專利名稱：多列式凸塊薄膜探針的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種多列式凸塊薄膜探針。
背景技術(shù)：
為了便于使用者測試TFT面板、LED面板或太陽能薄膜等電子裝置的電路是否正常，坊間有業(yè)者乃開發(fā)出一種薄膜探針，該薄膜探針主要具有一軟性電路板，且該軟性電路板上平行設(shè)置有多條導(dǎo)線，該等導(dǎo)線上各設(shè)有一金屬凸塊，借此，只要將該薄膜探針進(jìn)一步裝置于一測試壓塊上，再通過該測試壓塊將該薄膜探針壓抵于一待測的電子裝置上，讓該等金屬凸塊分別接觸于該電子裝置的每一條電路，便能夠測試出該電路板是否正常。然而，由于該現(xiàn)有薄膜探針的每一導(dǎo)線上僅設(shè)有一金屬凸塊，因此當(dāng)其中一導(dǎo)線上的金屬凸塊毀損故障時(shí)，該薄膜探針將無法對該電子裝置進(jìn)行測試，必須整塊丟棄換新， 不僅非常浪費(fèi)與不環(huán)保，且會增加使用者的成本，是故，該現(xiàn)有薄膜探針實(shí)有進(jìn)一步改良的必要。

實(shí)用新型內(nèi)容為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的提供一種能夠有效改善現(xiàn)有薄膜探針于其中一金屬凸塊損毀便需整塊更換的缺點(diǎn)，以達(dá)到節(jié)省成本與環(huán)保功效的多列式凸塊薄膜探針。本實(shí)用新型所提供的多列式凸塊薄膜探針，其包含有一軟性電路板，且該軟性電路板上設(shè)有至少一固定孔；以及一探針單元，其具有多條設(shè)置于該軟性電路板的導(dǎo)線，且每一條導(dǎo)線上各設(shè)有至少二金屬凸塊，該等金屬凸塊排列成至少二列。作為優(yōu)選方案，其中，該等導(dǎo)線平行設(shè)置于該軟性電路板上。作為優(yōu)選方案，其中，該等金屬凸塊平行排列于該等導(dǎo)線上。作為優(yōu)選方案，其中，該等金屬凸塊交錯(cuò)排列于該等導(dǎo)線上。作為優(yōu)選方案，其中，該固定孔為長條狀。作為優(yōu)選方案，其中，該軟性電路板上更進(jìn)一步設(shè)有至少一定位孔。作為優(yōu)選方案，其中，該定位孔為長條狀。作為優(yōu)選方案，其中，該軟性電路板上更進(jìn)一步設(shè)有至少一標(biāo)記部。作為優(yōu)選方案，其中，該標(biāo)記部為一標(biāo)線。本實(shí)用新型的多列式凸塊薄膜探針，由于每一導(dǎo)線上皆設(shè)有至少二個(gè)金屬凸塊， 且該等金屬凸塊排列成至少二列，因此當(dāng)其中一列的金屬凸塊發(fā)生損壞時(shí)，使用者還可利用另外一列的金屬凸塊對該電子裝置進(jìn)行測試，借此，不僅能夠大幅提升該多列式凸塊薄膜探針的使用壽命，且可有效改善現(xiàn)有薄膜探針于其中一金屬凸塊損毀便需整塊更換的缺點(diǎn)，而使該多列式凸塊薄膜探針能夠達(dá)到節(jié)省成本與環(huán)保的功效。

[0015]圖1是本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的立體圖。圖2是本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的剖視圖。圖3是本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的使用示意圖。圖4是本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的使用示意圖。圖5是本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的使用示意圖。圖6是本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的使用示意圖。圖7是本實(shí)用新型另一較佳實(shí)施例的立體圖。圖8是本實(shí)用新型另一較佳實(shí)施例的使用示意圖。圖9是本實(shí)用新型又一較佳實(shí)施例的立體圖。圖10是本實(shí)用新型又一較佳實(shí)施例的使用示意圖。附圖標(biāo)記說明
