專利名稱：高速通信總線芯片端口特性測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域，尤其涉及一種高速通信總線芯片端口特性測試方法。
背景技術(shù)：
測試總線芯片性能是否符合設(shè)計(jì)要求時(shí)，對總線芯片的每個(gè)通道都要進(jìn)行測試。 對高速通信總線芯片而言，每個(gè)通道傳輸?shù)亩际遣罘中盘?，即高速通信總線芯片的每個(gè)通道都包含兩個(gè)通道端口。對于同時(shí)具有接收和發(fā)射功能的高速通信總線芯片，每個(gè)通道的每個(gè)通道端口既可接收外部傳輸來的信號，又可向外部發(fā)射信號，測試具有接收和發(fā)射功能的高速通信總線芯片的性能，需要分別測試接收信號的性能和發(fā)射信號的性能。測試具有接收和發(fā)射功能的高速通信總線芯片的性能時(shí)，每個(gè)通道的每個(gè)通道端口均引出一根源線和一根捕獲線與測試機(jī)連接，所述源線用于接收外部傳輸來的信號，所述捕獲線用于向外部發(fā)射信號。圖1所示為現(xiàn)有技術(shù)中測試高速通信總線芯片性能的示意圖，圖1中只顯示出待測高速通信總線芯片100的一個(gè)通道，該通道的兩個(gè)通道端口分別為第一通道端口 A+和第二通道端口 A-，從所述第一通道端口 A+引出第一源線110和第一捕獲線120，從所述第二通道端口 A-引出第二源線130和第二捕獲線140，所述第一源線110、 第一捕獲線120、第二源線130和第二捕獲線140分別與測試機(jī)200連接。測試所述待測高速通信總線芯片100接收信號的性能時(shí)，所述測試機(jī)200通過所述第一源線110和第二源線130向所述待測高速通信總線芯片100傳輸差分信號，啟動所述待測高速通信總線芯片 100內(nèi)部的邏輯功能，所述測試機(jī)200通過檢測邏輯功能運(yùn)行參數(shù)來判斷所述待測高速通信總線芯片100的性能是否符合設(shè)計(jì)要求；測試所述待測高速通信總線芯片100發(fā)射信號的性能時(shí)，所述待測高速通信總線芯片100通過所述第一捕獲線120和第二捕獲線140向所述測試機(jī)200發(fā)射差分信號，所述測試機(jī)200通過檢測所述待測高速通信總線芯片100 發(fā)射的差分信號來判斷所述待測高速通信總線芯片100的性能是否符合設(shè)計(jì)要求。無論是所述測試機(jī)200向所述待測高速通信總線芯片100傳輸差分信號，還是所述待測高速通信總線芯片100向所述測試機(jī)200發(fā)射差分信號，所述待測高速通信總線芯片100都會產(chǎn)生反饋信號，該反饋信號傳輸至所述測試機(jī)200，對測試產(chǎn)生干擾，導(dǎo)致所述測試機(jī)200無法測試，甚至損壞所述測試機(jī)200。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種高速通信總線芯片端口特性測試方法，可避免反饋信號對測試的干擾，準(zhǔn)確對高速通信總線芯片進(jìn)行測試。為了達(dá)到上述的目的，本發(fā)明提供一種高速通信總線芯片端口特性測試方法，高速通信總線芯片每個(gè)通道端口引出的源線和捕獲線均通過高速開關(guān)與測試機(jī)連接，該方法包括以下步驟控制與所述源線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述源線與所述測試機(jī)連接；所述測試機(jī)通過所述源線向所述高速通信總線芯片傳輸差分信號，啟動所述高速通信總線芯片運(yùn)行；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述源線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述源線連接的高速開關(guān)斷開，使所述源線與所述測試機(jī)斷開連接；控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述捕獲線與所述測試機(jī)連接；所述高速通信總線芯片通過所述捕獲線向所述測試機(jī)發(fā)射差分信號；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述捕獲線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)斷開，使所述捕獲線與所述測試機(jī)斷開連接。上述高速通信總線芯片端口特性測試方法，其中，所述通道端口為模擬信號端口。上述高速通信總線芯片端口特性測試方法，其中，所述測試機(jī)通過所述源線向所述高速通信總線芯片傳輸差分信號為模擬差分信號，所述高速通信總線芯片通過所述捕獲線向所述測試機(jī)發(fā)射差分信號為模擬差分信號。上述高速通信總線芯片端口特性測試方法，其中，所述高速開關(guān)的控制周期為納秒級。上述高速通信總線芯片端口特性測試方法，其中，所述高速開關(guān)從導(dǎo)通狀態(tài)切換到斷開狀態(tài)之間的時(shí)間間隔由試驗(yàn)調(diào)試獲得。本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法通過高速開關(guān)控制源線及捕獲線與測試機(jī)的通斷，在需要傳輸差分信號時(shí)，導(dǎo)通源線或者捕獲線與測試機(jī)之間的連接，在反饋信號傳輸之前，切斷源線或者捕獲線與測試機(jī)之間的連接，避免了反饋信號對測試的干擾，可準(zhǔn)確對高速通信總線芯片進(jìn)行測試。


本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法由以下的實(shí)施例及附圖給出。圖1是現(xiàn)有技術(shù)中測試高速通信總線芯片性能的示意圖。圖2是本發(fā)明中測試高速通信總線芯片性能的示意圖。
