專利名稱：一種全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電氣設(shè)備的絕緣檢測設(shè)備的檢定技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種全自動(dòng) 高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置。
技術(shù)背景目前，電氣設(shè)備的絕緣結(jié)構(gòu)均由各種絕緣介質(zhì)所構(gòu)成，由于介質(zhì)的電導(dǎo)，極性介質(zhì) 中偶極子轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的摩擦以及介質(zhì)中的氣隙放電，使處在高電壓下的介質(zhì)(或整個(gè)絕緣結(jié) 構(gòu))是有損耗的，這種損耗稱為介質(zhì)損耗，它是電氣設(shè)備絕緣性能的重要指標(biāo)。介質(zhì)損耗測 試儀是一種測量介質(zhì)損耗正切和電容量的自動(dòng)化儀表，可以在工頻高壓下，現(xiàn)場測量各種 絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗正切值和電 容值，在電力系統(tǒng)中應(yīng)用極為頻繁，檢定任務(wù)也比較繁重。依據(jù)DL/T962-2005高壓介質(zhì)損 耗測試儀通用技術(shù)條件的要求，檢定點(diǎn)需要選定值電容(如IOOpF)的標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)損耗器在介 損測試儀損耗因數(shù)全量限內(nèi)均勻選取20個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)進(jìn)行示值誤差校準(zhǔn)，還需要選取若干定 值電容(如25pF、50pF、1000pF、10000pF)的標(biāo)準(zhǔn)損耗器在介損儀介質(zhì)損耗因數(shù)量限范圍內(nèi) 選取上、中、下三個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)進(jìn)行示值誤差校準(zhǔn)。而目前為止，國內(nèi)檢定介質(zhì)損耗測試儀的標(biāo) 準(zhǔn)儀器均為檔位需要手動(dòng)切換的標(biāo)準(zhǔn)介損器，每檢定一個(gè)點(diǎn)都需要檢定人員進(jìn)入試驗(yàn)區(qū)內(nèi) 切換下一個(gè)檢定點(diǎn)，幾個(gè)定值電容之間切換也需要進(jìn)入試驗(yàn)區(qū)內(nèi)進(jìn)行換線操作，不僅非常 繁瑣，而且在IOkV的試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)進(jìn)行頻繁操作存在極大的安全隱患，這顯然與我們要求日 益嚴(yán)格的安全生產(chǎn)的精神相悖，因此全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置的研制就顯得非 常必要
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置。一種全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中包括數(shù)據(jù)處理器、驅(qū)動(dòng)單元、介 損檔位控制電路，數(shù)據(jù)處理器的控制信號(hào)輸出端連接驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸入端，驅(qū)動(dòng)單元的 信號(hào)輸出端連接介損檔位控制電路的控制端，介損檔位控制電路的高壓信號(hào)輸入端用于連 接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，介損檔位控制電路的測量結(jié)果輸出端用于 連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的低壓取樣輸入端。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中該檢定裝置還包括存儲(chǔ)單元， 存儲(chǔ)單元連接在數(shù)據(jù)處理器的存儲(chǔ)端口。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中所述的介損檔位控制電路包 括至少兩個(gè)檔位檢測電路，各檔位檢測電路的高壓輸入端之間以及各檔位檢測電路的測量 信號(hào)輸出端之間均連接有繼電器控制接點(diǎn)；各檔位檢測電路均包括一定值電容、一鉗位電 容、至少兩個(gè)依次串接的繼電器控制接點(diǎn)，定值電容與各繼電器控制接點(diǎn)相串接，鉗位電容 連接于定值電容負(fù)極與地之間；各繼電器控制接點(diǎn)兩端均用于并接相應(yīng)阻值的電阻。