專利名稱：光纖測量裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光纖測量裝置，具體地說是一種運用于測量各種大壩、邊坡、橋梁、管道等建筑物是否發(fā)生裂縫和破損的測量裝置。
背景技術：
目前，測量建筑物結構的裂縫和破損，邊坡滑動等工程隱患的常規(guī)方法是采用測縫計和應力計觀測，或者通過人工巡視檢查。由于工程造價和施工等原因測縫計和應力計只能少量分布埋設在建筑物內，當建筑物發(fā)生裂縫和破損時，以上儀器往往不能及時全面地反應出建筑物的變化情況，人工巡視檢查更是難以發(fā)現建筑物和管道內部的變化情況。同時各種管道和隧洞的裂縫和破損更是難以得到有效監(jiān)測。從而導致部分工程隱患不能及時發(fā)現，影響建筑物和管道的安全運行。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種光纖測量裝置，其具有工程造價底，施工布設方便，布設面積全面靈活的優(yōu)勢，可以全面及時地發(fā)現建筑物和各種管道的裂縫和破損等變形情況。及時發(fā)現工程隱患，為工程的運行維護提供依據。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的技術方案為:一種光纖測量裝置，包括光纖通信測量儀器和光纖線，光纖線一端接于光纖通信測量儀器上，所述光纖線中心為高折射率的玻璃芯，玻璃芯外層為低折射率的硅玻璃包層，最外層為樹脂涂層，樹脂涂層根據具體的工程結構制作。光纖線的樹脂涂層是根據不同工程結構制作的保護層，要求抗拉強度比較低，受力時就會同光纖線一起斷裂。光纖線一端埋設在建筑物或管道內，或固定在建筑物或管道的表面，另一端由建筑物內引出連接到光纖通信測量儀器上。通過光纖通信測量儀器測量布設光纖長度的變化情況，測量出建筑物或管道是否發(fā)生裂縫和破損，同時可以判斷發(fā)生裂縫和破損的具體位置。本發(fā)明的有益效果在于:一、克服了現有技術工程造價高，測量范圍有限的缺點；二、由于光纖的纖芯很細，一般為幾十微米，光纖測量裝置便于施工埋設，測量范圍廣且布設靈活，不影響建筑物和管道的穩(wěn)定性；三、光纖線可以布設在管道的管壁內從而實現對各種管道裂縫、破損的監(jiān)測，測量便捷，穩(wěn)定可靠。


下面結合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細的說明。圖1為本發(fā)明第一種實施例的結構示意圖；圖2為圖1中A-A剖視放大圖；圖3為光纖的截面放大圖4為本發(fā)明第二種實施例的結構示意圖。
具體實施例方式如圖1和3所示:一種光纖測量裝置，包括光纖通信測量儀器3和光纖線1，光纖線I 一端接于光纖通信測量儀器3上，所述光纖線I中心為高折射率的玻璃芯11，玻璃芯11外層為低折射率的硅玻璃包層12，最外層為樹脂涂層13，樹脂涂層13根據具體的工程結構制作。光纖線I的樹脂涂層13是根據不同工程結構制作的保護層，要求抗拉強度比較低，受力時就會同光纖線一起斷裂。如圖2所示，光纖線I 一端鋪設于管道2的管壁21中，或如圖4所示，將光纖線I埋設在建筑物4內，另一端由建筑物4內引出連接到光纖通信測量儀器3上。通過光纖通信測量儀器3測量布設光纖長度的變化情況，測量出建筑物或管道是否發(fā)生裂縫和破損，同時可以判斷發(fā)生裂縫和破損的具體位置。此設計可以根據需要使用不同類型的光纖和保護層，以及各種光纖通信測量儀器。以上公開的僅為本專利的具體實施例，但本專利并非局限于此，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，做出的變形應視為屬于本發(fā)明保護范圍。
權利要求
1.一種光纖測量裝置，其特征在于:包括光纖通信測量儀器和光纖線，光纖線一端接于光纖通信測量儀器上，所述光纖線中心為高折射率的玻璃芯，玻璃芯外層為低折射率的硅玻璃包層，最外層為樹脂涂層。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光纖測量裝置，包括光纖通信測量儀器和光纖線，光纖線一端接于光纖通信測量儀器上，所述光纖線中心為高折射率的玻璃芯，玻璃芯外層為低折射率的硅玻璃包層，最外層為樹脂涂層；本發(fā)明克服了現有技術工程造價高，測量范圍有限的缺點，由于光纖的纖芯很細，一般為幾十微米，光纖測量裝置便于施工埋設，測量范圍廣且布設靈活，不影響建筑物和管道的穩(wěn)定性，光纖線可以布設在管道的管壁內從而實現對各種管道裂縫、破損的監(jiān)測，測量便捷，穩(wěn)定可靠。
文檔編號G01N21/88GK103163142SQ20111042186
公開日2013年6月19日 申請日期2011年12月16日 優(yōu)先權日2011年12月16日
發(fā)明者程菡, 羅井倫 申請人:羅井倫