專利名稱：基板測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種基板測(cè)試系統(tǒng)，特別是涉及一種空調(diào)基板的測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
過去的空調(diào)測(cè)試大多都是針對(duì)單個(gè)臺(tái)位的幾個(gè)功能進(jìn)行測(cè)試，如水冷冷水測(cè) 試、風(fēng)機(jī)盤管測(cè)試、焓差測(cè)試、換熱測(cè)試等。隨著市場(chǎng)需求的增加，空調(diào)企業(yè)的生產(chǎn)規(guī) 模的相應(yīng)擴(kuò)大，對(duì)測(cè)試的要求也越來越高，其中基板電性能測(cè)試就是其中之一。在空調(diào)基板電性能測(cè)試過程中，需要有測(cè)量該基板的一些儀器儀表以及模擬信 號(hào)源等設(shè)備。為了便于生產(chǎn)，會(huì)將這些通用設(shè)備整合在一起，形成專用測(cè)試設(shè)備，由于 空調(diào)機(jī)種很多，因此需要制作 較多的專用測(cè)試設(shè)備，從而在生產(chǎn)多種空調(diào)機(jī)種后，就會(huì) 相應(yīng)的制作多種的專用測(cè)試設(shè)備，因而造成了隨著空調(diào)機(jī)種的增加，相應(yīng)的專用測(cè)試設(shè) 備也隨著增加，導(dǎo)致了高昂的專用測(cè)試設(shè)備費(fèi)用及超大的儲(chǔ)存場(chǎng)地，從而提高了生產(chǎn)的 成本，同時(shí)由于需要專用測(cè)試設(shè)備開發(fā)的時(shí)間周期，也導(dǎo)致了新空調(diào)機(jī)種開發(fā)周期相應(yīng) 的延長，從而降低了新產(chǎn)品開發(fā)效率。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)多種空調(diào)機(jī)種需要多 種的專用測(cè)試設(shè)備，從而導(dǎo)致了高昂的專用測(cè)試設(shè)備費(fèi)用及超大的儲(chǔ)存場(chǎng)地的缺陷，提 供一種通用于多種空調(diào)機(jī)種的基板測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)用新型是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的本實(shí)用新型提過了一種基板測(cè)試系統(tǒng)，其特點(diǎn)是該基板測(cè)試系統(tǒng)包括—基板夾具，用于固定基板并與基板的測(cè)試點(diǎn)電連接；一數(shù)據(jù)輸出和采集裝置，用于輸出或采集測(cè)試信號(hào)；一數(shù)據(jù)處理裝置，用于控制數(shù)據(jù)輸出和采集裝置發(fā)送和采集測(cè)試信號(hào)，并處理 測(cè)試信號(hào)；其中該基板夾具、數(shù)據(jù)輸出和采集裝置以及數(shù)據(jù)處理裝置依次電連接。較佳地，該基板夾具包括一用于固定安裝基板的基座，一支架以及一針床，其 中該針床通過支架安裝在基座的上方，并且該針床分別與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置和基板的 測(cè)試點(diǎn)電連接。較佳地，該針床包括若干測(cè)試針、若干電導(dǎo)線、一與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置電連 接的接口以及一用于固定測(cè)試針的固定板，其中所述測(cè)試針與基板的測(cè)試點(diǎn)電連接，并 且還通過電導(dǎo)線與接口電連接。較佳地，該接口為一排線接口。較佳地，該針床通過一排線與該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置電連接。較佳地，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置包括一測(cè)試信號(hào)輸出模塊、一測(cè)試信號(hào)采集模塊；[0017]一第一通訊模塊，用于與該數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)交換；一數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，用于轉(zhuǎn)換測(cè)試信 號(hào)為數(shù)字或模擬模式；其中該數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊分別與該測(cè)試信號(hào)輸出模塊、測(cè)試信號(hào)采集模塊以及 第一通訊模塊電連接，該測(cè)試信號(hào)輸出模塊和測(cè)試信號(hào)采集模塊與基板夾具電連接，該 第一通訊模塊與數(shù)據(jù)處理裝置電連接。較佳地，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置還包括一電源轉(zhuǎn)換模塊，用于轉(zhuǎn)換電源的模 式，該電源轉(zhuǎn)換模塊分別與測(cè)試信號(hào)輸出模塊和第一通訊模塊電連接。