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中各繼電器控制接點(diǎn)兩端所并接的相應(yīng)檔位阻值的電阻單元；各電阻單元均包括相互串接的定值電阻和微調(diào)電位器，各 電阻單元中的定值電阻的阻值遠(yuǎn)大于微調(diào)電位器的阻值。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中所述的介損檔位控制電路包 括第一、第二、第三檔位檢測電路，所述待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端連接第 一繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)的輸入接腳，第一檔位檢測電路的高壓輸入端連接第一繼電器的 單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳，第一繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳連接第二繼電器單刀雙檔接 點(diǎn)的輸入接腳，第二繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳連接第二檔位檢測電路的高壓輸入 端，第二繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳連接第三檔位檢測電路的高壓輸入端；第一檔位 檢測電路的測量信號(hào)輸出端連接第三繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳，第三繼電器的單刀 雙檔接點(diǎn)的輸出接腳用于輸出測量結(jié)果信號(hào)，第四繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)的輸出接腳連接 第三繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳，第四繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉、常開接腳分別對(duì) 應(yīng)連接第二、第三檔位檢測電路的測量信號(hào)輸出端；第一檔位檢測電路的包括第一定值電容、第一鉗位電容、第一 第六檢測繼電器 常閉接點(diǎn)，第一定值電容與第一 第六檢測繼電器常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第一鉗位電容連接 于第一定值電容負(fù)極與地之間；第一 第六檢測繼電器常閉接點(diǎn)的兩端分別并聯(lián)有相應(yīng)檔 位的電阻單元；第二檔位檢測電路的包括第二定值電容、第二鉗位電容、第七 第十二檢測繼電 器常閉接點(diǎn)，第二定值電容與第七 第十二檢測繼電器常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第二鉗位電容 連接于第二定值電容負(fù)極與地之間；第七 第十二檢測繼電器常閉接點(diǎn)的兩端分別并聯(lián)有 相應(yīng)檔位的電阻單元；第三檔位檢測電路的包括第三定值電容、第三鉗位電容、第十三 第十八檢測繼 電器常閉接點(diǎn)，第三定值電容與第十三 第十八檢測繼電器常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第三鉗位 電容連接于第三定值電容負(fù)極與地之間；第十三 第十八檢測繼電器常閉接點(diǎn)的兩端分別 并聯(lián)有相應(yīng)檔位的電阻單元；各電阻單元均包括相互串接的相應(yīng)檔位阻值的電阻和微調(diào)電位器，各電阻單元中 的電阻的阻值遠(yuǎn)大于微調(diào)電位器的阻值。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中所述的驅(qū)動(dòng)單元包括移位寄 存器和達(dá)林頓管，移位寄存器的信號(hào)輸入端連接數(shù)據(jù)處理器的控制信號(hào)輸出端，移位寄存 器的信號(hào)輸出端連接達(dá)林頓管的信號(hào)輸入端，達(dá)林頓管的信號(hào)輸出端各管腳對(duì)應(yīng)控制相應(yīng) 繼電器線圈的上電。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中該檢定裝置還包括顯示單元 和操控單元，顯示單元的信號(hào)輸入端用于連接所述數(shù)據(jù)處理器的顯示信號(hào)輸出端，操控單 元的信號(hào)輸出端用于連接所述數(shù)據(jù)處理器的操控信號(hào)輸入端。所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中該檢定裝置還包括用于與上 位機(jī)連接通訊的通訊單元，通訊單元的數(shù)據(jù)輸入/輸出端連接所述數(shù)據(jù)處理器的通訊端。