專利名稱：一種譯碼器測試裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明屬于譯碼器技術領域，具體涉及一種譯碼器測試裝置。
背景技術：
就目前工業(yè)領域中，很多操作臺上都使用譯碼器來顯示現(xiàn)場設備的狀態(tài)，有可顯示高度、速度、旋轉角度等。通常是由PLC直接驅動顯示的，PLC通過輸出BCD碼給譯碼器從而驅動數(shù)碼管。但是由于操作環(huán)境及設備影響，常造成譯碼器失真，如其中一個數(shù)碼管損壞掉，又是很難被操作人員發(fā)現(xiàn)，比如A管的損壞，那本來應該讀取數(shù)字7，卻變成顯示是1， 在這過程中操作人員無法準確判斷顯示值是否正確，也無法判斷譯碼器工作是否正常，這樣就會給操作人員帶來讀取數(shù)據(jù)不準確，易造成操作人員的誤動作，嚴重的還會引起設備事故甚至人身傷亡事故。特別在目前很多工業(yè)領域廣泛使用的七段譯碼器是由PLC直接驅動顯示的，PLC 通過輸出BCD碼給譯碼器從而驅動七段數(shù)碼管，在這過程中操作人員無法準確判斷顯示值是否正確，也無法判斷譯碼器工作是否正常，這些都需要專業(yè)的人員來調(diào)試判斷，需要花一定時間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種可以隨時測試譯碼器是否正常工作的測
試裝置。為解決上述技術問題，本發(fā)明的技術方案為
一種譯碼器測試裝置，包括微處理器模塊、晶振時鐘模塊、光電隔離輸出模塊和直流穩(wěn)壓電路模塊，所述直流穩(wěn)壓電路模塊為所述微處理器模塊提供穩(wěn)壓電源，所述晶振時鐘模塊接入所述微處理器模塊，組成所述微處理器模塊的內(nèi)部振蕩，所述微處理器模塊發(fā)出的 BCD碼信號由所述光電隔離輸出模塊驅動所述譯碼器顯示。所述的譯碼器測試裝置，還包括反饋單元模塊，所述反饋單元模塊采集所述微處理器模塊發(fā)出BCD信號及所述譯碼器運行狀態(tài)信號，并判斷是否與輸入的BCD碼信號相匹配后，再反饋給所述微處理器模塊。所述譯碼器測試裝置，還包括運行狀態(tài)指示模塊，運行狀態(tài)指示模塊接收所述微處理器模塊的故障信號。所述譯碼器測試裝置，還包括光電隔離輸入模塊，所述光電隔離輸入模塊將接收的BCD碼信號輸入所述微處理器模塊，經(jīng)運算處理發(fā)出BCD碼數(shù)字信號，信號由所述光電隔離輸出模塊輸出，驅動所述譯碼器。所述微處理器模塊為AT89S52芯片。所述直流穩(wěn)壓電路模塊選用LM7805集成電路。所述光電隔離輸出模塊包括TLP51-1管。所述反饋單元模塊包括TLP51-1管。
所述光電隔離輸入模塊包括TLP51-1管。本發(fā)明的有益效果是結構簡單、運行可靠、可以隨時在不影響生產(chǎn)的時候，由操作人員在第一時間內(nèi)準確無誤判斷譯碼器讀取的數(shù)值是否正常，從而減少誤操作。


下面結合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明的技術方案作進一步具體說明。圖1為本發(fā)明實施例七段譯碼器測試裝置硬件配置圖。圖2為本發(fā)明實施例七段譯碼器測試裝置電路原理圖。
具體實施例方式如圖I和圖2所示，一種七段譯碼器測試裝置，其直流穩(wěn)壓電路模塊LM7805穩(wěn)壓管2給微處理器模塊AT89S52芯片I提供5V工作電源，晶振時鐘模塊2接入所述微處理器模塊AT89S52芯片1，組成微處理器模塊AT89S52芯片I的內(nèi)部振蕩。在平時正常工作情況下，微處理器模塊AT89S52芯片I自動接收來自光電隔離輸入模塊TLP51-1管3的B⑶碼信號，經(jīng)運算處理發(fā)出并行或串行的BCD碼數(shù)字信號，信號由四路光電隔離輸出模塊TLP51-1 管4，驅動七段譯碼器。如需人為測試七段譯碼器，那么微處理器模塊AT89S52芯片I將屏蔽外圍輸入的BCD碼信號，自身發(fā)出多組用來測試七段譯碼器的BCD碼信號，信號由帶光電隔離的輸出模塊TLP51-1管4驅動七段譯碼器顯示，這樣現(xiàn)場人員就可以一目了然的判斷七段譯碼器是否正常工作。四路運行反饋單元模塊TLP51-1管5及時采集微處理器模塊 AT89S52芯片I的輸出信號是否與輸入的B⑶碼信號相匹配，在無人員測試情況下也能通過這種反饋形式，自動實時監(jiān)控七段譯碼器的工作情況；運行狀態(tài)指示模塊7接收微處理器模塊AT89S52芯片I的故障信號。