專利名稱:一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及電子測試與屏蔽效能測試技術(shù)領(lǐng)域,是ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法。
背景技術(shù):
為了適應現(xiàn)代電子技術(shù)發(fā)展的需求,天線的研發(fā)主要朝著小尺寸、寬頻帶、高增益、可調(diào)節(jié)的方向發(fā)展。近年來,在電磁兼容領(lǐng)域,對于產(chǎn)品的抗電磁干擾性能要求越來越高,由于各類電子產(chǎn)品的電磁干擾輻射頻段越來越寬,且低頻段尤為密集,而且目前該領(lǐng)域中所使用的屏效測試天線多為窄帶天線,且體積大,在測試小物體的屏蔽效能時,往往不能將天線放置在腔體內(nèi)部進行屏蔽效能接收測試,而需驗證ー個腔體的屏蔽效能,則必須將一個接收天線放入該腔體內(nèi)部接收測試,這就使得體積小的腔體其自身屏蔽效能往往無法得到驗證,因此需要一種可以寬頻帶測試且體積小的便攜式寬帶高增益近場測試天線。·
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,能夠放入小型腔體內(nèi)進行進場測試其屏蔽效能,適用于小型屏蔽腔體、機柜、屏蔽暗箱、屏蔽室以及屏蔽方艙的磁場及電場屏蔽效能的測試,同時可以用于大型電子設(shè)備和系統(tǒng)的輻射干擾撿漏測試。本發(fā)明的技術(shù)方案是ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是它至少包括絕緣定位桿、絕緣接插結(jié)構(gòu)以及環(huán)形近場測試天線;環(huán)形近場測試天線是由前端環(huán)狀的天線輻射體、中部桿狀的射頻回路以及末端的射頻同軸器導通構(gòu)成,且外側(cè)包裹絕緣的天線腔體,天線輻射體的頂端設(shè)置有絕緣間隙;絕緣接插結(jié)構(gòu)的前端和末端設(shè)置有孔,環(huán)形近場測試天線的前端圓環(huán)穿過絕緣接插結(jié)構(gòu)的孔,使絕緣接插結(jié)構(gòu)橫跨在環(huán)形近場測試天線上,絕緣接插結(jié)構(gòu)前端與絕緣定位桿的末端插接固定。所述的環(huán)形進場測試天線包括射頻線纜、天線腔體、測試手柄和射頻同軸連接器;天線腔體是一端開ロ的中空絕緣殼體,其前端是圓環(huán)腔體,開ロ端有測試手柄,中間部分是桿狀腔體;第一射頻線纜設(shè)置在天線腔體圓環(huán)腔體的半圓環(huán)內(nèi),其末端位于天線腔體的圓環(huán)腔體與桿狀腔體的連接處;第二射頻線纜設(shè)置在天線腔體的另一半圓環(huán)腔體和桿狀腔體內(nèi),其末端位于天線腔體的開ロ端,第二射頻線纜在天線腔體的桿狀腔體內(nèi)部分構(gòu)成射頻回路;第二射頻線纜的前端芯線與第一射頻線纜的前端外回路層搭接焊接,第一射頻線纜與第二射頻線纜在前端形成絕緣間隙,第一射頻線纜的末端與第二射頻線纜在天線腔體的圓環(huán)腔體與桿狀腔體連接處通過外層回路和芯線全部焊接導通,焊接后的第一射頻線纜與第二射頻線纜構(gòu)成環(huán)狀的天線輻射體;測試手柄包裹在第二射頻線纜的末端外側(cè);射頻同軸連接器設(shè)置在天線腔體的開ロ端,井內(nèi)嵌在測試手柄的末端,第二射頻線纜后端的芯線插入射頻同軸連接器內(nèi)部且與射頻同軸連接器的線芯焊接導通,第二射頻線纜與射頻同軸連接器通過外回路層360°焊接固定。