本實(shí)用新型采用上述技術(shù)方案后將達(dá)到如下的技術(shù)效果本實(shí)用新型的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，將該檢定裝置的高壓信號(hào)輸 入端連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，由該檢定裝置的數(shù)據(jù)處理器通過驅(qū) 動(dòng)單元控制介損檔位控制電路實(shí)施相應(yīng)檔位的轉(zhuǎn)換，待測高壓介質(zhì)損耗測試儀輸出的高壓信號(hào)通過介損檔位控制電路相應(yīng)檔位電容、電阻后降為相應(yīng)低壓信號(hào)，該低壓信號(hào)傳送到 待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的低壓取樣輸入端，由該待測高壓介質(zhì)損耗測試儀對(duì)該低壓信號(hào) 進(jìn)行計(jì)算，計(jì)算結(jié)果即為該待測高壓介質(zhì)損耗測試儀處理得到的相應(yīng)檔位的介損值，如果 得到的該介損值偏離對(duì)應(yīng)檔位的標(biāo)準(zhǔn)值，說明該待測高壓介質(zhì)損耗測試儀出現(xiàn)偏差，需要 校準(zhǔn)，如此可見，檢測過程中完全不用手工操作換擋，徹底解決了操作人員在高壓環(huán)境下的 安全保障問題，并且檢測快速準(zhǔn)確，可提高檢測效率。

圖1為本實(shí)用新型的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置的結(jié)構(gòu)原理框圖；圖2為圖1檢定裝置中的數(shù)據(jù)處理器與存儲(chǔ)單元的電路連接圖；圖3為圖1檢定裝置中驅(qū)動(dòng)單元的電路原理圖；圖4為圖1檢定裝置中介損檔位控制電路的正接線方式的電路原理圖；圖5a為本實(shí)用新型全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置檢定原理的串聯(lián)模型；圖5b為對(duì)應(yīng)圖5串聯(lián)模型的矢量圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，如圖1所示，包括數(shù)據(jù)處理 器、存儲(chǔ)單元、驅(qū)動(dòng)單元、介損檔位控制電路，存儲(chǔ)單元連接在數(shù)據(jù)處理器的存儲(chǔ)端口，數(shù)據(jù) 處理器的控制信號(hào)輸出端連接驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸入端，驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸出端連接介損檔 位控制電路的控制端，可將介損檔位控制電路的A端用作高壓信號(hào)輸入端，用于連接待測 高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，B端用作測量結(jié)果輸出端，用于連接待測高壓介質(zhì) 損耗測試儀的低壓取樣輸入端；也可將介損檔位控制電路的B端用作高壓信號(hào)輸入端，用 于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，A端用作測量結(jié)果輸出端，用于連接待 測高壓介質(zhì)損耗測試儀的低壓取樣輸入端。圖2為數(shù)據(jù)處理器U6 (采用8958)與存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)芯片U7 (采用25045)的電路 連接圖，數(shù)據(jù)處理器U6的7、8腳分別連接按鍵面板上的“up”鍵、“down”鍵的信號(hào)輸出端， 其中，“up”鍵是換檔時(shí)候的每按一次檔位遞增一次，“down”鍵是換檔時(shí)候的每按一次檔位 遞減一次，當(dāng)然也可以用紅外線遙控器起到相對(duì)于的操作。數(shù)據(jù)處理器U6的32 39腳對(duì) 應(yīng)連接顯示單元中顯示器接口 J9的17 10腳，用于驅(qū)動(dòng)顯示器；數(shù)據(jù)處理器TO的25 28腳分別對(duì)應(yīng)連接存儲(chǔ)芯片U7的1、2、5、6腳，存儲(chǔ)芯片U7用于存儲(chǔ)檢測結(jié)果信息。