專利名稱：物體檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及利用電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的反射現(xiàn)象來(lái)檢測(cè)有無(wú)檢測(cè)對(duì)象物的物體檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
反射型光電傳感器是以受光部接受從投光部發(fā)出的光，根據(jù)受光電平的變化來(lái)檢測(cè)檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)等，而在該反射型光電傳感器中，從投光部發(fā)出的光被反射部(反射器等)反射而到達(dá)受光部的類型被稱為回歸反射型光電傳感器。該回歸反射型光電傳感器適用于檢測(cè)具有透光性的對(duì)象物(以下稱為透明體)，反之，存在難于正確檢測(cè)具有反光表面的對(duì)象物(以下稱為鏡面反射體)的問(wèn)題。因此，進(jìn)行了使用回歸反射型光電傳感器來(lái)正確檢測(cè)鏡面反射體的嘗試，而提出了各種方案。而且，作為這種方案，例如有在JP特開(kāi)昭61-203522號(hào)公報(bào)中公開(kāi)的反射型光電開(kāi)關(guān)、在JP特開(kāi)平2-27632號(hào)公報(bào)中公開(kāi)的回歸反射型光電開(kāi)關(guān)等。在這些光電開(kāi)關(guān)中，利用到達(dá)受光部的偏振光的種類的不同來(lái)識(shí)別是自鏡面反射體的反射光還是自反射部的反射光，從而檢測(cè)鏡面反射體的有無(wú)。另外，還進(jìn)行了對(duì)近年來(lái)流通的新商品的嘗試。例如，作為檢測(cè)透過(guò)率較高且形狀復(fù)雜的PET瓶的裝置，有在JP特開(kāi)2008-112629號(hào)公報(bào)中公開(kāi)的回歸反射型光電傳感器。根據(jù)該回歸反射型光電傳感器，形成有發(fā)射圓偏振光的投光系統(tǒng)和在逆圓偏振光和圓偏振光混合入射的情況下選擇性地接受逆圓偏振光的受光系統(tǒng)的傳感器主體，利用成為誤操作原因的PET瓶的雙折射，將因雙折射引起的偏光狀態(tài)的紊亂轉(zhuǎn)換成光的衰減，從而能夠檢測(cè)透過(guò)率高且形狀復(fù)雜的PET瓶?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I JP特開(kāi)昭61-203522號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2 JP特開(kāi)平2-27632號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)3 JP特開(kāi)2008-112629號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問(wèn)題然而，像上述現(xiàn)有的光電傳感器那樣，由于是利用偏光種類的不同，因此存在難以調(diào)節(jié)光軸、且需要多種、大量的濾波器、偏光板、設(shè)定及調(diào)節(jié)也較為困難的問(wèn)題。因此，本發(fā)明的目的在于提供一種在構(gòu)成簡(jiǎn)單、設(shè)定及調(diào)節(jié)也容易的同時(shí)能夠檢測(cè)包含鏡面反射體和透明體的各種檢測(cè)對(duì)象物的物體檢測(cè)系統(tǒng)。用于解決問(wèn)題的手段本發(fā)明的第一種物體檢測(cè)系統(tǒng)具備電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的產(chǎn)生構(gòu)件、第一檢測(cè)構(gòu)件和第二檢測(cè)構(gòu)件。使上述第一檢測(cè)構(gòu)件和上述第二檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)軸所成的角對(duì)經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物反射的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)有意義，并且使其大小對(duì)經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)離用于判斷有無(wú)上述檢測(cè)對(duì)象物的對(duì)象區(qū)域的區(qū)域而到達(dá)上述第一檢測(cè)構(gòu)件或上述第二檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)無(wú)影響。將上述第一檢測(cè)構(gòu)件的第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)構(gòu)件的第二檢測(cè)電平值的和、或者上述第一檢測(cè)電平值及上述第二檢測(cè)電平值中的任意一個(gè)作為判斷電平值，在上述判斷電平值大于第一閾值時(shí)、或者小于上述第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。此外，在上述判斷電平值大于上述第二閾值且不足上述第一閾值、上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的差大于預(yù)定的基準(zhǔn)值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。本發(fā)明的第二種物體檢測(cè)系統(tǒng)具備第一產(chǎn)生構(gòu)件、第二產(chǎn)生構(gòu)件和由上述第一產(chǎn)生構(gòu)件及第二產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)構(gòu)件。將從上述第一產(chǎn)生構(gòu)件經(jīng)過(guò)用于判斷有無(wú)檢測(cè)對(duì)象物的對(duì)象區(qū)域而到達(dá)上述檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)電平作為第一檢測(cè)電平值，將從上述第二產(chǎn)生構(gòu)件經(jīng)過(guò)上述對(duì)象區(qū)域而到達(dá)上述檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)電平作為第二檢測(cè)電平值，將上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的和、或者上述第一檢測(cè)電平值及上述第二檢測(cè)電平值中的任意一個(gè)作為判斷電平值，在上述判斷電平值大于第一閾值時(shí)、或者小于上述第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。此外，在上述判斷電平值大于上述第二閾值且不足上述第一閾值、上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的差大于預(yù)定的基準(zhǔn)值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。在第二種物體檢測(cè)系統(tǒng)中，也可以將接收由上述第一產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波而生成的分時(shí)檢測(cè)電平作為第一檢測(cè)電平值，將接收由上述第二產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波而生成的另一個(gè)分時(shí)檢測(cè)電平作為第二檢測(cè)電平值。第一種物體檢測(cè)系統(tǒng)也可以排列設(shè)置多個(gè)上述產(chǎn)生構(gòu)件、上述第一檢測(cè)構(gòu)件和上述第二檢測(cè)構(gòu)件的組，各個(gè)上述組經(jīng)由從站與共用數(shù)據(jù)信號(hào)線連接。