專利名稱:一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及電子測(cè)試與屏蔽效能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,是ー種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法。
背景技術(shù):
近年來(lái),在電磁兼容及通信領(lǐng)域,對(duì)于產(chǎn)品的抗電磁干擾性能要求越來(lái)越高,由于各類電子產(chǎn)品的電磁干擾 輻射頻段越來(lái)越寬,高頻段干擾頻率越來(lái)越多,這使得波導(dǎo)器件的應(yīng)用越來(lái)越多、范圍越來(lái)越廣,這就要求射頻連接機(jī)構(gòu)、多通道波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品的抗電磁干擾能力要求越來(lái)越嚴(yán)格,而決定其空間抗電磁干擾的能力往往取決于其設(shè)備腔體自身的屏蔽效能,由于現(xiàn)代電子設(shè)備朝向多元化、小型化發(fā)展,從而使得一些波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)通道增多。目前一般的屏蔽效能測(cè)試方法無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試出多通道波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)的屏蔽效能。因此,迫切需要ー種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法驗(yàn)證ー些射頻連接器、波導(dǎo)或多通道波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)等射頻器件的屏蔽效能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供ー種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,它是由發(fā)射天線及射頻轉(zhuǎn)換裝置組合而成,能夠適用于射頻連接器、波導(dǎo)或多通道波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)等射頻器件。本發(fā)明的技術(shù)方案是ー種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,它的設(shè)備包括射頻轉(zhuǎn)換裝置、發(fā)射天線、接收儀、信號(hào)源、同軸線纜和屏蔽室,其特征是射頻轉(zhuǎn)換裝置通過(guò)同軸線纜與接收儀導(dǎo)通,它們置于屏蔽室內(nèi),射頻轉(zhuǎn)換裝置固定在屏蔽室墻體的測(cè)試過(guò)孔處;信號(hào)源通過(guò)同軸線纜與發(fā)射天線導(dǎo)通,它們置于屏蔽室外,發(fā)射天線正對(duì)屏蔽室墻體的測(cè)試過(guò)孔,發(fā)射天線頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離為D ;這種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法按照如下的步驟進(jìn)行
步驟1,測(cè)直通值;信號(hào)源發(fā)出信號(hào),并由發(fā)射天線發(fā)出入射波,直接通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置接收后,在接收儀處得直通值;
步驟2,測(cè)實(shí)際值;將被測(cè)器件設(shè)置在屏蔽室外的測(cè)試過(guò)孔處,被測(cè)器件與屏蔽室的接觸面加裝屏蔽襯墊;設(shè)置好被測(cè)器件后,信號(hào)源發(fā)出信號(hào),并由發(fā)射天線發(fā)出入射波,直接通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置接收后,在接收儀處得到實(shí)際值;
步驟3,計(jì)算屏蔽效能;用步驟I中得到的直通值減去步驟2中得到的實(shí)際值,所得結(jié)果為被測(cè)器件的屏蔽效能。所述的射頻轉(zhuǎn)換裝置是波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器,其中部設(shè)置有金屬法蘭盤(pán),通過(guò)螺絲與屏蔽室的內(nèi)壁固定,金屬法蘭盤(pán)與屏蔽室的內(nèi)壁之間加裝導(dǎo)電襯墊。所述的發(fā)射天線為環(huán)形磁場(chǎng)測(cè)試天線、半波振子天線或微波喇叭天線,其發(fā)射測(cè)試頻段為9KHz至40GHz。所述的接收儀是接收機(jī)或頻譜儀。
所述的信號(hào)源是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。所述的同軸線纜是能夠滿足9KHz至40GHz測(cè)試的同軸線纜。所述的屏蔽室是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室。所述的發(fā)射天線頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離D小于等于30厘米。本發(fā)明的特點(diǎn)是通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置、屏蔽室的隔離、接收儀可有效測(cè)試出被測(cè)器件的屏蔽效能,由于采用了直通值(無(wú)被測(cè)器件時(shí)接收儀接收到的值)減去實(shí)際接收值的測(cè)試方法,使得測(cè)試最終結(jié)果精度高、誤差小。