圖3為驅(qū)動(dòng)單元的電路原理圖，所述的驅(qū)動(dòng)單元包括第一、第二、第三移位寄存器 U1、U2、U3(均采用74LS595)和第一、第二、第三達(dá)林頓管U4、U5、TO (均采用2803)，第一、第 二、第三移位寄存器U1、U2、U3依次級(jí)聯(lián)，第二移位寄存器U2的14腳連接第一移位寄存器 Ul的9腳，第三移位寄存器U3的14腳連接第二移位寄存器U2的9腳，第一移位寄存器Ul 的14、11、12腳分別連接所述數(shù)據(jù)處理器U6的1、2、3腳，第二移位寄存器U2的11、12腳分 別連接所述數(shù)據(jù)處理器U6的2、3腳，第三移位寄存器U3的11、12腳分別連接所述數(shù)據(jù)處 理器U6的2、3腳；第一移位寄存器Ul的15腳以及1 7腳分別連接第一達(dá)林頓管U4的 1 8腳，第一達(dá)林頓管U4的11 18腳分別連接所述介損檔位控制電路中繼電器IKlA 1K6A和繼電器K1A、K3A的線圈的第一端，繼電器IKlA 1K6A和繼電器K1A、K3A的線圈的第二端均連接+12V電源；第二移位寄存器U2的15腳以及1 7腳分別連接第二達(dá)林頓管 TO的1 8腳，第二達(dá)林頓管U5的11 18腳分別連接所述介損檔位控制電路中繼電器 2K1A 2K6A和繼電器K2A、K4A的線圈的第二端，繼電器2K1A 2K6A和繼電器K2A、K4A 的線圈的第二端均連接+12V電源；第三移位寄存器U3的15腳以及1 5腳分別連接第三 達(dá)林頓管TO的1 6腳，第三達(dá)林頓管U6的13 18腳分別連接所述介損檔位控制電路 中繼電器3K1A 3K6A的線圈的第三端，繼電器3K1A 3K6A的線圈的第三端均連接+12V 電源；圖4為介損檔位控制電路的電路原理圖，本實(shí)施例是將介損檔位控制電路的A端 用作高壓信號(hào)輸入端，用于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，B端用作測量 結(jié)果輸出端，用于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的低壓取樣輸入端；所述的介損檔位控制 電路包括第一、第二、第三檔位檢測電路，所述待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端 連接第一繼電器KlA的單刀雙檔接點(diǎn)的輸入接腳3腳，第一檔位檢測電路的高壓輸入端連 接第一繼電器KlA的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳5腳，第一繼電器KlA的單刀雙檔接點(diǎn)常開接 腳7腳連接第二繼電器K2A單刀雙檔接點(diǎn)的輸入接腳3腳，第二繼電器K2A的單刀雙檔接 點(diǎn)常閉接腳5腳連接第二檔位檢測電路的高壓輸入端，第二繼電器K2A的單刀雙檔接點(diǎn)常 開接腳7腳連接第三檔位檢測電路的高壓輸入端；第一檔位檢測電路的測量信號(hào)輸出端連 接第三繼電器K3A的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳5腳，第三繼電器K3A的單刀雙檔接點(diǎn)的輸出 接腳3腳用于輸出測量結(jié)果信號(hào)，第四繼電器K4A的單刀雙檔接點(diǎn)的輸出接腳3腳連接第 三繼電器K3A的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳7腳，第四繼電器K4A的單刀雙檔接點(diǎn)常閉、常開接 腳5腳、7腳分別對(duì)應(yīng)連接第二、第三檔位檢測電路的測量信號(hào)輸出端；第一檔位檢測電路包括第一定值電容Cl (100PF)、第一鉗位電容Ctl、第一 第六 檢測繼電器IKlA 1K6A的常閉接點(diǎn)，第一定值電容Cl與第一 第六檢測繼電器IKlA 1K6A常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第一鉗位電容Ctl連接于第一定值電容Cl負(fù)極與地之間；第一檢 測繼電器IKlA常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻IRs 1與微調(diào)電位器IWl串聯(lián)構(gòu)成的第一電阻 單元，第二檢測繼電器1K2A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻1Rs2與微調(diào)電位器1W2串聯(lián)構(gòu)成 的第二電阻單元，第三檢測繼電器1K3A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻1Rs3與微調(diào)電位器1W3 串聯(lián)構(gòu)成的第三電阻單元，第四檢測繼電器1K4A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻1Rs4與微調(diào) 電位器1W4串聯(lián)構(gòu)成的第四電阻單元，第五檢測繼電器1K5A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻 1Rs5與微調(diào)電位器1W5串聯(lián)構(gòu)成的第五電阻單元，第六檢測繼電器1K6A常閉接點(diǎn)的兩端并 聯(lián)有電阻1Rs6與微調(diào)電位器1W6串聯(lián)構(gòu)成的第六電阻單元。