專利名稱：一種讀卡器測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試治具，尤其涉及RFID-SM卡讀卡器的測試治具。
背景技術(shù)：
RFID-SIM卡(射頻識別卡)是雙界面智能卡(射頻卡和SIM卡)技術(shù)向手機領(lǐng)域滲透的產(chǎn)品。RFID-SM卡即具備普通SM卡一樣的移動通訊功能，又能夠通過附于其上的天線與讀卡器進行近距離無線通信，從而將功能擴展至非典型領(lǐng)域，尤其是手機現(xiàn)場支付和身份認證功能，成為了手機一卡通的應(yīng)用基礎(chǔ)。目前RFID-SIM移動支付(又稱手機支付)方案已被業(yè)內(nèi)廣泛認可。隨著2. 4G移動支付逐漸推廣，應(yīng)用的廣泛，RFID-SM卡讀卡器設(shè)備以各種形式出 現(xiàn)在應(yīng)用領(lǐng)域，因此，這就提高了對RFID-SM讀卡器的技術(shù)要求，對讀卡器設(shè)備的距離控制指標如何可以方便穩(wěn)定有效的測試成為急待解決的問題，該治具徹底解決了讀卡器工作電磁波回波性能方面的測試。

實用新型內(nèi)容本實用新型主要解決的技術(shù)問題是，降低治具在讀卡器進行測試時，對被測讀卡器工作電磁波的干擾。為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種測試治具，包括底座，調(diào)節(jié)裝置，用于固定測試干擾物的測試桿，用于固定被測讀卡器的測試平臺，調(diào)節(jié)裝置和測試平臺均固定在底座上；調(diào)節(jié)裝置是用于調(diào)節(jié)測試桿高度。進一步地，調(diào)節(jié)裝置包括旋轉(zhuǎn)盤，螺紋柱，螺母，支撐柱；旋轉(zhuǎn)盤的底面固定在螺紋柱的一端；螺母與螺紋柱相匹配，并套接于螺紋柱上；測試桿的一端固定在螺母上，另一端設(shè)有一個安裝測試干擾物的夾持單元；支撐柱的表面具有一縱向開口，該開口與測試桿的寬度相適配，支撐柱固定在底座上；螺紋柱固定于支撐柱內(nèi)；測試桿穿過開口固定在螺母上更進一步地，調(diào)節(jié)裝置還包括旋轉(zhuǎn)底座，旋轉(zhuǎn)底座固定在底座上，支撐柱與旋轉(zhuǎn)底座相連接。進一步地，旋轉(zhuǎn)盤的底面設(shè)置有凸塊，螺紋柱面向旋轉(zhuǎn)盤的一面設(shè)置有凹槽，其中，兩部件上的凸塊與凹槽相互配合。并且旋轉(zhuǎn)盤與螺紋柱之間是通過螺釘固定在一起。進一步地，旋轉(zhuǎn)底座具有凹槽，支撐柱底面設(shè)計的卡扣結(jié)構(gòu)，所述支撐柱通過卡槽結(jié)構(gòu)與旋轉(zhuǎn)底座相互連接，并進行旋轉(zhuǎn)。進一步地，在旋轉(zhuǎn)盤的上表面設(shè)置有手柄。進一步地，在支撐柱的外表面上也設(shè)置有手柄。進一步地，夾持單元和測試平臺與支撐柱之間的水平距離相等，夾持單元與測試平臺之間的垂直距離大于I個被測讀卡器工作電磁波波長。更進一步地，測試平臺所放位置與支撐柱之間的距離大于I個被測讀卡器工作電磁波波長，測試平臺與底座之間的距離要大于1/2個被測讀卡器工作電磁波波長。進一步地，本測試治具所有部件由非金屬材料制成。本實用新型的有益效果是通過本實用新型測試治具設(shè)計為具備可調(diào)高度，可旋轉(zhuǎn)的功能，可以有效的控制讀卡器在測試過程中與測試治具和手機的距離，為被測讀卡器工作電磁波回波性能測試提供了一個可靠的測試環(huán)境，同時，為生產(chǎn)提高了效率，和產(chǎn)品的良率。