此時(shí)，在上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線上連接著與控制部連接的主站。上述主站具有用于產(chǎn)生與預(yù)定周期的傳送時(shí)鐘同步的預(yù)定定時(shí)信號(hào)的定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，對(duì)應(yīng)于來(lái)自上述控制部的控制數(shù)據(jù)的值，將一系列脈沖狀信號(hào)作為控制數(shù)據(jù)信號(hào)輸出到上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線，并且，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，提取經(jīng)由上述從站重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)值，并將其移交到上述控制部。此外，各個(gè)上述從站，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，提取上述控制數(shù)據(jù)信號(hào)的各數(shù)據(jù)的值，將上述各數(shù)據(jù)的值中與本站對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)移交到對(duì)應(yīng)的上述產(chǎn)生構(gòu)件，以及，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，將與對(duì)應(yīng)的上述第一檢測(cè)構(gòu)件及上述第二檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)數(shù)據(jù)的值對(duì)應(yīng)的上述檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)。第二種物體檢測(cè)系統(tǒng)也可以排列設(shè)置多個(gè)上述第一產(chǎn)生構(gòu)件、上述第二產(chǎn)生構(gòu)件和上述接收構(gòu)件的組，各個(gè)上述組經(jīng)由從站與共用數(shù)據(jù)信號(hào)線連接。此時(shí)，在上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線上連接著與控制部連接的主站。上述主站具有用于產(chǎn)生與預(yù)定周期的傳送時(shí)鐘同步的預(yù)定定時(shí)信號(hào)的定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，對(duì)應(yīng)于來(lái)自上述控制部的控制數(shù)據(jù)的值，將一系列脈沖狀信號(hào)作為控制數(shù)據(jù)信號(hào)輸出到上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線，并且，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，提取經(jīng)由上述從站重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)值，并將其移交到上述控制部。此外，各個(gè)上述從站，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，提取上述控制數(shù)據(jù)信號(hào)的各數(shù)據(jù)的值，將上述各數(shù)據(jù)的值中與本站對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)移交到對(duì)應(yīng)的上述第一產(chǎn)生構(gòu)件或上述第二產(chǎn)生構(gòu)件，以及，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，將與對(duì)應(yīng)的上述檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)數(shù)據(jù)的值對(duì)應(yīng)的上述檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)。在第一及第二種物體檢測(cè)系統(tǒng)中，可以經(jīng)由上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線傳送上述第一閾值、上述第二閾值和上述基準(zhǔn)值。發(fā)明效果 在本發(fā)明的物體檢測(cè)系統(tǒng)中，將檢測(cè)電平與分別位于比不存在檢測(cè)對(duì)象物的情況下的檢測(cè)電平(不存在時(shí)檢測(cè)電平)大的一側(cè)和小的一側(cè)的閾值(第一閾值或第二閾值)比較，進(jìn)一步，將從兩種不同的檢測(cè)中得到的兩種檢測(cè)電平(第一檢測(cè)電平值和第二檢測(cè)電平值)作為一組，將它們的電平差與不同于上述閾值的基準(zhǔn)進(jìn)行比較來(lái)判斷檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)，從而能夠檢測(cè)包含鏡面反射體和透明體的各種檢測(cè)對(duì)象物。經(jīng)過(guò)存在檢測(cè)對(duì)象物的區(qū)域到達(dá)檢測(cè)構(gòu)件的電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)電平，以檢測(cè)用光線的檢測(cè)電平按照例如鏡面反射體、反射體、透明體、不透明體、黑體(非反射體)的順序依次變?nèi)醯姆绞?，?duì)應(yīng)于檢測(cè)對(duì)象物的性質(zhì)狀態(tài)而階段性變化。然而，該檢測(cè)電平有比不存在檢測(cè)對(duì)象物時(shí)的檢測(cè)電平(不存在時(shí)檢測(cè)電平)大和小的兩種，因此，單與不存在時(shí)檢測(cè)電平比較，無(wú)法判斷檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)。對(duì)此，在本發(fā)明中，將檢測(cè)電平與分別位于比不存在時(shí)檢測(cè)電平大的一側(cè)和小的一側(cè)的閾值(第一閾值或第二閾值)比較，因此，能夠從位于不存在時(shí)檢測(cè)電平的兩側(cè)并階段性變化的檢測(cè)電平，判斷檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)。但是,在大于不存在時(shí)檢測(cè)電平的一側(cè)大于第一閾值、在小于不存在時(shí)檢測(cè)電平的一側(cè)小于第二閾值成為判斷為有檢測(cè)對(duì)象物的條件，因此檢測(cè)電平在兩個(gè)閾值之間時(shí)，無(wú)法判斷檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)。因此，將從兩種不同的檢測(cè)中得到的兩種檢測(cè)電平(第一檢測(cè)電平值和第二檢測(cè)電平值)作為一組，將它們的差與不同于上述閾值的基準(zhǔn)進(jìn)行比較，從而判斷檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)。此外，在第一種物體檢測(cè)系統(tǒng)中，使第一檢測(cè)構(gòu)件和第二檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)軸所成的角對(duì)經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物反射的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)有意義，并且使其大小對(duì)經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)離用于判斷有無(wú)上述檢測(cè)對(duì)象物的對(duì)象區(qū)域的區(qū)域而到達(dá)上述第一檢測(cè)構(gòu)件或上述第二檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)無(wú)影響，從而能夠進(jìn)行兩種不同的檢測(cè)。