專利名稱：陶瓷基板鐳射孔洞檢測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，尤其涉及一種能夠?qū)﹁D射孔的大小、數(shù)量及孔洞是否堵塞進(jìn)行檢測的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
陶瓷基板是指銅箔在高溫下直接鍵合到氧化鋁或氮化鋁陶瓷基片表面(單面或雙面)上的特殊工藝板。陶瓷基板已成為了大功率電力電子電路結(jié)構(gòu)技術(shù)和互連技術(shù)的基礎(chǔ)材料。而陶瓷基板的質(zhì)量決定了整個(gè)產(chǎn)品的優(yōu)劣，所以對陶瓷基板上的鐳射孔洞具有較高的要求，現(xiàn)有的方法大都采用人工檢測，不僅浪費(fèi)時(shí)間，而且由于長期的觀測，容易出錯(cuò)， 效率低下。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于解決上述的技術(shù)問題，提出一種陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)。本實(shí)用新型的目的，將通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)一種陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，包括運(yùn)輸系統(tǒng)、及設(shè)置在其上方的探測系統(tǒng)和設(shè)置在運(yùn)輸系統(tǒng)尾端的分料系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)還包括一處理顯示系統(tǒng)；所述運(yùn)輸系統(tǒng)包括臺架及設(shè)置在臺架上的傳送設(shè)備和驅(qū)動傳送設(shè)備工作的驅(qū)動設(shè)備，所述傳送設(shè)備包括第一傳送帶和第二傳送帶，所述驅(qū)動設(shè)備包括驅(qū)動第一傳送帶運(yùn)動的第一電機(jī)和驅(qū)動第二傳送帶運(yùn)動的第二電機(jī)，所述臺架內(nèi)固定有一平行光源，所述平行光源設(shè)置于第一傳送帶與第二傳送帶之間；所述探測系統(tǒng)包括一固定臺架上方的線掃描CXD攝像系統(tǒng)，所述線掃描CXD攝像系統(tǒng)的輸出端與處理顯示系統(tǒng)連接，所述線掃描CCD攝像系統(tǒng)與所述平行光源上下相對設(shè)置；所述分料系統(tǒng)包括收料盒及控制收料盒運(yùn)動的分料控制柜，所述分料控制柜設(shè)置在第二傳送帶尾端，所述收料盒設(shè)置在所述分料控制柜的上方，所述分料控制柜驅(qū)動收料盒在水平方向上運(yùn)動；所述處理顯示系統(tǒng)包括一計(jì)算機(jī)及與計(jì)算機(jī)通過數(shù)據(jù)線連接的顯示器。優(yōu)選地，所述線掃描CXD攝像系統(tǒng)固定于一支架上，所述支架固定連接于所述臺
1 ο優(yōu)選地，所述收料盒內(nèi)均分為至少兩個(gè)料盒。優(yōu)選地，所述分料系統(tǒng)還包括一螺桿組件及驅(qū)動螺桿組件運(yùn)動的步進(jìn)電機(jī)，所述螺桿組件設(shè)置在分料控制柜與分料盒之間，且與收料盒連接，所述分料控制柜的PLC控制端與步進(jìn)電機(jī)的信號端連接，所述分料控制柜控制步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動螺桿組件工作，帶動收料盒水平方向運(yùn)動。優(yōu)選地，所述檢測系統(tǒng)還包括一傳送帶控制柜、和分別控制第一電機(jī)、第二電機(jī)運(yùn)動的第一電機(jī)驅(qū)動、第二電機(jī)驅(qū)動，所述傳送帶控制柜設(shè)置在臺架內(nèi)，所述傳送帶控制柜的信號控制端與第一電機(jī)驅(qū)動、第二電機(jī)驅(qū)動的信號輸入端連接。優(yōu)選地，所述檢測系統(tǒng)還包括一用于控制系統(tǒng)的觸摸控制面板。本實(shí)用新型的有益效果主要體現(xiàn)在通過線掃描CXD攝像系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)處理，能夠很好的檢測出陶瓷基板鐳射孔洞的數(shù)量、大小及是否堵塞等情況，快速準(zhǔn)確，使得陶瓷基板鐳射孔洞的檢測效率大大的得到提高。

圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型提供了一種陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，如圖1所示，包括運(yùn)輸系統(tǒng)、及設(shè)置在其上方的探測系統(tǒng)和設(shè)置在運(yùn)輸系統(tǒng)尾端的分料系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)還包括一處理顯示系統(tǒng)。所述運(yùn)輸系統(tǒng)包括臺架1及設(shè)置在臺架1上的傳送設(shè)備和驅(qū)動傳送設(shè)備工作的驅(qū)動設(shè)備，所述傳送設(shè)備包括第一傳送帶21和第二傳送帶31 ；所述驅(qū)動設(shè)備包括驅(qū)動第一傳送帶21運(yùn)動的第一電機(jī)22和驅(qū)動第二傳送帶31運(yùn)動的第二電機(jī)32，所述臺架1內(nèi)固定有一平行光源13，所述平行光源13設(shè)置于第一傳送帶21與第二傳送帶31之間。所述臺架1上方固定連接有一支架41，所述支架41上連接有線掃描CXD攝像系統(tǒng) 4，所述線掃描CXD攝像系統(tǒng)4與所述平行光源13上下相對設(shè)置，所述線掃描CXD攝像系統(tǒng) 4的輸出端與處理顯示系統(tǒng)連接。所述分料系統(tǒng)包括收料盒51、控制收料盒51運(yùn)動的分料控制柜5，及與所述收料盒51連接的螺桿組件52、驅(qū)動螺桿組件52運(yùn)動的步進(jìn)電機(jī)53。所述分料控制柜5設(shè)置在第二傳送帶31尾端，所述收料盒51設(shè)置在所述分料控制柜5的上方，所述螺桿組件52設(shè)置在分料控制柜5與分料盒51之間，且與收料盒51連接，所述分料控制柜5驅(qū)動收料盒51 在水平方向上運(yùn)動。具體的，所述分料控制柜5的PLC控制端與步進(jìn)電機(jī)53的信號端連接，所述分料控制柜5控制步進(jìn)電機(jī)53工作，步進(jìn)電機(jī)53驅(qū)動螺桿組件52工作，帶動收料盒51水平方向運(yùn)動。所述收料盒51內(nèi)均分為至少兩個(gè)料盒M，分別接收經(jīng)檢測合格的陶瓷基板和未合格的陶瓷基板。所述處理顯示系統(tǒng)包括一計(jì)算機(jī)71及與計(jì)算機(jī)71通過數(shù)據(jù)線連接的顯示器7。所述檢測系統(tǒng)還包括一傳送帶控制柜72、和分別控制第一電機(jī)22、第二電機(jī)32運(yùn)動的第一電機(jī)驅(qū)動23、第二電機(jī)驅(qū)動33，所述傳送帶控制柜72設(shè)置在臺架1內(nèi)，所述傳送帶控制柜72的信號控制端與第一電機(jī)驅(qū)動23、第二電機(jī)驅(qū)動33的信號輸入端連接。所述檢測系統(tǒng)還包括一用于控制系統(tǒng)的觸摸控制面板6，用于直接對整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行方便快速的操作。下面具體闡述下本實(shí)用新型的工作過程。啟動系統(tǒng)。[0028]圖像的形成將待測陶瓷基板置于第一傳送帶21的指定位置上，待測基板經(jīng)第一傳送帶21以設(shè)定的速度傳送至第二傳送帶31。當(dāng)經(jīng)過平行光源13時(shí)，線掃描CXD攝像系統(tǒng)4拍攝8192*1像素的圖像，并隨待測陶瓷基板的連續(xù)移動，而形成整幅陶瓷基板的透光圖像。圖像的分析圖像經(jīng)數(shù)據(jù)線傳輸給計(jì)算機(jī)71進(jìn)行檢測、分析。主要是對圖像進(jìn)行亮度調(diào)整，使其接近預(yù)設(shè)值，避免亮度變化對測量產(chǎn)生影響。具體的，啟用對深色異物敏感算法，檢測堵孔數(shù)。啟用對細(xì)絲毛刺類異物敏感算法，檢測堵孔數(shù)。啟用對透明薄膜類異物敏感算法，檢測堵孔數(shù)。圖像的分析檢測具體的計(jì)算為，程序量測黑白二值化處理后的圖像內(nèi)孔的像素面積，并統(tǒng)計(jì)設(shè)定面積在設(shè)定區(qū)間內(nèi)的孔數(shù)，與基板上孔數(shù)真實(shí)值對比，得到堵孔數(shù)。計(jì)算指定孔中心位置，測量該孔中心至指定基板邊緣距離，跟標(biāo)準(zhǔn)距離對比，若超出公差區(qū)間， 即發(fā)生偏移。基板的合格判定及收集發(fā)生偏移的即為不合格產(chǎn)品，未偏移的即為合格產(chǎn)品。合格與不合格信號通過信號線傳遞給分料系統(tǒng)控制柜5內(nèi)PLC，PLC控制步進(jìn)電機(jī)53驅(qū)動螺桿組件52，帶動收料盒51移動，將合格與不合格的陶瓷基板分別收集。