專(zhuān)利名稱(chēng):電子元器件檢測(cè)探針的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種電子元器件檢測(cè)探針,更詳細(xì)地涉及,為了檢查作為檢查對(duì)象的電子元器件是否不良而將檢查用檢查裝置與作為檢查對(duì)象的電子元器件聯(lián)接起來(lái)的電子元器件檢測(cè)探針。
背景技術(shù):
電子元器件是電子結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)。通常以與兩個(gè)以上的引線(xiàn)或者金屬墊相連接的狀態(tài)封裝。電子元器件(如放大器、接收機(jī)、振動(dòng)子等)通過(guò)錫焊在印刷電路基板(PCB)來(lái)相互連接,以起到特殊的功能。電子元器件可由如電阻器、蓄電器、晶體管、二極管等單一元件封裝或者由如運(yùn)算放大器、排阻、邏輯電路等集成電路構(gòu)成。并且,微晶片(Micro-chip)是電路基板的電子電路高密度集成而成的晶片。這種微晶片、攝像機(jī)模塊等電子元器件在完成組裝之前將必須經(jīng)過(guò)借助檢查裝置檢查的過(guò)程,以確認(rèn)是否處在正常狀態(tài)。作為這種檢查方法,有通過(guò)將電子元器件安裝在檢查用插口裝置來(lái)進(jìn)行檢查的方法,為了在這種插口裝置內(nèi)無(wú)電子元器件破損地進(jìn)行檢查,將安裝使用檢查用檢測(cè)探針。多個(gè)檢查用檢測(cè)探針安裝在檢查用插口與電子元器件聯(lián)接,電流從與檢查對(duì)象用電子元器件的多個(gè)點(diǎn)聯(lián)接的檢測(cè)探針流向檢查裝置一側(cè),從而對(duì)檢查對(duì)象用電子元器件進(jìn)行檢查。以往,在將檢測(cè)探針中與檢查對(duì)象用電子元器件聯(lián)接的部分和其他構(gòu)成部件相互固定結(jié)合時(shí),由于與檢查對(duì)象用電子元器件聯(lián)接的部分與所連接的其他構(gòu)成部件的相互結(jié)合的面形成平滑形態(tài),使得與檢查對(duì)象用電子元器件聯(lián)接的部分與所連接的其他構(gòu)成部件借助沿著上下方向進(jìn)行的加壓來(lái)結(jié)合,因而存在相互間的連接斷開(kāi)或者易分離致使檢查用檢測(cè)探針的使用不方便的問(wèn)題。尤其,檢測(cè)探針與檢查對(duì)象用電子元器件相連接,來(lái)使電流傳導(dǎo)到檢查用檢查裝置,從而通過(guò)所傳導(dǎo)的電流來(lái)確認(rèn)檢查對(duì)象用電子元器件是否存在不良,這時(shí),如果在檢測(cè)探針的構(gòu)成部件中相互連接微弱或斷開(kāi),就會(huì)存在因通電狀態(tài)不良,而無(wú)法正常進(jìn)行電子元器件檢查的問(wèn)題。 而且,為了檢查檢查對(duì)象用電子元器件,檢測(cè)探針的導(dǎo)電率要好,為此,對(duì)大部分檢測(cè)探針進(jìn)行金屬鍍敷,但是對(duì)由多種構(gòu)成部件結(jié)合而成的檢測(cè)探針進(jìn)行金屬鍍敷,就存在作業(yè)復(fù)雜的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問(wèn)題本發(fā)明是為了解決如上所述的以往的技術(shù)問(wèn)題而提出的。
本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針,其一目的在于,提供一種當(dāng)與聯(lián)接在檢查對(duì)象用電子元器件的部分相連接的其他構(gòu)成部件沿著上下方向相互連接時(shí),確保連接牢固的電子元器件檢測(cè)探針。本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針,其再一目的在于,提供一種使在檢查對(duì)象用電子元器件流動(dòng)的電流流向用于檢查該檢查對(duì)象用電子元器件的檢查裝置的檢測(cè)探針,無(wú)論結(jié)合多種構(gòu)成部件,都能提高檢測(cè)探針的導(dǎo)電率的電子元器件檢測(cè)探針。