另外，在第二種物體檢測(cè)系統(tǒng)中，具備第一產(chǎn)生構(gòu)件、第二產(chǎn)生構(gòu)件、由第一產(chǎn)生構(gòu)件及第二產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)構(gòu)件，從而能夠進(jìn)行兩種不同的檢測(cè)。另外，為了在多個(gè)區(qū)域中進(jìn)行檢測(cè)，在需要排列設(shè)置產(chǎn)生構(gòu)件和檢測(cè)構(gòu)件的多個(gè)組的情況下，優(yōu)選，在與預(yù)定周期的傳送時(shí)鐘同步的預(yù)定定時(shí)信號(hào)的控制下，對(duì)應(yīng)于來(lái)自上述控制部的控制數(shù)據(jù)的值，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，交接控制數(shù)據(jù)信號(hào)和檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的傳送方式。在此情況下，在傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期獲得產(chǎn)生構(gòu)件的工作定時(shí)，從而能夠在防止產(chǎn)生構(gòu)件之間的相互干涉的同時(shí)進(jìn)行在多個(gè)區(qū)域中的檢測(cè)。


圖1是表示本發(fā)明的物體檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)施例中的判斷電平值的經(jīng)時(shí)變化的圖表。圖2是該系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
圖3是控制部及主站的功能框圖。圖4是從站的功能框圖。圖5是從站的系統(tǒng)框圖。圖6是表示傳感器部的檢測(cè)原理的示意圖，(a)是有檢測(cè)對(duì)象物的情況下的對(duì)象區(qū)域附近的放大俯視圖，(b)是無(wú)檢測(cè)對(duì)象物的情況下的俯視圖。圖7是表示投光部到檢測(cè)用光線的反射點(diǎn)的距離和檢測(cè)電平值之間的關(guān)系的圖表。圖8是主站的程序流程圖。圖9是示意地表示發(fā)送參數(shù)時(shí)的傳送時(shí)鐘信號(hào)的基本信號(hào)的時(shí)間圖。圖10是示意地表示發(fā)送檢測(cè)數(shù)據(jù)時(shí)的傳送時(shí)鐘信號(hào)的基本信號(hào)的時(shí)間圖。圖11是從站的輸入輸出處理程序流程圖。圖12是從站的檢測(cè)處理程序流程圖。圖13是從站的判斷處理程序流程圖。圖14是表示存儲(chǔ)在從站中的參數(shù)的表格。圖15是對(duì)比表示在從站中生成的信號(hào)和傳送時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)間圖。圖16是表示本發(fā)明的物體檢測(cè)系統(tǒng)的其他實(shí)施例中的傳感器部的檢測(cè)原理的示意圖，(a)是有檢測(cè)對(duì)象物的情況下的對(duì)象區(qū)域附近的放大俯視圖，(b)是無(wú)檢測(cè)對(duì)象物的情況下的俯視圖。
具體實(shí)施例方式參照附圖，說(shuō)明本發(fā)明的物體檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)施例。如圖2所示，該物體檢測(cè)系統(tǒng)是將傳送裝置7上的傳送物作為檢測(cè)對(duì)象物6并檢測(cè)其有無(wú)的系統(tǒng)，具備沿著傳送裝置7的移動(dòng)方向配置的多個(gè)傳感器部4。各傳感器部4經(jīng)由對(duì)應(yīng)的從站5連接到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN，在共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN上還連接著與控制部I連接的主站2?？刂撇縄例如是可編程控制器、計(jì)算機(jī)等，具有發(fā)送對(duì)傳感器部4的控制數(shù)據(jù)13的輸出單元11和接收作為傳感器部4的檢測(cè)結(jié)果的監(jiān)視數(shù)據(jù)14的輸入單元12，該輸出單元11和輸入單元12與主站2連接。如圖3所示，主站2具備輸出數(shù)據(jù)部22、定時(shí)產(chǎn)生部23、主站輸出部24、主站輸入部25以及輸入數(shù)據(jù)部26。而且，與共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN連接，將作為控制數(shù)據(jù)13從控制部I的輸出單元11接收到的并行數(shù)據(jù)作為控制信號(hào)發(fā)送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN，并且將從與傳感器部4對(duì)應(yīng)的從站5發(fā)送的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)，并作為監(jiān)視數(shù)據(jù)14發(fā)送到控制部I的輸入單元12。在此，被發(fā)送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN的控制信號(hào)相當(dāng)于本發(fā)明的一系列脈沖狀信號(hào)，以下，將流經(jīng)共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN的控制信號(hào)稱作傳送時(shí)鐘信號(hào)。輸出數(shù)據(jù)部22，將作為控制數(shù)據(jù)13從控制部I的輸出單元11接收到的并行數(shù)據(jù)作為串行數(shù)據(jù)移交到主站輸出部24。定時(shí)產(chǎn)生部23由振蕩電路(OSC) 31、主站地址設(shè)定構(gòu)件32、定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件33構(gòu)成，基于0SC31，定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件33生成該系統(tǒng)的定時(shí)時(shí)鐘并移交到主站輸出部24。