圖I為本實用新型測試治具結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型一實施例中的測試治具中調(diào)節(jié)裝置剖視圖；圖3為本實用新型另一實施例結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本實用新型測試治具高度調(diào)節(jié)工作示意圖；圖5為本實用新型另一實施例結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為本實用新型角度調(diào)節(jié)工作示意圖。
具體實施方式
下面通過具體實施方式
結(jié)合附圖對本實用新型作進一步詳細說明如圖I所示，本實用新型較佳實施例的測試裝置包括底座I，調(diào)節(jié)裝置2，測試桿4，和測試平臺3，其中測試治具中的調(diào)節(jié)裝置2和測試平臺3均固定在了治具的底座I上，保持裝置的穩(wěn)定，其中將被測讀卡器固定在測試平臺3上，并且通過測試平臺3提供給讀卡器電源，在治具的調(diào)節(jié)裝置2上還設(shè)置有一測試桿4，測試桿4的一端固定在調(diào)節(jié)裝置2上，另一端設(shè)置有可以用于固定測試干擾物的夾持單元41，通過調(diào)節(jié)裝置2對測試桿4高度的調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對讀卡器的測試工作。如圖2所示，為本實用新型測試治具中的調(diào)節(jié)裝置2剖視圖，并結(jié)合圖3，調(diào)節(jié)裝置2中的高度調(diào)節(jié)裝置部分包括旋轉(zhuǎn)盤21，螺紋柱23，螺母22，支撐柱25，其中旋轉(zhuǎn)盤21固定在螺紋柱23的一端面上，而螺母22與螺紋柱23之間的螺紋相匹配，螺母22直接通過螺紋結(jié)構(gòu)套接在螺紋柱23上，并且螺母22可通過螺紋結(jié)構(gòu)上下自由移動，同時測試桿4連接調(diào)節(jié)裝置2的一端就固定于螺母22的外表面上，并能夠跟隨螺母22 —起上下移動或轉(zhuǎn)動，而測試桿4的另一端設(shè)置有用于安放測試干擾物的夾持單元41，螺紋柱23固定在支撐柱25內(nèi)，在支撐柱25的表面有一縱向開口，測試桿4穿過支撐柱25表面的開口與固定在支撐柱25內(nèi)螺紋柱23上的螺母22連接，同時開口可以限制和帶動測試桿4左右移動。旋轉(zhuǎn)盤21與螺紋柱23的連接方式，如圖3所示，本實用新型可以通過在旋轉(zhuǎn)盤21上設(shè)置一螺母通孔，對應(yīng)的螺紋柱23的端面上設(shè)置一螺母孔232，通過一個螺釘211穿過螺母通孔連接螺紋柱23端面上的螺母孔232，將旋轉(zhuǎn)盤21固定在螺紋柱23的端面上。同時旋轉(zhuǎn)盤21的底面還設(shè)置至少一個凸塊212，對應(yīng)的螺紋柱23的端面上設(shè)置有尺寸相應(yīng)的凹槽231，在旋轉(zhuǎn)盤21與螺紋柱23連接時，凸塊212完全放置入凹槽231中，在轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)盤21時，通過連接旋轉(zhuǎn)盤21和螺紋柱23的螺釘211和放置入凹槽231內(nèi)的凸塊212，帶動螺紋柱23 —起轉(zhuǎn)動。如圖2所示，調(diào)節(jié)裝置2還可以包括旋轉(zhuǎn)底座26，其中支撐柱25與旋轉(zhuǎn)底座26相連接，旋轉(zhuǎn)底26座直接固定在底座I上，保證裝置放置的穩(wěn)定。為了實現(xiàn)角度調(diào)節(jié)功能，結(jié)合圖5，在支撐柱25的底面設(shè)置有凸塊251，在凸塊251的表面設(shè)置有對稱的凸起結(jié)構(gòu)252，在旋轉(zhuǎn)底座上表面設(shè)置有一凹槽261,凹槽261的尺寸與支撐柱25上的凸塊251尺寸相匹配，同時，旋轉(zhuǎn)底座26的凹槽261的內(nèi)壁上設(shè)置有弧度為90度旋轉(zhuǎn)槽262，在實施時，將支撐柱凸塊251上的凸起結(jié)構(gòu)252卡入旋轉(zhuǎn)底座26對應(yīng)的旋轉(zhuǎn)槽262中，在旋轉(zhuǎn)支撐柱25時，通過支撐柱25與旋轉(zhuǎn)底座26之間的卡槽結(jié)構(gòu)，使支撐柱25實現(xiàn)了 90度角的旋轉(zhuǎn)。