專利名稱：四線式電路板精密測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電路板測試領(lǐng)域技術(shù)，尤其是指一種四線式電路板精密測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電子產(chǎn)品在我們的生活中已經(jīng)無處不在，其應(yīng)用領(lǐng)域相當(dāng)廣泛。不管是洗衣機(jī)、冰箱、空調(diào)、電飯煲、遙控器等家用電器，還是手機(jī)、MP3/MP4、PSP、計算機(jī)、數(shù)碼相機(jī)等高端科技產(chǎn)品，甚至是交通燈、監(jiān)控器、商場裝飾燈等公共場所設(shè)施中也離不開電子產(chǎn)品發(fā)揮的巨大作用。而電路板作為電子產(chǎn)品中的核心部分，其重要性更是不言而喻。隨著電子技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在市場上生產(chǎn)的電路板越來越精密，所以電路板生產(chǎn)后也就要求更精密的電路板測試系統(tǒng)。而現(xiàn)有市場的大多的電路板測試機(jī)都沒辦法精確測量電路板上的電阻，以及，尤其在測試點(diǎn)數(shù)比較大的電路板上，其測試速度很低。另外，現(xiàn)有技術(shù)中的電路板測試機(jī)的電子控制部分系將電壓輸出、電流輸出、AD轉(zhuǎn)換及IO控制全部集成在MS卡上，其模塊區(qū)分不明顯，不利于調(diào)試和維修，影響了調(diào)試和維修的效率。鑒于此，本實(shí)用新型人針對電路板測試機(jī)的現(xiàn)存不足做了研究思考，實(shí)用新型了一種四線式電路板精密測試系統(tǒng)，本案由此產(chǎn)生。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種四線式電路板精密測試系統(tǒng)，其能精確測量到電路板上的電阻，且極大提高了測試速度及調(diào)試、維修的效率。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用下述方案—種四線式電路板精密測試系統(tǒng)，具有硬件控制區(qū)和軟件操作界面，其中硬件控制區(qū)包括機(jī)構(gòu)控制模塊和電子控制模塊，測試的信息通過軟件處理顯示在軟件操作界面， 該電子控制模塊設(shè)有恒流源或恒壓源、信號源SC、控制源SK、一個數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊及兩個完全相同的測試電路，該兩測試電路的輸出端均連接于前述數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊。作為一種優(yōu)選方案，所述測試電路包括兩個PNP三極管、兩個接測量端子、兩個 NPN三極管、定值電阻、運(yùn)算放大器一、高阻抗運(yùn)算放大器二及多個電子開關(guān)；該兩個PNP三極管的發(fā)射極連接前述恒流源或恒壓源，并其基極分別與信號源SC 連接，其集電極分別連接兩測量端子，同時，該兩測量端子分別與兩個NPN三極管的集電極相連，NPN三極管的基極與控制源SK連接，并其發(fā)射極串聯(lián)于定值電阻到信號地，該定值電阻連接于運(yùn)算放大器一的輸入端，運(yùn)算放大器的輸出端連接前述數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，前述兩測量端子分別連接于前述高阻抗運(yùn)算放大器二，前述電子開關(guān)設(shè)置于測量端子和高阻抗運(yùn)算放大器二之間，該高阻抗運(yùn)算放大器二的輸出端亦前述連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊。作為一種優(yōu)選方案，所述定值電阻為若干個，其阻值各不相同，它們并聯(lián)在測試電路中，每個定值電阻都串聯(lián)有一個開關(guān)。作為一種優(yōu)選方案，所述電子開關(guān)為若干個，它們串聯(lián)或并聯(lián)或混聯(lián)于測試電路中。作為一種優(yōu)選方案，所述電子控制模塊具有HRX卡、Pff卡、MD卡、I/O卡、LRX卡、 AD卡及SC箱，其中，該P(yáng)W卡上集成有電壓輸出模塊和電流輸出模塊，并該AD卡上集成有 IO控制及AD轉(zhuǎn)換。作為一種優(yōu)選方案，所述軟件操作界面具有七塊顯示區(qū)，分別是網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)顯示區(qū)、 結(jié)果顯示區(qū)、單點(diǎn)測試顯示區(qū)、自我測試顯示區(qū)、學(xué)習(xí)顯示區(qū)、工程模式顯示區(qū)和幫助信息顯示區(qū)。本實(shí)用新型采用上述技術(shù)方案后，其有益效果在于一、該電子控制模塊采用雙通道測試模式，使得電子元件的延遲時間跟軟體的讀取AD時間成為了同步操作，極大地提高了測試速度。二、將電壓輸出模塊及電流輸出模塊集成到PW卡上，并將IO控制及AD轉(zhuǎn)換集成到AD卡上，其分區(qū)明顯，有效提高了調(diào)試和維修的效率。為更清楚地闡述本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征和功效，
