專利名稱：一種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
[0001]本實用新型涉及ー種監(jiān)測系統(tǒng)，尤其是ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
氣體重金屬監(jiān)測系統(tǒng)是ー種對環(huán)境空氣中或者煙氣排放中的顆粒物中的重金屬污染物進行連續(xù)監(jiān)測的系統(tǒng)。氣體重金屬監(jiān)測系統(tǒng)一般包括采樣單元、濾膜、濾膜移動單元、檢測分析単元和控制電路。采樣單元以一定流量將空氣或者煙氣采集到流路中，經(jīng)過采樣區(qū)域內(nèi)處于采樣狀態(tài)的帶狀采樣濾膜時，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；采樣一段時間以后，控制電路控制濾膜移動單元，將濾膜上富集有顆粒物的部分移動到檢測區(qū)域(即檢測分析単元能夠檢測到的區(qū)域)內(nèi)，并被檢測分析単元如X射線熒光(XRF)分析単元檢測分析，得出相應(yīng)的金屬含量，進ー步得到相應(yīng)采樣體積下氣體中的金屬濃度，然后再將下一周期對應(yīng)的空白濾膜移動到采樣區(qū)域的采樣點處于待采樣狀態(tài)，以準(zhǔn)備進行的下一周期的采樣及檢測。上述的氣體重金屬監(jiān)測系統(tǒng)可用于監(jiān)測環(huán)境空氣中的重金屬污染物質(zhì)。但存在以下問題I、檢測滯后環(huán)境空氣中重金屬含量較低，每ー個監(jiān)測周期的采樣時間較長，對濾膜上富集的重金屬污染物質(zhì)的檢測只能在采樣過后才能進行，使得檢測滯后；2、浪費時間在整個監(jiān)測過程中，需要移動濾膜以實現(xiàn)采樣和檢測之間的切換，這就使得整個監(jiān)測周期須有一定的時間用于移動濾膜，浪費了時間。3、不能反應(yīng)氣體中元素的變化狀況在一個監(jiān)測周期中待全部采樣時間過后才對富集的顆粒物進行檢測，得到的檢測結(jié)果是一個監(jiān)測周期中采樣時間段內(nèi)環(huán)境空氣中重金屬元素的平均含量，無法捕捉采樣時間段內(nèi)重金屬污染物的變化規(guī)律，不能反應(yīng)氣體中元素的變化狀況。

實用新型內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述不足，本實用新型提供了ー種能夠?qū)崟r監(jiān)測氣體中元素含量的氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用如下技術(shù)方案本實用新型提供了ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，包括采樣單元、檢測分析単元和控制電路，所述采樣単元包括采樣管路，所述檢測分析単元包括X射線源和探測器，其特點是:所述采樣管路包括上管路和下管路；所述X射線源和探測器分別位于上管路和/或下管路的側(cè)面；[0017]被采集到采樣管路中仍處于流路中的氣體中的顆粒物被X射線源發(fā)出的X射線激發(fā)，所產(chǎn)生的X射線熒光被探測器接收。進ー步，所述監(jiān)測系統(tǒng)還包括濾膜和濾膜移動單元，所述上管路位于濾膜的上方，下管路位于濾膜的下方。進ー步，所述上管路和/或下管路可被X射線穿過。作為優(yōu)選，所述上管路和/或下管路為聚四氟こ烯管或硅膠管或氟塑料管或PU聚
氨酯管。進ー步，所述上管路和/或下管路為活動部件，在控制電路的控制下移動。進一歩，所述監(jiān)測系統(tǒng)還包括時序控制模塊，所述時序控制模塊控制監(jiān)測系統(tǒng)按照以下時序工作采樣，氣體被采樣單元采集到流路中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；移開上管路和/或下管路，所述控制電路控制上管路和/或下管路從采樣點移開，使采樣管路從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換至檢測狀態(tài)；檢測，檢測分析單元檢測富集在濾膜上的顆粒物；上管路和/或下管路復(fù)位，控制電路控制上管路和/或下管路移至采樣點，使采樣管路從檢測狀態(tài)恢復(fù)至采樣狀態(tài)。進ー步，所述控制電路識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)，井根據(jù)識別結(jié)果控制濾膜移動單元移動濾膜。