主站輸出部24由控制數(shù)據(jù)產(chǎn)生構(gòu)件34和線路驅(qū)動(dòng)器35構(gòu)成，基于從輸出數(shù)據(jù)部22接收的數(shù)據(jù)和從定時(shí)產(chǎn)生部23接收的定時(shí)時(shí)鐘，經(jīng)由線路驅(qū)動(dòng)器35將傳送時(shí)鐘信號(hào)作為一系列脈沖狀信號(hào)發(fā)送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN。從主站輸出部24發(fā)送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN的傳送時(shí)鐘信號(hào)的數(shù)據(jù)值(控制數(shù)據(jù))，通過(guò)傳送時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)的高電壓電平期間的脈沖寬度來(lái)表現(xiàn)。傳送時(shí)鐘信號(hào)如圖9所示，一個(gè)周期中的后半周期為高電位電平(在本實(shí)施例中為+24V)，前半周期為低電位電平(在本實(shí)施例中為OV或+12V)。然后，高電位電平的寬度與從控制部I輸入的控制數(shù)據(jù)13的各數(shù)據(jù)的值相對(duì)應(yīng)而擴(kuò)大，在本實(shí)施例中，擴(kuò)大到圖9中虛線所示的寬度，即，將傳送時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)周期設(shè)為t0時(shí)擴(kuò)大到(3/4)t0。但是，該寬度沒(méi)有限制，根據(jù)傳送條件適宜調(diào)節(jié)即可。另外，按傳送時(shí)鐘信號(hào)的每一周期分配地址，后述的從站5通過(guò)對(duì)該地址計(jì)數(shù)的方式，獲取本站應(yīng)該接收的控制數(shù)據(jù)。而且，為了決定用于進(jìn)行地址計(jì)數(shù)的開(kāi)頭和結(jié)尾，在傳送時(shí)鐘信號(hào)的開(kāi)頭和結(jié)尾形成開(kāi)始信號(hào)(StartBit)及結(jié)束信號(hào)(圖示省略)。開(kāi)始信號(hào)是電位電平與傳送時(shí)鐘信號(hào)的高電位電平相同、且比傳送時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)周期長(zhǎng)的信號(hào)。另一方面，結(jié)束信號(hào)是電平與傳送時(shí)鐘信號(hào)的低電位電平相同、且比傳送時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)周期長(zhǎng)、比開(kāi)始信號(hào)短的信號(hào)。該結(jié)束信號(hào)在與主站地址設(shè)定構(gòu)件32所保持的被分配給主站2的地址一致的時(shí)刻形成。主站輸入部25由檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)檢測(cè)構(gòu)件36和檢測(cè)數(shù)據(jù)提取構(gòu)件37構(gòu)成，向輸入數(shù)據(jù)部26發(fā)送輸入數(shù)據(jù)信號(hào)。檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)檢測(cè)構(gòu)件36經(jīng)由共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN檢測(cè)從從站5發(fā)送的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)。從從站5發(fā)送的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)值由傳送時(shí)鐘信號(hào)的前半周期(低電位電平期間)的電壓電平表示，在發(fā)送開(kāi)始信號(hào)后，從各個(gè)從站5依次接收。檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)(檢測(cè)數(shù)據(jù))與定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件33的信號(hào)同步地被檢測(cè)數(shù)據(jù)提取構(gòu)件37提取，并作為串行輸入數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送到輸入數(shù)據(jù)部26。輸入數(shù)據(jù)部26將從主站輸入部25接收的串行輸入數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)，并作為監(jiān)視數(shù)據(jù)14發(fā)送到控制部I的輸入單元12。如圖6所示，傳感器部4具備:具有發(fā)出檢測(cè)用光線的兩個(gè)投光部41a、41b的產(chǎn)生構(gòu)件41 ;具有接收檢測(cè)用光線的受光部42a的檢測(cè)構(gòu)件42 ;和檢測(cè)用光線的反射構(gòu)件43。反射構(gòu)件43夾著判斷檢測(cè)對(duì)象物6的有無(wú)的對(duì)象區(qū)域而與產(chǎn)生構(gòu)件41及檢測(cè)構(gòu)件42相對(duì)配置，構(gòu)成回歸反射性傳感器。此外，在本實(shí)施例中，傳送裝置7上的預(yù)定傳送距離范圍成為對(duì)象區(qū)域3。產(chǎn)生構(gòu)件41及檢測(cè)構(gòu)件42與從站5連接，如圖4所示，從站5具備微機(jī)控制單元(MCU) 51、地址設(shè)定構(gòu)件52及A/D轉(zhuǎn)換器53。如圖4、圖5所示，MCU51具備CPU、RAM和R0M，在ROM中存儲(chǔ)檢測(cè)處理所需的程序(PRG)。并且，在RAM中存儲(chǔ)檢測(cè)數(shù)據(jù)、參數(shù)和地址數(shù)據(jù)，利用CPU的運(yùn)算功能，進(jìn)行用于獲得檢測(cè)所需的信息的處理。產(chǎn)生構(gòu)件41的投光部41a、41b與該MCU51的輸出端子La、Lb連接，進(jìn)行投光定時(shí)(投光時(shí)機(jī))的控制。另一方面，檢測(cè)構(gòu)件42的受光部42a的檢測(cè)電平值經(jīng)由A/D轉(zhuǎn)換器53從輸入端子ADAT輸入到MCU51。對(duì)MCU51，還從輸入端子ADRS輸入由地址設(shè)定構(gòu)件52設(shè)定的地址信息，從輸入端子CK輸入將共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN間的電位差用分壓電阻Rl、R2分壓得到的分壓信號(hào)。進(jìn)一步，從輸出端子OUT輸出用于向共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN發(fā)送檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的out信號(hào)，從輸出端子EN輸出A/D轉(zhuǎn)換器53的使能信號(hào)en。該MCU51中的處理的內(nèi)容將在后面敘述。接下來(lái)，說(shuō)明傳感器部4的檢測(cè)原理。如圖6(a)所示，投光部41a、41b各自發(fā)射的檢測(cè)用光線到達(dá)檢測(cè)對(duì)象物6的不同部位并在該處被反射。經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物6反射的反射光在相對(duì)于反射面(檢測(cè)對(duì)象物6的表面)的角度(反射角)與入射角相等的情況下(圖6(a)中的反射光D)最強(qiáng)，并隨著反射角的增大而減弱。具體地說(shuō)，在圖6(a)的情況下，從投光部41b到達(dá)受光部42a的反射光在反射角Al為O的情況下最強(qiáng)，隨著反射角Al的增大而減弱，從投光部41a到達(dá)受光部42a的反射光在反射角A2與入射角AO相等的情況下最強(qiáng)，隨著反射角A2的增大而減弱。另一方面，檢測(cè)用光線被反射的地點(diǎn)(記作反射點(diǎn))離受光部42a越遠(yuǎn)，從該反射點(diǎn)到達(dá)受光部42a的反射光的反射角越大、反射光越弱。具體地說(shuō)，在圖6 (a)的情況下，從投光部41b到達(dá)受光部42a的反射光的反射角Al大于從投光部41a到達(dá)受光部42a的反射光的反射角A2，從投光部41a到達(dá)受光部42a的檢測(cè)用光線強(qiáng)于從投光部41b發(fā)射的檢測(cè)用光線。因此，由投光部41a、41b發(fā)射并經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物6的表面反射而到達(dá)受光部42a的檢測(cè)用光線的檢測(cè)電平，根據(jù)從投光部41a發(fā)射還是從投光部41b發(fā)射而不同。另外，在無(wú)檢測(cè)對(duì)象物6的情況下，如圖6(b)所示，投光部41a、41b各自發(fā)射的檢測(cè)用光線到達(dá)反射構(gòu)件43并在該處被反射。