技術(shù)編號(hào)：5915527
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種多列式凸塊薄膜探針。 背景技術(shù)為了便于使用者測(cè)試TFT面板、LED面板或太陽能薄膜等電子裝置的電路是否正常，坊間有業(yè)者乃開發(fā)出一種薄膜探針，該薄膜探針主要具有一軟性電路板，且該軟性電路板上平行設(shè)置有多條導(dǎo)線，該等導(dǎo)線上各設(shè)有一金屬凸塊，借此，只要將該薄膜探針進(jìn)一步裝置于一測(cè)試壓塊上，再通過該測(cè)試壓塊將該薄膜探針壓抵于一待測(cè)的電子裝置上，讓該等金屬凸塊分別接觸于該電子裝置的每一條電路，便能夠測(cè)試出該電路板是否正常。然而，由于該現(xiàn)有薄膜探針的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。