以下結(jié)合附圖與具體實(shí)施例來對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。

圖1是本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例的測試電路原理圖。
具體實(shí)施方式
請參見圖1和圖2所示，其顯示出了本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例的具體結(jié)構(gòu)，包括硬件控制區(qū)和軟件操作界面，兩者是由軟件聯(lián)系起來。硬件控制區(qū)分成機(jī)構(gòu)控制模塊和電子控制模塊。該機(jī)構(gòu)控制模塊具有壓床控制模塊，為測試提供機(jī)械自動按壓動作，測試結(jié)果由傳感器回授模塊和鍵盤回授模塊采集，并傳送給電子控制模塊。該電子控制模塊包括有HRX卡、PW卡、MD卡、I/O卡、LRX卡、AD卡及SC箱，本實(shí)用新型的重點(diǎn)之一在于，將電壓輸出模塊和電流輸出模塊集成到了 PW卡上，并將I/O控制及AD轉(zhuǎn)換集成到了 AD卡上，這樣，可以有效提高了調(diào)試和維修的效率；當(dāng)然，該電子控制模塊主要系進(jìn)行對測試數(shù)據(jù)的處理，再把結(jié)果顯示在軟件操作界面上，具體通過軟件實(shí)現(xiàn)。其測試電路原理如圖2所示，我們可以看出，A、B通道的測試電路完全相同，介紹 A或B通道的測試電路如下該測試電路提供恒流源或恒壓源，恒流源或恒壓源直接連接兩個PNP三極管Q1、 Q3的發(fā)射極，此PNP三極管基極與信號源SC連接，此PNP三極管Q1、Q3集電極分別連接測量端子Pl和P2，測量觸點(diǎn)P1、P2分別與兩個NPN三極管Q2、Q4的集電極相連，此NPN三極管Q2、Q4的基極與控制源SK連接，此NPN三極管Q2、Q4發(fā)射極同時串聯(lián)定值電阻到信號地， 定值電阻有多個，其阻值各不相同，它們并聯(lián)在測試電路中，每個定值電阻都串聯(lián)有一個開關(guān)，于本實(shí)施例中，其分別為電阻Rl、R2、R3，該三個定值電阻分別串聯(lián)開關(guān)K71、K8和K9， 以應(yīng)用于不同測量值的電路中。定值電阻連接于運(yùn)算放大器一的輸入端，運(yùn)算放大器的輸出端連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，測試電路的兩個測量端子PI、P2還連接有高阻抗運(yùn)算放大器二，在測量端子P1、P2和高阻抗運(yùn)算放大器二的兩個端子之間設(shè)有電子開關(guān)K1、K2、K3、K4、K5 和Κ6，以控制端子是否連通高阻抗運(yùn)算放大器二，該高阻抗運(yùn)算放大器二的輸出端亦前述連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊。上述A通道和B通道的測試電路中，其數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊為共用，傳統(tǒng)技術(shù)中的單通道測試電路中，由于電子元件的特性，在開啟電子元件后，需要等待一定的時間才能讀取電壓 AD，這樣就會降低測試速度。在測試點(diǎn)數(shù)比較大的線路板上，這種情況尤其明顯，為了提高測試速度，本實(shí)用新型中采用上述雙通道測試模式，即在測試時，先開啟A通道，然后轉(zhuǎn)到B 通道讀取電壓值，然后開啟B通道，轉(zhuǎn)到A通道讀取電壓值。這樣的做法，使得電子元件的延遲時間跟軟體的讀取AD時間成為了同步操作，極大的提高了測試速度。本實(shí)施例中所涉及的測試包括有電阻測試、開路測試、短路測試和高壓測試，其具體測試方法如下(1)電阻測試主要用的是歐姆定律，送出恒定電流，通過MP與麗讀取線路板上 2點(diǎn)的電壓，在線路板上電阻不是極大的情況下，可以保證線路板上的電流大小就是送出的恒流源的大小，根據(jù)歐姆定律，R=V/I，得出線路板上2點(diǎn)的電阻；(2)開路測試采用電壓進(jìn)行測試，首先將用戶設(shè)定的電壓通過內(nèi)部電阻(為用戶設(shè)定的電阻大小)，然后讀取標(biāo)準(zhǔn)電阻上的電壓值VI，然后將電壓輸出到線路板上的2點(diǎn)， 再次2讀取標(biāo)準(zhǔn)電阻上的電壓值V2，若V2》VI，說明線路板上的阻抗比設(shè)定阻抗小，判定為 PASS，否則為 FAIL ；(3)短路測試同開路測試比較法，當(dāng)量測出來的V2<V1，判定為良品，否則判定為短路；(4)高壓測試即絕緣測試，同短路測試一樣的原理，但是采取的高壓電流通過線路板。