專利名稱：一種3dk28g、3ck2e型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及分立器件的老化技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種3DK28G、3CK2E動(dòng)態(tài)老化
>J-U裝直。
背景技術(shù)：
目前元器件老化篩選相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)三極管的老化篩選手段都是功率老化，且國(guó)內(nèi)的三極管老化設(shè)備也是針對(duì)功率老化進(jìn)行，功率老化是一種靜態(tài)老化的狀態(tài)，即開(kāi)關(guān)管基極施加的是一個(gè)穩(wěn)定信號(hào)，使其工作在正向?qū)顟B(tài)，按其功率指標(biāo)對(duì)其進(jìn)行老化，而3DK28G、3CK2E有時(shí)在應(yīng)用電路中是作高速電子開(kāi)關(guān)使用，其基極施加的是一個(gè)脈沖信號(hào)， 三極管3DK28G、3CK2E不停的在通、斷兩種狀態(tài)交替工作，是一種動(dòng)態(tài)的工作狀態(tài)，因此功率老化不足以考驗(yàn)其開(kāi)關(guān)工作的情況，不能剔除在開(kāi)關(guān)工作狀態(tài)下三極管的早期失效。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種3DK28G、3CK2E動(dòng)態(tài)老化裝置，解決應(yīng)用電路中用作電子開(kāi)關(guān)的3DK28G、3CK2E開(kāi)關(guān)晶體管的動(dòng)態(tài)老化問(wèn)題。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是一種3DK28G、3CK2E動(dòng)態(tài)老化裝置，包括電源電路、脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路、若干組老化板，每組老化板由兩塊老化板連接組成，電源電路正輸出端與脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路連接，電源電路負(fù)輸出端并聯(lián)接入每組老化板的兩塊老化板之間，脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路通過(guò)單刀雙擲開(kāi)關(guān)與老化板連接；所述脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路包括單片機(jī)、晶體振蕩器、與非門(mén)和三極管，晶體振蕩器并聯(lián)接入單片機(jī)，與非門(mén)與單片機(jī)連接，與非門(mén)與三極管的基極連接。所述單片機(jī)型號(hào)為AT89C2051。所述與非門(mén)型號(hào)為SN75452。所述三極管為3DK4B三極管。本實(shí)用新型的3DK28G、3CK2E型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置有效地解決了應(yīng)用電路中用作電子開(kāi)關(guān)的3DK28G、3CK2E開(kāi)關(guān)晶體管的動(dòng)態(tài)老化問(wèn)題，老化后通過(guò)器件測(cè)試可剔除早期失效的器件，保證了裝機(jī)質(zhì)量。

圖I為本實(shí)用新型一實(shí)施例動(dòng)態(tài)老化裝置結(jié)構(gòu)框圖；圖2為本實(shí)用新型一實(shí)施例脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路原理圖。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，本實(shí)用新型一實(shí)施例包括脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路、電源電路、兩塊老化板，電源電路為整個(gè)裝置提供所需的電源信號(hào)，脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路通過(guò)單刀雙擲開(kāi)關(guān)與老化板連接，脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路主要提供具有足夠驅(qū)動(dòng)能力脈沖信號(hào)，通過(guò)電纜提供給老化板，老化板可放置在常溫也可以放在溫箱中。脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路由AT89C2051單片機(jī)、晶體振蕩器、與非門(mén)SN75452和三極管3DK4B組成，脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路原理圖見(jiàn)圖3。其主要原理是模擬三極管3DK28G、3CK2E在實(shí)際電路中的工作情況，利用AT89C2051單片機(jī)軟件延時(shí)產(chǎn)生頻率為66. 7KHz的脈沖信號(hào)，正脈沖的寬度為7 ii S，負(fù)脈沖的寬度為8 u S，通過(guò)與非門(mén)SN75452和三極管3DK4B進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，給開(kāi)關(guān)管3DK28G和3CK2E提供開(kāi)關(guān)信號(hào)。開(kāi)關(guān)管3DK28G、3EK2E的基極電流按其實(shí)際工作電流的I. 5倍選取，因此，老化電路基極電流取3. 89mA，集電極電流取21. 6mA，確保三極管工作在開(kāi)關(guān)狀態(tài)。AT89C2051單片機(jī)軟件延時(shí)程序如下