較佳地，該數(shù)據(jù)處理裝置包括一第二通訊模塊，用于與該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)交換；一 CPU,用于處理接收到的測(cè)試信號(hào)并向第二通訊模塊發(fā)送測(cè)試信號(hào)。較佳地，該基板測(cè)試系統(tǒng)還包括一輸入裝置，該輸入裝置與數(shù)據(jù)處理裝置電連 接，用于輸入測(cè)試信號(hào)。較佳地，該基板測(cè)試系統(tǒng)還包括一顯示裝置，該顯示裝置與數(shù)據(jù)處理裝置電連 接，用于顯示測(cè)試結(jié)果。本實(shí)用新型的積極進(jìn)步效果在于本實(shí)用新型的基板測(cè)試系統(tǒng)通過獨(dú)立設(shè)置數(shù)據(jù)處理裝置、數(shù)據(jù)輸出和采集裝置 以及可替換的基板夾具，使得該基板測(cè)試系統(tǒng)通用于多種空調(diào)機(jī)種，從而減少了專業(yè)測(cè) 試設(shè)備費(fèi)用及超大的儲(chǔ)存場(chǎng)地，此外由于只需要更換不同的基板夾具就可以用于不同的 基板測(cè)試，因而減少了測(cè)試設(shè)備開發(fā)的時(shí)間周期，提高了新空調(diào)機(jī)種開發(fā)的效率，從而 降低了生產(chǎn)成本。

圖1為本實(shí)用新型的基板測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。圖2為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例中測(cè)試夾具的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為本實(shí)用新型的測(cè)試夾具中針床的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例中數(shù)據(jù)輸出和采集裝置的結(jié)構(gòu)框圖。圖5為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例中數(shù)據(jù)處理裝置的結(jié)構(gòu)框圖。圖6為本實(shí)用新型的基板測(cè)試方法的較佳實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖給出本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。圖1所示為本實(shí)用新型基板測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖，其中該基 板測(cè)試系統(tǒng)包括一基板夾具1、一數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2、一數(shù)據(jù)處理裝置3、一輸入裝 置4以及一顯示裝置5，其中該基板夾具1、數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2與數(shù)據(jù)處理裝置3依 次電連接，該數(shù)據(jù)處理裝置3還分別與輸入裝置4和顯示裝置5電連接。其中該基板夾 具1用于固定基板并與基板的測(cè)試點(diǎn)電連接，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2用于輸出或采集測(cè) 試信號(hào)，該數(shù)據(jù)處理裝置3用于控制數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2發(fā)送和采集測(cè)試信號(hào)，并處理 測(cè)試信號(hào)，該輸入裝置4和顯示裝置5用于輸入測(cè)試信號(hào)和顯示測(cè)試結(jié)果，并且該輸入裝置4和顯示裝置5是本領(lǐng)域技術(shù)人員公知的技術(shù)，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以采用現(xiàn)有技術(shù)中的電路，裝置等來實(shí)現(xiàn)該輸入裝置4和顯示裝置5的輸入和顯示的功能。其中，該基板夾具1的結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示，該基板夾具1包括一基座11、一 針床12以及一支架13，該支架13固定與基座11上，該基座11用于固定待測(cè)試的基板， 該支架13上安裝有針床12，其中該針床12分別與基板的測(cè)試點(diǎn)和數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2 電連接。該針床12的結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示，其中該針床12包括一固定板121、150個(gè) 測(cè)試針122(圖2中未全部顯示)、150根導(dǎo)線123(圖2中未全部顯示)、一排線接口 124 以及一排線125。所述的150個(gè)測(cè)試針122安裝在固定板121上，并通過150根導(dǎo)線123 電連接到排線接口 124，該排線接口 124中接有排線125，并且通過接入其中的排線125 電連接到數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2。