這時(shí)，與投光構(gòu)件41保持足夠的距離來(lái)配置反射構(gòu)件43，以使投光部41a與投光部41b的光軸所成角度的差成為可以忽略的程度，由此，從投光部41a、41b發(fā)射并經(jīng)反射構(gòu)件43反射而到達(dá)受光部42a的檢測(cè)用光線的檢測(cè)電平，在從投光部41a發(fā)射時(shí)和從投光部41b發(fā)射時(shí)變得沒(méi)有差異。參照?qǐng)D7說(shuō)明這種現(xiàn)象。圖7是表示檢測(cè)電平和投光部41a、41b到檢測(cè)用光線的反射點(diǎn)的距離之間的關(guān)系的圖表。作為輸入到從站5的MCU51中的輸入值，接收來(lái)自投光部41a的檢測(cè)用光線并從輸入端子ADAT輸入的檢測(cè)電平值(第一檢測(cè)電平值)Pana、接收來(lái)自投光部41b的檢測(cè)用光線并從輸入端子ADAT輸入的檢測(cè)電平值(第二檢測(cè)電平值)Panb、其和(Pana+Panb)及其差(Pana-Panb)，相對(duì)于投光部41a、41b到檢測(cè)用光線的反射點(diǎn)的距離，如圖7所示變化。但是，在圖7中，為使檢測(cè)原理易于理解，強(qiáng)調(diào)了檢測(cè)電平值的變化，值本身與距離間的關(guān)系并不正確。另一方面，從投光部41a、41b發(fā)射并經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物6的表面反射而到達(dá)受光部42a的檢測(cè)用光線的檢測(cè)電平，無(wú)論是從投光部41a發(fā)射的還是從投光部41b發(fā)射的，都按照檢測(cè)對(duì)象物6的性質(zhì)狀態(tài)而階段性變化。具體地說(shuō)，檢測(cè)對(duì)象物6為鏡面反射體的情況下檢測(cè)電平較大，為幾乎不反射檢測(cè)用光線的非反射體的情況下檢測(cè)電平極小，為允許檢測(cè)用光線透過(guò)的透明體的情況下檢測(cè)電平在上述檢測(cè)電平之間。進(jìn)一步，無(wú)檢測(cè)對(duì)象物6的情況下檢測(cè)用光線經(jīng)反射構(gòu)件43反射到達(dá)受光部42a，其檢測(cè)電平(不存在時(shí)檢測(cè)電平)大于檢測(cè)對(duì)象物6為透明體的情況。因此，首先，在大于不存在時(shí)檢測(cè)電平的一側(cè)設(shè)置小于鏡面反射體的檢測(cè)電平的第一閾值SI，在小于不存在時(shí)檢測(cè)電平的一側(cè)設(shè)置大于透明體的檢測(cè)電平的第二閾值S2，通過(guò)比較這些閾值與檢測(cè)電平，能夠判斷檢測(cè)對(duì)象物的有無(wú)。將第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值的和(Pana+Panb)作為判斷電平值，在圖1中表示其經(jīng)時(shí)變化。在圖1中，時(shí)刻tl為檢測(cè)對(duì)象物6進(jìn)入對(duì)象區(qū)域3的時(shí)刻，時(shí)刻t2為檢測(cè)對(duì)象物6從對(duì)象區(qū)域3出去的時(shí)刻。因此，判斷電平值(Pana+Panb)在時(shí)刻tl和時(shí)刻t2之間按照檢測(cè)對(duì)象物6的性質(zhì)狀態(tài)而變化。由于實(shí)線的判斷電平值Pl大于第一閾值SI，可知在對(duì)象區(qū)域3中有作為檢測(cè)對(duì)象物6的鏡面反射體。另外，由于假想線的判斷電平值P2、P3都小于第二閾值，可知在對(duì)象區(qū)域3中有作為檢測(cè)對(duì)象物6的透明體或者非反射體。然而，檢測(cè)對(duì)象物6為進(jìn)行檢測(cè)電平值小于鏡面反射體、大于透明體的反射的反射體的情況下，判斷電平值在第一閾值SI和第二閾值S2之間，無(wú)法判斷其有無(wú)。因此，在此情況下，根據(jù)第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值的差進(jìn)行判斷。如上所述，在對(duì)象區(qū)域3中有檢測(cè)對(duì)象物6的情況下，第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值不同，因此當(dāng)其差比考慮了誤差的預(yù)定基準(zhǔn)值大的情況下，判斷為第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值不同，能夠判斷有檢測(cè)對(duì)象物6。此外，第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值按照檢測(cè)對(duì)象物6的性質(zhì)狀態(tài)而階段性變化的傾向均相同，因此與第一閾值及第二閾值比較的判斷電平值可以僅是第一檢測(cè)電平值或第二檢測(cè)電平值的任一個(gè)。接下來(lái)，參照流程圖說(shuō)明在該物體檢測(cè)系統(tǒng)的主站2及從站5中執(zhí)行的處理內(nèi)容。如圖8所示，在主站2中電源接通、開(kāi)始運(yùn)行程序(SI)，初始化處理(S2)完畢后，判斷參數(shù)是否變更(S3)。該參數(shù)將如后面所述，是對(duì)上述第一閾值、第二閾值以及基準(zhǔn)值(與第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值的差比較的值)的多個(gè)組附加的識(shí)別序號(hào)。在該物體檢測(cè)系統(tǒng)中，通過(guò)適當(dāng)改變這些參數(shù)，能夠適應(yīng)傳送裝置7上的傳送物的變化、檢測(cè)對(duì)象物6的性質(zhì)狀態(tài)變化的情況。在參數(shù)有變更的情況下，將傳送時(shí)鐘信號(hào)的開(kāi)始信號(hào)設(shè)為長(zhǎng)信號(hào)(S4)，在從站5中，能夠識(shí)別是參數(shù)值的傳送。此外，如后面所述，短開(kāi)始信號(hào)在從站5中被識(shí)別為是檢測(cè)數(shù)據(jù)的傳送。發(fā)送長(zhǎng)開(kāi)始信號(hào)后，接下來(lái)步進(jìn)傳送時(shí)鐘信號(hào)的地址(S5)，通過(guò)調(diào)制了與該地址對(duì)應(yīng)的傳送時(shí)鐘信號(hào)的脈沖寬度的信號(hào)(參考圖9)向各通道(Channel)CH發(fā)送參數(shù)數(shù)據(jù)
(S6)。此外，通道CH成為對(duì)各個(gè)傳感器部4分配的識(shí)別序號(hào)。發(fā)送完參數(shù)數(shù)據(jù)后，接下來(lái)發(fā)送短開(kāi)始信號(hào)(S7)，開(kāi)始接收檢測(cè)數(shù)據(jù)。此外，在參數(shù)無(wú)變更的情況下，即，在上述步驟S3中判斷為否的情況下，從步驟S3前進(jìn)到步驟S7。如上所述，根據(jù)短開(kāi)始信號(hào)而識(shí)別為傳送時(shí)鐘信號(hào)是在傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)的從站5，在傳送時(shí)鐘信號(hào)中調(diào)制與本站對(duì)應(yīng)的地址的脈沖中的前半周期的電壓電平，將檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)重疊到傳送時(shí)鐘信號(hào)(圖10的虛線)。因此，在主站2中發(fā)送傳送時(shí)鐘信號(hào)的短開(kāi)始信號(hào)后，接下來(lái)步進(jìn)傳送時(shí)鐘信號(hào)的地址(S8)，接收在與該地址對(duì)應(yīng)的傳送時(shí)鐘信號(hào)的脈沖上重疊的檢測(cè)數(shù)據(jù)(S9)。然后，返回步驟SI而重復(fù)進(jìn)行上述一系列的處理。