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電路板測試治具的制作方法

文檔序號:5945415閱讀:198來源:國知局
專利名稱:電路板測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電路板測量治具,尤其涉及ー種MDA測試治具。
背景技術(shù)
MDA (Manufacture Default Analysis)測試治具為一種電路板測試治具,是PCB 板生產(chǎn)測試的載體,在線測試機借助于MDA測試治具能夠?qū)Ω鞣N類型的PCB板進(jìn)行有效地測試,達(dá)到控制PCB板質(zhì)量的目的。MDA測試治具在測試吋,PCB板上有許多殘留的錫渣, 由于頻繁測試后使錫渣掉落使探針極易碰觸到錫渣而發(fā)生短路,干擾了測試過程,影響了測試準(zhǔn)確度及測試效果,降低了測試效率;另一方面出現(xiàn)短路時需要人工清除錫渣,浪費了 エ時。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種電路板測試治具,避免測試時探針發(fā)生短路,提高測試效果和測試效率。為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種電路板測試治具,包括一放置PCB板的矩形機臺、垂直設(shè)置于機臺上方的天板、與所述天板連接的連接柱和壓棒,其特征是,所述機臺內(nèi)設(shè)置有朝向PCB板進(jìn)行吹氣的吹氣裝置。所述機臺的一側(cè)邊沿處設(shè)置有一條凹槽,用于收集被吹氣裝置吹進(jìn)來的錫渣。所述機臺邊沿的側(cè)面設(shè)置有一阻擋所述吹氣裝置吹出的氣體或錫渣滓擴散的擋壁。所述機臺的其他三側(cè)的邊沿處分別設(shè)置有一阻擋所述吹氣裝置吹出的氣體或錫渣擴散的擋壁。在所述凹槽的外側(cè)的所述機臺上也設(shè)置有ー擋壁。本發(fā)明所達(dá)到的有益效果
本發(fā)明的電路板MDA測試治具,由吹氣裝置將PCB板上殘留的錫渣吹進(jìn)錫渣盒內(nèi)收集起來,避免測試時探針發(fā)生短路,提高了測試準(zhǔn)確性和測試效果,大大減少了人工清錫渣的工作,提高了測試效率。


圖I是本發(fā)明的測試治具示意圖2是圖I的側(cè)視圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)ー步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本發(fā)明的技術(shù)方案,而不能以此來限制本發(fā)明的保護范圍。如圖I、圖2所示,本發(fā)明的電路板MDA測試治具包括一機臺4,垂直設(shè)置于機臺上方的天板1,天板I上連接有連接柱2、壓棒3,機臺4上通過彈簧5連接一針板6,在針板6 前端裝置兩個45°向前斜角孔,針板6上面板為載板,載板為待測板放置區(qū)。通過針板6上的探針接觸載板上的待測板進(jìn)行測試,頻繁測試后會產(chǎn)生錫渣,掉落的錫渣使探針之間容易短路,機臺4上部周圍設(shè)置有擋壁7,以構(gòu)成相對封閉的空間,使吹氣裝置9吹出的氣將 PCB板上的錫渣吹掉,并吹向錫渣收集盒8,錫渣被吹進(jìn)錫渣收集盒8后統(tǒng)一收集清理。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和變形,這些改進(jìn)和變形也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種電路板測試治具,包括一放置PCB板的矩形機臺、垂直設(shè)置于機臺上方的天板、 與所述天板連接的連接柱和壓棒,其特征是,所述機臺內(nèi)設(shè)置有朝向PCB板進(jìn)行吹氣的吹氣裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電路板測試治具,其特征是,所述機臺的一側(cè)邊沿處設(shè)置有一條凹槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測試治具,其特征是,所述機臺邊沿的側(cè)面設(shè)置有擋壁。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測試治具,其特征是,所述機臺的其他三側(cè)的邊沿處分別設(shè)置有一擋壁。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路板測試治具,其特征是,在所述凹槽的外側(cè)的所述機臺上也設(shè)置有一擋壁。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電路板測試治具,包括一放置PCB板的矩形機臺、垂直設(shè)置于機臺上方的天板、與所述天板連接的連接柱和壓棒,所述機臺內(nèi)設(shè)置有朝向PCB板進(jìn)行吹氣的吹氣裝置。本發(fā)明的電路板MDA測試治具,由吹氣裝置將PCB板上殘留的錫渣吹進(jìn)錫渣盒內(nèi)收集起來,避免測試時探針發(fā)生短路,提高了測試準(zhǔn)確性和測試效果,大大減少了人工清錫渣的工作,提高了測試效率。
文檔編號G01R31/28GK102608524SQ20121009482
公開日2012年7月25日 申請日期2012年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月31日
發(fā)明者盛如意 申請人:昆山邁致治具科技有限公司
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