專利名稱：一種材料性能參數(shù)獲取方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及材料性能檢測(cè)及數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域，特別涉及一種材料性能參數(shù)獲取方法。
背景技術(shù)：
在對(duì)材料特別是高端材料進(jìn)行應(yīng)用 前，需要對(duì)其材料性能進(jìn)行測(cè)試依據(jù)材料性能參數(shù)來判斷材料的實(shí)際用途，其中，材料性能參數(shù)一般有應(yīng)力值、應(yīng)變值及損耗角值等。當(dāng)材料處于一定溫度、一定頻率的微波信號(hào)作用中在外力作用下不能產(chǎn)生位移時(shí)，它的幾何形狀和尺寸將發(fā)生形變，這種形變稱為應(yīng)變。材料發(fā)生形變時(shí)內(nèi)部產(chǎn)生了大小相等但方向相反的作用力抵抗外力，單位面積上的這種反作用力稱為應(yīng)力。而應(yīng)變滯后應(yīng)力，兩者之間存在相位差，這種相位差即損耗角。但目前沒有一種材料性能參數(shù)獲取方法來實(shí)現(xiàn)材料的性能參數(shù)的準(zhǔn)確獲取。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種材料性能參數(shù)獲取方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)高端材料的性能參數(shù)如應(yīng)變、應(yīng)力及損耗角的準(zhǔn)確獲取的技術(shù)問題。本發(fā)明提供了一種材料性能參數(shù)獲取方法，該方法包括對(duì)預(yù)定頻率的微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理，生成與所述微波信號(hào)的頻率相對(duì)應(yīng)的分頻數(shù)據(jù)；利用所述微波信號(hào)獲取被測(cè)試材料在預(yù)定外力作用下的反應(yīng)數(shù)據(jù)；依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值。上述方法，優(yōu)選地，所述方法還包括獲取預(yù)設(shè)的與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值；依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值；獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值；對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值。上述方法，優(yōu)選地，所述對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值具體包括將所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值分別記為um、by及cy ;獲取所述測(cè)試應(yīng)變值cy與所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值by的偏差cy-by，并依據(jù)所述偏差及所
cy-by
述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值獲取偏差率一^ ·cy — by依據(jù)=臟+ ^~X臟獲取實(shí)際應(yīng)變值；
by其中，為所述測(cè)試應(yīng)變值的偏差率相對(duì)于所述位移控制值的偏差值，
by
計(jì)算得出的wy為所述實(shí)際應(yīng)變值。上述方法，優(yōu)選地，依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值具體包括提取所述反應(yīng)數(shù)據(jù)的中間數(shù)據(jù)，獲取中間數(shù)據(jù)數(shù)組；對(duì)所述中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行第偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)和第奇數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)提取，分別得到第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組和第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組；對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行計(jì)算，獲取應(yīng)力值及損耗角值。上述方法，優(yōu)選地，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行計(jì)算，獲取應(yīng)力值及損耗角值包括分別將所述分頻數(shù)據(jù)及所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組分為多個(gè)數(shù)組，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)及所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組分組后的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組；分別將所述分頻數(shù)據(jù)及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組分為多個(gè)數(shù)組，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組分組后的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到第二應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組和第三應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組；對(duì)所述第二應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，獲取應(yīng)力值；依據(jù)所述第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組和所述第三應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組獲取中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組；判斷所述中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中各項(xiàng)數(shù)據(jù)是否大于270度，如果是，獲取所述數(shù)據(jù)大于270度的數(shù)據(jù)項(xiàng)與360度的差值絕對(duì)值，并將所述絕對(duì)值作為中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中與所述數(shù)據(jù)項(xiàng)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)項(xiàng)，否則，將所述數(shù)據(jù)項(xiàng)作為所述中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中于所述數(shù)據(jù)項(xiàng)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)項(xiàng)；對(duì)所述中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，獲取損耗角值。