在從站5中，進(jìn)行以下處理:主要進(jìn)行數(shù)據(jù)的輸入輸出的處理(輸入輸出處理)；用于獲得檢測(cè)對(duì)象物6的檢測(cè)所需的信息的處理(檢測(cè)處理)；及根據(jù)由檢測(cè)處理獲得的信息來(lái)判斷檢測(cè)對(duì)象物6的有無(wú)的處理(判斷處理)。圖11的流程圖表示數(shù)據(jù)的輸入輸出處理，圖12的流程圖表示檢測(cè)處理，圖13的流程圖表示判斷處理。作為在從站5中的最初的處理，進(jìn)行圖11所示的輸入輸出處理。在該處理中，首先，使電源接通而開(kāi)始運(yùn)行程序(S21)，在初始化處理(S22)完畢后，判斷傳送時(shí)鐘信號(hào)的開(kāi)始信號(hào)是否是長(zhǎng)開(kāi)始信號(hào)(S23)。在是長(zhǎng)開(kāi)始信號(hào)的情況下，讀取在地址設(shè)定構(gòu)件52中設(shè)定的本站地址(S24)。然后，通過(guò)對(duì)傳送時(shí)鐘信號(hào)的周期進(jìn)行計(jì)數(shù)而獲得傳送時(shí)鐘信號(hào)的地址，將該地址與本站地址進(jìn)行比較(S25)。若是本站地址，則作為參數(shù)數(shù)據(jù)接收此時(shí)的數(shù)據(jù)(S26)。對(duì)各參數(shù)數(shù)據(jù)預(yù)先定義用于判斷的常數(shù)、即Kun (第一閾值)、Kdn (第二閾值)、Kcn (基準(zhǔn)值)，在各從站5中存儲(chǔ)為圖14所示的表格。然后，接收了參數(shù)數(shù)據(jù)的從站5將與該參數(shù)對(duì)應(yīng)的常數(shù)(Kun、Kdn、Kcn)存儲(chǔ)到MCU51的RAM中(S27)。此外，該實(shí)施例的參數(shù)數(shù)據(jù)以2比特的表現(xiàn)方式而成為4種類型，但該數(shù)目不受限制，可以適當(dāng)改變。另一方面，在不是本站地址的情況下，對(duì)周期進(jìn)行計(jì)數(shù)并步進(jìn)地址直至成為本站的地址(S28)。存儲(chǔ)Kun、Kdn、Kcn后，返回到步驟S23，再次重復(fù)判斷是否為長(zhǎng)開(kāi)始信號(hào)。在不是長(zhǎng)開(kāi)始信號(hào)的情況下，繼續(xù)判斷是否是短開(kāi)始信號(hào)(S29)。在不是短開(kāi)始信號(hào)的情況下，重復(fù)同樣的判斷直至成為短開(kāi)始信號(hào)，在是短開(kāi)始信號(hào)的情況下，讀取在地址設(shè)定構(gòu)件52中設(shè)定的本站地址(S30)。接下來(lái)，通過(guò)對(duì)傳送時(shí)鐘信號(hào)的周期進(jìn)行計(jì)數(shù)而獲得傳送時(shí)鐘信號(hào)的地址，將該地址與本站地址進(jìn)行比較(S31)。若是本站的地址，則將與此時(shí)存儲(chǔ)在MCU51的RAM中的檢測(cè)數(shù)據(jù)相應(yīng)的信號(hào)從輸出端子OUT輸出到晶體管TR的基極。具體地說(shuō)，檢測(cè)數(shù)據(jù)若為on (表示有檢測(cè)對(duì)象物6)，則晶體管TR變?yōu)镺N (導(dǎo)通)，有電流流過(guò)，從而電壓降低，電壓電平變?yōu)?V，將該信號(hào)傳送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN上。S卩，如圖10所示，將傳送時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)周期中的低電壓期間的電壓以如虛線所示降低的形式作為檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN上(S33)。另一方面，在不是本站的地址的情況下，對(duì)周期進(jìn)行計(jì)數(shù)并步進(jìn)地址直至成為本站的地址(S32)。發(fā)送檢測(cè)數(shù)據(jù)后，接下來(lái)，進(jìn)行檢測(cè)處理。在該處理中，首先，使投光部41a亮燈，在投光部41a亮燈時(shí)，使MCU51的輸出端子La變?yōu)椤皁n”(S41)。此外，從站5中的處理在全部傳感器部4即全部通道(CH)中通用，因此在圖12及圖13中用η表示CH序號(hào)。因此，步驟S41的Lan意味著CHn中的輸出端子La。步驟S41中輸出端子La成為“on”的定時(shí)，可以從上述傳送時(shí)鐘信號(hào)獲得。S卩，與各通道的傳感器部4對(duì)應(yīng)的從站5，當(dāng)在傳送時(shí)鐘信號(hào)中分配到本站的地址到來(lái)時(shí)，從該地址的脈沖信號(hào)獲得本站中的投光部41a、41b的投光定時(shí)。例如，在圖15所示的示例中，由于與短時(shí)鐘信號(hào)接續(xù)的最初的一個(gè)周期和下一個(gè)周期被分配到CH1，最初的周期的開(kāi)始(短開(kāi)始信號(hào)的下降沿)成為CHl的投光部41a的投光定時(shí)(Lal變?yōu)椤皁n”定時(shí))、下一個(gè)周期的開(kāi)始為CHl的投光部41b的投光定時(shí)(Lbl變?yōu)椤皁n”的定時(shí))。CH2的投光部41a的投光定時(shí)(La2變?yōu)椤皁n”定時(shí))以及CH2的投光部41b的投光定時(shí)(Lb2變?yōu)椤皁n”的定時(shí))也同樣。如此，通過(guò)傳送時(shí)鐘信號(hào)的各脈沖獲得投光定時(shí)，從而能夠使投光部41a和投光部41b不相互干涉地工作。從傳感器部4來(lái)看也是同樣，可以使各傳感器部4之間不相互干涉地工作。若投光部41a點(diǎn)亮并發(fā)射檢測(cè)用光線，則從接收該檢測(cè)用光線的受光部42a輸出檢測(cè)電平信號(hào)，并開(kāi)始該信號(hào)的AD轉(zhuǎn)換(S42)。此外，步驟S42的Pana意味著接收到來(lái)自CHn的投光部41a的檢測(cè)用光線的受光部42的檢測(cè)電平信號(hào)的數(shù)據(jù)，相當(dāng)于本發(fā)明的第一檢測(cè)電平值。投光部41a亮燈后，若經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間，則使MCU51的輸出端子EN變?yōu)椤皁n” (S43)，輸出上述使能信號(hào)en，進(jìn)行自輸入端子ADAT的數(shù)據(jù)讀取(S44)。然后，將該讀取數(shù)據(jù)作為第一檢測(cè)電平值(Pana)存儲(chǔ)到RAM (S45)。存儲(chǔ)第一檢測(cè)電平值后，將輸出端子Lan變?yōu)椤皁ff ” (S46)，投光部41a熄燈，將輸出端子EN變?yōu)椤皁ff” (S47)。然后，使本站地址加I (S48)。此外，通過(guò)步驟S48的加法，在對(duì)上述地址進(jìn)行計(jì)數(shù)的方式中，進(jìn)行下個(gè)周期的脈沖也與本站對(duì)應(yīng)的判斷。但是，該判斷不是該檢測(cè)處理中的本質(zhì)，因此省略說(shuō)明。利用投光部41a的檢測(cè)處理(步驟S41至步驟S48)完畢后，接下來(lái)，進(jìn)行利用投光部41b的檢測(cè)處理。該處理也與利用投光部41a的檢測(cè)處理同樣，首先，使MCU51的輸出端子Lb變?yōu)椤皁n” (S51)，使投光部41b亮燈。在投光部41b亮燈后，從接收到該檢測(cè)用光線的受光部42a輸出檢測(cè)電平信號(hào),開(kāi)始該信號(hào)的AD轉(zhuǎn)換(S52)。投光部41b亮燈后,若經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間，則將MCU51的輸出端子EN變?yōu)椤皁n”(S53)，輸出使能信號(hào)en，進(jìn)行自輸入端子ADAT的數(shù)據(jù)讀取(S54)。然后，將該讀取數(shù)據(jù)作為第二檢測(cè)電平值(Panb)存儲(chǔ)到RAM(S55)。存儲(chǔ)第二檢測(cè)電平值后，將輸出端子Lbn變?yōu)椤皁ff ”(S56)，投光部41b熄燈，將輸出端子EN變?yōu)椤皁ff”(S57)，檢測(cè)處理結(jié)束。