本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針,其另一目的在于,提供一種為了提高使電流在檢查對(duì)象用電子元器件和檢查用檢查裝置之間互相流動(dòng)的檢測(cè)探針的導(dǎo)電率,而使對(duì)上述檢測(cè)探針進(jìn)行金屬鍍敷的作業(yè)容易的電子元器件檢測(cè)探針。技術(shù)方案本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針包括氣缸本體,其呈圓筒形;活塞本體,其從上述氣缸本體的內(nèi)部向外部進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng);彈簧,其以包覆上述氣缸本體和活塞本體的外周的方式形成,上述活塞本體的一部分進(jìn)入上述氣缸本體的內(nèi)部后,借助上述彈簧的彈性向外部突出;檢測(cè)部,其以從上述氣缸本體延伸的方式形成,與要接受電流流動(dòng)檢查的電子元器件聯(lián)接;以及聯(lián)接部,其以從上述活塞本體延伸的方式形成,與用于檢查上述電子元器件的檢查裝置聯(lián)接。接著,上述檢測(cè)部包括檢測(cè)銷(xiāo),其與上述電子元器件緊貼;以及檢測(cè)本體,其以包覆上述檢測(cè)銷(xiāo)的方式進(jìn)行固定。而且,在上述檢測(cè)銷(xiāo)的外徑包括收容槽,所述收容槽沿著上述檢測(cè)銷(xiāo)的外表面沿著水平方向形成槽;在上述檢測(cè)本體的內(nèi)徑包括固定突起,所述固定突起沿著水平方向突出形成,并收容于上述收容槽。接著,上述固定突起由從水平的四個(gè)方向向上述收容槽的方向突出的四個(gè)固定突起構(gòu)成。并且,上述彈簧包括第一雙重線(xiàn)和第二雙重線(xiàn),所述第一雙重線(xiàn)和第二雙重線(xiàn)由上述彈簧的與上述氣缸本體和活塞本體相連接的前端和末端部分重疊而成。接著,上述彈簧的外皮進(jìn)行了金屬鍍敷處理。同時(shí),上述氣缸本體包括支撐臺(tái)肩,該支撐臺(tái)肩用于支撐上述彈簧。接著,上述活塞本體還包括防脫離臺(tái)肩,該防脫離臺(tái)肩用于防止上述彈簧從上述氣缸本體和活塞本體脫離。另一方面,上述彈簧以包覆上述氣缸本體和活塞本體的狀態(tài)位于上述檢測(cè)部和聯(lián)接部之間,使上述檢測(cè)部和聯(lián)接部之間的電流連接順暢。接著,上述檢測(cè)部中,與上述電子元器件聯(lián)接的部分為半球形狀的凸起的部分。從結(jié)果上講,上述聯(lián)接部中,與上述檢查裝置聯(lián)接的部分包括多個(gè)聯(lián)接片,所述多個(gè)聯(lián)接片具有四棱錐形態(tài)。有利的效果本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針中,與檢查對(duì)象用電子元器件聯(lián)接的部分與所連接的其他構(gòu)成部件相互牢固地連接,能夠明確地對(duì)檢查對(duì)象用電子元器件進(jìn)行檢查,從而具有能夠提高檢查的可靠性的使用上的效果。本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針,即使使用由多種構(gòu)成部件互相結(jié)合而成的檢測(cè)探針,也能夠提高檢測(cè)探針的導(dǎo)電率,從而具有能夠?qū)嵤?zhǔn)確的檢查對(duì)象用電子元器件檢查的使用上的效果。本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針,為了提高檢測(cè)探針的導(dǎo)電率而使得對(duì)上述檢測(cè)探針進(jìn)行金屬鍍敷的作業(yè)流暢,從而具有在提高金屬鍍敷作業(yè)效率的同時(shí)還能夠提高檢測(cè)探針的導(dǎo)電率的使用上的其他效果。
圖I是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的整體立體圖。圖2是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的剖面的剖視圖。圖3是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的實(shí)施例的剖視圖。圖4是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的使用狀態(tài)的剖視圖。