其中本領(lǐng)域的工作人員可以根據(jù)待測(cè)試基板的需要，選 用不同數(shù)量的測(cè)試針，以及不同類型的接口與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置電連接來實(shí)現(xiàn)相同的 將基板的測(cè)試點(diǎn)與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置的電連接，此外通過采用不同數(shù)量的測(cè)試針的基 板夾具1還實(shí)現(xiàn)了測(cè)試多種基板的通用功能。本實(shí)施例中的數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2的結(jié)構(gòu)框圖如圖4所示，其中該數(shù)據(jù)輸出和 采集裝置2包括一數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21、一通訊模塊22、一測(cè)試信號(hào)輸出模塊23、一測(cè) 試信號(hào)采集模塊24以及電源轉(zhuǎn)換模塊25，其中該數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21分別與該測(cè)試信 號(hào)輸出模塊23、測(cè)試信號(hào)采集模塊24以及通訊模塊22電連接，該測(cè)試信號(hào)輸出模塊23 和測(cè)試信號(hào)采集模塊24與基板夾具1電連接，該通訊模塊22與數(shù)據(jù)處理裝置電連接3， 該電源轉(zhuǎn)換模塊25分別與測(cè)試信號(hào)輸出模塊23和通訊模塊22電連接。其中該通訊模塊 22用于與該數(shù)據(jù)處理裝置3進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，該數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21用于轉(zhuǎn)換測(cè)試信號(hào)為 數(shù)字或模擬模式，該電源轉(zhuǎn)換模塊25用于控制測(cè)試信號(hào)輸出模塊23輸出的電源大小，其 中本領(lǐng)域的工作人員可以根據(jù)需要選用不同的芯片、電路或裝置來實(shí)現(xiàn)與通訊模塊22、 數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21、測(cè)試信號(hào)輸出模塊23、測(cè)試信號(hào)采集模塊24以及電源轉(zhuǎn)換模塊25 相應(yīng)的通訊、數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換、信號(hào)輸出和采集以及控制輸出電源大小的功能。本實(shí)施例中的數(shù)據(jù)處理裝置電連接3的結(jié)構(gòu)框圖如圖5所示，其中包括一 CPU31 (中央處理器)以及一通訊模塊32，其中該CPU31與該通訊模塊32電連接，該通 訊模塊還與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2的通訊模塊22電連接，其中本領(lǐng)域的工作人員可以根 據(jù)需要選用不同的芯片、電路或裝置來實(shí)現(xiàn)與通訊模塊32和CPU31相應(yīng)的通訊、控制以 及處理的功能。本實(shí)施例中該基板測(cè)試系統(tǒng)的工作原理如下將待測(cè)試的基板安裝在基板夾具1的基座11上，將安裝在針床12上的測(cè)試針 122與待測(cè)試的基板的測(cè)試點(diǎn)接觸，從而完成測(cè)試針122與測(cè)試點(diǎn)的電連接。然后，通 過排線125將基板夾具1與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2電連接，對(duì)于不同種類的基板，只要選 用具有不同數(shù)量的測(cè)試針的基板夾具，然后再通過排線125與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2電連 接，就實(shí)現(xiàn)了本實(shí)用新型的基板測(cè)試系統(tǒng)的通用性。通過輸入裝置5輸入測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)處理裝置3，該數(shù)據(jù)處理裝置3的CPU31接 收并處理該測(cè)試信號(hào)，并通過通訊模塊32發(fā)送該處理后的測(cè)試信號(hào)以及電源控制信號(hào)至 數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2的通訊模塊22接收測(cè)試信號(hào)和電源控制信號(hào)，并將測(cè)試信號(hào)發(fā)送至數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21，將電源控制信號(hào)發(fā)送至電源轉(zhuǎn)換模塊 25，然后數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21將測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬模式，并發(fā)送至測(cè)試信號(hào)輸出模塊 23，同時(shí)電源轉(zhuǎn)換模塊25通過接收的電源控制信號(hào)來控制該測(cè)試信號(hào)輸出模塊23輸出的 電源的大小，即輸出電流和電壓的大小，此后測(cè)試信號(hào)輸出模塊23將模擬形式的測(cè)試信 號(hào)通過排線125發(fā)送至測(cè)試夾具1，并通過測(cè)試夾具1的測(cè)試針122將模擬形式的測(cè)試信 號(hào)加載到待測(cè)試的基板。