所述的絕緣定位桿是由不同長度的絕緣橫桿與橫跨在環(huán)形近場天線上絕緣接插結(jié)構(gòu)拼接構(gòu)成,其長度根據(jù)測試要求可調(diào)整,絕緣橫桿的長度范圍是5厘米至100厘米。所述的天線輻射體的直徑,即環(huán)形近場測試天線前端圓環(huán)的直徑為3厘米至12厘米。所述的射頻同軸連接器的類型是N型、BNC型、SMA型或TNC型。所述的第一射頻線纜與第二射頻線纜都是半鋼線或半柔線的射頻線纜,由外回路層包裹芯線構(gòu)成。所述的絕緣間隙是通過第二射頻線纜的芯線與第一射頻線纜的外回路層焊接形成,絕緣間隙的寬度為I毫米至4毫米。所述的測試手柄是圓柱體絕緣棒。這種小型化便攜式近場測試天線的測試頻段為9KHz至30MHz。本發(fā)明的特點是絕緣定位桿的一端插入固定在環(huán)形近場天線本體上的絕緣接插結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了絕緣定位桿與天線本體外沿相距可調(diào);同時這種小型化便攜式近場測試天線可以測試電場和磁場兩種信號,具有高増益、寬頻帶、靈敏度高、體積小、通用性好等特點。
圖I是ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法的爆炸結(jié)構(gòu)示意 圖2是圖I中A處放大示意 圖3是ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法的外觀結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1、測試手柄;2、天線腔體;3、天線輻射體;4、絕緣定位桿;5、絕緣插接結(jié)構(gòu);
6、射頻回路;7、射頻同軸連接器;8、絕緣間隙;9、環(huán)形近場測試天線。
具體實施例方式實施例I
ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是它至少包括絕緣定位桿4、絕緣接插結(jié)構(gòu)5以及環(huán)形近場測試天線9 ;環(huán)形近場測試天線9是由前端環(huán)狀的天線輻射體
3、中部桿狀的射頻回路6以及末端的射頻同軸器7導通構(gòu)成,且外側(cè)包裹絕緣的天線腔體2,天線輻射體3的頂端設(shè)置有絕緣間隙8 ;絕緣接插結(jié)構(gòu)5的前端和末端設(shè)置有孔,環(huán)形近場測試天線9的前端圓環(huán)穿過絕緣接插結(jié)構(gòu)5的孔,使絕緣接插結(jié)構(gòu)5橫跨在環(huán)形近場測試天線9上,絕緣接插結(jié)構(gòu)5前端與絕緣定位桿4的末端插接固定。實施例2
如圖I、圖2和圖3所示,ー種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法是由環(huán)形近場測試天線9、橫跨在環(huán)形近場測試天線9上的絕緣插接結(jié)構(gòu)5,以及與絕緣插接結(jié)構(gòu)5前端拼接固定的絕緣定位桿4共同構(gòu)成。環(huán)形近場測試天線9包括兩根長度不同的射頻線纜、天線腔體2、測試手柄I和射頻同軸連接器7。天線腔體2是一端開ロ的中空絕緣殼體,其前端是圓環(huán)腔體,開ロ端有測試手柄1,中間部分是桿狀腔體,前端圓環(huán)腔體的直徑為3厘米至12厘米。射頻線纜是半鋼線或半柔線的射頻線纜,由外回路層包裹芯線構(gòu)成。
第一射頻線纜彎曲成半圓環(huán)設(shè)置在天線腔體2圓環(huán)腔體的半圓環(huán)內(nèi),其末端位于天線腔體2的圓環(huán)腔體與桿狀腔體的連接處,前端位于天線腔體2的頂部;第二射頻線纜前端彎曲成半圓環(huán),后端為直線,設(shè)置在天線腔體2的另一半圓環(huán)腔體和桿狀腔體內(nèi),其末端位于天線腔體2的開ロ端。第二射頻線纜前端的芯線與第一射頻線纜前端的外回路層搭接焊接,且第一射頻線纜的前端外層回路與第二射頻線纜不接觸。前端焊接后,在第一射頻線纜和第二射頻線纜的前端形成了 I毫米至4毫米的絕緣間隙8。