作為優(yōu)選，所述控制電路根據(jù)采樣単元的抽氣流量或檢測分析単元的檢測結(jié)果識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)。進ー步，所述濾膜為帶狀或片狀。本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下有益效果I、實現(xiàn)了實時監(jiān)測本實用新型對富集在濾膜上仍處于采樣區(qū)域的顆粒物進行檢測，實現(xiàn)了在采樣的同時對顆粒物的及時檢測，實現(xiàn)了對重金屬污染物的實時連續(xù)監(jiān)測，克服了采樣富集帶來的時間消耗及檢測滯后現(xiàn)象，能夠更細致更及時的觀察重金屬污染物含量隨時間的變化規(guī)律。2、節(jié)省了濾膜和檢測時間對不采用濾膜的檢測方式，節(jié)省了濾膜和檢測時間；對于采用濾膜的檢測方式，通過檢測濾膜的運行狀態(tài)，使得在濾膜上富集了足夠多顆粒物時再進行濾膜采樣點的切換或濾膜的更換，使得濾膜得到了最大程度的利用，與只能按照設(shè)定的采樣時間來進行濾膜采樣點的切換和濾膜的更換的傳統(tǒng)方法相比，同樣節(jié)省了濾膜；且濾膜移動時間比傳統(tǒng)儀器的移動時間大大減少，減少了傳統(tǒng)富集采樣方式中的在一個監(jiān)測周期內(nèi)毎次采樣及檢測之間切換時移動濾膜所浪費的時間，節(jié)省了時間，確保了監(jiān)測的連續(xù)性。

圖I為實施例I中氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為實施例2中的氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為實施例2中的濾膜的結(jié)構(gòu)示意圖；[0038]圖4為實施例3中的氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為實施例3中的濾膜的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為實施例4中的氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
實施例I請參閱圖1，ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，包括采樣單元、檢測分析単元和控制電路12 ；所述采樣単元包括抽氣泵I、采樣管路100和流量控制器10，所述采樣管路100包括上管路和下管路，所述上管路和下管路可以為同一條管路，也可以為兩條不同的管路，只要能將氣體中的顆粒物采集至流路中即可。所述采樣単元中的抽氣泵I以一定流量將氣體采集到流路中。其中，采樣單元的流量控制器10與控制電路12相連，以便于控制電路12監(jiān)測流量控制器10的工作狀態(tài)。所述檢測分析単元包括X射線源13與探測器14，分別位于上管路和/或下管路的側(cè)面；X射線源13發(fā)出的X射線照射在采樣管路內(nèi)的一定體積104上，被采集到采樣管路100中仍處于流路中的一定體積104內(nèi)的顆粒物被X射線源13發(fā)出的X射線激發(fā)，所產(chǎn)生的X射線熒光被探測器14接收。所述上管路和/或下管路能夠透過X射線及X射線熒光。本實施例中，所述上管路和下管路為同一個管路，所述X射線源13和探測器14分別位于采樣管路100的兩側(cè)，用于在采樣的同時，對流過采樣管路100中的一定體積104內(nèi)的顆粒物進行直接實時檢測，即X射線源13發(fā)出的X射線透過采樣管路100，照射在被采集到采樣管路100中仍處于流路中的一定體積104內(nèi)的顆粒物上，顆粒物被X射線13激發(fā)后所產(chǎn)生的X射線熒光透過采樣管路100后被探測器14接收。這種檢測方式，不需要對氣體中的顆粒物進行富集，不需要濾膜等富集結(jié)構(gòu)，即能實現(xiàn)對氣體中的顆粒物在采樣的同時進行實時在線監(jiān)測，使得裝置結(jié)構(gòu)簡單，適用于氣體中顆粒物尤其是目標(biāo)金屬元素含量較高的場合和/或檢測限更高的儀器。本實施例還提供了ー種氣體中元素的監(jiān)測方法，包括以下步驟A、采用本實施例的監(jiān)測系統(tǒng)；氣體被采樣單元采集到流路中；B、檢測分析單元對仍處于流路中的氣體中的顆粒物進行檢測X射線源13發(fā)出的X射線透過采樣管路100，照射在被采集到采樣管路100中仍處于流路中的氣體中的顆粒物上，顆粒物被X射線激發(fā)后所產(chǎn)生的X射線熒光透過采樣管路100后被探測器14接收。