ORG 0000H AJMP MAIN
ORG 0030H MAIN: CLR PI. 7 ；指示燈亮 LOOP:CLR PI. 6 CLR PI. 5 NOP NOP NOP NOP NOP NOP
SETB PI. 6
SETB PI. 5
NOP
NOP
NOP
AJMP LOOP END 3DK28G、3CK2E動(dòng)態(tài)老化裝置電源電路由電源變壓器、整流橋堆、三端集成穩(wěn)壓器等組成，電源需要±15V、5V，對(duì)其電壓準(zhǔn)確度的要求為±15V±1V、5V±0. 2V，對(duì)其帶負(fù)載能力的要求為+15V應(yīng)能夠提供至少2. 6A的電流，-15V應(yīng)能夠提供至少60mA的電流，5V應(yīng)能夠提供至少90mA的電流。裝置工作電源的產(chǎn)生采用變壓、整流、穩(wěn)壓的方法實(shí)現(xiàn)。老化板由陶瓷耐高溫晶體管插座、指示燈及外圍電路組成，共設(shè)計(jì)了 2塊獨(dú)立的老化板，使用時(shí)老化板通過(guò)電纜與裝置相連接，每塊老化板上共有50個(gè)工位，通過(guò)開(kāi)關(guān)的切換選擇，可選擇對(duì)100個(gè)3DK28G或100個(gè)3CK2E或50個(gè)3DK28G、50個(gè)3CK2E進(jìn)行動(dòng)態(tài)老化。 利用本實(shí)施例的裝置對(duì)某型號(hào)產(chǎn)品多批次3DK28G、3CK2E開(kāi)關(guān)晶體管進(jìn)行了動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)，3DK28G、3CK2E動(dòng)態(tài)老化裝置使用簡(jiǎn)單方便，易操作，且能夠達(dá)到預(yù)期設(shè)計(jì)要求，通過(guò)動(dòng)態(tài)老化篩選的3DK28G、3CK2E開(kāi)關(guān)晶體管在裝機(jī)后性能穩(wěn)定，暫無(wú)失效現(xiàn)象，提高了 整機(jī)的可靠性。
權(quán)利要求1.ー種3DK28G、3CK2E型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置，包括電源電路、脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路、若干組老化板，每組老化板由兩塊老化板連接組成，其特征在干，電源電路正輸出端與脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路連接，電源電路負(fù)輸出端并聯(lián)接入每組老化板的兩塊老化板之間，脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路通過(guò)單刀雙擲開(kāi)關(guān)與老化板連接；所述脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路包括單片機(jī)、晶體振蕩器、與非門(mén)和三極管，晶體振蕩器并聯(lián)接入單片機(jī)，與非門(mén)與單片機(jī)連接，與非門(mén)與三極管的基極連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的3DK28G、3CK2E型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置，其特征在于，所述單片機(jī)型號(hào)為AT89C2051。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的3DK28G、3CK2E型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置，其特征在于，所述與非門(mén)型號(hào)為SN75452。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的3DK28G、3CK2E型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置，其特征在于，所述三極管為3DK4B三極管。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種3DK28G、3CK2E型晶體管動(dòng)態(tài)老化裝置，包括電源電路、脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路、若干組老化板，每組老化板由兩塊老化板連接組成，電源電路為整個(gè)裝置提供所需的電源信號(hào)，脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路通過(guò)單刀雙擲開(kāi)關(guān)與老化板連接；所述脈沖產(chǎn)生及驅(qū)動(dòng)電路包括單片機(jī)、晶體振蕩器、與非門(mén)和三極管，晶體振蕩器并聯(lián)接入單片機(jī)，與非門(mén)與單片機(jī)連接，與非門(mén)與三極管的基極連接，本實(shí)用新型的3DK28G、3CK2E動(dòng)態(tài)老化裝置有效地解決了應(yīng)用電路中用作電子開(kāi)關(guān)的3DK28G、3CK2E開(kāi)關(guān)晶體管的動(dòng)態(tài)老化問(wèn)題。
文檔編號(hào)G01R31/26GK202421434SQ20112052011
公開(kāi)日2012年9月5日 申請(qǐng)日期2011年12月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月13日
發(fā)明者雷巧云 申請(qǐng)人:湖南航天機(jī)電設(shè)備與特種材料研究所