一種識別火山巖儲層流體的方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種識別火山巖儲層流體的技術(shù)方法，屬于油氣田勘探開發(fā)領(lǐng)域。所述方法包括以下步驟：(1)利用巖心、成像資料刻度雙側(cè)向的裂縫響應(yīng)特征；(2)根據(jù)步驟(1)中建立的雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式，找出裂縫發(fā)育段；然后利用生產(chǎn)測試結(jié)論找出其中的氣層和非氣層；分別分析所述氣層和非氣層進而得到裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征；(3)對比所述裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，分析兩者的差別特征，建立含氣裂縫型儲層與不含氣的裂縫型儲層的區(qū)分依據(jù)；(4)根據(jù)步驟(3)建立裂縫與流體差異研究的雙側(cè)向識別模式；(5)利用雙側(cè)向原理對非裂縫型儲層進行流體識別，從而實現(xiàn)全部儲層的流體識別。
【專利說明】一種識別火山巖儲層流體的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于石油勘探、開發(fā)領(lǐng)域，涉及識別儲層流體的測井技術(shù)，具體涉及一種識別火山巖儲層流體的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]通過雙側(cè)向電阻率測井獲得兩條測井曲線即:深側(cè)向電阻率曲線、淺側(cè)向電阻率曲線。深側(cè)向電阻率曲線探測深度深，能較好的反映地層深處的真電阻率，即原狀地層電阻率；而淺側(cè)向電阻率主要探測井壁附近巖層的電阻率變化，在滲透性地層井段就反映了侵入帶的電阻率，即泥漿濾液電阻率。由于深淺側(cè)向的探測深度及位置的不同，導(dǎo)致地層中無論含有流體還是裂縫均能引起雙側(cè)向電阻率的差異性。
[0003]雙側(cè)向電阻率曲線的差異既反映流體又反映裂縫特征。長期以來，在裂縫型儲層中難以區(qū)分雙側(cè)向電阻率的差異性是反映流體特征還是裂縫特征，也未見專業(yè)機構(gòu)探討過利用雙側(cè)向電阻率的差異性區(qū)分裂縫與儲層流體的差別，因此利用雙側(cè)向電阻率的差異性識別裂縫型儲層流體性質(zhì)的方法長期被專業(yè)人士所忽視。
[0004]利用雙側(cè)向電阻率的差異性識別流體，其原理在于:
[0005]當(dāng)不發(fā)育裂縫的儲層含油氣時，由于地層的電阻率始終高于泥漿濾液的電阻率，所以當(dāng)泥漿濾液驅(qū)替地層中油氣所形成的侵入帶電阻率總是低于地層的原狀地層電阻率，此時，深、淺側(cè)向電阻率值將出現(xiàn)差異，即深側(cè)向電阻率值大于淺側(cè)向電阻率值，稱作雙側(cè)向電阻率曲線的正差異特征。
[0006]當(dāng)不發(fā)育裂縫的儲層含水時，地層水(除鹽水泥漿外)電阻率都是低于泥漿濾液電阻率的，所以在絕大多數(shù)含水地層中泥漿濾液排除地層水所形成的侵入帶電阻率都是高于原狀地層電阻率的，此時，深側(cè)向電阻率值小于淺側(cè)向電阻率值，稱作雙側(cè)向電阻率曲線的負(fù)差異特征。因此，利用雙側(cè)向電阻率的正負(fù)差異性可有效判斷非裂縫儲層的流體性質(zhì)。
[0007]利用雙側(cè)向電阻率的差異性識別裂縫，其原理在于:一般情況下，裂縫發(fā)育段的雙側(cè)向電阻率值有所降低，其降低幅度與裂縫發(fā)育程度、裂縫開度以及裂縫中的流體性質(zhì)有關(guān)。在高角度裂縫中，深側(cè)向電阻率變化不大，淺側(cè)向電阻率由于受裂縫的影響明顯降低，深淺側(cè)向電阻率形成了較大的正幅度差(即深側(cè)向電阻率大于淺側(cè)向電阻率)；當(dāng)?shù)貙又写嬖诘徒嵌瓤p時，深淺側(cè)向的電阻率均明顯降低，二者之間表現(xiàn)為無差異或負(fù)差異，即淺側(cè)向電阻率大于或等于深側(cè)向電阻率。因此，雙側(cè)向電阻率的差異性同樣可以反映儲層裂縫性質(zhì)。
[0008]低孔滲、致密復(fù)雜火山巖儲層含流體處往往伴隨著裂縫的發(fā)育，而雙側(cè)向電阻率的差異性是流體和裂縫綜合作用的結(jié)果，這就為利用雙側(cè)向電阻率的差異性識別流體帶來了難題。另一方面由于裂縫對雙側(cè)向電阻率影響的存在，致使解釋人員在非裂縫性儲層段，利用雙側(cè)向電阻率差異性判別流體有所顧慮。因此在裂縫型儲層中，怎樣有效地從雙側(cè)向電阻率曲線中識別出氣層響應(yīng)特征，對火山巖儲層的流體識別技術(shù)意義重大。