實施例2請參閱圖2，ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，與實施例I所述的監(jiān)測系統(tǒng)不同的是所述監(jiān)測系統(tǒng)還包括濾膜111和濾膜移動單元11，用于富集氣體中的顆粒物；I、采樣單元和檢測分析單元所述采樣単元的采樣管路包括上管路101和下管路102，所述上管路101位于濾膜111的上方，下管路111位于濾膜111的下方。[0059]所述X射線源13與探測器14，分別位于上管路101和/或下管路102的側(cè)面；X射線源13發(fā)出的X射線照射在富集在濾膜上的顆粒物上，顆粒物被激發(fā)后產(chǎn)生的X射線熒光被探測器接收。而X射線源13與探測器14分別位于上管路101和/或下管路102的側(cè)面，則，上管路和/或下管路總有部分會擋光，或阻擋X射線照在富集在濾膜上的顆粒物上，或阻擋顆粒物被激發(fā)后所產(chǎn)生的X射線熒光被探測器接收。為了實現(xiàn)對氣體中元素的實時連續(xù)監(jiān)測，即為了實現(xiàn)使設(shè)置在上管路101和/或下管路102的側(cè)面的X射線源13和探測器14對富集在濾膜上仍處于采樣區(qū)域的顆粒物的檢測，只要能使X射線源13發(fā)出的X射線能夠照射到富集在濾膜111上的顆粒物上，且，顆粒物被激發(fā)后產(chǎn)生的X射線熒光能夠被探測器14接收即可；即使上管路101和/或下管路102在光路中的部分可被X射線和/或X射線熒光穿透，或?qū)⑵湟崎_；則，上管路101和/或下管路102在光路中的部分為透光部分，若透光部分可被X射線熒光穿過時，上管路和/或下管路透光部分為聚四氟こ烯(PTFE)管或硅膠管或氟塑料(FEP)管或PU聚氨酯管等；若將上管路101和/或下管路102在光路中的部分移開，則監(jiān)測系統(tǒng)還包括被控制電路控制的移動相應(yīng)管路的移動部件。本實施例中，X射線源13與探測器14設(shè)置在上管路101的兩側(cè)，則上管路101的下部為透光部分，上管路101的透光部分為聚四氟こ烯(PTFE)管。2、濾膜111、濾膜移動單元11和控制電路12所述濾膜111，用于富集采集到流路中的氣體中的顆粒物。本實施例的濾膜為帯狀濾膜。處于采樣區(qū)域的濾膜111在采樣點富集顆粒物之后會形成與上管路101內(nèi)徑形狀相同的斑110，如圖3所示。當(dāng)需要更換采樣點時，控制電路12控制濾膜移動單元11將濾膜111前移ー個周期即可。 采樣區(qū)域是指，濾膜能夠富集被采樣單元采集到流路中的氣體中的顆粒物時所處的位置，濾膜上富集顆粒物的點為采樣點。所述濾膜移動單元11，用以在控制電路12的控制下移動濾膜111。由于X射線源和探測器設(shè)置在采樣管路中上管路和/或下管路的側(cè)面，對富集在濾膜上的顆粒物進行實時連續(xù)監(jiān)測。所述實時連續(xù)監(jiān)測是指在每個監(jiān)測周期內(nèi)，在不移動采樣點的情況下，對同一采樣點進行實時測量，直至需要更換采樣點，控制電路控制濾膜移動部件移動濾膜，將下一周期對應(yīng)的濾膜移動至采樣區(qū)域進行采樣。若富集在濾膜上的顆粒物過高時，抽氣流量不能穩(wěn)定在預(yù)設(shè)流量值，流量會發(fā)生變化，不穩(wěn)定，同時，本底過高，不利于測量。此時，需要更換濾膜采樣點，則每個濾膜采樣點均經(jīng)過移動至采樣區(qū)域、采樣、采樣過后移開采樣區(qū)域的過程，則，將此過程稱為ー個監(jiān)測周期。為了便于在各監(jiān)測周期之間轉(zhuǎn)換濾膜采樣點，需要判斷濾膜的運行狀態(tài)；進ー步，控制電路還用于識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)，識別濾膜是否需要更換或移動；并根據(jù)識別結(jié)果控制濾膜移動部件移動濾膜。作為優(yōu)選，所述控制電路根據(jù)采樣単元的抽氣流量或檢測單元的檢測結(jié)果識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)。[0074]當(dāng)根據(jù)采樣単元的抽氣流量識別時，若抽氣流量出現(xiàn)明顯下降，控制電路12判斷該采樣點抽氣流量過小，控制X射線源13和探測器14停止檢測，并控制采樣單元的移動部件抬起上管路101，濾膜111被濾膜移動單元11前移一個步長的位置，再控制上管路101復(fù)位下壓到新的采樣點，進行下一周期的監(jiān)測，控制電路控制上管路的抬起及復(fù)位為本領(lǐng)域的現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。