此外，在上述檢測(cè)處理中，第一檢測(cè)電平值和第二檢測(cè)電平值，通過(guò)適當(dāng)切換輸出端子EN的“on”和“off”，不會(huì)混淆兩個(gè)投光部41a和41b分別發(fā)射的檢測(cè)用光線，得到區(qū)分開(kāi)的檢測(cè)電平值，如此得到的檢測(cè)電平值是本發(fā)明的分時(shí)檢測(cè)電平。檢測(cè)處理結(jié)束后，接下來(lái)，利用得到的第一檢測(cè)電平值(Pana)和第二檢測(cè)電平值(Panb)，進(jìn)行圖13所示的判斷處理。在該處理中，首先，將Pana和Panb的和作為判斷電平值而與第一閾值(Kun)比較(S61)。若大于Kun則判斷有檢測(cè)對(duì)象物6，檢測(cè)數(shù)據(jù)變?yōu)椤皁n”(S65)，判斷處理結(jié)束。若小于Kun，則接著與第二閾值(Kdn)比較(S62)。然后，若小于Kdn則判斷有檢測(cè)對(duì)象物6，檢測(cè)數(shù)據(jù)變?yōu)椤皁n”(S65)，判斷處理結(jié)束。若大于Kdn，則接下來(lái)將Pana和Panb的差與基準(zhǔn)值(kcn)比較(S63)。然后，若大于Kcn則判斷有檢測(cè)對(duì)象物6，檢測(cè)數(shù)據(jù)變?yōu)椤皁n” (S65)，判斷處理結(jié)束。若小于Kcn則判斷無(wú)檢測(cè)對(duì)象物6，檢測(cè)數(shù)據(jù)變?yōu)椤皁ff”(S64)，判斷處理結(jié)束。判斷處理結(jié)束后，返回輸入輸出處理的步驟S23，重復(fù)進(jìn)行同樣的處理。此外，將在判斷處理的步驟S64或者步驟S65中確定的檢測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)輸入輸出處理的步驟S33發(fā)送到共用數(shù)據(jù)信號(hào)線DP、DN。在本實(shí)施例中，投光構(gòu)件41具備兩個(gè)投光部41a、41b，受光構(gòu)件42具備單一的受光部42a，但是即使是具備單一的投光部和兩個(gè)受光部，也能夠進(jìn)行同樣的檢測(cè)。在圖16中示意地表示該情況下的檢測(cè)原理。此外，在圖16中，對(duì)與圖6所示的檢測(cè)原理本質(zhì)相同的部分標(biāo)以相同的符號(hào)。如圖16(a)所示，投光部41a發(fā)射的檢測(cè)用光線到達(dá)檢測(cè)對(duì)象物6并在該處被反射，這時(shí)的反射光在相對(duì)于反射面(檢測(cè)對(duì)象物6的表面)所成的角度(反射角)與入射角相等的情況下(圖16(a)中的反射光D)最強(qiáng)，并隨著反射角的增大而減弱。另一方面，受光部42a或42b離檢測(cè)用光線被反射的地點(diǎn)(記作反射點(diǎn))越遠(yuǎn)，到達(dá)它們的反射光反射角越大、反射光越弱。在圖6(a)的情況下，從投光部41a到達(dá)受光部42a的反射光Da的反射角Al小于從投光部41a到達(dá)受光部42b的反射光Db的反射角A2，從投光部41a到達(dá)受光部42a的檢測(cè)用光線強(qiáng)于到達(dá)受光部42b的檢測(cè)用光線。因此，由投光部41a發(fā)射并經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物6的表面反射而到達(dá)受光部42a的檢測(cè)用光線的檢測(cè)電平和到達(dá)受光部42b的檢測(cè)用光線的檢測(cè)電平不同，能夠與圖廣圖15所示的實(shí)施例同樣地檢測(cè)。此外，該實(shí)施例中，由于在各個(gè)受光部42a、42b中進(jìn)行不同的檢測(cè)，因此，不需要如圖6所示的傳感器部4那樣將檢測(cè)電平分時(shí)。另外，由于投光構(gòu)件41為單一的投光部41a，投光定時(shí)也是單一的。因此，分配到各通道的傳送時(shí)鐘信號(hào)中的脈沖僅為一個(gè)周期即可。符號(hào)說(shuō)明I控制部2 主站3對(duì)象區(qū)域4傳感器部5 從站6檢測(cè)對(duì)象物7傳送裝置11輸出單元12輸入單元13控制數(shù)據(jù)14監(jiān)視數(shù)據(jù)22輸出數(shù)據(jù)部23定時(shí)產(chǎn)生部24主站輸出部25主站輸入部26輸入數(shù)據(jù)部32定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件33主站地址設(shè)定構(gòu)件34控制數(shù)據(jù)產(chǎn)生構(gòu)件35線路驅(qū)動(dòng)器36檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)檢測(cè)構(gòu)件37檢測(cè)數(shù)據(jù)提取構(gòu)件41 產(chǎn)生構(gòu)件41a,41b 投光部42檢測(cè)構(gòu)件42a,42b 受光部43反射構(gòu)件51 MCU52地址設(shè)定構(gòu)件53A/D 轉(zhuǎn)換器DP, DN共用數(shù)據(jù)信號(hào)線R1、R2 電阻TR晶體管
權(quán)利要求
1.一種物體檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 具備電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的產(chǎn)生構(gòu)件、第一檢測(cè)構(gòu)件和第二檢測(cè)構(gòu)件，使上述第一檢測(cè)構(gòu)件和上述第二檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)軸所成的角對(duì)經(jīng)檢測(cè)對(duì)象物反射的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)有意義，并且使其大小對(duì)經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)離用于判斷有無(wú)上述檢測(cè)對(duì)象物的對(duì)象區(qū)域的區(qū)域而到達(dá)上述第一檢測(cè)構(gòu)件或上述第二檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)無(wú)影響， 將上述第一檢測(cè)構(gòu)件的第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)構(gòu)件的第二檢測(cè)電平值的和、或者上述第一檢測(cè)電平值及上述第二檢測(cè)電平值中的任意一個(gè)作為判斷電平值，在上述判斷電平值大于第一閾值時(shí)、或者小于上述第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物， 在上述判斷電平值大于上述第二閾值且不足上述第一閾值、上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的差大于預(yù)定的基準(zhǔn)值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。
