專利名稱:一種電源性能指標測試方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種電源性能指標測試方法,尤其涉及ー種智能儀表控制技術(shù),屬智能控制系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
隨著計算機的應(yīng)用不斷發(fā)展,計算機技術(shù)在系統(tǒng)故障自動測試中的到很好的應(yīng)用,為雷達系統(tǒng)供電的電源種類繁多,出現(xiàn)故障后維修,一般維修人員難以解決,利用計算機進行電源故障測試主 要先根據(jù)電源的原理等建立故障專家知識庫,電源出現(xiàn)故障后,利用計算機軟件按照故障專家知識庫的流程對其進行輔助測試,判斷定位故障。ー個故障專家知識庫(包括故障樹)的建立不僅是要求理論上的分析而且要進行大量的實踐測試,選用最好的方法、指令和參數(shù),并且建立一個電源或測試出ー個故障需要反復測試大量的測試點和不同的性能指標。在傳統(tǒng)的計算機軟件開發(fā)控制GPIB(GeneralPurpose Interfaces Bus)總線的測試臺時,由于GPIB指令繁多,參數(shù)不定,舊的系統(tǒng)設(shè)計方法是將GPIB指令、參數(shù)以及GPIB指令執(zhí)行的流程順序都寫在具體的程序代碼里,GPIB指令的函數(shù)實現(xiàn)與流程實現(xiàn)的程序緊密結(jié)合的嚴重的缺點是測試所用的GPIB指令和參數(shù)只要有微小的變化就要修改程序,軟件開發(fā)人員和電子、電氣工程師必須同時一起工作,依賴于綜合能力強的開發(fā)人員,即使引入了面向?qū)ο蠹夹g(shù),也只是對GPIB基本函數(shù)的簡單封裝。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供ー種通用的電路板性能指標測試方法,該方法參數(shù)修改靈活,不需修改程序代碼,方法通用性好。能讓軟件研發(fā)人員與電子、電氣工程師能完全做到分エ協(xié)作,各盡其能。為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案
ー種通用的電路板性能指標測試方法,該方法包括以下步驟
由電子工程師編制電路板故障測試所需的性能指標的GPIB指令組卡;
程序開發(fā)人員建立了ー個數(shù)據(jù)庫,存放每個性能指標測試所用的GPIB指令組;
通過用戶界面將指令組錄入到數(shù)據(jù)庫;
程序員編寫ー個智能GPIB指令解釋器;
在具體測試電源性能指標時,程序中為解釋器指定GPIB指令組ID后,解釋器就自動從數(shù)據(jù)庫中讀出指令,并逐條解釋執(zhí)行,如果是標準的GPIB指令,則指令執(zhí)行單元通過GPIB總線發(fā)往智能儀器,智能儀器執(zhí)行指令,并返回測試結(jié)果;如果是自定義的指令(如延時指令,計算指令等)就由解釋器調(diào)用指令執(zhí)行單元相應(yīng)函數(shù)(如延時指令函數(shù),求最大值函數(shù)、最小值函數(shù)、平均數(shù)函數(shù)和算數(shù)表達式等)執(zhí)行;該GPIB指令組的最后ー個指令為返回結(jié)果的指令,即得到測試點所測相應(yīng)的性能指標。測試過程中,根據(jù)需要更改GPIB指令組中某個指令、參數(shù)或指令的順序時,測試人員通過用戶界面修改數(shù)據(jù)庫即可。(無需程序開發(fā)人員參與)
所需的性能指標如電壓、電流、電阻、紋波系數(shù)或波形圖等。電路測試人員只需根據(jù)軟件的向?qū)У闹敢M行操作,就可以方便的得到測試點所需相應(yīng)的性能指標,并提供給故障診斷模塊,以供判斷使用。本發(fā)明相比現(xiàn)有技術(shù)具有如下優(yōu)點