具體實(shí)施例方式以下將結(jié)合圖2對本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法，高速通信總線芯片每個(gè)通道端口引出的源線和捕獲線均通過高速開關(guān)與測試機(jī)連接，該方法包括以下步驟控制與所述源線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述源線與所述測試機(jī)連接；所述測試機(jī)通過所述源線向所述高速通信總線芯片傳輸差分信號，啟動所述高速通信總線芯片運(yùn)行；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述源線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述源線連接的高速開關(guān)斷開，使所述源線與所述測試機(jī)斷開連接；控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述捕獲線與所述測試機(jī)連接；所述高速通信總線芯片通過所述捕獲線向所述測試機(jī)發(fā)射差分信號；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述捕獲線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)斷開，使所述捕獲線與所述測試機(jī)斷開連接。本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法通過高速開關(guān)控制源線及捕獲線與測試機(jī)的通斷，在需要傳輸差分信號時(shí)，導(dǎo)通源線或者捕獲線與測試機(jī)之間的連接，在反饋信號傳輸之前，切斷源線或者捕獲線與測試機(jī)之間的連接，避免了反饋信號對測試的干
4擾，可準(zhǔn)確對高速通信總線芯片進(jìn)行測試?，F(xiàn)以一具體實(shí)施例詳細(xì)說明本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法本實(shí)施例中，待測高速通信總線芯片的每個(gè)通道與外部之間傳輸?shù)牟罘中盘柺悄M信號，而待測高速通信總線芯片的內(nèi)部主要對數(shù)字信號進(jìn)行處理，因此，待測高速通信總線芯片接收到外部傳輸來的模擬差分信號后，先將模擬差分信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，再進(jìn)行處理，當(dāng)待測高速通信總線芯片需要向外發(fā)射信號時(shí)，待測高速通信總線芯片先將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換成模擬信號，再向外部發(fā)射；本實(shí)施例中，只對待測高速通信總線芯片的一個(gè)通道進(jìn)行說明，待測高速通信總線芯片的其他通道采用完全相同的方法。參見圖2，待測高速通信總線芯片300的一個(gè)通道包括第一模擬信號通道端口 B+ 和第二模擬信號通道端口 B-，從所述第一模擬信號通道端口 B+弓I出第一模擬信號源線310 和第一模擬信號捕獲線320，從所述第二模擬信號通道端口 B-引出第二模擬信號源線330 和第二模擬信號捕獲線340，所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330用于接收外部傳輸來的模擬差分信號，所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340用于向外部發(fā)射模擬差分信號；所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330均與第一高速開關(guān)410連接，所述第一高速開關(guān)410與測試機(jī)500連接，即所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330通過所述第一高速開關(guān)410與所述測試機(jī)500連接；所述第一模擬信號捕獲線 320和第二模擬信號捕獲線340均與第二高速開關(guān)420連接，所述第二高速開關(guān)420與所述測試機(jī)500連接，即所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340通過所述第二高速開關(guān)420與所述測試機(jī)500連接；本實(shí)施例中，采用所述第一高速開關(guān)410控制所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330與所述測試機(jī)500的通斷，采用所述第二高速開關(guān)420控制所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340與所述測試機(jī)500的通斷，但是，采用高速開關(guān)控制源線和捕獲線與測試機(jī)通斷的方法不限于此，例如，使用四個(gè)高速開關(guān)，所述第一模擬信號源線310、第二模擬信號源線330、第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線 340分別連接一個(gè)高速開關(guān)，即所述第一模擬信號源線310、第二模擬信號源線330、第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340分別通過一個(gè)高速開關(guān)與所述測試機(jī)500連接，滿足每根源線與測試機(jī)之間的連接可由高速開關(guān)控制通斷，每根捕獲線與測試機(jī)之間的連接可由高速開關(guān)控制通斷的方法都可采用；所述第一高速開關(guān)410的控制端411以及第二高速開關(guān)420的控制端421與控制裝置(圖2中未示)連接，由所述控制裝置控制所述第一高速開關(guān)410和第二高速開關(guān)420 的通斷；測試時(shí)，所述測試機(jī)500作為外部設(shè)備，既可向所述待測高速通信總線芯片300發(fā)送模擬差分信號，也可接收所述待測高速通信總線芯片300發(fā)射的模擬差分信號；測試所述待測高速通信總線芯片300接收信號的性能時(shí)，所述控制裝置控制所述第一高速開關(guān)410導(dǎo)通，使所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330均與所述測試機(jī)500連接(即導(dǎo)通)，所述測試機(jī)500通過所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330向所述待測高速通信總線芯片300發(fā)送模擬差分信號，從而啟動所述待測高速通信總線芯片300運(yùn)行，所述待測高速通信總線芯片300運(yùn)行起來后會產(chǎn)生反饋信號，該反饋信號會沿所述所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330傳輸至所述測試機(jī) 