具體實(shí)施例方式要后述的對(duì)于本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明將參照例示性地圖示出能夠?qū)嵤┍景l(fā)明的特定實(shí)施例的附圖。為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠充分實(shí)施本發(fā)明,將對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。雖然本發(fā)明的多種實(shí)施例互不相同,但應(yīng)理解為不應(yīng)該相互排斥。例如,針對(duì)一實(shí)施例,有關(guān)記載于此的特定形狀、結(jié)構(gòu)及特性,在不超出本發(fā)明的精神及范圍的情況下,可通過(guò)其他實(shí)施例來(lái)實(shí)施。并且應(yīng)理解為,在不超出本發(fā)明的精神及范圍的情況下,所公開(kāi)的各個(gè)實(shí)施例中的個(gè)別構(gòu)成部件的位置或者配置可變更。因此,后述的詳細(xì)說(shuō)明并不是限定性的。只要適當(dāng)說(shuō)明,本發(fā)明的范圍僅由權(quán)利要求書(shū)的主張、與此等同的所有范圍和所附的權(quán)利要求限定。附圖中相似的附圖標(biāo)記在多個(gè)側(cè)面均指相同或相似的功能,為了方便說(shuō)明,長(zhǎng)度、面積及厚度等及其形態(tài)有可能放大。以下,為了使本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能夠容易地實(shí)施本發(fā)明,將參照附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。以下的詳細(xì)說(shuō)明中,將以如下的探針為主進(jìn)行說(shuō)明,該探針通過(guò)氣缸本體100、活塞本體200、檢測(cè)部300、聯(lián)接部400來(lái)對(duì)電子元器件10進(jìn)行檢測(cè),上述氣缸本體100呈圓筒形;上述活塞本體200借助通過(guò)彈簧50的彈力從上述氣缸本體100的內(nèi)部向外部進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng);上述檢測(cè)部300以從上述氣缸本體200延伸的方式形成,與要接受電流流動(dòng)檢查的電子元器件10聯(lián)接;上述聯(lián)接部400以從上述活塞本體延伸的方式形成,與用于檢查上述電子元器件10的檢查裝置30聯(lián)接。但是本發(fā)明并不限定于此,在整個(gè)檢查電子元器件不良的技術(shù)領(lǐng)域,可共同適用電子元器件檢測(cè)探針(尤其,氣缸本體100、活塞本體200以及彈簧50)的技術(shù)結(jié)構(gòu)是顯而易見(jiàn)的。電子元器件內(nèi)可設(shè)置有由多個(gè)電路基板電子電路高密度集成而成的微晶片(Micro-chip)。為了確認(rèn)在這種電子元器件內(nèi)電流流動(dòng)是否順暢,并確認(rèn)是否能夠執(zhí)行電子元器件的功能,將使用檢測(cè)探針。而且,這種檢測(cè)探針包括檢測(cè)部300,其與作為要接受電流流動(dòng)檢查的檢查對(duì)象的上述電子元器件10聯(lián)接,聯(lián)接部400,其與用于檢查上述電子元器件10的檢查裝置30聯(lián)接;上述檢測(cè)部300和聯(lián)接部400連接成電流能夠互相流動(dòng)是理所當(dāng)然的。