第二檔位檢測電路的包括第二定值電容C2、第二鉗位電容Ct2、第七 第十二檢 測繼電器2K1A 2K6A常閉接點(diǎn)，第二定值電容C2與第七 第十二檢測繼電器2K1A 2K6A 常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第二鉗位電容Ct2連接于第二定值電容C2負(fù)極與地之間；第七檢測繼 電器2K1A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻2Rs 1與微調(diào)電位器2W1串聯(lián)構(gòu)成的第七電阻單元， 第八檢測繼電器2K2A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻2Rs2與微調(diào)電位器2W2串聯(lián)構(gòu)成的第八 電阻單元，第九檢測繼電器2K3A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻2Rs3與微調(diào)電位器2W3串聯(lián) 構(gòu)成的第九電阻單元，第十檢測繼電器2K4A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻2Rs4與微調(diào)電位 器2W4串聯(lián)構(gòu)成的第十電阻單元，第十一檢測繼電器2K5A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻2Rs5 與微調(diào)電位器2W5串聯(lián)構(gòu)成的第十一電阻單元，第十二檢測繼電器2K6A常閉接點(diǎn)的兩端并
7聯(lián)有電阻2Rs6與微調(diào)電位器2W6串聯(lián)構(gòu)成的第十二電阻單元。第三檔位檢測電路的包括第三定值電容C3、第三鉗位電容Ct3、第十三 第十八 檢測繼電器3K1A 3K6A常閉接點(diǎn)，第三定值電容C3與第十三 第十八檢測繼電器3K1A 3K6A常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第三鉗位電容Ct3連接于第三定值電容C3負(fù)極與地之間；第十三 檢測繼電器3K1A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻3Rsl與微調(diào)電位器3W1串聯(lián)構(gòu)成的第十三電 阻單元，第十四檢測繼電器3K2A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻3Rs2與微調(diào)電位器3W2串聯(lián) 構(gòu)成的第十四電阻單元，第十五檢測繼電器3K3A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻3Rs3與微調(diào) 電位器3W3串聯(lián)構(gòu)成的第十五電阻單元，第十六檢測繼電器3K4A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電 阻3Rs4與微調(diào)電位器3W4串聯(lián)構(gòu)成的第十六電阻單元，第十七檢測繼電器3K5A常閉接點(diǎn) 的兩端并聯(lián)有電阻3Rs5與微調(diào)電位器3W5串聯(lián)構(gòu)成的第十七電阻單元，第十八檢測繼電器 3K6A常閉接點(diǎn)的兩端并聯(lián)有電阻3Rs6與微調(diào)電位器3W6串聯(lián)構(gòu)成的第十八電阻單元。具有損耗的絕緣材料或結(jié)構(gòu)，通?？捎么?lián)或并聯(lián)的電阻、電容組成的等效回路 和相應(yīng)的矢量圖來表示，而該檢定裝置中所采用的介損因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器采用串聯(lián)模型，如圖5a、 圖5b所示。由 ρ = UrI = Uctg δ I故tg δ = Ur/Uc = wRsCs當(dāng)電阻Rs的阻值增大時(shí)，正切值tan δ也增大；參數(shù)δ反映了介質(zhì)損耗的大小， 故稱介質(zhì)損耗角，介質(zhì)損耗角的正切值tan δ則是衡量介質(zhì)損耗的重要參數(shù)，由此可得到， 要控制介質(zhì)損耗角正切值tan δ值的大小，只需要控制電阻Rs的大小即可。而本實(shí)用新型 是由數(shù)據(jù)處理器U6控制第一、第二、第三移位寄存器U1、U2、U3驅(qū)動(dòng)第一、第二、第三達(dá)林頓 管U4、U5.U6,再通過控制第一、第二、第三達(dá)林頓管U4、U5、U6的各管腳的輸出來控制相應(yīng) 繼電器線圈的上電、斷電來實(shí)現(xiàn)相應(yīng)電阻單元的選擇，設(shè)置相應(yīng)電阻單元中的電阻值為需 要的電阻值，即可對(duì)待測高壓介質(zhì)損耗測試儀輸入相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)取樣值，如果該高壓介質(zhì)損 耗測試儀對(duì)該取樣值的計(jì)算偏離對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果，即說明該高壓介質(zhì)損耗測試儀出現(xiàn) 偏差，需要校準(zhǔn)1、如檢定時(shí)通過數(shù)據(jù)處理器U6選擇第一檔位檢測電路需要檢測介質(zhì)損耗角的正切值tg δ為0. 