下面將結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)ー步的說(shuō)明。圖I是無(wú)被測(cè)器件時(shí),波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法的裝置示意圖。圖2是有被測(cè)器件時(shí),波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法的裝置示意圖。圖中1、射頻轉(zhuǎn)換裝置;2、發(fā)射天線;3、接收儀;4、信號(hào)源;5、同軸線纜;6、屏蔽室;7、被測(cè)器件;D、發(fā)射天線頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離。
具體實(shí)施例方式ー種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,它使用的設(shè)備包括了射頻轉(zhuǎn)換裝置I、發(fā)射天線2、接收儀3、信號(hào)源4、同軸線纜5和屏蔽室6。如圖I所示,射頻轉(zhuǎn)換裝置I通過(guò)同軸線纜5與接收儀3導(dǎo)通,它們置于屏蔽室6內(nèi)。射頻轉(zhuǎn)換裝置I設(shè)置在屏蔽室6內(nèi)壁的測(cè)試過(guò)孔處,其中部設(shè)置有金屬法蘭盤(pán),通過(guò)螺絲與屏蔽室6的內(nèi)壁固定,金屬法蘭盤(pán)與屏蔽室6的內(nèi)壁之間加裝導(dǎo)電襯墊。射頻轉(zhuǎn)換裝置I是波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器。接收儀3是接收機(jī)或頻譜儀。信號(hào)源4通過(guò)同軸線纜5與發(fā)射天線2導(dǎo)通,它們置于屏蔽室6外。發(fā)射天線2正對(duì)屏蔽室6墻體的測(cè)試過(guò)孔,發(fā)射天線2頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離為D,且D小于等于30cm。發(fā)射天線2為環(huán)形磁場(chǎng)測(cè)試天線、半波振子天線或微波喇叭天線,其發(fā)射測(cè)試頻段為 9KHz 至 40GHz。信號(hào)源4是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。裝置中連接各部分的同軸線纜5是能夠滿足9KHz至40GHz測(cè)試的同軸線纜。屏蔽室6是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室,其目的是防止入射信號(hào)直接對(duì)接收儀3和發(fā)射天線2進(jìn)行干擾,進(jìn)而影響測(cè)試的真實(shí)性而采用的ー種隔離環(huán)境。當(dāng)射頻轉(zhuǎn)換裝置I、發(fā)射天線2、接收儀3、信號(hào)源4、同軸線纜5和屏蔽室6按照上述的方法設(shè)置完畢后,可以進(jìn)行屏蔽效能的測(cè)試。這種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法按照如下的步驟進(jìn)行
步驟I,測(cè)直通值;信號(hào)源4發(fā)出信號(hào),并由發(fā)射天線2發(fā)出入射波,直接通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置I接收后,在接收儀3處得直通值,即在沒(méi)有被測(cè)器件7時(shí),接收儀3處得到的數(shù)值并記錄;
步驟2,測(cè)實(shí)際值;如圖2所示,將被測(cè)器件7設(shè)置在屏蔽室6外的測(cè)試過(guò)孔處,被測(cè)器件7與屏蔽室6的接觸面加裝屏蔽襯墊;設(shè)置好被測(cè)器件7后,信號(hào)源4發(fā)出信號(hào),并由發(fā)射天線2發(fā)出入射波,直接通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置I接收后,在接收儀3處得到實(shí)際值并記錄;步驟3,計(jì)算屏蔽效能;用步驟I中得到的直通值減去步驟2中得到的實(shí)際值,所得結(jié)果為被測(cè)器件7的屏蔽效能。這種采用直通值(無(wú)被測(cè)器件時(shí)接收儀接收到的值)減去實(shí)際接收值的測(cè)試方法,使得測(cè)試最終結(jié)果精度高、誤差小。
本實(shí)施例沒(méi)有詳細(xì)敘述的部件和結(jié)構(gòu)屬本行業(yè)的公知部件和常用結(jié)構(gòu)或常用手段,這里不一一敘述。
權(quán)利要求