圖I是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的立體圖。觀察圖1,形成有檢測(cè)部300,其與上述電子元器件10聯(lián)接;氣缸本體100,其以從上述檢測(cè)部300延伸的方式形成,并呈圓筒形。接著,形成有活塞本體200,其從上述氣缸本體100的內(nèi)部向外部進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng);聯(lián)接部400,其以從上述活塞本體200延伸的方式形成,與用于檢查上述電子元器件10的電流流動(dòng)的檢查裝置30聯(lián)接。接著,優(yōu)選地,在上述氣缸本體100和活塞本體200的外周設(shè)置有彈簧50,上述活塞本體200的一部分進(jìn)入上述氣缸本體100的內(nèi)部后,借助上述彈簧50的彈性向外部突出。并且,將對(duì)這種電子元器件10檢查電流流動(dòng)是否順暢,若因電流流動(dòng)不順暢或動(dòng)作不順暢,而未達(dá)到既定的檢查標(biāo)準(zhǔn),就可認(rèn)定為不良。這樣,為了判斷電子元器件10是否不良,將使用上述檢查裝置30。為此,上述電子元器件10與上述檢測(cè)部300聯(lián)接,上述檢測(cè)部300與上述氣缸本體100 —體形成。而且,上述活塞本體200以有一部分進(jìn)入上述氣缸本體100的內(nèi)部的狀態(tài)從上述氣缸本體100的內(nèi)部向外部進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng),這種活塞本體200的往復(fù)運(yùn)動(dòng)借助上述彈簧50的彈力成為可能。接著,優(yōu)選地,以從上述活塞本體200延伸的方式形成的上述聯(lián)接部400與用于檢查上述電子元器件10的檢查裝置30聯(lián)接。并且,進(jìn)入到上述氣缸本體100的內(nèi)部的上述活塞本體200的一部分并不完全脫離上述氣缸本體100,而始終與上述氣缸本體100相連接,這是理所當(dāng)然的。其理由是,為了使上述檢查裝置30確認(rèn)上述電子元器件10的電流流動(dòng),使電流在上述電子元器件流動(dòng)時(shí),上述電流將經(jīng)過(guò)上述檢測(cè)部300經(jīng)由氣缸本體100,再通過(guò)活塞本體200以及聯(lián)接部400傳遞到上述檢查裝置30。尤其,對(duì)上述檢測(cè)部300、氣缸本體100、活塞本體200、聯(lián)接部400以及彈簧50進(jìn)行金屬鍍敷處理,以使電流流動(dòng)順暢。圖2是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的剖面的剖視圖。觀察圖2,用于檢查電流流動(dòng)并與作為檢測(cè)對(duì)象的上述電子元器件10聯(lián)接的上述檢測(cè)部300包括檢測(cè)銷(xiāo)310,其與上述電子元器件10緊貼;以及檢測(cè)本體320,其以包覆上述檢測(cè)銷(xiāo)310的方式進(jìn)行固定。并且,在上述檢測(cè)銷(xiāo)310的外徑形成收容槽312,收容槽312沿著上述檢測(cè)銷(xiāo)310的外表面沿著水平方向形成槽;在上述檢測(cè)本體320的內(nèi)徑形成固定突起322,固定突起322沿著水平內(nèi)側(cè)方向突出形成,并收容于上述收容槽312。從結(jié)果上講,通過(guò)上述固定突起322與上述收容槽312結(jié)合,上述檢測(cè)銷(xiāo)310將能夠牢固地固定結(jié)合在上述檢測(cè)本體320。這時(shí),上述固定突起322具有從水平的四個(gè)方向向上述收容槽312的方向突出的四個(gè)固定突起322。像這樣,上述固定突起322結(jié)合在上述收容槽312的四個(gè)地點(diǎn)的原因在于,在將上述檢測(cè)銷(xiāo)310的收容槽312位于上述檢測(cè)本體320內(nèi)徑的既定的位置后,從外部向上述檢測(cè)本體320的外徑的四個(gè)方向上的地點(diǎn)加壓,從而形成上述固定突起322。于是,通過(guò)在上述檢測(cè)本體320的外部向檢測(cè)本體320的外表面四個(gè)地點(diǎn)加壓而形成的上述固定突起322能夠牢固地固定在上述檢測(cè)銷(xiāo)310的收容槽312。這是為了,使上述檢測(cè)銷(xiāo)310牢固地結(jié)合在檢測(cè)本體320時(shí)的作業(yè)變得簡(jiǎn)單。而且,上述檢測(cè)銷(xiāo)310中,與上述電子元器件10聯(lián)接的部分為半球形狀的凸起的部分。像這樣,半球形狀的檢測(cè)銷(xiāo)310與上述電子元器件10緊貼是為了防止上述電子元器件10受損。