本實(shí)用新型尚有多種實(shí)施方式，凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，其特征在于包括運(yùn)輸系統(tǒng)、及設(shè)置在其上方的探測系統(tǒng)和設(shè)置在運(yùn)輸系統(tǒng)尾端的分料系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)還包括一處理顯示系統(tǒng)；所述運(yùn)輸系統(tǒng)包括臺架及設(shè)置在臺架上的傳送設(shè)備和驅(qū)動傳送設(shè)備工作的驅(qū)動設(shè)備， 所述傳送設(shè)備包括第一傳送帶和第二傳送帶，所述驅(qū)動設(shè)備包括驅(qū)動第一傳送帶運(yùn)動的第一電機(jī)和驅(qū)動第二傳送帶運(yùn)動的第二電機(jī)，所述臺架內(nèi)固定有一平行光源，所述平行光源設(shè)置于第一傳送帶與第二傳送帶之間；所述探測系統(tǒng)包括一固定臺架上方的線掃描CCD攝像系統(tǒng)，所述線掃描CCD攝像系統(tǒng)的輸出端與處理顯示系統(tǒng)連接，所述線掃描CCD攝像系統(tǒng)與所述平行光源上下相對設(shè)置；所述分料系統(tǒng)包括收料盒及控制收料盒運(yùn)動的分料控制柜，所述分料控制柜設(shè)置在第二傳送帶尾端，所述收料盒設(shè)置在所述分料控制柜的上方，所述分料控制柜驅(qū)動收料盒在水平方向上運(yùn)動；所述處理顯示系統(tǒng)包括一計(jì)算機(jī)及與計(jì)算機(jī)通過數(shù)據(jù)線連接的顯示器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，其特征在于所述線掃描CCD 攝像系統(tǒng)固定于一支架上，所述支架固定連接于所述臺架上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，其特征在于所述收料盒內(nèi)均分為至少兩個(gè)料盒。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，其特征在于所述分料系統(tǒng)還包括一螺桿組件及驅(qū)動螺桿組件運(yùn)動的步進(jìn)電機(jī)，所述螺桿組件設(shè)置在分料控制柜與分料盒之間，且與收料盒連接，所述分料控制柜的PLC控制端與步進(jìn)電機(jī)的信號端連接，所述分料控制柜控制步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動螺桿組件工作，帶動收料盒水平方向運(yùn)動。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，其特征在于所述檢測系統(tǒng)還包括一傳送帶控制柜、和分別控制第一電機(jī)、第二電機(jī)運(yùn)動的第一電機(jī)驅(qū)動、第二電機(jī)驅(qū)動，所述傳送帶控制柜設(shè)置在臺架內(nèi)，所述傳送帶控制柜的信號控制端與第一電機(jī)驅(qū)動、第二電機(jī)驅(qū)動的信號輸入端連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，其特征在于所述檢測系統(tǒng)還包括一用于控制系統(tǒng)的觸摸控制面板。
專利摘要本實(shí)用新型揭示了一種陶瓷基板鐳射孔洞的檢測系統(tǒng)，包括運(yùn)輸系統(tǒng)、及探測系統(tǒng)和分料系統(tǒng)，檢測系統(tǒng)包括一處理顯示系統(tǒng)；運(yùn)輸系統(tǒng)包括臺架、傳送帶，驅(qū)動傳送帶運(yùn)動的電機(jī)，臺架內(nèi)固定有一平行光源；探測系統(tǒng)包括一線掃描CCD攝像系統(tǒng)，線掃描CCD攝像系統(tǒng)的輸出端與處理顯示系統(tǒng)連接，線掃描CCD攝像系統(tǒng)與平行光源上下相對設(shè)置；分料系統(tǒng)包括收料盒及分料控制柜，分料控制柜設(shè)置在傳送帶尾端，收料盒設(shè)置在分料控制柜的上方，分料控制柜驅(qū)動收料盒在水平方向上運(yùn)動；處理顯示系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)及顯示器。本實(shí)用新型通過線掃描CCD攝像系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)處理，很好的檢測出陶瓷基板鐳射孔洞的數(shù)量、大小及是否堵塞等情況，快速準(zhǔn)確，檢測效率大大提高。
文檔編號G01B11/00GK202230033SQ201120374378
公開日2012年5月23日 申請日期2011年10月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月8日
發(fā)明者秦樂寧, 薛偉峰, 謝懷婷, 陸曉金, 黃明臻, 龔衛(wèi)忠 申請人:蘇州賽瑯泰克高技術(shù)陶瓷有限公司