本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法通過對(duì)預(yù)定頻率的微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理，并利用所述微波信號(hào)獲取被測(cè)試材料在預(yù)定外力作用下的反應(yīng)數(shù)據(jù)，依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值，同時(shí)，獲取與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值，依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值并獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值，對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值。從而依據(jù)所述應(yīng)力值、所述損耗角值及所述應(yīng)變值對(duì)被測(cè)試材料的用途進(jìn)行判斷。當(dāng)然，實(shí)施本發(fā)明的任一產(chǎn)品并不一定需要同時(shí)達(dá)到以上所述的所有優(yōu)點(diǎn)。



為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例一的流程圖；圖2為本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例二的部分流程圖；圖3為本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例二的部分流程圖；圖4為本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例三的流程圖；
圖5為本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例三的部分流程圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。參考圖1，其示出了本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法的流程圖，所述方法可以包括以下步驟步驟101 :對(duì)預(yù)定頻率的微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理，生成與所述微波信號(hào)的頻率相對(duì)應(yīng)的分頻數(shù)據(jù)。其中，本發(fā)明提供的方法實(shí)施例一用于被測(cè)試材料的性能參數(shù)獲取，被測(cè)試材料的性能參數(shù)是指處于某一特定頻率的微波信號(hào)作用下，對(duì)被測(cè)試材料施加預(yù)定外力但被測(cè)試材料位移不變，其幾何形狀及尺寸會(huì)發(fā)生形變，此時(shí)被測(cè)試材料的形變稱為應(yīng)變。而被測(cè)試材料在發(fā)生形變時(shí)，被測(cè)試材料內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生大小相等但方向相反的作用力抵抗該預(yù)定外力，單位面積上的這種力為應(yīng)力。而應(yīng)變滯后應(yīng)力，兩者之間存在相位差，該相位差及損耗角。其中，在對(duì)微波信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的預(yù)施加于被測(cè)試材料的高頻微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理得到與該微波信號(hào)的頻率相對(duì)應(yīng)的分頻數(shù)據(jù)。步驟102 :利用所述微波信號(hào)獲取被測(cè)試材料在預(yù)定外力作用下的反應(yīng)數(shù)據(jù)。其中，所述步驟101與所述步驟102順序可以互換，而不影響本發(fā)明方法的執(zhí)行結(jié)
果O其中，將所述高頻微波信號(hào)作用于被測(cè)試材料，同時(shí)對(duì)被測(cè)試材料施加預(yù)定外力，獲取處于所述微波信號(hào)作用下的被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力下的反應(yīng)數(shù)據(jù)。步驟103 :依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值。其中，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，依據(jù)所述分配數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值和損耗角值。由上述方案可知，本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例一通過對(duì)預(yù)定頻率的微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理，生成與所述微波信號(hào)的頻率相對(duì)應(yīng)的分頻數(shù)據(jù)，利用所述微波信號(hào)獲取被測(cè)試材料在預(yù)定外力作用下的反應(yīng)數(shù)據(jù)，并依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值。從而依據(jù)所述應(yīng)力值和所述損耗角值對(duì)被測(cè)試材料的用途進(jìn)行判斷。
參考圖2，其示出了本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例二的部分流程圖，基于本發(fā)明方法實(shí)施例一，所述方法還可以包括以下步驟步驟201 :獲取預(yù)設(shè)的與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值。
其中，預(yù)先設(shè)定對(duì)被測(cè)試材料施加的外力與其預(yù)設(shè)置位移控制值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，在對(duì)處于所述微波信號(hào)中的被測(cè)試材料施加所述預(yù)定外力時(shí)，獲取與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值。步驟202 :依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值。其中，在進(jìn)行所述被測(cè)試材料的材料性能參數(shù)獲取之前，設(shè)定所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值之間的關(guān)系。而設(shè)定所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值之間的關(guān)系時(shí)，可以依據(jù)對(duì)被測(cè)試材料的進(jìn)行參數(shù)獲取的歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行設(shè)定。由此，依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值。例如，制定欲控制的位移大小即位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系，如數(shù)值600對(duì)應(yīng)5微米，在獲取到與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值后，依據(jù)上述兩者關(guān)系得出標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值，600*位移控制值/5即與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值。