而且,上述檢測(cè)本體320的上部與上述氣缸本體200以一體化方式連接形成。接著,上述氣缸本體100與上述活塞本體200連接形成。并且,以包覆上述氣缸本體100和活塞本體200的外徑的方式形成的上述彈簧50由形成于上述氣缸本體100上部的支撐臺(tái)肩110所支撐。接著,上述活塞本體200具有防脫離臺(tái)肩210,該防脫離臺(tái)肩210用于防止上述彈簧50從上述氣缸本體100和活塞本體200脫離。從結(jié)果上講,上述彈簧50的下部與形成于上述氣缸本體100的上部的支撐臺(tái)肩110緊貼并受到支撐,上述彈簧50的上部與上述防脫離臺(tái)肩210緊貼。尤其,上述彈簧50具有第一雙重線(xiàn)52,由上述支撐臺(tái)肩110所支撐的部位重疊而成;第二雙重線(xiàn)54,由與上述防脫離臺(tái)肩210緊貼的部位重疊而成。這種包括上述第一雙重線(xiàn)52、第二雙重線(xiàn)54的彈簧50與上述支撐臺(tái)肩110和防脫離臺(tái)肩210緊貼,執(zhí)行使從上述檢測(cè)部300傳導(dǎo)的電流能夠順暢地傳導(dǎo)到上述聯(lián)接部400的功能。而且,上述聯(lián)接部400與上述活塞本體200 —體形成,且上述聯(lián)接部400中與上述檢查裝置30聯(lián)接的部分具有四棱錐形態(tài)的多個(gè)聯(lián)接片410。之所以形成這種具有四棱錐形態(tài)的多個(gè)聯(lián)接片410,是為了防止因上述聯(lián)接片410沾上雜質(zhì)而導(dǎo)致從上述活塞本體200傳導(dǎo)的電流無(wú)法傳導(dǎo)到上述檢查裝置30。圖3是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的實(shí)施例的剖面圖。觀察圖3,上述彈簧50以包覆上述氣缸本體100和活塞本體200的狀態(tài)位于上述檢測(cè)部300和聯(lián)接部400之間,使上述檢測(cè)部300和聯(lián)接部400相互之間的電流動(dòng)順暢。并且,觀察在上述檢測(cè)部300與上述電子元器件10聯(lián)接的狀態(tài)下上述聯(lián)接部400順利地與上述檢查裝置30緊貼的過(guò)程的話(huà),在上述檢測(cè)部300與上述電子元器件10聯(lián)接的狀態(tài)下,使上述活塞本體200向下下降后,使上述檢查裝置30位于上述聯(lián)接部400的上部,來(lái)使上述活塞本體200借助上述彈簧50的彈力上升的話(huà),上述聯(lián)接部400與上述檢查裝置30緊貼。從結(jié)果上講,使上述檢測(cè)部300與有電流流動(dòng)的上述電子元器件10緊貼,通過(guò)與上述檢測(cè)部300相連接的上述氣缸本體100使上述電流傳導(dǎo)到上述活塞本體200,并且電流通過(guò)與上述活塞本體200相連接的上述聯(lián)接部400傳導(dǎo)到上述檢查裝置30的話(huà),就能夠檢查出上述電子元器件10是否不良并進(jìn)行多種檢查。在這里,優(yōu)選地,上述氣缸本體100和上述活塞本體200只要是能夠垂直上升或下降的形態(tài),就能夠變更其位置。
并且,優(yōu)選地,上述彈簧50以加壓緊貼的方式包覆上述氣缸本體100和上述活塞本體200的外表面。這是為了,通過(guò)上述檢測(cè)部300傳導(dǎo)的電流在傳導(dǎo)到上述氣缸本體100以及活塞本體200之外還傳導(dǎo)到上述彈簧50,以提高電流的傳導(dǎo)率。圖4是表示本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針的使用狀態(tài)的實(shí)施圖。觀察圖4,通過(guò)與上述電子元器件10緊貼的上述檢測(cè)銷(xiāo)310的一部分收容于上述檢測(cè)本體320,上述檢測(cè)本體320的固定突起322牢固地固定在上述檢測(cè)銷(xiāo)310的收容槽312。接著,在包括上述檢測(cè)銷(xiāo)310和檢測(cè)本體320的上述檢測(cè)部300的上部以延伸的方式形成上述氣缸本體100。而且,在上述氣缸本體100的下部形成有支撐臺(tái)肩110,該支撐臺(tái)肩110用于支撐上述彈簧50。