功率測試電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種功率測試電路，用于測試一電壓變換電路中開關(guān)晶體管的功率，該開關(guān)晶體管包括控制極、第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極，該控制極用于控制該第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極的導(dǎo)通與斷開，該功率測試電路包括電流檢測電路、電壓檢測電路及運(yùn)算電路，該電流檢測電路用于檢測流經(jīng)該第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極的電流，該電壓檢測電路用于檢測該第一傳導(dǎo)極與該第二傳導(dǎo)極的電壓差，該運(yùn)算電路接收該電流檢測電路檢測獲得的電流與該電壓檢測電路檢測獲得的電壓差，并且將該電流與該電壓差作乘法運(yùn)算，獲得表征該開關(guān)晶體管功率的運(yùn)算結(jié)果。
【專利說明】功率測試電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種功率測試電路，尤其涉及一種測試電壓變換電路中開關(guān)晶體管功率的功率測試電路。
【背景技術(shù)】
[0002]在設(shè)計(jì)電壓變換電路時(shí)，例如降壓式變換電路(Buck電路)，需要對該電路中開關(guān)晶體管的功率損耗進(jìn)行測試。目前通常采用的測試方法為通過外設(shè)溫度感測元件來測試開關(guān)晶體管在開啟、導(dǎo)通以及關(guān)斷時(shí)的發(fā)熱量來判定該開關(guān)晶體管的功率損耗。該測試方法較容易受到測試環(huán)境的影響，并不能準(zhǔn)確地測試開關(guān)晶體管實(shí)際的功率損耗。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種能夠準(zhǔn)確測試電壓變換電路中開關(guān)晶體管的功率損耗的功率測試電路。
[0004]一種功率測試電路，用于測試一電壓變換電路中開關(guān)晶體管的功率，該開關(guān)晶體管包括控制極、第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極，該控制極用于控制該第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極的導(dǎo)通與斷開，該功率測試電路包括電流檢測電路、電壓檢測電路及運(yùn)算電路，該電流檢測電路用于檢測流經(jīng)該第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極的電流，該電壓檢測電路用于檢測該第一傳導(dǎo)極與該第二傳導(dǎo)極的電壓差，該運(yùn)算電路接收該電流檢測電路檢測獲得的電流與該電壓檢測電路檢測獲得的電壓差，并且將該電流與該電壓差作乘法運(yùn)算并獲得表征該開關(guān)晶體管功率的運(yùn)算結(jié)果。
[0005]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的功率測試電路通過檢測實(shí)際流過開關(guān)晶體管的電流以及兩個(gè)傳導(dǎo)極之間的電壓差來獲得開關(guān)晶體管的實(shí)際功率損耗，從而更為準(zhǔn)確地了解開關(guān)晶體管的工作情況，使得工程人員較為準(zhǔn)確、方便地對電壓變換電路進(jìn)行設(shè)計(jì)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1是本發(fā)明功率測試電路及所測試的電壓變換電路的方框示意圖。
[0007]主要元件符號說明
【權(quán)利要求】
1.一種功率測試電路，用于測試一電壓變換電路中開關(guān)晶體管的功率，該開關(guān)晶體管包括控制極、第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極，該控制極用于控制該第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極的導(dǎo)通與斷開，其特征在于，該功率測試電路包括電流檢測電路、電壓檢測電路及運(yùn)算電路，該電流檢測電路用于檢測流經(jīng)該第一傳導(dǎo)極與第二傳導(dǎo)極的電流，該電壓檢測電路用于檢測該第一傳導(dǎo)極與該第二傳導(dǎo)極的電壓差，該運(yùn)算電路接收該電流檢測電路檢測獲得的電流與該電壓檢測電路檢測獲得的電壓差，并且將該電流與該電壓差作乘法運(yùn)算，獲得表征該開關(guān)晶體管功率的運(yùn)算結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率測試電路，其特征在于，該電流檢測電路包括一檢測電阻，該檢測電阻電性連接于一電源輸入端與該第一傳導(dǎo)極之間，該電源端用于接收電源電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的功率測試電路，其特征在于，該電流檢測電路還包括第一電壓獲取電路，該第一電壓獲取電路與該檢測電阻并聯(lián)，用于獲取該檢測電阻兩端的電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的功率測試電路，其特征在于，該電流檢測電路還包括第一差分放大電路，該第一差分放大電路用于對該進(jìn)行放大，且該第一差分放大電路的放大倍數(shù)與該檢測電阻的電阻值的乘積為一。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率測試電路，其特征在于，該電壓檢測電路還包括第二電壓獲取電路，該第二電壓獲取電路用于獲取該第一傳導(dǎo)極與該第二傳導(dǎo)極的電壓差。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的功率測試電路，其特征在于，該電壓檢測電路還包括第二差分放大電路，該第二差分放大電路用于對該電壓差進(jìn)行放大。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率測試電路，其特征在于，該功率測試電路還包括數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元用于接收該乘法運(yùn)算電路的該運(yùn)算結(jié)果，并對該運(yùn)算結(jié)果作數(shù)字化轉(zhuǎn)換，以將該運(yùn)算結(jié)果轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的功率測試電路，其特征在于，該功率測試電路還包括頻率采樣控制電路，該頻率控制電路接收該電壓變化電路中的一脈寬調(diào)制控制信號，并依據(jù)該脈寬調(diào)制信號控制該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元對該運(yùn)算結(jié)果進(jìn)行數(shù)字化轉(zhuǎn)換。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的功率測試電路，其特征在于，該功率測試電路還包括均值處理電路，該均值處理電路用于在一預(yù)定時(shí)間段內(nèi)對多個(gè)該運(yùn)算結(jié)果進(jìn)行平均化處理，獲取該開關(guān)晶體管在該預(yù)定時(shí)間段內(nèi)的平均功率。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任意一項(xiàng)所述的功率測試電路，其特征在于，該功率測試電路還包括一顯示模組，用于顯示經(jīng)該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的該運(yùn)算結(jié)果。
【文檔編號】G01R19/00GK103575977SQ201210267149
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2012年7月31日 優(yōu)先權(quán)日:2012年7月31日
【發(fā)明者】周海清 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司