500，對測試產(chǎn)生干擾，本發(fā)明在該反饋信號傳輸至所述測試機(jī)500之前，切斷所述第一模擬信號源線310和第二模擬信號源線330與所述測試機(jī)500之間的連接(即所述控制裝置控制所述第一高速開關(guān)410斷開)，使得該反饋信號無法傳輸至所述測試機(jī)500，因此，本發(fā)明避免了所述待測高速通信總線芯片300產(chǎn)生的反饋信號對測試的干擾，使測試得以正常進(jìn)行；所述第一高速開關(guān)410從導(dǎo)通狀態(tài)切換到斷開狀態(tài)之間的時(shí)間間隔可由試驗(yàn)調(diào)試獲得；測試所述待測高速通信總線芯片300發(fā)射信號的性能時(shí)，所述待測高速通信總線芯片300處于運(yùn)行狀態(tài)，所述控制裝置控制所述第二高速開關(guān)420導(dǎo)通，使所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340均與所述測試機(jī)500連接(即導(dǎo)通)，所述待測高速通信總線芯片300通過所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340向所述測試機(jī)500發(fā)射模擬差分信號，由于所述待測高速通信總線芯片300功能上的特點(diǎn)，所述待測高速通信總線芯片300向所述測試機(jī)500發(fā)射模擬差分信號后會產(chǎn)生反饋信號，該反饋信號也會沿所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340傳輸至所述測試機(jī) 500，對測試產(chǎn)生干擾，本發(fā)明在該反饋信號傳輸至所述測試機(jī)500之前，切斷所述第一模擬信號捕獲線320和第二模擬信號捕獲線340與所述測試機(jī)500之間的連接(即所述控制裝置控制所述第二高速開關(guān)420斷開)，使得該反饋信號無法傳輸至所述測試機(jī)500，因此， 本發(fā)明避免了所述待測高速通信總線芯片300產(chǎn)生的反饋信號對測試的干擾，使測試得以正常進(jìn)行；所述第二高速開關(guān)420從導(dǎo)通狀態(tài)切換到斷開狀態(tài)之間的時(shí)間間隔可由試驗(yàn)調(diào)試獲得。本實(shí)施例中，所述第一高速開關(guān)410和所述第二高速開關(guān)420的控制周期可達(dá)到納秒級。
權(quán)利要求
1.一種高速通信總線芯片端口特性測試方法，高速通信總線芯片每個(gè)通道端口引出的源線和捕獲線均通過高速開關(guān)與測試機(jī)連接，其特征在于，該方法包括以下步驟控制與所述源線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述源線與所述測試機(jī)連接；所述測試機(jī)通過所述源線向所述高速通信總線芯片傳輸差分信號，啟動所述高速通信總線芯片運(yùn)行；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述源線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述源線連接的高速開關(guān)斷開，使所述源線與所述測試機(jī)斷開連接；控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述捕獲線與所述測試機(jī)連接；所述高速通信總線芯片通過所述捕獲線向所述測試機(jī)發(fā)射差分信號；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述捕獲線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)斷開，使所述捕獲線與所述測試機(jī)斷開連接。
2.如權(quán)利要求1所述的高速通信總線芯片端口特性測試方法，其特征在于，所述通道端口為模擬信號端口。
3.如權(quán)利要求2所述的高速通信總線芯片端口特性測試方法，其特征在于，所述測試機(jī)通過所述源線向所述高速通信總線芯片傳輸差分信號為模擬差分信號，所述高速通信總線芯片通過所述捕獲線向所述測試機(jī)發(fā)射差分信號為模擬差分信號。
4.如權(quán)利要求1所述的高速通信總線芯片端口特性測試方法，其特征在于，所述高速開關(guān)的控制周期為納秒級。
5.如權(quán)利要求1所述的高速通信總線芯片端口特性測試方法，其特征在于，所述高速開關(guān)從導(dǎo)通狀態(tài)切換到斷開狀態(tài)之間的時(shí)間間隔由試驗(yàn)調(diào)試獲得。
全文摘要
本發(fā)明的高速通信總線芯片端口特性測試方法包括以下步驟控制與所述源線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述源線與所述測試機(jī)連接；所述測試機(jī)向所述高速通信總線芯片傳輸差分信號，啟動所述高速通信總線芯片運(yùn)行；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述源線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述源線連接的高速開關(guān)斷開，使所述源線與所述測試機(jī)斷開連接；控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)導(dǎo)通，使所述捕獲線與所述測試機(jī)連接；所述高速通信總線芯片向所述測試機(jī)發(fā)射差分信號；在所述高速通信總線芯片產(chǎn)生的反饋信號沿所述捕獲線傳輸至所述測試機(jī)之前，控制與所述捕獲線連接的高速開關(guān)斷開，使所述捕獲線與所述測試機(jī)斷開連接。
文檔編號G01R31/28GK102288896SQ20111012710
公開日2011年12月21日 申請日期2011年5月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月17日
發(fā)明者徐惠, 江鑫禎, 沈懿樺, 顧良波 申請人:上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司