[0009]在實際過程中，雙側(cè)向電阻率是受泥漿電阻率、圍巖電阻率、侵入帶電阻率、地層厚度和侵入深度等多因素共同影響的結(jié)果。利用雙側(cè)向電阻率的差異性識別流體或者裂縫特性時，首先要根據(jù)研究區(qū)的具體情況進行分析。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]本發(fā)明的目的在于解決國內(nèi)由于難以區(qū)分雙側(cè)向電阻率對流體與裂縫特征響應(yīng)的差異性，致使在復(fù)雜裂縫性儲層中，難以應(yīng)用雙側(cè)向電阻率曲線的差異性直接、準(zhǔn)確的進行流體判別的難題，提供一種識別火山巖儲層流體的方法，利用巖心、成像資料刻度雙側(cè)向電阻率的裂縫響應(yīng)特征；結(jié)合生產(chǎn)測試結(jié)果找出裂縫型氣層與裂縫型非氣層，分別總結(jié)兩者的雙側(cè)向響應(yīng)特征；對比裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向響應(yīng)的差異性，即找到氣層的雙側(cè)向響應(yīng)特征；最終建立裂縫與流體差異性研究的雙側(cè)向識別模式，從而實現(xiàn)在復(fù)雜火山巖儲層中氣層的有效識別。
[0011]本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
[0012]一種識別火山巖儲層流體的方法，所述方法包括以下步驟:
[0013](I)利用巖心、成像資料刻度雙側(cè)向的裂縫響應(yīng)特征:首先用巖心刻度成像資料，總結(jié)裂縫在成像上的特征；然后再利用所述成像資料刻度雙側(cè)向電阻率曲線，并分析裂縫在所述雙側(cè)向電阻率曲線上的響應(yīng)特征，最終建立雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式；
[0014](2)根據(jù)步驟(I)中建立的雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式，找出裂縫發(fā)育段；然后利用生產(chǎn)測試結(jié)論找出其中的氣層和非氣層；分別分析所述氣層和非氣層進而得到裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征；
[0015](3)對比所述裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，分析兩者的差別特征，建立含氣裂縫型儲層與不含氣的裂縫型儲層的區(qū)分依據(jù)；
[0016](4)根據(jù)步驟(3)建立裂縫與流體差異研究的雙側(cè)向識別模式；
[0017](5)利用雙側(cè)向原理對非裂縫型儲層進行流體識別，從而實現(xiàn)全部儲層的流體識別。
[0018]所述步驟(4)中的雙側(cè)向識別模式是指:
[0019]如果雙側(cè)向電阻率曲線的正差異明顯，且具有雙軌現(xiàn)象，但電阻率的數(shù)值降低，則識別為低角度縫氣層；
[0020]如果雙側(cè)向電阻率曲線的正差異明顯，且具有雙軌現(xiàn)象，則識別為高角度縫氣層；
[0021]如果雙側(cè)向電阻率曲線基本重合，且局部偶見收斂性差異，則識別為低角度縫非氣層;
[0022]如果雙側(cè)向電阻率曲線的正差異明顯，且具收斂性，則識別為高角度縫非氣層。
[0023]所述步驟(5)中的所述雙側(cè)向原理是指:儲層含氣時，雙側(cè)向電阻率曲線具有正差異；儲層含水時，雙側(cè)向電阻率曲線重合或者負(fù)差異。
[0024]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:
[0025](I)本發(fā)明首次明確地建立了非氣層裂縫儲層與裂縫型氣層雙側(cè)向響應(yīng)模式，并對比其雙側(cè)向差異性的不同，解決了長期困擾測井專業(yè)裂縫與儲層含氣的識別問題，這在國內(nèi)公開發(fā)表的刊物上未曾出現(xiàn)；
[0026](2)本發(fā)明從裂縫與流體的綜合反映的雙側(cè)向差異性上，對比分析出氣層的雙側(cè)向響應(yīng)信息，為解決復(fù)雜的裂縫型儲層流體識別難題提供了方法依據(jù)。很大程度的提高了流體識別精度；
[0027](3)本發(fā)明可操作性強，識別直觀、清晰，節(jié)約生產(chǎn)成本，具有很高的應(yīng)用價值；
[0028](4)本發(fā)明的應(yīng)用前景廣闊，其方法步驟可以很方便的推廣應(yīng)用到致密砂巖及碳酸鹽巖中。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0029]圖1是本發(fā)明識別火山巖儲層流體的方法流程圖。