接著,在上述氣缸本體100的內(nèi)部連接形成有上述活塞本體200,上述活塞本體200從上述氣缸本體100的內(nèi)部向外部沿垂直方向進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。并且,在上述活塞本體200的上部設(shè)置有防脫離臺(tái)肩210,防脫離臺(tái)肩210用于防止上述彈簧50從上述氣缸本體100和活塞本體200脫離。接著,在上述活塞本體200的防脫離臺(tái)肩210的上部形成有聯(lián)接部400,在上述聯(lián)接部400的最上部形成有四棱錐形態(tài)的聯(lián)接片410,上述聯(lián)接片410與上述檢查裝置30緊貼。這時(shí),如果使電流在上述電子元器件10流動(dòng),電流就經(jīng)由上述檢測(cè)部300和氣缸本體100,通過(guò)上述活塞本體200和聯(lián)接部400,而傳導(dǎo)到上述檢查裝置30,由此能夠容易確認(rèn)上述電子元器件10的狀態(tài)。這時(shí),以緊貼加壓的方式包覆上述氣缸本體100和活塞本體200的外表面的上述彈簧50也能夠?qū)鲗?dǎo)到上述檢測(cè)部300的電流傳導(dǎo)至上述聯(lián)接部400。這時(shí),優(yōu)選地,對(duì)上述彈簧50進(jìn)行金屬鍍敷處理,使電流流動(dòng)順暢。尤其,借助在上述彈簧50的下部重疊而成的上述第一雙重線(xiàn)52和在上述彈簧50的上部重疊而成的上述第二雙重線(xiàn)54,從上述檢測(cè)部300和氣缸本體100傳導(dǎo)的電流通過(guò)上述彈簧50能夠明確地傳導(dǎo)到上述活塞本體200和聯(lián)接部400。并且,由于包括上述彈簧50,上述檢測(cè)部300、氣缸本體100、活塞本體200以及聯(lián)接部400均向外部露出,因而為了使電流流動(dòng)順暢而進(jìn)行的金屬鍍敷作業(yè)將變得容易是理所當(dāng)然的。以上,通過(guò)具體的構(gòu)成部件等特定事項(xiàng)、限定的實(shí)施例以及附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了說(shuō)明,但是這只是為了對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更全面的理解而提供的。本發(fā)明并不限定于上述實(shí)施例,并且本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能夠根據(jù)以上記載對(duì)本發(fā)明進(jìn)行多種修改及變形。因此,不應(yīng)該局限于如上所述的實(shí)施例來(lái)定義本發(fā)明的技術(shù)思想,并且,權(quán)利要求書(shū)請(qǐng)求保護(hù)的范圍及其相同或等同替代均屬于本發(fā)明的思想范疇。產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針,為了確認(rèn)電子元器件是否不良,并確認(rèn)電子元器件能否執(zhí)行正確的功能,通過(guò)使得用于對(duì)作為檢查對(duì)象物的電子元器件和檢查對(duì)象進(jìn)行檢查的檢查部的相互連接變得牢固,能夠提高電子元器件檢查的可靠度。而且,為了提高檢測(cè)探針的導(dǎo)電率而對(duì)檢測(cè)探針進(jìn)行金屬鍍敷作業(yè)時(shí),為了提高金屬鍍敷作業(yè)的效率,而將與導(dǎo)電相關(guān)的構(gòu)成部件配置成向外部突出。因而,在對(duì)檢測(cè)探針進(jìn)行金屬鍍敷作業(yè)時(shí),能夠在短時(shí)間內(nèi)明確地完成金屬鍍敷作業(yè)。
權(quán)利要求