1.一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,它的設(shè)備包括射頻轉(zhuǎn)換裝置(I)、發(fā)射天線(2)、接收儀(3)、信號(hào)源(4)、同軸線纜(5)和屏蔽室(6),其特征是射頻轉(zhuǎn)換裝置(I)通過(guò)同軸線纜(5)與接收儀(3)導(dǎo)通,它們置于屏蔽室(6)內(nèi),射頻轉(zhuǎn)換裝置(I)固定在屏蔽室(6)墻體的測(cè)試過(guò)孔處;信號(hào)源(4)通過(guò)同軸線纜(5)與發(fā)射天線(2)導(dǎo)通,它們置于屏蔽室(6)外,發(fā)射天線(2)正對(duì)屏蔽室(6)墻體的測(cè)試過(guò)孔,發(fā)射天線(2)頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離為D ;這種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法按照如下的步驟進(jìn)行 步驟1,測(cè)直通值;信號(hào)源(4)發(fā)出信號(hào),并由發(fā)射天線(2)發(fā)出入射波,直接通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置(I)接收后,在接收儀(3 )處得直通值; 步驟2,測(cè)實(shí)際值;將被測(cè)器件(7)設(shè)置在屏蔽室(6)外的測(cè)試過(guò)孔處,被測(cè)器件(7)與屏蔽室(6)的接觸面加裝屏蔽襯墊;設(shè)置好被測(cè)器件(7)后,信號(hào)源(4)發(fā)出信號(hào),并由發(fā)射天線(2)發(fā)出入射波,直接通過(guò)射頻轉(zhuǎn)換裝置(I)接收后,在接收儀(3)處得到實(shí)際值; 步驟3,計(jì)算屏蔽效能;用步驟I中得到的直通值減去步驟2中得到的實(shí)際值,所得結(jié)果為被測(cè)器件(7)的屏蔽效能。
2.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的射頻轉(zhuǎn)換裝置(I)是波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器,其中部設(shè)置有金屬法蘭盤(pán),通過(guò)螺絲與屏蔽室(6)的內(nèi)壁固定,金屬法蘭盤(pán)與屏蔽室(6)的內(nèi)壁之間加裝導(dǎo)電襯墊。
3.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的發(fā)射天線(2)為環(huán)形磁場(chǎng)測(cè)試天線、半波振子天線或微波喇叭天線,其發(fā)射測(cè)試頻段為9KHz 至 40GHz。
4.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的接收儀(3)是接收機(jī)或頻譜儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的信號(hào)源(4)是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。
6.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的同軸線纜(5)是能夠滿足9KHz至40GHz測(cè)試的同軸線纜。
7.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的屏蔽室(6)是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室。
8.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法,其特征是所述的發(fā)射天線(2)頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離D小于等于30厘米。
全文摘要
本發(fā)明涉及電子測(cè)試與屏蔽效能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,是一種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法。它的設(shè)備包括射頻轉(zhuǎn)換裝置、發(fā)射天線、接收儀、信號(hào)源、同軸線纜和屏蔽室,其特征是射頻轉(zhuǎn)換裝置通過(guò)同軸線纜與接收儀導(dǎo)通,它們置于屏蔽室內(nèi),射頻轉(zhuǎn)換裝置固定在屏蔽室墻體的測(cè)試過(guò)孔處;信號(hào)源通過(guò)同軸線纜與發(fā)射天線導(dǎo)通,它們置于屏蔽室外,發(fā)射天線正對(duì)屏蔽室墻體的測(cè)試過(guò)孔,發(fā)射天線頂部與測(cè)試過(guò)孔的距離為D;并按照測(cè)直通值、測(cè)實(shí)際值、計(jì)算屏蔽效能三個(gè)步驟進(jìn)行屏蔽效能的測(cè)試。這種波導(dǎo)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)屏蔽效能測(cè)試方法采用了直通值減去實(shí)際接收值的測(cè)試方法,使得測(cè)試最終結(jié)果精度高、誤差小。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102955086SQ20121041277
公開(kāi)日2013年3月6日 申請(qǐng)日期2012年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月25日
發(fā)明者宋博 申請(qǐng)人:西安開(kāi)容電子技術(shù)有限責(zé)任公司