2.一種物體檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 具備第一產(chǎn)生構(gòu)件、第二產(chǎn)生構(gòu)件和由上述第一產(chǎn)生構(gòu)件及第二產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)構(gòu)件， 將從上述第一產(chǎn)生構(gòu)件經(jīng)過(guò)用于判斷有無(wú)檢測(cè)對(duì)象物的對(duì)象區(qū)域而到達(dá)上述檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的 檢測(cè)電平作為第一檢測(cè)電平值，將從上述第二產(chǎn)生構(gòu)件經(jīng)過(guò)上述對(duì)象區(qū)域而到達(dá)上述檢測(cè)構(gòu)件的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)電平作為第二檢測(cè)電平值， 將上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的和、或者上述第一檢測(cè)電平值及上述第二檢測(cè)電平值中的任意一個(gè)作為判斷電平值，在上述判斷電平值大于第一閾值時(shí)、或者小于上述第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物， 在上述判斷電平值大于上述第二閾值且不足上述第一閾值、上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的差大于預(yù)定的基準(zhǔn)值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的物體檢測(cè)系統(tǒng)，其中，將接收由上述第一產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波而生成的分時(shí)檢測(cè)電平作為第一檢測(cè)電平值，將接收由上述第二產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的上述電磁波、磁場(chǎng)或者聲波而生成的另一個(gè)分時(shí)檢測(cè)電平作為第二檢測(cè)電平值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物體檢測(cè)系統(tǒng)，其中， 排列設(shè)置多個(gè)上述產(chǎn)生構(gòu)件、上述第一檢測(cè)構(gòu)件和上述第二檢測(cè)構(gòu)件的組，各個(gè)上述組經(jīng)由從站與共用數(shù)據(jù)信號(hào)線連接， 在上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線上連接著與控制部連接的主站， 上述主站具有用于產(chǎn)生與預(yù)定周期的傳送時(shí)鐘同步的預(yù)定定時(shí)信號(hào)的定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，對(duì)應(yīng)于來(lái)自上述控制部的控制數(shù)據(jù)的值，將一系列脈沖狀信號(hào)作為控制數(shù)據(jù)信號(hào)輸出到上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線，并且，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，提取經(jīng)由上述從站重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)值，并將其移交到上述控制部， 各個(gè)上述從站，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，提取上述控制數(shù)據(jù)信號(hào)的各數(shù)據(jù)的值，將上述各數(shù)據(jù)的值中與本站對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)移交到對(duì)應(yīng)的上述產(chǎn)生構(gòu)件，以及，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，將與對(duì)應(yīng)的上述第一檢測(cè)構(gòu)件及上述第二檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)數(shù)據(jù)的值對(duì)應(yīng)的上述檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的物體檢測(cè)系統(tǒng)，其中， 排列設(shè)置多個(gè)上述第一產(chǎn)生構(gòu)件、上述第二產(chǎn)生構(gòu)件和上述接收構(gòu)件的組，各個(gè)上述組經(jīng)由從站與共用數(shù)據(jù)信號(hào)線連接， 在上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線上連接著與控制部連接的主站， 上述主站具有用于產(chǎn)生與預(yù)定周期的傳送時(shí)鐘同步的預(yù)定定時(shí)信號(hào)的定時(shí)產(chǎn)生構(gòu)件，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，對(duì)應(yīng)于來(lái)自上述控制部的控制數(shù)據(jù)的值，將一系列脈沖狀信號(hào)作為控制數(shù)據(jù)信號(hào)輸出到上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線，并且，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，提取經(jīng)由上述從站重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)值，并將其移交到上述控制部， 各個(gè)上述從站，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，提取上述控制數(shù)據(jù)信號(hào)的各數(shù)據(jù)的值，將上述各數(shù)據(jù)的值中與本站對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)移交到對(duì)應(yīng)的上述第一產(chǎn)生構(gòu)件或上述第二產(chǎn)生構(gòu)件，以及，在上述定時(shí)信號(hào)的控制下，按照上述傳送時(shí)鐘的每個(gè)周期，將與對(duì)應(yīng)的上述檢測(cè)構(gòu)件的檢測(cè)數(shù)據(jù)的值對(duì)應(yīng)的上述檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)重疊到上述一系列脈沖狀信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的物體檢測(cè)系統(tǒng)，其中，經(jīng)由上述共用數(shù)據(jù)信號(hào)線傳送上述第一閾值、上述第二 閾值和上述基準(zhǔn)值。
全文摘要
[課題]提供一種物體檢測(cè)系統(tǒng)，在構(gòu)成簡(jiǎn)單、設(shè)定及調(diào)節(jié)也容易的同時(shí)，能夠檢測(cè)包含鏡面反射體和透明體的各種檢測(cè)對(duì)象物。[解決手段]將通過(guò)電磁波、磁場(chǎng)或者聲波的檢測(cè)構(gòu)件得到的第一檢測(cè)電平值與第二檢測(cè)電平值的和、或者上述第一檢測(cè)電平值及上述第二檢測(cè)電平值中的任意一個(gè)作為判斷電平值，在上述判斷電平值大于第一閾值時(shí)、或者小于上述第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷為有檢測(cè)對(duì)象物。此外，在上述判斷電平值大于上述第二閾值且不足上述第一閾值、上述第一檢測(cè)電平值與上述第二檢測(cè)電平值的差大于預(yù)定的基準(zhǔn)值時(shí)，判斷為有上述檢測(cè)對(duì)象物。
文檔編號(hào)G01V11/00GK103109206SQ20118003269
公開(kāi)日2013年5月15日 申請(qǐng)日期2011年2月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月3日
發(fā)明者齋藤善胤, 錦戶憲治 申請(qǐng)人:株式會(huì)社愛(ài)霓威亞