當(dāng)根據(jù)檢測単元的檢測結(jié)果識別時，針對待檢測金屬元素的含量設(shè)定ー個限值，若在檢測過程中檢測到的金屬元素的含量達到此限值，就可判斷需要更換濾膜。在每ー個監(jiān)測周期中，會對處于采樣區(qū)域的同一采樣點上的顆粒物的信號進行多次連續(xù)采集，則每次采集后得到的測量結(jié)果都是本監(jiān)測周期內(nèi)該采樣點在本次測量之前所有測量結(jié)果的疊加，因此，將上一次測量結(jié)果扣除，即可得到本次的測量結(jié)果。每次測量的時間間隔可根據(jù)具體環(huán)境情況來確定，如可以5分鐘或10分鐘進行一次。但在ー個監(jiān)測周期內(nèi)，每一次測量的時間很短，若氣體中元素的含量過低，則每個監(jiān)測周期內(nèi)的前幾次測量結(jié)果很可能在儀器的檢出限之下。因此，在每一個監(jiān)測周期的空白時間內(nèi)不進行測量。所述空白時間是指在每個監(jiān)測周期內(nèi)，從監(jiān)測開始到測量能夠達到儀器的檢測限的時間。每個監(jiān)測周期的空白時間可根據(jù)環(huán)境空氣質(zhì)量情況來設(shè)定。上管路101和/或下管路111的透光部分可被X射線較輕易的穿透，但是很可能存在較強的散射，因此可能會對X射線造成一定的削弱，從而導(dǎo)致測量精度下降，因此，作為優(yōu)選，可以選擇大功率X光管。本實施例還提供了ー種氣體中元素的監(jiān)測方法，在每個監(jiān)測周期內(nèi)，步驟如下A、提供本實施例所述的監(jiān)測系統(tǒng)；氣體經(jīng)由采樣管路被采集到流路中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；濾膜移動單元11在控制電路12的控制下控制濾膜111的移動；控制電路12控制濾膜移動單元11移動濾膜使其處在采樣區(qū)域內(nèi)處于采樣狀態(tài)，即能夠富集氣體中的顆粒物的狀態(tài)；采樣單元以一定流量將氣體采集到流路中,氣體中的顆粒物包括目標(biāo)金屬元素被濾膜111富集；B、所述檢測分析單元對富集在濾膜上仍處于采樣區(qū)域的顆粒物進行檢測設(shè)置在上管路101 —側(cè)的X射線源13發(fā)出的X射線透過上管路101的透光部分照射在濾膜上富集的顆粒物上，被激發(fā)的X射線熒光透過上管路101的透光部分被探測器14接收，探測結(jié)果被后續(xù)分析。本實施例測量的是環(huán)境空氣中的重金屬Pb的含量，設(shè)定的空白時間為20min，設(shè)定每個測量周期內(nèi)每次測量的時間間隔為lOmin。在監(jiān)測過程中，所述控制電路12根據(jù)采樣単元的抽氣流量識別濾膜111處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)。若抽氣流量小于預(yù)設(shè)流量值(預(yù)設(shè)流量值為16. 7L/min)的90%時，控制電路12判斷該采樣點抽氣流量過小，控制X射線源13和探測器14停止工作，并控制采樣單元的移動部件抬起上管路101，濾膜被濾膜移動單元11前移一個步長的位置后再控制上管路101下壓到新的采樣點，進行下一周期的采樣及檢測。在每ー個監(jiān)測周期中，會進行多次對顆粒物的信號采集，則每次采集后得到的測量結(jié)果都是該采樣點之前所有測量結(jié)果的疊加，因此，將上一次測量結(jié)果扣除，即可得到本次的測量結(jié)果。實施例3請參閱圖4，ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，與實施例2中所述的監(jiān)測系統(tǒng)不同的是請參閱圖5，本實施例的濾膜為片狀濾膜112，片狀濾膜112上有采樣區(qū)103，處于采樣區(qū)域的濾膜112在采樣點富集顆粒物之后在采樣區(qū)103內(nèi)形成與上管路101內(nèi)徑形狀相同的圓斑210 ;所述片狀濾膜112可以為圓形或多邊形?？刂齐娐?2控制濾膜移動部件21移動濾膜或轉(zhuǎn)動濾膜，實現(xiàn)濾膜上各個采樣區(qū) 之間的切換或濾膜的更換。本實施例中，濾膜移動部件21為圓盤。本實施例還提供了ー種氣體中元素的監(jiān)測方法，每個監(jiān)測周期的步驟與實施例2中所述的監(jiān)測方法不同的是在步驟A中，采用本實施例的監(jiān)測系統(tǒng)。