專利名稱：制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及微波材料檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具。
背景技術(shù)：
電磁參數(shù)是用以表征介電或電磁雙復(fù)損耗材料本質(zhì)特性的重要方法之一。該參數(shù)多采用矩形波導(dǎo)法和同軸波導(dǎo)法進(jìn)行測(cè)量。用同軸波導(dǎo)法測(cè)試材料的電磁參數(shù)時(shí)，需要兩根同軸電纜，每根同軸波導(dǎo)測(cè)試電纜有兩個(gè)端口 一個(gè)端口用來(lái)與矢量網(wǎng)絡(luò)測(cè)量?jī)x的輸入或輸出端口相連，另一個(gè)端口在測(cè)試時(shí)將被測(cè)材料放置在兩個(gè)端口之間，這兩個(gè)端口分別為母頭和公頭，將公、母兩個(gè)端口對(duì)接后，可對(duì)材料進(jìn)行電磁參數(shù)測(cè)量。同軸波導(dǎo)法測(cè)量對(duì)測(cè)試樣件的尺寸要求較高。同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件一般用模具成型的方式制備。此前用來(lái)制備同軸測(cè)試樣件的模具有多種，但有兩種模具用得較為普遍。一種模具是按照標(biāo)準(zhǔn)樣件的尺寸分別制備陰模和陽(yáng)模，在具體制備測(cè)試樣件時(shí)，先將混合了粘接材料的粉體填入模具的凹腔(即陰模)，然后合上陽(yáng)模，再用錘子等工具對(duì)陽(yáng)模外表面進(jìn)行敲擊，使混合粉體材料受壓成型。該方法的最大缺點(diǎn)在于混合粉體材料脫模后，制備好的測(cè)試樣件因強(qiáng)度較低容易發(fā)生變形，測(cè)試樣件放入同軸電纜內(nèi)受壓也容易變形，直接影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。采用敲擊陽(yáng)模外表面的方法制備測(cè)試樣件還有一個(gè)難以克服的問題，即余料不易排出來(lái)，直接影響所制備的測(cè)試樣件的質(zhì)量。另外一種用來(lái)制備測(cè)試樣件的模具，其原理與“敲擊法”的模具相似，也是分為陰模與陽(yáng)模，只是在具體制備測(cè)試樣件時(shí)，將“敲擊法”改為“擰緊法”，即用螺紋擰緊的方式制備測(cè)試樣件。用該法制備的測(cè)試樣件與“敲擊法”制備的樣件存在著相同的缺陷，這些缺陷對(duì)測(cè)試樣件的電磁參數(shù)的精度有較大影響。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是為了克服上述背景技術(shù)的不足，提供一種制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其制備的測(cè)試樣件重復(fù)性強(qiáng)，余料容易排出來(lái)，尺寸精度高，強(qiáng)度增大，不易變形，測(cè)試樣件的質(zhì)量有保證，徹底解決了“敲擊法”和“擰緊法”制備的測(cè)試樣件重復(fù)性差、尺寸精度差或變形影響測(cè)量精度的問題。本實(shí)用新型提供的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，它包括相互匹配的陽(yáng)模和陰模,它還包括同軸外導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體,所述陽(yáng)模包括陽(yáng)模底座、同軸外導(dǎo)體定位柱和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱，所述陽(yáng)模底座、同軸外導(dǎo)體定位柱和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱均為實(shí)心同軸圓柱體，所述陰模、同軸外導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體均為中空?qǐng)A柱體，陰模沿軸向套在同軸外導(dǎo)體定位柱上，同軸外導(dǎo)體位于陽(yáng)模和陰模構(gòu)成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導(dǎo)體沿軸向套在同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱上。在上述技術(shù)方案中，所述同軸外導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體為墊片型中空?qǐng)A柱體。在上述技術(shù)方案中，所述同軸外導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體均采用黃銅制成。[0009]在上述技術(shù)方案中，所述陰模、陽(yáng)模底座、同軸外導(dǎo)體定位柱和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱均采用不銹鋼材料制成。在上述技術(shù)方案中，所述陰模的外徑=陽(yáng)模底座的直徑。在上述技術(shù)方案中，所述陰模的高度=同軸外導(dǎo)體定位柱的高度+同軸外導(dǎo)體的高度。在上述技術(shù)方案中，所述同軸外導(dǎo)體的外徑=同軸外導(dǎo)體定位柱的直徑，略小于陰模的內(nèi)徑，同軸內(nèi)導(dǎo)體的外徑 < 同軸外導(dǎo)體的內(nèi)徑 < 同軸外導(dǎo)體定位柱的直徑。在上述技術(shù)方案中，所述同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱的直徑略小于同軸內(nèi)導(dǎo)體的內(nèi)徑，同 軸內(nèi)導(dǎo)體的內(nèi)徑< 同軸內(nèi)導(dǎo)體的外徑< 同軸外導(dǎo)體定位柱的直徑。在上述技術(shù)方案中，所述同軸外導(dǎo)體的高度=同軸內(nèi)導(dǎo)體的高度=同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱的高度。在上述技術(shù)方案中，所述同軸外導(dǎo)體、同軸內(nèi)導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱高度均為