100多列式凸塊薄膜探針；10軟性電路板；11固定孔；12定位孔；13標(biāo)記部；20探針單元；21導(dǎo)線；22金屬凸塊；200電子裝置；201電路；300測試壓塊；301本體；302螺栓；303壓頭；304橡膠壓條；305定位銷；306鎖孔；307螺栓；400一體式測試壓塊；401本體；402壓頭；403橡膠壓條;404定位銷；405鎖孔；406螺栓。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好的理解本實(shí)用新型并能予以實(shí)施，但所舉實(shí)施例不作為對本實(shí)用新型的限定。請同時(shí)參閱圖1以及圖2所示，為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的立體圖以及剖視圖，其揭露有一種多列式凸塊薄膜探針100，該多列式凸塊薄膜探針100包含有一軟性電路板10，其上設(shè)有至少一固定孔11以及至少一定位孔12，于本實(shí)施例中，該軟性電路板10的頂面鄰近兩側(cè)處互相對應(yīng)各設(shè)有一個(gè)固定孔11以及一個(gè)定位孔12， 且該固定孔U與該定位孔12形成長條狀。[0030]一探針單元20，其具有多條間隔設(shè)置于該軟性電路板10的導(dǎo)線21，且每一條導(dǎo)線 21上各設(shè)有至少二金屬凸塊22，該等金屬凸塊22排列成至少二列，于本實(shí)施例中，該等導(dǎo)線21平行設(shè)置于該軟性電路板10上，且每一導(dǎo)線21上皆設(shè)有二個(gè)金屬凸塊22，該等金屬凸塊22平行排列于該等導(dǎo)線21上。請?jiān)偻瑫r(shí)參閱圖3、圖4以及圖5所示，當(dāng)使用者欲使用該多列式凸塊薄膜探針 100對一電子裝置200，如TFT面板、LED面板或太陽能薄膜等，進(jìn)行測試時(shí)，首先，使用者必須將該多列式凸塊薄膜探針100裝設(shè)于一測試壓塊300上，其中，該測試壓塊300具有一本體301，且該本體301的前端通過多個(gè)螺栓302鎖設(shè)有一壓頭303，該壓頭303上進(jìn)一步采一體灌注形成有一橡膠壓條304，另，該本體301上更設(shè)有一對定位銷305，又，該本體304 上更設(shè)有一對鎖孔306，借此，使用者只要先將該多列式凸塊薄膜探針100設(shè)置于該測試壓塊300上，并讓該定位孔12套設(shè)于對應(yīng)的該定位銷305，此時(shí)因?yàn)樵摱ㄎ豢?2形成長條狀， 所以使用者可借由該定位銷305的限位，沿著該定位孔12的長軸方向調(diào)整該多列式凸塊薄膜探針100于該本體304上的位置，使位于最前一列的金屬凸塊22對準(zhǔn)該橡膠壓條304，之后再通過一螺栓307穿過該固定孔11并鎖固于對應(yīng)的鎖孔306，便可將該多列式凸塊薄膜探針100裝設(shè)于該測試壓塊300上。當(dāng)使用者將該多列式凸塊薄膜探針100裝設(shè)于該測試壓塊300后，便可開始對該電子裝置200進(jìn)行測試，使用者只要將該測試壓塊300直接壓抵于該電子裝置200上，讓該等金屬凸塊22接觸于該電子裝置200的每一條電路201，便可對該等電路201進(jìn)行通電，以測試該電子裝置200是否可以正常使用，值得一提的是，因?yàn)樵摐y試壓塊300上設(shè)有該橡膠壓條304，所以可提供緩沖空間以緩沖該等金屬凸塊22壓抵于該電路201上的力道，以防止過大的壓抵力量導(dǎo)致該等金屬凸塊22損毀，從而能夠達(dá)到提升該等金屬凸塊22壽命的效請?jiān)偻瑫r(shí)參閱圖6所示，當(dāng)最前一列的金屬凸塊22在長期使用后發(fā)生損毀時(shí)，此時(shí)因?yàn)槊恳粚?dǎo)線21上皆設(shè)有至少二個(gè)金屬凸塊22，且該等金屬凸塊22排列成至少二列，所以使用者還可利用另外一列的金屬凸塊22對該電子裝置200進(jìn)行測試，于本實(shí)施例中，使用者只要將該多列式凸塊薄膜探針100由該測試壓塊300上取下，再對該多列式凸塊薄膜探針100進(jìn)行裁切，將損壞的金屬凸塊22整列切除，之后再將該多列式凸塊薄膜探針100 重新裝回該測試壓塊300上，并調(diào)整位置使裁切后位于最前一列的金屬凸塊22對準(zhǔn)該橡膠壓條304，便可繼續(xù)使用該多列式凸塊薄膜探針100對該電子裝置200進(jìn)行測試，借此，不僅能夠大幅提升該多列式凸塊薄膜探針100的使用壽命，且可有效改善現(xiàn)有薄膜探針于其中一金屬凸塊損毀便需整塊更換的缺點(diǎn)，而使該多列式凸塊薄膜探針100能夠達(dá)到節(jié)省成本與環(huán)保的功效。值得一提的是，使用者亦可直接調(diào)整該多列式凸塊薄膜探針100位于該測試壓塊 300上的位置，使另外一列金屬凸塊22對準(zhǔn)該橡膠壓條304，以供對該電子裝置200進(jìn)行測試，而不用對該多列式凸塊薄膜探針100進(jìn)行裁切動作。