本發(fā)明的電源性能指標測試方法,建立了一套測試電路板上測試點的性能指標的方法流程。建立了ー個數(shù)據(jù)庫存放每個性能指標測試所用的GPIB指令組;電子工程師編制指令組卡片;由錄入員通過軟件用戶界面錄入到數(shù)據(jù)庫;程序員編寫ー個智能GPIB指令解釋器,在測試時程序中為解釋器給定GPIB指令組ID后,解釋器就自動從數(shù)據(jù)庫中讀出指令,并解釋執(zhí)行。并將執(zhí)行結(jié)果返回給調(diào)用者。軟件研發(fā)人員不要了解測試性能指標的具體電子、電氣的專業(yè)知識,這大大降低了對系統(tǒng)中各類人員綜合能力的要求。克服了傳統(tǒng)的直接把GPIB指令和參數(shù)和編程語言的捆綁在一起的嚴重缺點測試所用的GPIB指令和參數(shù)只要有微小的變化就要修改程序,軟件開發(fā)人員和電子、電氣工程師必須同時一起工作,依賴于綜合能力強的開發(fā)人員。本發(fā)明優(yōu)越性還體現(xiàn)在測試點的性能指標測試指令和參數(shù)修改很靈活,直接通過友好的軟件錄入界面,不需修改程序代碼。本發(fā)明添加了自定義計算功能,代碼重用性好,方法通用性好。能讓軟件研發(fā)人員與電子、電氣工程師能完全做到分エ協(xié)作,各盡其能。本發(fā)明中程序代碼與具體某個電路的測試點和性能指標無關(guān),GPIB指令不與程序捆綁,修改指令和參數(shù)時不需修改程序。程序通用性好。性能指標測試所需GPIB指令的順序體現(xiàn)在數(shù)據(jù)庫里,可以通過軟件界面進行修改,而不是由編程語言在程序里固定實現(xiàn),不可修改。
圖I是GPIB測試系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu) 圖2是故障診斷工作流程 圖3是電源性能指標測試流程圖。圖4為GPIB指令組數(shù)據(jù)庫表。
具體實施例方式下面將結(jié)合附圖及具體實施例對本發(fā)明所述的ー種電源性能指標測試方法作進ー步地詳細描述。本發(fā)明所涉及的方法中,根據(jù)發(fā)明所設(shè)計的工作流程如下
I.圖I是整個故障診斷系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)圖,即性能指標測試所處的系統(tǒng)環(huán)境,計算機插入ー塊GPIB接ロ卡,通過GPIB總線與測試儀器相互連接,儀器通過適配器與被測對象 (UUT),即電源,相連。2.電子工程師編制電源測試點的性能指標測試所需的GPIB指令組卡;程序開發(fā)人員建立了ー個數(shù)據(jù)庫,存放每個性能指標測試所用的GPIB指令組;通過用戶界面錄入到數(shù)據(jù)庫;圖4是GPIB指令組數(shù)據(jù)庫表。
3.在具體測試電源性能指標時,利用程序開發(fā)人員編寫ー個智能GPIB指令解釋器,其解釋過程為程序中為解釋器指定GPIB指令組ID后,如ID為4,解釋器就自動從數(shù)據(jù)庫中讀出指令,并逐條解釋執(zhí)行,如果是標準的GPIB指令,則指令執(zhí)行單元通過GPIB總線發(fā)往智能儀器,如果是自定義的指令,如延時指令,求最大值函數(shù)、最小值函數(shù)、平均數(shù)函數(shù)和算數(shù)表達式等,就由解釋器調(diào)用指令執(zhí)行單元執(zhí)行。一般該指令組的最后ー個指令為返回結(jié)果的指令。最后將執(zhí)行結(jié)果返回給調(diào)用者。如圖3電源性能指標測試流程圖。4.故障分析模塊在得到性能指標后根據(jù)故障專家?guī)熘械牟呗?,診斷出故障、提示下一歩要測試的性能指標或給出維修建議。如圖2電源性能指標判斷工作流程 5.如果在建立專家?guī)旎蛐阅苤笜藴y試吋,需要對GPIB指令組中具體某個指令,參數(shù)或指令的順序做修改,測試人員只需通過用戶界面進行修改。無需程序開發(fā)人員參與。本發(fā)明圖4中顯示了測試性能指標所用GPIB指令組的例子,包括表中的字段名稱,和記錄內(nèi)容,字段名稱含義如下所述