2.00±0. 01毫米，同軸外導(dǎo)體定位柱高度為20. 00±0. 01毫米，陰模高度為22. 00±0. 01毫米。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)如下采用本實(shí)用新型提供的模具制備的測(cè)試樣件強(qiáng)度增大，不易變形，余料容易排出來(lái)，測(cè)試樣件的質(zhì)量有保證，徹底解決了“敲擊法”和“擰緊法”制備的測(cè)試樣件重復(fù)性差、尺寸精度差或變形影響測(cè)量精度的問題，可用于粉體介電或電磁雙復(fù)損耗材料采用同軸波導(dǎo)法進(jìn)行電磁參數(shù)測(cè)試時(shí)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣件的制備。
圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的分解結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1-陽(yáng)模，2-陰模，3-同軸外導(dǎo)體，4-同軸內(nèi)導(dǎo)體，5-陽(yáng)模底座，6_同軸外導(dǎo)體定位柱，7-同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。參見圖I和2所示，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，它包括相互匹配的陽(yáng)模I、陰模2、同軸外導(dǎo)體3和同軸內(nèi)導(dǎo)體4，陽(yáng)模I包括陽(yáng)模底座5、同軸外導(dǎo)體定位柱6和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7，陽(yáng)模底座5、同軸外導(dǎo)體定位柱6和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7均為實(shí)心同軸圓柱體，陰模2、同軸外導(dǎo)體3和同軸內(nèi)導(dǎo)體4均為中空?qǐng)A柱體，同軸外導(dǎo)體3和同軸內(nèi)導(dǎo)體4為墊片型中空?qǐng)A柱體。陰模2沿軸向套在同軸外導(dǎo)體定位柱6上，同軸外導(dǎo)體3位于陽(yáng)模I和陰模2構(gòu)成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導(dǎo)體4沿軸向套在同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7上。同軸外導(dǎo)體3和同軸內(nèi)導(dǎo)體4均采用黃銅制成，陰模2、陽(yáng)模底座5、同軸外導(dǎo)體定位柱6和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7均采用不銹鋼材料制成。陰模2的外徑=陽(yáng)模底座5的直徑=50. 00±0. 01毫米，同軸外導(dǎo)體3的外徑=同軸外導(dǎo)體定位柱6的直徑=14. 00±0. 01毫米，略小于陰模2的內(nèi)徑(15. 00±0. 01暈米)，同軸內(nèi)導(dǎo)體4的外徑(2. 50±0. 01暈米)< 同軸外導(dǎo)體3的內(nèi)徑(7. 00±0. 01暈米)< 同軸外導(dǎo)體定位柱6的直徑(14. 00±0. 01毫米)。同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7的直徑(I. 38±0· 01暈米)略小于同軸內(nèi)導(dǎo)體4的內(nèi)徑(I. 50±0· 01暈米)，同軸內(nèi)導(dǎo)體4的內(nèi)徑(I. 50±0· Ol毫米)<同軸內(nèi)導(dǎo)體4的外徑(2· 50±0· 01毫米)<同軸外導(dǎo)體定位柱6的直徑(14. 00±0. 01毫米)。同軸外導(dǎo)體3的高度=同軸內(nèi)導(dǎo)體4的高度=同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7的高度=2.00±0.01毫米，陰模2的高度(22.00±0.01毫米)=同軸外導(dǎo)體定位柱6的高度(20. 00±0.01毫米)+同軸外導(dǎo)體3的高度(2. 00±0.01毫米)，陽(yáng)模底座5的高度=10. 00土O. 01 暈米。本實(shí)用新型實(shí)施例中增加了用于精確控制被測(cè)材料尺寸的同軸內(nèi)導(dǎo)體4和同軸外導(dǎo)體3，同軸內(nèi)導(dǎo)體4和同軸外導(dǎo)體3均由導(dǎo)電性良好的黃銅制備。同軸外導(dǎo)體3的尺寸與N型同軸測(cè)試電纜端口(母頭)內(nèi)表面完全相同，同軸內(nèi)導(dǎo)體4的尺寸則與N型同軸測(cè)試電纜端口(公頭)完全相同，并恰好允許公頭插入。被測(cè)材料樣件的厚度和直徑由陽(yáng)模
I、陰模2、同軸外導(dǎo)體3和同軸內(nèi)導(dǎo)體4共同確定。具體做法是先將陰模2套在陽(yáng)模I的同軸外導(dǎo)體定位柱6上，接著將同軸外導(dǎo)體3放置入模陽(yáng)模I和陰模2構(gòu)成的圓槽內(nèi)，最后將同軸內(nèi)導(dǎo)體4插入陽(yáng)模I的同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱7(即Rl. 38圓柱)上。 制樣時(shí)，將經(jīng)過預(yù)處理的被測(cè)材料用專用工具填入同軸外導(dǎo)體3和同軸內(nèi)導(dǎo)體4的空隙、壓實(shí)，將填充好的被測(cè)材料外表面用專用工具刮至與同軸外導(dǎo)體3的外表面一樣平整，再將同軸外導(dǎo)體3、同軸內(nèi)導(dǎo)體4和填充在其內(nèi)的被測(cè)材料與一并取出，并對(duì)另一面按照同樣的方法刮平。到此，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試件制備完畢，可以將制備好的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試件放入7mm的標(biāo)準(zhǔn)同軸電纜進(jìn)行測(cè)量。按上述方法制備的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件徹底解決了 “敲擊法”和“擰緊法”制備的樣件重復(fù)性差、尺寸精度差或變形影響測(cè)量精度的問題。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實(shí)用新型也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。本說(shuō)明書中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)。