該軟件操作界面也具有人性化設(shè)計，具有7塊顯示區(qū)，分別是網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)顯示區(qū)、結(jié)果顯示區(qū)、單點(diǎn)測試顯示區(qū)、自我測試顯示區(qū)、學(xué)習(xí)顯示區(qū)、工程模式顯示區(qū)和幫助信息顯示區(qū)。本實(shí)用新型的設(shè)計重點(diǎn)在于，主要系電子控制模塊采用雙通道測試模式，使得電子元件的延遲時間跟軟體的讀取AD時間成為了同步操作，極大地提高了測試速度；其次是，將電壓輸出模塊及電流輸出模塊集成到PW卡上，并將IO控制及AD轉(zhuǎn)換集成到AD卡上， 其分區(qū)明顯，有效提高了調(diào)試和維修的效率。以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對本實(shí)用新型的技術(shù)范圍作任何限制，故凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種四線式電路板精密測試系統(tǒng)，包括有硬件控制區(qū)和軟件操作界面，其中硬件控制區(qū)包括機(jī)構(gòu)控制模塊和電子控制模塊，其特征在于該電子控制模塊設(shè)有恒流源或恒壓源、信號源Sc、控制源SK、一個數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊及兩個完全相同的測試電路，該兩測試電路的輸出端均連接于前述數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四線式電路板精密測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試電路包括兩個PNP三極管、兩個接測量端子、兩個NPN三極管、定值電阻、運(yùn)算放大器一、高阻抗運(yùn)算放大器二及多個電子開關(guān)；該兩個PNP三極管的發(fā)射極連接前述恒流源或恒壓源，并其基極分別與信號源SC連接，其集電極分別連接兩測量端子，同時，該兩測量端子分別與兩個NPN三極管的集電極相連，NPN三極管的基極與控制源SK連接，并其發(fā)射極串聯(lián)于定值電阻到信號地，該定值電阻連接于運(yùn)算放大器一的輸入端，運(yùn)算放大器的輸出端連接前述數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，前述兩測量端子分別連接于前述高阻抗運(yùn)算放大器二，前述電子開關(guān)設(shè)置于測量端子和高阻抗運(yùn)算放大器二之間，該高阻抗運(yùn)算放大器二的輸出端亦前述連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四線式電路板精密測試系統(tǒng)，其特征在于所述定值電阻為若干個，其阻值各不相同，它們并聯(lián)在測試電路中，每個定值電阻都串聯(lián)有一個開關(guān)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四線式電路板精密測試系統(tǒng)，其特征在于所述電子開關(guān)為若干個，它們串聯(lián)或并聯(lián)或混聯(lián)于測試電路中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四線式電路板精密測試系統(tǒng)，其特征在于所述電子控制模塊具有HRX卡、PW卡、MD卡、I/O卡、LRX卡、AD卡及SC箱，其中，該P(yáng)W卡上集成有電壓輸出模塊和電流輸出模塊，并該AD卡上集成有IO控制及AD轉(zhuǎn)換。
專利摘要本實(shí)用新型公開的是一種四線式電路板精密測試系統(tǒng)，具有硬件控制區(qū)和軟件操作界面，其中硬件控制區(qū)包括機(jī)構(gòu)控制模塊和電子控制模塊，測試的信息通過軟件處理顯示在軟件操作界面；該電子控制模塊設(shè)有恒流源或恒壓源、信號源SC、控制源SK、一個數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊及兩個完全相同的測試電路，該兩測試電路的輸出端均連接于前述數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊；其中，任一測試電路包括兩個PNP三極管、兩個接測量端子、兩個NPN三極管、定值電阻、運(yùn)算放大器一、高阻抗運(yùn)算放大器二及多個電子開關(guān)；如此，該電子控制模塊采用雙通道測試模式，使得電子元件的延遲時間跟軟體的讀取AD時間成為了同步操作，極大地提高了測試速度。
文檔編號G01R31/28GK202145227SQ201120179258
公開日2012年2月15日 申請日期2011年5月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月31日
發(fā)明者楊世光 申請人:東莞中逸電子有限公司