如圖2所示，在實施調(diào)節(jié)裝置高度調(diào)節(jié)與角度調(diào)節(jié)相互配合工作，在進行測試桿4的高度調(diào)節(jié)時，通過對旋轉(zhuǎn)盤21進行旋轉(zhuǎn)帶動螺紋柱23以及測試桿4的轉(zhuǎn)動，同時測試桿4通過支撐柱25開口邊壁的阻擋帶動了支撐柱25的轉(zhuǎn)動，當支撐柱25轉(zhuǎn)動至90度時，支撐柱25底面與旋轉(zhuǎn)底座26的上表面的卡槽結(jié)構(gòu)阻止了支撐柱23的繼續(xù)旋轉(zhuǎn)，此時開口的邊壁也阻擋了測試桿的旋轉(zhuǎn)，當繼續(xù)轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)盤21時，螺母22通過與螺紋柱23之間的螺紋結(jié)構(gòu)在螺紋柱25表面上下移動時，并帶動測試桿4 一起進行移動，實現(xiàn)高度調(diào)節(jié)，如圖4所示。在進行測試桿4的角度調(diào)節(jié)時，結(jié)合圖6，直接旋轉(zhuǎn)支撐柱25，旋轉(zhuǎn)支撐柱25通過支撐柱25表面的開口的邊壁帶動測試桿4 一起旋轉(zhuǎn)，實現(xiàn)了測試桿的角度調(diào)節(jié)?！0029]進一步地，在測試時，為了方便對旋轉(zhuǎn)盤21旋轉(zhuǎn)，可以如圖2所示在旋轉(zhuǎn)盤21的上表面設(shè)置一個手柄24，通過手柄來轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)盤。進一步地，在測試時，為了方便對支撐柱25的旋轉(zhuǎn)，可以如圖2所示在支撐柱25的外表面設(shè)置一個手柄27，通過手柄來轉(zhuǎn)動支撐柱。 測試桿4的一端連接在螺母22上，在另一端所設(shè)置一個夾持單元41，夾持單元41用于安放測試干擾物，其中，夾持單元與測試平臺之間的垂直距離大于I個被測讀卡器工作電磁波波長。在測試過程中，將待測讀卡器放入到測試平臺3，將旋轉(zhuǎn)盤21手柄24逆時針旋轉(zhuǎn)90度，使夾持單元41移開讀卡器測試平臺3，然后給讀卡器上電，采集空曠時候被測讀卡器工作電磁波回波環(huán)境值，使用PC軟件初始化并保存，關(guān)電，再將旋轉(zhuǎn)盤手柄24順時針旋轉(zhuǎn)90度，使夾持單元41懸于讀卡器正上方，給讀卡器上電，測試有手機時的被測讀卡器工作電磁波回波環(huán)境值，通過固定算法計算兩次環(huán)境差異得到的值，并具此值判斷該讀卡器是否達標。在放置調(diào)節(jié)裝置2與測試平臺3的位置時，需考慮到治具對讀卡器回波性能的干擾，對測試結(jié)果準確性的影響，因此，在本實用新型的較佳實施例中，測試平臺3與調(diào)節(jié)裝置2的距離要大于I個被測讀卡器工作電磁波波長，同時測試平臺3與底座I之間的垂直距離應(yīng)該大于1/2個被測讀卡器工作電磁波波長，如此設(shè)置使治具遠離讀卡器天線進場，并有利于減少治具對讀卡器工作電磁波回波的影響，減少治具對測試的干擾。優(yōu)選地，在本實用新型的測試治具的所有部件應(yīng)該選擇由非金屬材料制作而成的，以防止對測試產(chǎn)生的干擾。最后所應(yīng)說明的是，以上實施例僅用以說明而非限制本實用新型的技術(shù)方案，盡管參照上述實施例對本實用新型進行了詳細說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解，依然可以對本實用新型進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型的保護范圍。