實施例4請參閱圖6，ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，與實施例2中所述的監(jiān)測系統(tǒng)不同的是I、本實施例的X射線源13和探測器14分別設(shè)置在下管路202的兩側(cè)；2、上管路201不透X射線和X射線熒光；下管路202上端的透光部分為可被X射線及X射線熒光透過的材料，為硅膠管。本實施例還提供了ー種氣體中元素的監(jiān)測方法，每個監(jiān)測周期的步驟與實施例I中所述的監(jiān)測方法不同的是I、在步驟A中，采用本實施例的監(jiān)測系統(tǒng)；2、在步驟B中，設(shè)置在下管路202 —側(cè)的X射線源13發(fā)出的X射線透過下管路202的透光部分照射在濾膜上富集的顆粒物上，被激發(fā)的X射線熒光透過下管路202的透光部分被探測器接收，探測結(jié)果被后續(xù)分析；本實施例測量的是環(huán)境空氣中的重金屬Pb的含量，設(shè)定的空白時間為15min，設(shè)定每個測量周期內(nèi)每次測量的時間間隔為5min?？刂齐娐犯鶕?jù)檢測單元的檢測結(jié)果識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)，并據(jù)此控制濾膜移動部件轉(zhuǎn)動濾膜。實施例5ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，與實施例2中所述的監(jiān)測系統(tǒng)不同的是所述上管路和/或下管路為活動部件，在控制電路的控制下移動，即移至采樣區(qū)域或從采樣區(qū)域移開。當(dāng)需要采樣時，采樣管路需處于采樣狀態(tài)，即此時，上管路和/或下管路在控制電路的控制下移至采樣區(qū)域；當(dāng)需要檢測吋，采樣管路需處于檢測狀態(tài)，即此吋，上管路和/或下管路在控制電路的控制下移開采樣區(qū)域；采樣管路處于采樣狀態(tài)是指濾膜富集氣體中的顆粒物時，上管路和/或下管路所處的狀態(tài)。處于檢測狀態(tài)是指濾膜上富集的顆粒物能夠被檢測分析単元檢測時上管路和/或下管路所處的狀態(tài)。[0112]本實施例的監(jiān)測系統(tǒng)還包括時序控制模塊，所述時序控制模塊控制所述監(jiān)測系統(tǒng)在監(jiān)測周期內(nèi)的毎次測量按照以下時序工作采樣，氣體經(jīng)由采樣管路被采集到流路中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；移開上管路和/或下管路，控制電路控制上管路和/或下管路移開，采樣管路從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換至檢測狀態(tài)；檢測，檢測分析單元檢測富集在濾膜上的顆粒物；上管路和/或下管路復(fù)位，控制電路控制上管路和/或下管路移至采樣點，采樣管路從檢測狀態(tài)恢復(fù)至采樣狀態(tài)。在一個監(jiān)測周期內(nèi)，每次測量均要進行采樣和檢測之間的切換，切換時只需將上管路和/或下管路移開或復(fù)位即可，移開和復(fù)位的對象是上管路還是下管路還是上管路和下管路，根據(jù)X射線源和探測器的設(shè)置位置來確定。本實施例中，X射線源和探測器分別位于上管路的兩側(cè)，則在采樣和檢測之間切換時，只需將上管路抬起或復(fù)位即可。ー種氣體中元素的監(jiān)測方法，每個監(jiān)測周期的步驟與實施例2中所述的監(jiān)測方法不同的是采用本實施例的監(jiān)測系統(tǒng)；采樣，氣體經(jīng)由采樣管路被采集到流路中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；抬起上管路，控制電路控制上管路抬起，采樣管路從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換至檢測狀態(tài)；檢測，檢測分析單元檢測富集在濾膜上的顆粒物；上管路復(fù)位，控制電路控制上管路下壓至濾膜上，采樣管路從檢測狀態(tài)恢復(fù)至采樣狀態(tài)。實施例6ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，與實施例2中所述的監(jiān)測系統(tǒng)不同的是I、X射線源位于上管路/下管路的ー側(cè)，探測器位于下管路/上管路的ー側(cè)，即X射線源和探測器分別位于濾膜的兩側(cè)；X射線源發(fā)出的X射線照射在富集在濾膜上的顆粒物上，顆粒物被激發(fā)所產(chǎn)生的X射線熒光被探測器接收。2、上管路和下管路的透光部分可被X射線和X射線熒光透過；或?qū)⑸瞎苈泛拖鹿苈芬崎_。