[0030]圖2是本發(fā)明過程中利用巖心、成像刻度雙側(cè)向電阻率曲線識別低角度縫效果圖。
[0031]圖3是本發(fā)明過程中利用巖心、成像刻度雙側(cè)向電阻率曲線識別高角度縫效果圖。
[0032]圖4是本發(fā)明過程中低角度縫氣層雙側(cè)向響應(yīng)特征圖。
[0033]圖5是本發(fā)明過程中高角度縫氣層雙側(cè)向響應(yīng)特征圖。
[0034]圖6是本發(fā)明過程中低角度縫非氣層雙側(cè)向響應(yīng)特征圖。
[0035]圖7是本發(fā)明過程中高角度縫非氣層雙側(cè)向響應(yīng)特征圖。
【具體實施方式】
[0036]雙側(cè)向電阻率的差異性往往是流體與裂縫的綜合響應(yīng)結(jié)果，利用雙側(cè)向電阻率曲線的差異性識別流體，往往伴有裂縫的干擾，影響流體識別精度。為了解決這個難題，對裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向電阻率差異性進行對比分析，從兩者的差異中分析出氣層對雙側(cè)向電阻率的影響，并最終建立裂縫與氣層差異研究的雙側(cè)向模式，為氣層識別提供方法依據(jù)。
[0037]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步詳細描述:
[0038](I)利用巖心、成像資料刻度雙側(cè)向的裂縫響應(yīng)特征:首先用巖心刻度成像資料，總結(jié)裂縫在成像上的特征；然后再利用成像資料刻度雙側(cè)向電阻率曲線，分析裂縫在雙側(cè)向電阻率上的響應(yīng)特征，最終建立雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式。
[0039]巖心是地下特征最真實的反映，由于取心成本很高，因此不可能每口井都能獲得巖心資料，更不可能獲得全井的取心資料。只能用有限的巖心資料去刻度成像測井資料，分析成像資料上裂縫的響應(yīng)特征。成像資料也不是每口井都有，最終還要用成像資料去刻度雙側(cè)向電阻率曲線，分析裂縫在雙側(cè)向電阻率曲線上的響應(yīng)特征。雙側(cè)向電阻率測井作為常規(guī)測井系列之一，在火山巖儲層中具有廣泛的應(yīng)用。
[0040]如圖2所示，巖心上發(fā)育有低角度裂縫，在成像資料上顯示是黑色平緩的正弦曲線。將成像上顯示低角度縫發(fā)育的位置投放到雙側(cè)向電阻率曲線上，兩條曲線重合。
[0041]如圖3，巖心上發(fā)育有高角度裂縫，在成像資料上顯示是黑色陡立的正弦曲線。將成像上顯示高角度縫發(fā)育的位置投放到雙側(cè)向電阻率曲線上，兩條曲線具有正差異，即深側(cè)向電阻率值大于淺側(cè)向電阻率值。
[0042]最終建立雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式，如表I所示:類型高角度裂縫低角度裂縫
測井類
成像響應(yīng)特征深色(黑色)的較陡正弦深色(黑色)的平緩
[0043]曲線正弦曲線
雙側(cè)向響應(yīng)特征深淺側(cè)向電阻率具有正幅深淺側(cè)向重合
度差(即深側(cè)向電阻率大
于淺側(cè)向電阻率)
[0044]表1
[0045](2)根據(jù)步驟I中建立的雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式，找出裂縫發(fā)育段(表1中建立了裂縫的識別模式，也就是成像資料上與雙側(cè)向電阻率曲線上出現(xiàn)相應(yīng)的響應(yīng)特征就說明了裂縫的存在；裂縫有高角度縫與低角度縫之分，但無論發(fā)育哪種類型的裂縫或者是兩種類型的裂縫都有發(fā)育，都說明這段儲層是裂縫發(fā)育段。)；然后利用生產(chǎn)測試結(jié)論找出其中的氣層和非氣層(測試結(jié)論中會顯示某口井在什么深度范圍，日產(chǎn)氣多少萬方，日產(chǎn)水多少方，因此這個深度范圍的地層是不是產(chǎn)氣層一目了然。)；進而分別分析裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征:
[0046]根據(jù)雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式，結(jié)合生產(chǎn)測試結(jié)論，找出低角度裂縫氣層。通過分析可以發(fā)現(xiàn)，以圖4為代表的低角度縫氣層，其雙側(cè)向電阻率曲線明顯正差異，電阻率值降低，兩條曲線具有近平平行的“雙軌”現(xiàn)象。以圖5為代表的高角度縫氣層，雙側(cè)向電阻率曲線明顯正差異，深側(cè)向與淺側(cè)向`正差異具“雙軌”現(xiàn)象。以圖6為代表的低角度縫發(fā)育的非氣層，雙側(cè)向電阻率曲線基本重合。以圖7為代表的高角度縫發(fā)育的非氣層，雙側(cè)向電阻率明顯正差異，深側(cè)向與淺側(cè)向差異具有收斂現(xiàn)象；