權(quán)利要求1.一種讀卡器測試治具，其特征在于，包括底座；用于固定測試干擾物的測試桿；用于固定被測讀卡器的測試平臺；用于調(diào)節(jié)所述測試桿高度的調(diào)節(jié)裝置；所述的調(diào)節(jié)裝置和所述的測試平臺固定在所述的底座上。
2.如權(quán)利要求I所述的測試治具，其特征在于，所述的調(diào)節(jié)裝置包括旋轉(zhuǎn)盤，螺紋柱，螺母，支撐柱；所述的旋轉(zhuǎn)盤的底面固定在所述的螺紋柱的一端；所述的螺母與所述的螺紋柱相匹配，并套接于所述的螺紋柱上；所述的螺紋柱固定于所述的支撐柱內(nèi)，所述支撐柱固定在所述底座上；所述的支撐柱的表面具有一縱向開口，所述的開口與所述的測試桿的寬度相適配；所述的測試桿的一端穿過所述開口固定于所述的螺母上，另一端設(shè)有一個夾持單元。
3.如權(quán)利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述的調(diào)節(jié)裝置還包括旋轉(zhuǎn)底座，所述的旋轉(zhuǎn)底座固定在所述的底座上，所述的支撐柱與所述的旋轉(zhuǎn)底座相連接。
4.如權(quán)利要求3所述的測試治具，其特征在于，所述的旋轉(zhuǎn)底座與所述支撐柱通過卡槽結(jié)構(gòu)相互連接。
5.如權(quán)利要求3所述的測試治具，其特征在于，所述的支撐柱外表面設(shè)置有手柄。
6.如權(quán)利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述的旋轉(zhuǎn)盤的底面設(shè)置有凸塊，所述的螺紋柱面向所述的旋轉(zhuǎn)盤的一面設(shè)置有凹槽，所述的凸塊與所述的凹槽相互配合，所述旋轉(zhuǎn)盤通過螺釘固定于所述螺紋柱的一端。
7.如權(quán)利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述的旋轉(zhuǎn)盤上表面設(shè)置有手柄。
8.如權(quán)利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述的夾持單元和所述的測試平臺與所述的支撐柱之間的水平距離相等，所述的夾持單元與所述測試平臺之間的垂直距離大于I個被測讀卡器工作電磁波波長。
9.如權(quán)利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述的測試平臺與所述的支撐柱的距離大于I個被測讀卡器工作電磁波波長，所述的測試平臺與所述的底座距離大于1/2個被測讀卡器工作電磁波波長。
10.如權(quán)利要求I至9中任意一項所述的測試治具，其特征在于，所述的測試治具的材料為非金屬材料。
專利摘要本實用新型公開了一種測試治具，涉及到了RFID-SIM卡讀卡器的測試，包括，底座；用于固定測試干擾物的測試桿；用于固定被測讀卡器的測試平臺；用于調(diào)節(jié)所述測試桿高度的調(diào)節(jié)裝置；調(diào)節(jié)裝置和所述的測試平臺固定在底座上，該實用新型能夠減少治具對讀卡器工作電磁波回波干擾，為讀卡器工作電磁波回波性能測試提供了可靠測試環(huán)境，同時提高了生產(chǎn)效率及產(chǎn)品良率。
文檔編號G01R31/00GK202563015SQ201120521950
公開日2012年11月28日 申請日期2011年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月14日
發(fā)明者張偉 申請人:國民技術(shù)股份有限公司