本實施例不移開上管路和下管路，上管路和下管路的透光部分為氟塑料(FEP)管。本實施例還提供了ー種氣體中元素的監(jiān)測方法，每個監(jiān)測周期的步驟與實施例2中所述的監(jiān)測方法不同的是I、在步驟A中，采用本實施例的監(jiān)測系統(tǒng)；2、在步驟B中，每次測量的時間間隔為5min。上述實施方式不應(yīng)理解為對本實用新型保護范圍的限制。本實用新型的關(guān)鍵是通過實時采集富集在濾膜上的顆粒物的信息，獲得監(jiān)測周期內(nèi)顆粒物含量的變化規(guī)律。在不脫離本實用新型精神的情況下，對本實用新型做出的任何形式的改變均應(yīng)落入本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.ー種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，包括采樣單元、檢測分析単元和控制電路，所述采樣單元包括采樣管路，所述檢測分析単元包括X射線源和探測器，其特征在于 所述采樣管路包括上管路和下管路； 所述X射線源和探測器分別位于上管路和/或下管路的側(cè)面； 被采集到采樣管路中仍處于流路中的氣體中的顆粒物被X射線源發(fā)出的X射線激發(fā)，所產(chǎn)生的X射線熒光被探測器接收。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于 所述監(jiān)測系統(tǒng)還包括濾膜和濾膜移動單元，所述上管路位于濾膜的上方，下管路位于濾膜的下方。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述上管路和/或下管路可被X射線穿過。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述上管路和/或下管路為聚四氟こ烯管或硅膠管或氟塑料管或PU聚氨酯管。
5.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述上管路和/或下管路為活動部件，在控制電路的控制下移動。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述監(jiān)測系統(tǒng)還包括時序控制模塊，所述時序控制模塊控制監(jiān)測系統(tǒng)按照以下時序工作 采樣，氣體被采樣單元采集到流路中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上； 移開上管路和/或下管路，所述控制電路控制上管路和/或下管路從采樣點移開，使采樣管路從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換至檢測狀態(tài)； 檢測，檢測分析単元檢測富集在濾膜上的顆粒物； 上管路和/或下管路復(fù)位，控制電路控制上管路和/或下管路移至采樣點，使采樣管路從檢測狀態(tài)恢復(fù)至采樣狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述控制電路識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)，井根據(jù)識別結(jié)果控制濾膜移動單元移動濾膜。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述控制電路根據(jù)采樣単元的抽氣流量或檢測分析単元的檢測結(jié)果識別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述濾膜為帶狀或片狀。
專利摘要本實用新型涉及一種氣體中元素的監(jiān)測系統(tǒng)，包括采樣單元、檢測分析單元和控制電路，所述采樣單元包括采樣管路，所述檢測分析單元包括X射線源和探測器；所述采樣管路包括上管路和下管路；所述X射線源和探測器分別位于上管路和/或下管路的側(cè)面；被采集到采樣管路中仍處于流路中的氣體中的顆粒物被X射線源發(fā)出的X射線激發(fā)，所產(chǎn)生的X射線熒光被探測器接收。本實用新型具有測量連續(xù)性好、節(jié)省時間等優(yōu)點。
文檔編號G01N1/40GK202404045SQ20112057765
公開日2012年8月29日 申請日期2011年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月31日
發(fā)明者葉華俊, 姜雪嬌, 郭生良, 陳俠勝 申請人:杭州聚光環(huán)?？萍加邢薰? 聚光科技(杭州)股份有限公司