專利名稱：用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及刑偵證據鑒別設備領域，特別是涉及一種適用于刑偵物證痕跡鑒識的三維形貌痕跡比對測量儀中的云臺。
背景技術：
目前對刑偵物證，如槍彈的彈頭、彈殼及工具線條痕跡等方面的比對和檢測，尚處在以實物樣本存儲來分析的狀況，對痕跡 信息的檢測仍停留在借助單一儀器直接觀察二維圖像比對的技術層面上，無法解決在三維空間物體形貌技術和痕跡比對技術中存在的精確定位測量難題。近年來，隨著原先主要用于工程方面的三維物體表面形狀的非接觸檢測技術的成熟及發(fā)展，現(xiàn)在已經出現(xiàn)有將三維物體表面形狀的非接觸移相檢測技術，應用于刑偵物證的三維形狀測量裝置，該裝置主要有CXD攝像機及條紋投影儀組成，CXD攝像機及條紋投影儀通過支架安裝于底座上。但由于其結構簡單，其功能尚不完善，特別是固定物證的工作臺和調焦機構簡單，調整精度較低，無法實現(xiàn)自動操作，影響測量精度及效率。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的就是為了解決現(xiàn)有技術中的物證工作臺存在的調整精度及自動化程度較低的缺陷，提供的一種用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術方案
一種用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，其特征在于包括二維移動臺，二維移動臺上面連接一個橫向角位臺，橫向角位臺上面連接一個縱向角位臺，縱向角位臺上面連接一個旋轉臺。其中二維移動臺、橫向角位臺、縱向角位臺及旋轉臺都是公知產品，其兩兩之間采用定位銷配合聯(lián)接最終實現(xiàn)云臺具有沿X、Y軸的二維平移、繞Z軸的正交角位調整及360度旋轉功能。在上述技術方案的基礎上，可以有一下進一步的技術方案
旋轉臺上面設有夾具安裝槽，夾具安裝槽上設有一組定位螺釘孔。二維移動臺中分別連接X向的步進電機和Y向的步進電機；橫向角位臺和縱向角位臺上分別連接有橫向步進電機及縱向步進電機?？梢酝ㄟ^控制裝置來精確控制云臺在任何方向調整位移。使用時，將帶有觀測物證樣本的夾具置于旋轉臺上，在觀測過程中，尚需要對云臺組件上的觀測樣本進行位置調整，可以使用整體二維平臺實現(xiàn)樣本在X、Y軸向的平移，使用配對角位臺實現(xiàn)樣本繞Z軸的正交方位小角度調整，使用旋轉臺實現(xiàn)樣本在XY平面上360度范圍內的旋轉。采用本發(fā)明的優(yōu)點是結構完善、調整精度高、性能穩(wěn)定、操作簡便，可采用自動、手動相結合的全方位角度調整，以適用于多種檢材夾持和測量姿態(tài)調整的需要，從而提高質量檢驗技術水平和工作效率。


圖I是本發(fā)明的主視 圖2是本發(fā)明與夾具安裝配合示意 圖3是本發(fā)明安裝在三維形貌痕跡比對測量儀的立體圖。
具體實施方式
下面結合附圖對本發(fā)明作詳細說明
如圖1，為本發(fā)明提供的一種用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，包括二維移動臺51, 二維移動臺51上面連接一個橫向角位臺52,橫向角位臺52上面連接一個縱向角位臺53，縱向角位臺53上面連接一個旋轉臺504，旋轉臺54上面設有夾具安裝槽54A，夾具安裝槽54A上設有一組定位螺釘孔54B。二維移動臺51中分別連接X向的步進電機51X和Y向的步進電機51Y;橫向角位臺52和縱向角位臺53上分別連接有橫向步進電機52R及縱向步進電機53R?？梢酝ㄟ^控制裝置來精確控制云臺在任何方向調整位移。其中二維移動臺、橫向角位臺、縱向角位臺及旋轉臺都是公知產品，其兩兩之間采用定位銷配合聯(lián)接最終實現(xiàn)云臺具有沿X、Y軸的二維平移、繞Z軸的正交角位調整及360度旋轉功能。如圖2所示，本發(fā)明提供的一種用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，其上面旋轉臺上可以根據不同物證類型，安裝相應的夾具6。如圖3所示，本發(fā)明提供的一種用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，安裝于三維形貌痕跡比對測量儀中，包括基座I、立柱2、顯微攝像機3、投影儀4、云臺5。
權利要求
1.用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，其特征在于包括二維移動臺(51)，二維移動臺(51)上面連接一個橫向角位臺(52),橫向角位臺(52)上面連接一個縱向角位臺(53),縱向角位臺(53)上面連接一個旋轉臺(504)。
2.根據權利要求I所述的用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，其特征在于旋轉臺(54)上面設有夾具安裝槽(54A)，夾具安裝槽(54A)上設有一組定位螺釘孔(54B)。
3.根據權利要求I所述的用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，其特征在于二維移動臺(51)中分別連接X向的步進電機(51X)和Y向的步進電機(51Y)。
4.根據權利要求I所述的用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，其特征在于橫向角位臺(52)和縱向角位臺(53)上分別連接有橫向步進電機(52R)及縱向步進電機(53R)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于三維形貌痕跡比對測量儀的云臺，包括二維移動臺(51)，二維移動臺(51)上面連接橫向角位臺(52)，橫向角位臺(52)上面連接縱向角位臺(53)，縱向角位臺(53)上面連接旋轉臺(504)，最上面安裝夾具(6)。采用本發(fā)明的優(yōu)點是結構完善、調整精度高、性能穩(wěn)定、操作簡便，可采用自動、手動相結合的全方位角度調整，以適用于多種檢材夾持和測量姿態(tài)調整的需要，從而提高質量檢驗技術水平和工作效率。
文檔編號G01B11/24GK102628675SQ201210116570
公開日2012年8月8日 申請日期2012年4月20日 優(yōu)先權日2012年4月20日
發(fā)明者嚴繼華, 孟凡忠, 梁玉清, 路振濤 申請人:安徽國盾三維高科技有限公司