專利名稱：一種智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種電氣產(chǎn)品的絕緣性測試儀，特別是一種智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，主要應用于電機、電動工具、變壓器等電氣產(chǎn)品部分線圈匝與匝之間及層與層之間絕緣性能的測試。
背景技術(shù)：
目前，現(xiàn)有的耐壓測試儀主要是模擬儀表，該模擬儀表在使用的時候，需要同時測量合格產(chǎn)品和待檢品，而且需要人工肉眼鑒別，因而可靠性差，工作效率低，同時，該模擬儀表功能單一，要么只能實現(xiàn)交流耐壓測試，要么只能匝間脈沖電壓測試，使用起來，非常不便。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型要解決的問題是提供一種既具有交流耐壓測試功能又具有匝間脈沖電壓測試功能的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)。為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，包括ARM 主板、高速采樣模塊、電流采樣模塊、高速切換模塊、放大升壓模塊和輸入輸出模塊，所述放大升壓模塊包括D/A轉(zhuǎn)換電路、功放電路和升壓器；所述電流采樣模塊一端與ARM主板相連，另一端與升壓器相連，所述高速采樣模塊一端與ARM主板相連，另一端與測試線圈相連；所述高壓切換模塊一端與ARM主板相連，另外一端與脈沖線圈串聯(lián)后再與升壓器相連。為了便于測試儀數(shù)據(jù)的輸入和輸出，本實用新型的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，所述輸入輸出模塊包括按鍵、通信模塊、串行EEP以及液晶顯示器。為了提高采樣數(shù)據(jù)的精度，本實用新型的智能數(shù)耐壓綜合測試儀，所述高速采樣模塊與測試線圈之間串聯(lián)有一個可控硅電路和一個RC電路。為了提高輸出電壓的精度，本實用新型的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，所述 ARM主板與放大升壓模塊之間并聯(lián)有一個反饋用的放大器。本實用新型取得的有益效果是(1)與現(xiàn)有模擬測試儀相比，測試結(jié)果精度高、可靠性高、效率高；(2)既能實現(xiàn)交流耐壓功能的測試，又能實現(xiàn)匝間脈沖電壓的測試，因而功能更完善。

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)框圖。圖中1、按鍵，2、ARM主板，3、放大器，4、D/A轉(zhuǎn)換電路，5、功放電路，6、放大升壓模塊，7、升壓器，8、可控硅電路，9、測試線圈，10、脈沖線圈，11、RC電路，12、電流采樣模塊，13、高壓切換模塊，14、高速采樣模塊，15、通信模塊，16、串行EEP，17、液晶顯示屏，18、輸入輸出模塊。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，包括ARM主板2、高速采樣模塊14、電流采樣模塊12、高速切換模塊13、放大升壓模塊6和輸入輸出模塊18，所述放大升壓模塊6包括D/A轉(zhuǎn)換電路4、功放電路5和升壓器7 ；所述電流采樣模塊12 —端與 ARM主板2相連，另一端與升壓器7相連，所述高速采樣模塊14 一端與ARM主板2相連，另一端與測試線圈9相連；所述高壓切換模塊13 —端與ARM主板2相連，另外一端與脈沖線圈10串聯(lián)后再與升壓器7相連；所述輸入輸出模塊18包括按鍵1、通信模塊15、串行EEP 16以及液晶顯示器17 ；所述高速采樣模塊14與測試線圈9之間串聯(lián)有一個可控硅電路8 和一個RC電路11 ；所述ARM主板2與放大升壓模塊6之間并聯(lián)有一個反饋用的放大器3。具體使用的時候，若需要進行交流耐壓測試，則通過高速切換模塊13將脈沖線圈 10的開關(guān)打開，此時產(chǎn)生電壓為5000V高壓，即可進行交流耐壓測試；若需要進行匝間脈沖電壓測試，則通過高速切換模塊13將脈沖線圈10閉合，則產(chǎn)生5000V的脈沖高壓，即可進行匝間脈沖電壓測試，非常方便。此外，本實用新型的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，其輸入輸出的信號均為數(shù)字信號，較之現(xiàn)有的模擬信號，其測量精度高，可靠性強，工作效率高。
權(quán)利要求1.一種智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，其特征在于包括ARM主板O)、高速采樣模塊(14)、電流采樣模塊(1 、高速切換模塊(1 、放大升壓模塊(6)和輸入輸出模塊(18)， 所述放大升壓模塊(6)包括D/A轉(zhuǎn)換電路0)、功放電路( 和升壓器(7)；所述電流采樣模塊(12) —端與ARM主板⑵相連，另一端與升壓器(7)相連，所述高速采樣模塊(14) 一端與ARM主板(2)相連，另一端與測試線圈(9)相連；所述高壓切換模塊(13) —端與ARM 主板( 相連，另外一端與脈沖線圈(10)串聯(lián)后再與升壓器(7)相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，其特征在于所述輸入輸出模塊(18)包括按鍵(1)、通信模塊(15)、串行EEP (16)以及液晶顯示器(17)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，其特征在于所述高速采樣模塊(14)與測試線圈(9)之間串聯(lián)有一個可控硅電路⑶和一個RC電路(11)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，其特征在于所述ARM主板(2)與放大升壓模塊(6)之間并聯(lián)有一個反饋用的放大器(3)。
專利摘要本實用新型公開了一種智能數(shù)字匝間耐壓綜合測試系統(tǒng)，包括ARM主板、高速采樣模塊、電流采樣模塊、高速切換模塊、放大升壓模塊和輸入輸出模塊，所述放大升壓模塊包括D/A轉(zhuǎn)換電路、功放電路和升壓器；所述電流采樣模塊一端與ARM主板相連，另一端與升壓器相連，所述高速采樣模塊一端與ARM主板相連，另一端與測試線圈相連；所述高壓切換模塊一端與ARM主板相連，另外一端與脈沖線圈串聯(lián)后再與升壓器相連。本實用新型取得的有益效果是(1)與現(xiàn)有模擬測試儀相比，測試結(jié)果精度高、可靠性高、效率高；(2)既能實現(xiàn)交流耐壓功能的測試，又能實現(xiàn)匝間脈沖電壓的測試，因而功能更完善。
文檔編號G01R19/00GK202003002SQ201020638498
公開日2011年10月5日 申請日期2010年12月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月2日
發(fā)明者陳胡明, 韓慶江 申請人:青島艾普智能儀器有限公司