專利名稱：一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試儀技術(shù)領(lǐng)域，特別與一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)有關(guān)。
背景技術(shù)：
臺灣冠魁公司的TVR6000是目前業(yè)界產(chǎn)業(yè)化程度最高、應(yīng)用最廣泛、性能最優(yōu)秀的ニ極管多功能分類專業(yè)測試設(shè)備，在國際同類產(chǎn)品處理國際領(lǐng)先水平。TVR6000測試機(jī)是以單機(jī)形式提供測試服務(wù)的一體機(jī)，機(jī)內(nèi)雖然是多板卡結(jié)構(gòu)，但各板卡功能固定，位置固定，不能提供技術(shù)的橫向升級和縱向升級，為解決橫向升級的問題，必須要重新設(shè)計機(jī)器，并命名為6000系列，各機(jī)之間設(shè)計思路不同，還造成很多內(nèi)部相同板卡重置的現(xiàn)象，造成資源浪費(fèi)和干擾問題的出現(xiàn)，并爭奪機(jī)內(nèi)的系統(tǒng)總線，工作電源
坐寸ο
為了解決上述問題，本發(fā)明人設(shè)計出一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，本案由此產(chǎn)生。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，是以自由組合形式提供測試服務(wù)的測試平臺，可根據(jù)用戶的測試組態(tài)方案類選擇各色各樣測試功能的板卡，使用靈活方便。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)
一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，包括主控平臺系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個測試功能卡、顯示系統(tǒng)；各測試功能模塊獨(dú)立掛置在總線通訊系統(tǒng)上，總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺系統(tǒng)中，主控平臺系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng)，將測試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。所述的各個測試功能卡通過數(shù)據(jù)線并列連接兩個測試エ位。所述的主控平臺系統(tǒng)連接有為主控平臺系統(tǒng)供電的電源系統(tǒng)、將數(shù)據(jù)輸入的鍵盤輸入系統(tǒng)、以及用于反饋信號狀態(tài)的狀態(tài)指示系統(tǒng)。所述的測試功能卡包括VF測試卡、VR測試卡、IR測試卡。采用上述方案后，本發(fā)明具有諸多有益效果
本發(fā)明中采用總線的方式，將各個獨(dú)立測試卡直接掛接上總線通訊系統(tǒng)上形成數(shù)據(jù)交換傳遞，這樣只需要根據(jù)用戶的測試組態(tài)方案，選擇相適應(yīng)的板卡，主控平臺系統(tǒng)能自動識別和控制新的板卡，達(dá)到既插既用的目的，同時也解決橫向升級的問題。本發(fā)明中具有兩個測試エ位，可同時測試，測試效率提高一倍，更經(jīng)濟(jì)更實(shí)惠。本發(fā)明中的主控平臺程序按功能要求分別加載給不同測試卡上，由測試卡獨(dú)立完成，簡化了主控平臺的工作程序，同時，可再在相同的時間段內(nèi)，兩個工作流程并列運(yùn)行，所用的時間較短，可以解決系統(tǒng)資源的重置等問題。


圖I為本發(fā)明較佳實(shí)施例的功能模塊連接示意圖。
具體實(shí)施例方式結(jié)合附圖，對本發(fā)明較佳實(shí)施例做進(jìn)ー步詳細(xì)說明。一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，主要涉及到的部件包括主控平臺系統(tǒng)I、總線通訊系統(tǒng)2、各個測試功能卡、LED顯不系統(tǒng)3、電源系統(tǒng)4、鍵盤輸入系統(tǒng)5、狀態(tài)指不系統(tǒng)6、弟一測試エ位81、第二測試エ位82。其中本實(shí)施例中測試功能卡包括VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73。主控平臺系統(tǒng)I (MCU)是本發(fā)明的核心控制平臺，通過總線通訊系統(tǒng)2與各個測試功能卡進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，對應(yīng)的程序下載到各個測試功能卡中，并將各個測試功能卡上的測試所得的數(shù)據(jù)通過總線通訊系統(tǒng)2進(jìn)行反饋，并反饋顯示在LED顯示系統(tǒng)3中。主控平臺系統(tǒng)I上連接有電源系統(tǒng)4為其供電。本實(shí)施例中采用50Hz的AC220V的電源通過開關(guān)電源供電，對于電容來說開關(guān)電源是準(zhǔn)直流，充電迅速，測試速率明顯提高，可以應(yīng)對高速的測試應(yīng)用，使得整機(jī)重量減清，體積變小，電源的效率大幅升高。鍵盤輸入系統(tǒng)5是采用鍵盤形式與主控平臺系統(tǒng)I進(jìn)行連接，通過鍵盤操作將信息輸入至主控平臺系統(tǒng)I中。狀態(tài)指示系統(tǒng)6是采用各種發(fā)光二極管構(gòu)成，連接在主控平臺系統(tǒng)I上，用于反饋內(nèi)部信號狀態(tài)。實(shí)施例中總線通訊系統(tǒng)2采用CAN總線形式，各個測試功能卡包括VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73都各自獨(dú)立掛置連接在CAN總線上。VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73可以采用原有TVR6000測試機(jī)的測試卡模塊，VF測試卡完成VF的測試，VR測試卡完成VR的測試，IR測試卡完成IR的測試，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和原理與原有結(jié)構(gòu)相同，因此不做贅述。本發(fā)明中可以在CAN總線上橫向拓展多個測試卡，一般8個為宜。同時本實(shí)施例中，每個VF測試卡71、VR測試卡72、IR測試卡73并聯(lián)接連在兩個 測試エ位上，第一測試エ位81、第二測試エ位82，這樣方便同時進(jìn)行兩個獨(dú)立測試，提高測試效率。上述實(shí)施例僅用于解釋說明本發(fā)明的發(fā)明構(gòu)思，而非對本發(fā)明權(quán)利保護(hù)的限定，凡利用此構(gòu)思對本發(fā)明進(jìn)行非實(shí)質(zhì)性的改動，均應(yīng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于包括主控平臺系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個測試功能卡、顯示系統(tǒng)；各測試功能模塊獨(dú)立掛置在總線通訊系統(tǒng)上，總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺系統(tǒng)中，主控平臺系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng)，將測試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。
2.如權(quán)利要求I所述的ー種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于所述的各個測試功能卡通過數(shù)據(jù)線并列連接兩個測試エ位。
3.如權(quán)利要求I所述的ー種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于所述的主控平臺系統(tǒng)連接有為主控平臺系統(tǒng)供電的電源系統(tǒng)、將數(shù)據(jù)輸入的鍵盤輸入系統(tǒng)、以及用于反饋信號狀態(tài)的狀態(tài)指示系統(tǒng)。
4.如權(quán)利要求I所述的ー種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，其特征在于所述的測試功能卡包括VF測試卡、VR測試卡、IR測試卡。
全文摘要
本發(fā)明主要公開了一種半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，包括主控平臺系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個測試功能卡、顯示系統(tǒng)。各測試功能模塊獨(dú)立掛置在總線通訊系統(tǒng)上，總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺系統(tǒng)中，主控平臺系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng)，將測試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。本發(fā)明是一種自由組合形式提供測試服務(wù)的測試平臺，可根據(jù)用戶的測試組態(tài)方案類選擇各色各樣測試功能的板卡，使用靈活方便。
文檔編號G01R31/26GK102866341SQ20121032307
公開日2013年1月9日 申請日期2012年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月4日
發(fā)明者張新華, 張若煜 申請人:紹興文理學(xué)院