步驟203 :獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值。其中，所述步驟201和所述步驟202與所述步驟203的執(zhí)行順序可以調(diào)換而不影響本發(fā)明方案的執(zhí)行，例如，先執(zhí)行所述步驟203，在執(zhí)行所述步驟201和所述步驟202。其中，對(duì)被測(cè)試材料處于所述預(yù)定外力作用下產(chǎn)生的應(yīng)變進(jìn)行數(shù)據(jù)獲取，即獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值。步驟204 :對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值。其中，在獲取到所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值后，對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算得出實(shí)際應(yīng)變值，具體的計(jì)算過程，如本發(fā)明提供的圖3所示，包括步驟301 :將所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值分別記為um、by及cy。步驟302 :獲取所述測(cè)試應(yīng)變值cy與所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值by的偏差cy-by，并依據(jù)所
述偏差cy-by及所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值by獲取偏差率；
by
cy-by步驟303 i^wy=um-l·—~X臟獲取實(shí)際應(yīng)變值；
by其中，為所述測(cè)試應(yīng)變值的偏差率相對(duì)于所述位移控制值的偏差值，
by
計(jì)算得出的wy為所述實(shí)際應(yīng)變值。由上述方案可知，本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例二通過獲取與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值，依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值并獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值，對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值。從而依據(jù)所述應(yīng)變值對(duì)被測(cè)試材料的用途進(jìn)行判斷。參考圖4，其示出了本發(fā)明提供的一種材料性能參數(shù)獲取方法實(shí)施例三的流程圖，基于本發(fā)明方法實(shí)施例一，所述步驟103可以包括以下步驟步驟403 :提取所述反應(yīng)數(shù)據(jù)的中間數(shù)據(jù)，獲取中間數(shù)據(jù)數(shù)組。其中，在對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算之前，為提高數(shù)據(jù)計(jì)算的準(zhǔn)確性，對(duì)所述反應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，可以依據(jù)預(yù)設(shè)的提取規(guī)則，提取所述反應(yīng)數(shù)據(jù)的中間數(shù)據(jù)，并由所述提取的中間數(shù)據(jù)組成中間數(shù)據(jù)數(shù)組，其數(shù)組大小依據(jù)所述提取規(guī)則而定。步驟404 :對(duì)所述中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行第偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)和第奇數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)提取，分別得到第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組和第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組。其中，對(duì)由準(zhǔn)確數(shù)據(jù)提取得到的所述中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行再次數(shù)據(jù)提取，分成兩組數(shù)據(jù)，即對(duì)所述中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行第偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)提取，得到由第偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)組成的第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組，將所述中間數(shù)據(jù)數(shù)組中剩余的第奇數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)組成第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組。步驟405 :對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行計(jì)算，獲取應(yīng)力值及損耗角值。需要說明的是，所述步驟401和所述步驟402與本發(fā)明方法實(shí)施例一中所述步驟101和所述步驟102所述一致，在此不再贅述。其中，在所述步驟405中，具體的計(jì)算過程，如本發(fā)明提供的圖5所示，包括步驟501 :分別將所述分頻數(shù)據(jù)及所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組分為多個(gè)數(shù)組，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)及所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組分組后的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組。其中，將所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組、所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組分別記為w[nl]、yIData[n3]及y2Data[n4],其中，nl、n3及n4分別為所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組中數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)。其中，所述步驟501中，分別將w[nl]和ylData[n3]分為多個(gè)數(shù)組,對(duì)w[nl]和YIData[n3]分組后的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組，可以記為deg yi [n8]；其中，n8為所述第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)。其中，所述步驟501中具體的計(jì)算過程，包括分別將wt [nl]與ylData[n3]分為多個(gè)數(shù)組，形成多個(gè)分別由兩個(gè)數(shù)組組成的數(shù)組組合集合，例如將wt [nl]與ylData[n3]分為10個(gè)數(shù)組,提取其中一組數(shù)組組合wtl [n5]和 yDatal[n6]；其中，n5和n6分別為數(shù)組wtl [n5]和數(shù)組yDatal [n6]中數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)；