指令組ID為測試ー個性能指標所用指令組的標識;
指令順序一指令組中指令的先后順序;
指令類型標明是指令的類型,與函數(shù)名相對應(yīng),為解釋器解釋指令吋,作出判斷使用何種執(zhí)行單元執(zhí)行指令;
儀器ID智能儀器的名稱標識符;
指令包括標準GPIB指令和本發(fā)明自定義指令;
參數(shù)指令的參數(shù)部分;
注釋解釋指令的用途;
其中自定義指令中的MAX為求最大值,MIN為求最小值,AVER為求平均值,L20為該指令組中順序為20的那一條指令執(zhí)行后所返回的結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種通用的電路板性能指標測試方法,該方法包括以下步驟 由電子工程師編制電路板故障測試所需的性能指標的GPIB指令組卡; 程序開發(fā)人員建立了一個數(shù)據(jù)庫,存放每個性能指標測試所用的GPIB指令組; 通過用戶界面將指令組錄入到數(shù)據(jù)庫; 程序員編寫一個智能GPIB指令解釋器; 在具體測試電源性能指標時,程序中為解釋器指定GPIB指令組ID后,解釋器就自動從數(shù)據(jù)庫中讀出指令,并逐條解釋執(zhí)行,如果是標準的GPIB指令,則指令執(zhí)行單元通過GPIB總線發(fā)往智能儀器,智能儀器執(zhí)行指令,并返回測試結(jié)果;如果是自定義的指令就由解釋器調(diào)用指令執(zhí)行單元相應(yīng)函數(shù)執(zhí)行;該GPIB指令組的最后一個指令為返回結(jié)果的指令,即得 到測試點所測相應(yīng)的性能指標。
2.根據(jù)權(quán)利求I所述的通用的電路板性能指標測試方法,測試過程中,根據(jù)需要更改GPIB指令組中某個指令、參數(shù)或指令的順序時,測試人員通過用戶界面修改數(shù)據(jù)庫即可。
3.根據(jù)權(quán)利求I所述的通用的電路板性能指標測試方法,所需的性能指標如電壓、電流、電阻、紋波系數(shù)或波形圖。
全文摘要
本發(fā)明公布了一種電源性能指標測試方法,尤其涉及一種智能儀表控制技術(shù),屬智能控制系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域。該方法由電子工程師編制電路板故障測試所需的性能指標的GPIB指令組卡;程序開發(fā)人員建立了一個數(shù)據(jù)庫,存放每個性能指標測試所用的GPIB指令組;通過用戶界面將指令組錄入到數(shù)據(jù)庫;程序員編寫一個智能GPIB指令解釋器;軟件研發(fā)人員不要了解測試性能指標的具體電子、電氣的專業(yè)知識,這大大降低了對系統(tǒng)中各類人員綜合能力的要求??朔藗鹘y(tǒng)的直接把GPIB指令和參數(shù)和編程語言的捆綁在一起的嚴重缺點測試所用的GPIB指令和參數(shù)只要有微小的變化就要修改程序,軟件開發(fā)人員和電子、電氣工程師必須同時一起工作。
文檔編號G01R31/40GK102662149SQ201210107820
公開日2012年9月12日 申請日期2012年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月13日
發(fā)明者劉文軍, 張建偉, 朱節(jié)中, 朱節(jié)云, 王順鳳, 鄭鈺輝 申請人:南京信息工程大學