請?jiān)偻瑫r(shí)參閱圖7、8所示，為本實(shí)用新型的另一較佳實(shí)施例的使用示意分解圖， 該多列式凸塊薄膜探針100與前述較佳實(shí)施例不同之處在于，該探針單元20的金屬凸塊22 交錯(cuò)排列于該等導(dǎo)線21上，且該軟性電路板10上僅設(shè)有一對固定孔11，該固定孔11形成圓形，而該測試壓塊300上則設(shè)有對應(yīng)的二對鎖孔306，借此，能夠?qū)υ摱嗔惺酵箟K薄膜探針100裝設(shè)位置進(jìn)行最佳化，讓使用者只要將該固定孔11對準(zhǔn)該鎖孔306便可準(zhǔn)確的將該多列式凸塊薄膜探針100裝設(shè)于該測試壓塊300上，同時(shí)在該多列式凸塊薄膜探針100因?yàn)榻饘偻箟K22發(fā)生損壞而需要調(diào)整位置時(shí)，使用者也只要將該多列式凸塊薄膜探針100往前鎖設(shè)于該測試壓塊300的另一對鎖孔306，便可完成裝設(shè)作業(yè)，從而能夠達(dá)到簡化裝設(shè)程序的效果。請?jiān)偻瑫r(shí)參閱圖9、10所示，為本實(shí)用新型的又一較佳實(shí)施例使用示意分解圖，該多列式凸塊薄膜探針100與前述較佳實(shí)施例不同之處在于，該軟性電路板10上更進(jìn)一步設(shè)有至少一標(biāo)記部13，可供輔助使用者準(zhǔn)確的對該多列式凸塊薄膜探針100進(jìn)行裁切者，于本實(shí)施例中，該軟性電路板10上設(shè)有一個(gè)標(biāo)記部13，且該標(biāo)記部13為一以假想線表示的標(biāo)線，此外該多列式凸塊薄膜探針100更可裝設(shè)于一個(gè)一體式測試壓塊400上，該一體式測試壓塊400主要具有一本體401，且該本體401的一側(cè)一體成型有一壓頭402，該壓頭402上設(shè)有一橡膠壓條403，同時(shí)該本體401上更設(shè)有一對定位銷404以及一對鎖孔405，借此，使用者只要通過一螺栓406將該多列式凸塊薄膜探針100鎖設(shè)于該一體式測試壓塊400上， 便可對該電子裝置200進(jìn)行測試，而能夠達(dá)到與前述較佳實(shí)施例相同的效果。以上所述實(shí)施例僅是為充分說明本實(shí)用新型而所舉的較佳的實(shí)施例，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不限于此。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型基礎(chǔ)上所作的等同替代或變換，均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種多列式凸塊薄膜探針，其包含有一軟性電路板，其上設(shè)有至少一固定孔；一探針單元，其具有多條間隔設(shè)置于該軟性電路板的導(dǎo)線，且每一條導(dǎo)線上各設(shè)有至少二金屬凸塊，該等金屬凸塊排列成至少二列。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該等導(dǎo)線平行設(shè)置于該軟性電路板上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該等金屬凸塊平行排列于該等導(dǎo)線上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該等金屬凸塊交錯(cuò)排列于該等導(dǎo)線上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該固定孔為長條狀。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該軟性電路板上更進(jìn)一步設(shè)有至少一定位孔。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該定位孔為長條狀。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該軟性電路板上更進(jìn)一步設(shè)有至少一標(biāo)記部。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的多列式凸塊薄膜探針，其特征在于，該標(biāo)記部為一標(biāo)線。
專利摘要一種多列式凸塊薄膜探針，其包含有一軟性電路板以及一探針單元，其中，該探針單元具有多條間隔設(shè)置于該軟性電路板的導(dǎo)線，且每一條導(dǎo)線上各設(shè)有至少二金屬凸塊，該等金屬凸塊排列成至少二列，借此，當(dāng)其中一列的金屬凸塊發(fā)生損壞時(shí)，使用者還可利用另外一列的金屬凸塊對該電子裝置進(jìn)行測試，如此不僅能夠大幅提升該多列式凸塊薄膜探針的使用壽命，且可有效改善現(xiàn)有薄膜探針于其中一金屬凸塊損毀便需整塊更換的缺點(diǎn)，從而能夠達(dá)到節(jié)省成本與環(huán)保的功效。
文檔編號G01R1/067GK202083720SQ201120190549
公開日2011年12月21日 申請日期2011年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月8日
發(fā)明者胡瓊, 蔡榮峯 申請人:智誠實(shí)業(yè)股份有限公司