權(quán)利要求1.一種制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，它包括相互匹配的陽(yáng)模(I)和陰模(2)，其特征在于它還包括同軸外導(dǎo)體⑶和同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)，所述陽(yáng)模⑴包括陽(yáng)模底座(5)、同軸外導(dǎo)體定位柱(6)和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱(7)，所述陽(yáng)模底座(5)、同軸外導(dǎo)體定位柱(6)和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱⑵均為實(shí)心同軸圓柱體,所述陰模(2)、同軸外導(dǎo)體(3)和同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)均為中空?qǐng)A柱體，陰模(2)沿軸向套在同軸外導(dǎo)體定位柱(6)上，同軸外導(dǎo)體(3)位于陽(yáng)模⑴和陰模⑵構(gòu)成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導(dǎo)體⑷沿軸向套在同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱⑵上。
2.如權(quán)利要求I所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導(dǎo)體(3)和同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)為墊片型中空?qǐng)A柱體。
3.如權(quán)利要求I所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導(dǎo)體⑶和同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)均采用黃銅制成。
4.如權(quán)利要求I所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述陰模(2)、陽(yáng)模底座(5)、同軸外導(dǎo)體定位柱(6)和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱(7)均采用不銹鋼材料制成。
5.如權(quán)利要求I所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述陰模(2)的外徑=陽(yáng)模底座(5)的直徑。
6.如權(quán)利要求5所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述陰模(2)的高度=同軸外導(dǎo)體定位柱￠)的高度+同軸外導(dǎo)體(3)的高度。
7.如權(quán)利要求6所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導(dǎo)體⑶的外徑=同軸外導(dǎo)體定位柱(6)的直徑,略小于陰模⑵的內(nèi)徑，同軸內(nèi)導(dǎo)體⑷的外徑<同軸外導(dǎo)體⑶的內(nèi)徑<同軸外導(dǎo)體定位柱(6)的直徑。
8.如權(quán)利要求7所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱(X)的直徑略小于同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)的內(nèi)徑，同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)的內(nèi)徑< 同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)的外徑<同軸外導(dǎo)體定位柱(6)的直徑。
9.如權(quán)利要求8所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導(dǎo)體(3)的高度=同軸內(nèi)導(dǎo)體(4)的高度=同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱(7)的高度。
10.如權(quán)利要求I至9中任一項(xiàng)所述的制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導(dǎo)體(3)、同軸內(nèi)導(dǎo)體⑷和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱(7)高度均為2. 00±0. 01毫米，同軸外導(dǎo)體定位柱(6)高度為20. 00±0. 01毫米，陰模(2)高度為22. 00±0. 01毫米。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種制備同軸波導(dǎo)法測(cè)試樣件的模具，它包括相互匹配的陽(yáng)模和陰模，它還包括同軸外導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體，所述陽(yáng)模包括陽(yáng)模底座、同軸外導(dǎo)體定位柱和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱，所述陽(yáng)模底座、同軸外導(dǎo)體定位柱和同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱均為實(shí)心同軸圓柱體，所述陰模、同軸外導(dǎo)體和同軸內(nèi)導(dǎo)體均為中空?qǐng)A柱體，陰模沿軸向套在同軸外導(dǎo)體定位柱上，同軸外導(dǎo)體位于陽(yáng)模和陰模構(gòu)成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導(dǎo)體沿軸向套在同軸內(nèi)導(dǎo)體定位柱上。采用本實(shí)用新型制備的測(cè)試樣件重復(fù)性強(qiáng)，余料容易排出來(lái)，尺寸精度高，強(qiáng)度增大，不易變形，測(cè)試樣件的質(zhì)量有保證，徹底解決了“敲擊法”和“擰緊法”制備的測(cè)試樣件重復(fù)性差、尺寸精度差或變形影響測(cè)量精度的問題。
文檔編號(hào)G01R31/00GK202487737SQ20112053783
公開日2012年10月10日 申請(qǐng)日期2011年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月21日
發(fā)明者王晉華, 王莉, 袁芝金 申請(qǐng)人:航天科工武漢磁電有限責(zé)任公司