權(quán)利要求
1.一種材料性能參數(shù)獲取方法，其特征在于，該方法包括對(duì)預(yù)定頻率的微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理，生成與所述微波信號(hào)的頻率相對(duì)應(yīng)的分頻數(shù)據(jù)；利用所述微波信號(hào)獲取被測(cè)試材料在預(yù)定外力作用下的反應(yīng)數(shù)據(jù)；依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述方法還包括獲取預(yù)設(shè)的與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值；依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值；獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值；對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值具體包括將所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值分別記為um、by及cy ；獲取所述測(cè)試應(yīng)變值cy與所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值by的偏差cy-by,并依據(jù)所述偏差cy_by及 所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值by獲取偏差率
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值具體包括提取所述反應(yīng)數(shù)據(jù)的中間數(shù)據(jù)，獲取中間數(shù)據(jù)數(shù)組；對(duì)所述中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行第偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)和第奇數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)提取，分別得到第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組和第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組；對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行計(jì)算，獲取應(yīng)力值及損耗角值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)、所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組進(jìn)行計(jì)算，獲取應(yīng)力值及損耗角值包括分別將所述分頻數(shù)據(jù)及所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組分為多個(gè)數(shù)組，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)及所述第一中間數(shù)據(jù)數(shù)組分組后的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組；分別將所述分頻數(shù)據(jù)及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組分為多個(gè)數(shù)組，對(duì)所述分頻數(shù)據(jù)及所述第二中間數(shù)據(jù)數(shù)組分組后的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到第二應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組和第三應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組；對(duì)所述第二應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，獲取應(yīng)力值；依據(jù)所述第一應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組和所述第三應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組獲取中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組；判斷所述中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中各項(xiàng)數(shù)據(jù)是否大于270度，如果是，獲取所述數(shù)據(jù)大于.270度的數(shù)據(jù)項(xiàng)與360度的差值絕對(duì)值，并將所述絕對(duì)值作為中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中與所述數(shù)據(jù)項(xiàng)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)項(xiàng)，否則，將所述數(shù)據(jù)項(xiàng)作為所述中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中與所述數(shù)據(jù)項(xiàng)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)項(xiàng)；對(duì)所述中間應(yīng)力數(shù)據(jù)數(shù)組中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，獲取損耗角值。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種材料性能參數(shù)獲取方法，該方法包括對(duì)預(yù)定頻率的微波信號(hào)進(jìn)行分頻處理，生成與所述微波信號(hào)的頻率相對(duì)應(yīng)的分頻數(shù)據(jù)；利用所述微波信號(hào)獲取被測(cè)試材料在預(yù)定外力作用下的反應(yīng)數(shù)據(jù)；依據(jù)所述分頻數(shù)據(jù)和所述反應(yīng)數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)試材料處于所述微波信號(hào)中的應(yīng)力值及損耗角值。所述方法還包括獲取預(yù)設(shè)的與所述預(yù)定外力相對(duì)應(yīng)的位移控制值；依據(jù)所述位移控制值與標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值的關(guān)系得出與所述位移控制值相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值；獲取所述被測(cè)試材料在所述預(yù)定外力作用下的測(cè)試應(yīng)變值；對(duì)所述位移控制值、所述標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)變值及所述測(cè)試應(yīng)變值進(jìn)行計(jì)算，得出實(shí)際應(yīng)變值。
文檔編號(hào)G01N22/00GK102621161SQ20121009296
公開日2012年8月1日 申請(qǐng)日期2012年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月31日
發(fā)明者吳存琦, 徐經(jīng)偉, 李俊玲, 白石英, 耿超 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春應(yīng)用化學(xué)研究所