[0047](3)對比裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向響應(yīng)特征，找出之間的差異性，這種差異就是因為儲層中含有氣體造成的。分析兩者雙側(cè)向響應(yīng)的差別特征，建立含氣裂縫型儲層與不含氣的裂縫型儲層的區(qū)分依據(jù)。
[0048]根據(jù)步驟(3)中分析出的裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向響應(yīng)特征，首先對低角度縫氣層與低角度縫的非氣層進行對比，發(fā)現(xiàn):低角度縫氣層具有明顯的低阻異常，即雙側(cè)向電阻率明顯降低，并出現(xiàn)正差異，有“雙軌”現(xiàn)象；而發(fā)育低角度縫的非氣層的深淺側(cè)向基本重合，局部偶見收斂性差異。然后對高角度縫氣層與高角度縫的非氣層進行對比，發(fā)現(xiàn):高角度縫氣層的雙側(cè)向電阻率曲線出現(xiàn)正差異，有雙軌現(xiàn)象；而發(fā)育高角度縫的非氣層雙側(cè)向電阻率曲線正差異明顯，且正差異具有收斂性。
[0049](4)根據(jù)步驟(3)，建立裂縫與流體差異研究的雙側(cè)向識別模式，從而實現(xiàn)裂縫型儲層中，利用雙側(cè)向的差異性有效識別流體。
[0050]根據(jù)步驟(3)的對比分析結(jié)果建立裂縫與流體差異研究的雙側(cè)向識別模式，其中收斂性是區(qū)分裂縫與流體的關(guān)鍵因素，如表2所示。
[0051]
【權(quán)利要求】
1.一種識別火山巖儲層流體的方法，其特征在于:所述方法包括以下步驟: (1)利用巖心、成像資料刻度雙側(cè)向的裂縫響應(yīng)特征:首先用巖心刻度成像資料，總結(jié)裂縫在成像上的特征；然后再利用所述成像資料刻度雙側(cè)向電阻率曲線，并分析裂縫在所述雙側(cè)向電阻率曲線上的響應(yīng)特征，最終建立雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式； (2)根據(jù)步驟(I)中建立的雙側(cè)向裂縫響應(yīng)模式，找出裂縫發(fā)育段；然后利用生產(chǎn)測試結(jié)論找出其中的氣層和非氣層；分別分析所述氣層和非氣層進而得到裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征； (3)對比所述裂縫型氣層與裂縫型非氣層的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，分析兩者的差別特征，建立含氣裂縫型儲層與不含氣的裂縫型儲層的區(qū)分依據(jù)； (4)根據(jù)步驟(3)建立裂縫與流體差異研究的雙側(cè)向識別模式； (5)利用雙側(cè)向原理對非裂縫型儲層進行流體識別，從而實現(xiàn)全部儲層的流體識別。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的識別火山巖儲層流體的方法，其特征在于:所述步驟(4)中的雙側(cè)向識別模式是指: 如果雙側(cè)向電阻率曲線的正差異明顯，且具有雙軌現(xiàn)象，但電阻率的數(shù)值降低，則識別為低角度縫氣層； 如果雙側(cè)向電阻率曲線的正差異明顯，且具有雙軌現(xiàn)象，則識別為高角度縫氣層； 如果雙側(cè)向電阻率曲線基本重合，且局部偶見收斂性差異，則識別為低角度縫非氣層； 如果雙側(cè)向電阻率曲線的正差異明顯，且具收斂性，則識別為高角度縫非氣層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的識別火山巖儲層流體的方法，其特征在于:所述步驟(5)中的所述雙側(cè)向原理是指:儲層含氣時，雙側(cè)向電阻率曲線具有正差異；儲層含水時，雙側(cè)向電阻率曲線重合或者負(fù)差異。
【文檔編號】G01V3/18GK103630945SQ201210306402
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2012年8月24日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月24日
【發(fā)明者】李 浩, 王丹丹, 魏修平 申請人:中國石油化工股份有限公司, 中國石油化工股份有限公司石油勘探開發(fā)研究院