當(dāng)模擬形式的測(cè)試信號(hào)通過基板后產(chǎn)生的反饋測(cè)試信號(hào)通過測(cè)試夾具1的測(cè)試 針122采集，并通過排線125反饋至數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置2的 測(cè)試信號(hào)采集模塊24接收反饋的測(cè)試信號(hào)，并發(fā)送至數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊21，該數(shù)模模數(shù) 轉(zhuǎn)換模塊21將反饋的測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字模式的測(cè)試信號(hào)兵發(fā)送至通訊模塊22，該通訊 模塊發(fā)送該數(shù)字模式的測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)處理裝置3，該數(shù)據(jù)處理裝置3的通訊模塊32接收 該數(shù)字模式的測(cè)試信號(hào)，此后CPU31讀取該數(shù)字模式的測(cè)試信號(hào)并進(jìn)行處理，然后將處 理產(chǎn)生的結(jié)果信號(hào)發(fā)送至顯示模塊5，該顯示裝置5顯示接收到的結(jié)果信號(hào)。此后如果要測(cè)試相同種類的基板，只要更換基板夾具1中的基板，然后再次重 復(fù)上述步驟。若要測(cè)試不同種類的基板，只要選用與該基板相應(yīng)的基板夾具1，再重復(fù)上 述步驟。綜上所述，本實(shí)用新型的基板測(cè)試系統(tǒng)通過獨(dú)立設(shè)置了數(shù)據(jù)處理裝置、數(shù)據(jù)輸 出和采集裝置以及可替換的基板夾具，使得該基板測(cè)試系統(tǒng)通用于多種基板的測(cè)試，從 而減少了專業(yè)測(cè)試設(shè)備費(fèi)用及超大的儲(chǔ)存場(chǎng)地。圖6所示為本實(shí)用新型的基板測(cè)試方法的較佳實(shí)施例的流程圖，其中包括步驟100，安裝待測(cè)試的基板在基板夾具并初始化基板測(cè)試系統(tǒng)。步驟101，從輸入裝置輸入測(cè)試信號(hào)。步驟102，數(shù)據(jù)處理裝置接收并處理該測(cè)試信號(hào)，并通過數(shù)據(jù)處理裝置的通訊模 塊發(fā)送處理后的測(cè)試信號(hào)和電源控制信號(hào)至數(shù)據(jù)輸出和采集裝置。步驟103，數(shù)據(jù)輸出和采集裝置的通訊模塊接收測(cè)試信號(hào)，并轉(zhuǎn)換為模擬模式 的測(cè)試信號(hào)，并且電源轉(zhuǎn)換模塊通過電源控制信號(hào)控制測(cè)試信號(hào)輸出模塊輸出的電源大 小。步驟104，數(shù)據(jù)輸出和采集裝置的測(cè)試信號(hào)輸出模塊輸出該模擬形式的測(cè)試信號(hào) 至基板夾具的基板上。步驟105，數(shù)據(jù)輸出和采集裝置的測(cè)試信號(hào)采集模塊采集基板夾具的基板反饋的 測(cè)試信號(hào)。步驟106，數(shù)據(jù)輸出和采集裝置轉(zhuǎn)換該反饋的測(cè)試信號(hào)為數(shù)字模式的測(cè)試信號(hào)， 并通過通訊模塊發(fā)送至數(shù)據(jù)處理裝置。步驟107，數(shù)據(jù)處理裝置接收并處理該反饋的測(cè)試信號(hào)，并將生成的結(jié)果信號(hào)發(fā) 送至顯示裝置。步驟108，顯示裝置顯示接收到的結(jié)果信號(hào)。步驟109，流程結(jié)束。雖然以上描述了本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理 解，這些僅是舉例說明，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍是由所附權(quán)利要求書限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背離本實(shí)用新型的原理和實(shí)質(zhì)的前 提下，可以對(duì)這些實(shí)施方式做出多種變 更或修改，但這些變更和修改均落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該基板測(cè)試系統(tǒng)包括一基板夾具，用于固定基板并與基板的測(cè)試點(diǎn)電連接；一數(shù)據(jù)輸出和采集裝置，用于輸出或采集測(cè)試信號(hào)；一數(shù)據(jù)處理裝置，用于控制數(shù)據(jù)輸出和采集裝置發(fā)送和采集測(cè)試信號(hào)，并處理測(cè)試 信號(hào)；其中該基板夾具、數(shù)據(jù)輸出和采集裝置以及數(shù)據(jù)處理裝置依次電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該基板夾具包括一用于固定安裝 基板的基座，一支架以及一針床，其中該針床通過支架安裝在基座的上方，并且該針床 分別與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置和基板的測(cè)試點(diǎn)電連接。