第一射頻線纜的末端與第二射頻線纜的拐點通過外回路層與芯線焊接導通,該拐點位于天線腔體的圓環(huán)腔體和桿狀腔體的連接處。完整焊接后,第一射頻線纜與第二射頻線纜共同構(gòu)成了天線輻射體3,用于電流的檢測。第二射頻線纜的直線部分構(gòu)成了射頻回路6。·射頻同軸連接器7設(shè)置在天線腔體2的開ロ端,井內(nèi)嵌在測試手柄I的末端,第二射頻線纜末端的芯線,即射頻回路6末端的芯線插入射頻同軸連接器7的內(nèi)部,且射頻同軸連接器的線芯與射頻回路6末端的芯線焊接固定。射頻回路6與射頻同軸連接器7通過焊接導通,射頻回路6將檢測到的信號傳輸至射頻同軸連接器7。射頻同軸連接器7與射頻回路6還通過外回路層360°焊接固定連接。射頻同軸連接器7的類型可以是N型、BNC型、SMA型或TNC型。探頭輻射體3、射頻回路6和射頻同軸連接器7共同構(gòu)成環(huán)巴倫接收測試裝置,使得天線在保持高增益的前提下,極大的減小了體積。環(huán)形近場測試天線9的前端圓環(huán)穿過絕緣插接結(jié)構(gòu)5上前、后設(shè)置的孔,使絕緣插接結(jié)構(gòu)5橫跨在環(huán)形近場測試天線9的本體上。絕緣定位桿4是由5厘米至100厘米的不同長度絕緣橫桿與橫跨在環(huán)形近場天線上絕緣接插結(jié)構(gòu)5拼接構(gòu)成,其長度根據(jù)測試要求可調(diào)整,以達到限制天線與被測系統(tǒng)測量距離的作用,可使天線依據(jù)不同標準、依照不同測試距離進行電場及磁場的屏蔽效能或輻射泄漏量的測試。測試時,首先根據(jù)需要調(diào)整絕緣定位桿4的長度,然后進行測試,入射信號在環(huán)形近場測試天線9的天線輻射體3外回路層外表面上產(chǎn)生的高頻振蕩電流,同時在絕緣間隙8上產(chǎn)生電壓降即天線的輸出電壓,并通過內(nèi)導體傳送給接收機或頻譜儀。
權(quán)利要求
1.一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是它至少包括絕緣定位桿(4)、絕緣接插結(jié)構(gòu)(5)以及環(huán)形近場測試天線(9);環(huán)形近場測試天線(9)是由前端環(huán)狀的天線輻射體(3)、中部桿狀的射頻回路(6)以及末端的射頻同軸器(7)導通構(gòu)成,且外側(cè)包裹絕緣的天線腔體(2),天線輻射體(3)的頂端設(shè)置有絕緣間隙(8);絕緣接插結(jié)構(gòu)(5)的前端和末端設(shè)置有孔,環(huán)形近場測試天線(9)的前端圓環(huán)穿過絕緣接插結(jié)構(gòu)(5)的孔,使絕緣接插結(jié)構(gòu)(5)橫跨在環(huán)形近場測試天線(9)上,絕緣接插結(jié)構(gòu)(5)前端與絕緣定位桿(4)的末端插接固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的環(huán)形進場測試天線(9)包括射頻線纜、天線腔體(2)、測試手柄(I)和射頻同軸連接器(7);天線腔體(2)是一端開口的中空絕緣殼體,其前端是圓環(huán)腔體,開口端有測試手柄(1),中間部分是桿狀腔體;第一射頻線纜設(shè)置在天線腔體(2)圓環(huán)腔體的半圓環(huán)內(nèi),其末端位于天線腔體(2)的圓環(huán)腔體與桿狀腔體的連接處;第二射頻線纜設(shè)置在天線腔體(2) 