輸出數(shù)據(jù)的功能，該上位機(jī)還用于接收該目標(biāo)子板的傳輸模塊發(fā)送的信息，以對(duì)該目標(biāo)子板的繼電器的執(zhí)行操作進(jìn)行檢測。
5.如權(quán)利要求4所述的自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，該上位機(jī)為一PC機(jī)。
6.如權(quán)利要求5所述的自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，該上位機(jī)與該MCU控制板之間通過RS232接口進(jìn)行通信，該MCU控制板與該開關(guān)矩陣之間通過I2C總線進(jìn)行通信。
7.—種如權(quán)利要求4所述的自動(dòng)測試系統(tǒng)中的開關(guān)矩陣的檢測方法，其特征在于，其包括以下步驟: 51、該上位機(jī)發(fā)送該地址獲取指令至該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板； 52、該開關(guān)矩陣中的每個(gè)子板均將各自的地址發(fā)送至該上位機(jī)； 53、該上位機(jī)發(fā)送該功能確定指令至每個(gè)子板； 54、每個(gè)子板均將各自的功能信息發(fā)送至該上位機(jī)； 55、該上位機(jī)將該設(shè)置信息發(fā)送至該目標(biāo)子板，以將該目標(biāo)子板設(shè)置為具有輸入數(shù)據(jù)的功能或輸出數(shù)據(jù)的功能； 56、該上位機(jī)接收該目標(biāo)子板的傳輸模塊發(fā)送的信息，以對(duì)該目標(biāo)子板的繼電器的執(zhí)行操作進(jìn)行檢測。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測方法，其特征在于，該上位機(jī)為一PC機(jī)。
【文檔編號(hào)】G01R31/327GK103809051SQ201210455167
【公開日】2014年5月21日 申請(qǐng)日期:2012年11月13日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月13日
【發(fā)明者】蔣剛 申請(qǐng)人:上海斐訊數(shù)據(jù)通信技術(shù)有限公司