專利名稱：偏光片的亮點瑕疵檢測方法與門檻值產生方法及其裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明關于一種自動光學檢測方法，特別是用于偏光片上的亮點瑕疵檢測方法。
背景技術：
在偏光片(polarizer)制作完成后，會利用自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)系統(tǒng)來進行亮點(bright spot)瑕疵的檢測，自動光學檢測系統(tǒng)利用光學的方式取得偏光片的表面影像，再以影像處理的技術來判斷偏光片上的亮點瑕疵， 并將所有可能的亮點瑕疵皆標示為待測點，以供后續(xù)的成品檢驗人員(Final Quality Control,FQC)以人工目檢的方式進行最后的判定。然而，為了不讓任何一個亮點瑕疵躲過檢測，自動光學檢測系統(tǒng)會發(fā)生誤宰(overkill)的現(xiàn)象，也就是將貼附于偏光片上的離形膜(圖未示)所造成的眩光(glare)誤判為亮點瑕疵，使得該些被標示的待測點中會包含真正的亮點瑕疵，也會包含離形膜所造成的眩光。因此，在現(xiàn)今的檢測流程中，需要藉由一檢測方法及裝置來檢測哪些為亮點瑕疵(真正的瑕疵)，哪些為眩光(假瑕疵)。但是，現(xiàn)有的檢測方法是計算每一個待測點的平均亮度，并判斷該平均亮度是否大于一門檻值，若是，則判定為亮點瑕疵；反之，則判定為眩光。此種檢測方法會將一些比亮點瑕疵更亮的眩光誤判為亮點瑕疵，使得后續(xù)的成品檢驗人員在進行人工目檢時，將耗費過多的工作時間，增加測試的成本。

發(fā)明內容
因此，本發(fā)明的目的，即在提供一種可以精確檢測出偏光片上的待測點是否為一亮點的亮點瑕疵檢測方法。本發(fā)明提供一種偏光片的亮點瑕疵檢測方法，于一檢測裝置執(zhí)行，且該偏光片上具有至少一待測點，該亮點檢測方法包含以下步驟(A)于一個包含該待測點的檢測區(qū)域中取樣；(B)計算該檢測區(qū)域中的影像灰階值；(C)根據該影像灰階值產生一可表示該檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；及⑶將該評估值與一門檻值相比對，以檢測該待測點是否為亮點。根據所述的偏光片的亮點瑕疵檢測方法，該步驟(C)利用以下的方程式產生該評估值
權利要求
1.一種偏光片的亮點瑕疵檢測方法，于一檢測裝置執(zhí)行，且該偏光片上具有至少一待測點，其特征在于該亮點檢測方法包含以下步驟(A)于一個包含該待測點的檢測區(qū)域中取樣；(B)計算該檢測區(qū)域中的影像灰階值；(C)根據該影像灰階值產生一可表示該檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；及(D)將該評估值與一門檻值相比對，以檢測該待測點是否為亮點。
2.根據權利要求1所述的偏光片的亮點瑕疵檢測方法，其特征在于該步驟(C)利用以下的方程式產生該評估值
3.根據權利要求1所述的偏光片的亮點瑕疵檢測方法，其特征在于該步驟(D)在比較出該評估值小于該門檻值時判定該待測點為亮點瑕疵。
4.一種檢測裝置，用以檢測偏光片上的待測點，其特征在于該檢測裝置包含取樣單元，于一個包含該待測點的檢測區(qū)域取樣；灰階值計算單元，耦接于該取樣單元，用以計算該檢測區(qū)域中的影像灰階值；評估值產生單元，耦接于該灰階值計算單元，其根據該些灰階值產生一可表示該檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；控制單元，耦接于該取樣單元、該灰階值計算單元及該評估值產生單元，用以控制該取樣單元、該灰階值計算單元及該評估值產生單元產生對應該待測點的檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；及比對單元，耦接于該控制單元，該比對單元將該評估值與一門檻值相比較，以檢測該待測點是否為亮點。
5.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于該評估值產生單元利用熵演算法配合該灰階值計算單元計算出的該些灰階值而產生一可表示檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值，該熵演算法的定義為
6.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于該比對單元將該評估值與預存的門檻值相比較，若該評估值高于該門檻值，則該比對單元判定該待測點為眩光。
7.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于該比對單元將該評估值與預存的門檻值相比較，若該評估值等于或小于該門檻值，則該比對單元判定該待測點為亮點。
8.一種用于比對偏光片上亮點瑕疵的門檻值產生方法，于一檢測裝置執(zhí)行，且該偏光片材上具有多數個待測點，其特征在于該門檻值產生方法包含以下步驟(A)于一個包含其中之一待測點的檢測區(qū)域中取樣；(B)計算該檢測區(qū)域的影像灰階值；(C)根據該影像灰階值產生一可表示該檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；(D)重復執(zhí)行該步驟(A) (C)，直到產生所有對應該些待測點的檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；及(E)從該些評估值中選取一門檻值。
9.根據權利要求8所述的用于比對偏光片上亮點瑕疵的門檻值產生方法，其特征在于該步驟(C)利用以下的方程式產生該評估值
10.一種檢測裝置，用于產生比對一偏光片上亮點瑕疵的門檻值，該偏光片材上具有多數個待測點，其特征在于該檢測裝置包含取樣單元，由一個包含其中之一待測點的檢測區(qū)域中取樣；灰階值計算單元，耦接于該取樣單元，用以計算該檢測區(qū)域中的影像灰階值；評估值產生單元，耦接于該灰階值計算單元，其根據該影像灰階值產生一可表示該檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；控制單元，耦接于該取樣單元、該灰階值計算單元及該評估值產生單元，用以控制該選取單元、該灰階值計算單元及該評估值產生單元產生所有對應該些待測點的檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；及選取單元，耦接于該控制單元，該選取單元將由該些評估值中選取出一門檻值。
全文摘要
本發(fā)明關于一種偏光片的亮點瑕疵檢測方法與門檻值產生方法及其裝置，該偏光片的亮點瑕疵檢測方法于一檢測裝置執(zhí)行，且該偏光片上具有至少一待測點，該亮點瑕疵檢測方法包含以下步驟(A)于一個包含該待測點的檢測區(qū)域中取樣；(B)計算該檢測區(qū)域中的影像灰階值；(C)根據該影像灰階值產生一可表示該檢測區(qū)域的灰階變化程度的評估值；及(D)將該評估值與一門檻值相比對，以檢測該待測點是否為亮點瑕疵。如此藉由該亮點瑕疵檢測方法可減少后續(xù)成品檢驗人員的人工目檢時間。
文檔編號G01N21/958GK102156137SQ20111006710
公開日2011年8月17日 申請日期2011年3月21日 優(yōu)先權日2011年3月21日
發(fā)明者趙新民 申請人:明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司