其運行過程為四路光電隔離輸入模塊TLP51-1管3的輸入由JPl端子24V供電， 光電隔離B⑶碼信號通過Pl. O、Pl. I、Pl. 2、Pl. 3輸入微處理器中，控制輸出光電隔離 PO. UP0. 2,PO. 3,PO. 4，經(jīng)上拉電阻R300歐，由JP2供24V電信號輸出；晶振時鐘模塊2的 C101, C102和晶振CYlOl接入微處理器模塊AT89S52芯片I的XTALl、XTAL2，組成AT89s52 的內(nèi)部振蕩，一路開關控制輸入帶光電隔電接P3. O測試端。運行狀態(tài)指示燈接P3. 4上拉電阻驅動LED燈(綠)亮，輸出信號和反饋信號交由微處理器模塊AT89S52芯片I運算，如果工作正常由P3. 3接上拉電阻驅動LED燈(黃)亮，其反饋結果由P2. 0、P2. 1、P2. 2、P2. 3、輸入判斷是否正常工作，如出現(xiàn)故障運行狀態(tài)指示燈P3. 2上拉電阻驅動LED燈(紅)亮。本發(fā)明的有益效果是結構簡單、工作可靠、可以隨時在不影響生產(chǎn)的時候，由操作人員在第一時間內(nèi)通過故障運行狀態(tài)指示燈直接顯示譯碼器讀取的數(shù)值是否正常，從而判斷譯碼器工作是否正常，減少誤操作。最后所應說明的是，以上具體實施方式
僅用以說明本發(fā)明的技術方案而非限制， 盡管參照較佳實施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發(fā)明的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術方案的精神和范圍，其均應涵蓋在本發(fā)明的權利要求范圍當中。
權利要求
1.一種譯碼器測試裝置，其特征是，包括微處理器模塊、晶振時鐘模塊、光電隔離輸出模塊和直流穩(wěn)壓電路模塊，所述直流穩(wěn)壓電路模塊為所述微處理器模塊提供穩(wěn)壓電源；所述晶振時鐘模塊接入所述微處理器模塊，組成所述微處理器模塊的內(nèi)部振蕩；所述微處理器模塊發(fā)出的BCD碼信號由所述光電隔離輸出模塊驅動所述譯碼器顯示。
2.根據(jù)權利要求I所述的譯碼器測試裝置，其特征在于，還包括反饋單元模塊，所述反饋單元模塊采集所述微處理器模塊發(fā)出BCD信號及所述譯碼器運行狀態(tài)信號，并判斷是否與輸入的BCD碼信號相匹配后，再反饋給所述微處理器模塊。
3.根據(jù)權利要求I或2所述譯碼器測試裝置，其特征在于，還包括運行狀態(tài)指示模塊， 運行狀態(tài)指示模塊接收所述微處理器模塊的故障信號。
4.根據(jù)權利要求I或2所述譯碼器測試裝置，其特征在于，還包括光電隔離輸入模塊， 所述光電隔離輸入模塊將接收的B⑶碼信號輸入所述微處理器模塊，經(jīng)運算處理發(fā)出B⑶ 碼數(shù)字信號，信號由所述光電隔離輸出模塊輸出，驅動所述譯碼器。
5.根據(jù)權利要求I或2所述譯碼器測試裝置，其特征在于，所述微處理器模塊為 AT89S52 芯片。
6.根據(jù)權利要求I或2所述的譯碼器測試裝置，其特征在于，所述直流穩(wěn)壓電路模塊選用LM7805集成電路。
7.根據(jù)權利要求I或2所述的譯碼器測試裝置，其特征在于，光電隔離輸出模塊包括 TLP51-1 管。
8.根據(jù)權利要求2所述的譯碼器測試裝置，其特征在于，所述反饋單元模塊包括 TLP51-1 管。
9.根據(jù)權利要求4所述的譯碼器測試裝置，其特征在于，所述光電隔離輸入模塊包括 TLP51-1 管。
全文摘要
本發(fā)明屬于譯碼器技術領域，具體涉及一種譯碼器測試裝置，包括微處理器模塊、晶振時鐘模塊、光電隔離輸出模塊和直流穩(wěn)壓電路模塊，所述直流穩(wěn)壓電路模塊為所述微處理器模塊提供穩(wěn)壓電源，所述晶振時鐘模塊接入所述微處理器模塊，組成所述微處理器模塊的內(nèi)部振蕩，所述微處理器模塊發(fā)出的BCD碼信號由所述光電隔離輸出模塊驅動所述譯碼器顯示。本發(fā)明的有益效果是結構簡單，運行可靠，可以隨時在不影響生產(chǎn)的時候，由操作人員在第一時間內(nèi)準確無誤判斷譯碼器讀取的數(shù)值是否正常，從而減少誤操作。
文檔編號G01R31/28GK102590734SQ20121009268
公開日2012年7月18日 申請日期2012年3月31日 優(yōu)先權日2012年3月31日
發(fā)明者丁鋼, 徐俊, 鄒紅 申請人:武漢鋼鐵(集團)公司