1.一種電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,包括 氣缸本體,其呈圓筒形; 活塞本體,其從上述氣缸本體的內(nèi)部向外部進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng); 彈簧,其以包覆上述氣缸本體和活塞本體的外 周的方式形成,上述活塞本體的一部分進(jìn)入上述氣缸本體的內(nèi)部后,借助上述彈簧的彈性向外部突出; 檢測(cè)部,其以從上述氣缸本體延伸的方式形成,與要接受電流流動(dòng)檢查的電子元器件聯(lián)接;以及 聯(lián)接部,其以從上述活塞本體延伸的方式形成,與用于檢查上述電子元器件的檢查裝置聯(lián)接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于, 上述檢測(cè)部包括 檢測(cè)銷(xiāo),其與上述電子元器件緊貼;以及 檢測(cè)本體,其以包覆上述檢測(cè)銷(xiāo)的方式進(jìn)行固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于, 在上述檢測(cè)銷(xiāo)的外徑包括收容槽,所述收容槽沿著上述檢測(cè)銷(xiāo)的外表面沿著水平方向形成槽; 在上述檢測(cè)本體的內(nèi)徑包括固定突起,所述固定突起沿著水平方向突出形成,并收容于上述收容槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述固定突起由從水平的四個(gè)方向向上述收容槽的方向突出的四個(gè)固定突起構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述彈簧包括第一雙重線(xiàn)和第二雙重線(xiàn),所述第一雙重線(xiàn)和第二雙重線(xiàn)由上述彈簧的與上述氣缸本體和活塞本體相連接的前端和末端部分重疊而成。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述彈簧的外皮進(jìn)行了金屬鍍敷處理。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述氣缸本體包括支撐臺(tái)肩,該支撐臺(tái)肩用于支撐上述彈簧。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述活塞本體還包括防脫離臺(tái)肩,該防脫離臺(tái)肩用于防止上述彈簧從上述氣缸本體和活塞本體脫離。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述彈簧以包覆上述氣缸本體和活塞本體的狀態(tài)位于上述檢測(cè)部和聯(lián)接部之間,使上述檢測(cè)部和聯(lián)接部之間的電流連接順暢。
10.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述檢測(cè)部中,與上述電子元器件聯(lián)接的部分為半球形狀的凸起的部分。
11.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子元器件檢測(cè)探針,其特征在于,上述聯(lián)接部中,與上述檢查裝置聯(lián)接的部分包括多個(gè)聯(lián)接片,所述多個(gè)聯(lián)接片具有四棱錐形態(tài)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電子元器件檢測(cè)探針,更詳細(xì)地涉及為了檢查檢查對(duì)象用電子元器件是否不良而將檢查用檢查裝置與檢查對(duì)象用電子元器件聯(lián)接起來(lái)的電子元器件檢測(cè)探針。本發(fā)明的電子元器件檢測(cè)探針包括氣缸本體,其呈圓筒形;活塞本體,其從上述氣缸本體的內(nèi)部向外部進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng);彈簧,其以包覆上述氣缸本體和活塞本體的外周的方式形成,上述活塞本體的一部分進(jìn)入上述氣缸本體的內(nèi)部后,借助上述彈簧的彈性向外部突出;檢測(cè)部,其以從上述氣缸本體延伸的方式形成,與用于接受電流流動(dòng)檢查的電子元器件聯(lián)接;以及聯(lián)接部,其以從上述活塞本體延伸的方式形成,與用于檢查上述電子元器件的檢查裝置聯(lián)接。
文檔編號(hào)G01R1/067GK102985833SQ201080067209
公開(kāi)日2013年3月20日 申請(qǐng)日期2010年7月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月1日
發(fā)明者鄭羽烈 申請(qǐng)人:Nts有限公司