的另一半圓環(huán)腔體和桿狀腔體內(nèi),其末端位于天線腔體(2)的開口端,第二射頻線纜在天線腔體(2)的桿狀腔體內(nèi)部分構(gòu)成射頻回路(6);第二射頻線纜的前端芯線與第一射頻線纜的前端外回路層搭接焊接,第一射頻線纜與第二射頻線纜在前端形成絕緣間隙(8),第一射頻線纜的末端與第二射頻線纜在天線腔體(2)的圓環(huán)腔體與桿狀腔體連接處通過外層回路和芯線全部焊接導通,焊接后的第一射頻線纜與第二射頻線纜構(gòu)成環(huán)狀的天線輻射體(3);測試手柄(I)包裹在第二射頻線纜的末端外側(cè);射頻同軸連接器(7)設(shè)置在天線腔體(2)的開口端,并內(nèi)嵌在測試手柄(I)的末端,第二射頻線纜后端的芯線插入射頻同軸連接器(7)內(nèi)部且與射頻同軸連接器的線芯焊接導通,第二射頻線纜與射頻同軸連接器(7)通過外回路層360焊接固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的絕緣定位桿(4)是由不同長度的絕緣橫桿與橫跨在環(huán)形近場天線上絕緣接插結(jié)構(gòu)(5)拼接構(gòu)成,其長度根據(jù)測試要求可調(diào)整,絕緣橫桿的長度范圍是5厘米至100厘米。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或2中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的天線輻射體(3)的直徑,即環(huán)形近場測試天線(9)前端圓環(huán)的直徑為3厘米至12厘米。
5.根據(jù)權(quán)利要求I或2中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的射頻同軸連接器(7)的類型是N型、BNC型、SMA型或TNC型。
6.根據(jù)權(quán)利要求2中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的第一射頻線纜與第二射頻線纜都是半鋼線或半柔線的射頻線纜,由外回路層包裹芯線構(gòu)成。
7.根據(jù)權(quán)利要求I或2中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的絕緣間隙(8)是通過第二射頻線纜的芯線與第一射頻線纜的外回路層焊接形成,絕緣間隙(8)的寬度為I毫米至4毫米。
8.根據(jù)權(quán)利要求2中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是所述的測試手柄(I)是圓柱體絕緣棒。
9.根據(jù)權(quán)利要求I或2中所述的一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法,其特征是這種小型化便攜式近場測試天線的測試頻段為9KHz至30MHz。
全文摘要
本發(fā)明涉及電子測試與屏蔽效能測試技術(shù)領(lǐng)域,是一種小型化便攜式近場測試天線的設(shè)計方法。其特征是它至少包括絕緣定位桿、絕緣接插結(jié)構(gòu)以及環(huán)形近場測試天線;環(huán)形近場測試天線是由前端環(huán)狀的天線輻射體、中部桿狀的射頻回路以及末端的射頻同軸器導通構(gòu)成,且外側(cè)包裹絕緣的天線腔體,天線輻射體的頂端設(shè)置有絕緣間隙;絕緣接插結(jié)構(gòu)的前端和末端設(shè)置有孔,環(huán)形近場測試天線的前端圓環(huán)穿過絕緣接插結(jié)構(gòu)的孔,使絕緣接插結(jié)構(gòu)橫跨在環(huán)形近場測試天線上,絕緣接插結(jié)構(gòu)前端與絕緣定位桿的末端插接固定。這種小型化便攜式近場測試天線可以測試電場和磁場兩種信號,具有高增益、寬頻帶、靈敏度高、體積小、通用性好等特點。
文檔編號G01R31/00GK102956952SQ20121041262
公開日2013年3月6日 申請日期2012年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月25日
發(fā)明者宋博 申請人:西安開容電子技術(shù)有限責任公司