3.如權(quán)利要求2所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該針床包括若干測(cè)試針、若干電 導(dǎo)線、一與數(shù)據(jù)輸出和采集裝置電連接的接口以及一用于固定測(cè)試針的固定板，其中所 述測(cè)試針與基板的測(cè)試點(diǎn)電連接，并且還通過電導(dǎo)線與接口電連接。
4.如權(quán)利要求3所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該接口為一排線接口。
5.如權(quán)利要求4所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該針床通過一排線與該數(shù)據(jù)輸出 和采集裝置電連接。
6.如權(quán)利要求1所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置包括一測(cè)試信號(hào)輸出模塊、一測(cè)試信號(hào)采集模塊；一第一通訊模塊，用于與該數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)交換；一數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，用于轉(zhuǎn)換測(cè)試信號(hào)為數(shù)字或模擬模式；其中該數(shù)模模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊分別與該測(cè)試信號(hào)輸出模塊、測(cè)試信號(hào)采集模塊以及第一 通訊模塊電連接，該測(cè)試信號(hào)輸出模塊和測(cè)試信號(hào)采集模塊與基板夾具電連接，該第一 通訊模塊與數(shù)據(jù)處理裝置電連接。
7.如權(quán)利要求6所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置還包括一 電源轉(zhuǎn)換模塊，用于轉(zhuǎn)換電源的模式，該電源轉(zhuǎn)換模塊分別與測(cè)試信號(hào)輸出模塊和第一 通訊模塊電連接。
8.如權(quán)利要求1所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)處理裝置包括一第二通訊模塊，用于與該數(shù)據(jù)輸出和采集裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)交換；一 CPU,用于處理接收到的測(cè)試信號(hào)并向第二通訊模塊發(fā)送測(cè)試信號(hào)。
9.如權(quán)利要求1所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該基板測(cè)試系統(tǒng)還包括一輸入裝 置，該輸入裝置與數(shù)據(jù)處理裝置電連接，用于輸入測(cè)試信號(hào)。
10.如權(quán)利要求1所述的基板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該基板測(cè)試系統(tǒng)還包括一顯示 裝置，該顯示裝置與數(shù)據(jù)處理裝置電連接，用于顯示測(cè)試結(jié)果。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種基板測(cè)試系統(tǒng)。該基板測(cè)試系統(tǒng)包括一基板夾具，用于固定基板并與基板的測(cè)試點(diǎn)電連接；一數(shù)據(jù)輸出和采集裝置，用于輸出或采集測(cè)試信號(hào)；一數(shù)據(jù)處理裝置，用于控制數(shù)據(jù)輸出和采集裝置發(fā)送和采集測(cè)試信號(hào)，并處理測(cè)試信號(hào)；其中該基板夾具、數(shù)據(jù)輸出和采集裝置以及數(shù)據(jù)處理裝置依次電連接。該基板測(cè)試系統(tǒng)通過獨(dú)立設(shè)置數(shù)據(jù)處理裝置、數(shù)據(jù)輸出和采集裝置以及可替換的基板夾具，使得該基板測(cè)試系統(tǒng)通用于多種空調(diào)機(jī)種，從而減少了專業(yè)測(cè)試設(shè)備費(fèi)用及超大的儲(chǔ)存場(chǎng)地，此外由于只需要更換不同的基板夾具就可以用于不同的基板測(cè)試，因而減少了測(cè)試設(shè)備開發(fā)的時(shí)間周期，提高了新空調(diào)機(jī)種開發(fā)的效率，從而降低了生產(chǎn)成本。
文檔編號(hào)G01R31/28GK201796118SQ20102053924
公開日2011年4月13日 申請(qǐng)日期2010年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月21日
發(fā)明者沈承德 申請(qǐng)人:上海廣聯(lián)電子有限公司