01%時(shí)，首先繼電器klA不動(dòng)作，數(shù)據(jù)處 理器TO控制第一達(dá)林頓管U4的18腳使繼電器IklA上電，其常閉接點(diǎn)動(dòng)作斷開，此時(shí)測量 回路上串聯(lián)上電阻IRsl和微調(diào)電位器IWl，取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值tg δ為0. 01%的 檔位。2、如檢定時(shí)通過數(shù)據(jù)處理器U6選擇第二檔位檢測電路需要檢測介質(zhì)損耗角的正切值tg δ為0. 05%時(shí)，首先數(shù)據(jù)處理器U6控制第一達(dá) 林頓管U4的12腳使繼電器klA上電動(dòng)作，繼電器klA的單刀雙檔接點(diǎn)的輸入接腳3腳連 接常開接腳7腳，同時(shí)數(shù)據(jù)處理器U6控制第二達(dá)林頓管U5的17腳使繼電器2k2A上電、控 制第一達(dá)林頓管U4的11腳使繼電器k3A上電動(dòng)作，取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值tg δ為 0. 05%的檔位。3、如檢定時(shí)通過數(shù)據(jù)處理器U6選擇第三檔位檢測電路需要檢測介質(zhì)損耗角的正切值tg δ為5%時(shí)，首先數(shù)據(jù)處理器TO控制第一達(dá)林 頓管U4的12腳、第二達(dá)林頓管TO的12腳使繼電器klA、K2A上電動(dòng)作，使高壓信號(hào)連接至第三檔位檢測電路，同時(shí)數(shù)據(jù)處理器TO控制第三達(dá)林頓管TO的18腳使繼電器3K1A上電、 控制第一達(dá)林頓管U4的11腳使繼電器K3A動(dòng)作、控制第二達(dá)林頓管TO的11腳使繼電器 K4A動(dòng)作，即取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值tg δ為5%的檔位。注本實(shí)施例中分別串接對(duì)應(yīng)電阻IRs l、2Rs l、3Rs 1的電阻單元，可取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切 值tgS為0.01%的檔位；分別串接對(duì)應(yīng)電阻1RS2、2RS2、3RS2的電阻單元，可取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值 tg5為0.05%的檔位；分別串接對(duì)應(yīng)電阻1Rs3、2RS3、3Rs3的電阻單元，可取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值 tg5為0.1%的檔位；分別串接對(duì)應(yīng)電阻1Rs4、2Rs4、3Rs4的電阻單元，可取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值 tg5為0.5%的檔位；分別串接對(duì)應(yīng)電阻1Rs5、2RS5、3RS5的電阻單元，可取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值 tg5為的檔位；分別串接對(duì)應(yīng)電阻1Rs6、1Rs6、1Rs6的電阻單元，可取得對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗角正切值 tg5為5%的檔位。調(diào)試時(shí)根據(jù)公式tg δ ^ 2 Π fRs(C+Ct)，可反算出相應(yīng)電阻Rs (本實(shí)施例中各電 阻Rs采用高精度低PPM值的電阻)的大概值后，再調(diào)節(jié)微調(diào)電位器W，使電阻Rs的值>> 微調(diào)電位器W的阻值，可使本檢定裝置的檢測工作更穩(wěn)定、準(zhǔn)確。所述的繼電器K1A、K2A、 K3A、K4A均采用高壓真空繼電器，鉗位電容Ctl、Ct2、Ct3的值要保證在有高壓而無電阻負(fù) 載的情況下在鉗位電容上的電壓降不超過400V有效值，以保證該檢定裝置和外圍操作人 員的安全，所以鉗位電容Ctl、Ct2、Ct3的電容值一般遠(yuǎn)大于對(duì)應(yīng)檔位的定值電容的值，但 耐壓不超過一千伏即可。此外，也可將介損檔位控制電路的B端用作高壓信號(hào)輸入端，用于連接待測高壓 介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，A端用作測量結(jié)果輸出端，用于連接待測高壓介質(zhì)損耗 測試儀的低壓取樣輸入端，這種反接的介損檔位控制電路的控制過程請參照上述圖4的說 明，這里不再贅述。本實(shí)用新型的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，還包括用于與上位機(jī)連接通 訊的通訊單元，該通訊單元包括通訊芯片，通訊通訊芯片的數(shù)據(jù)輸入/輸出端連接所述數(shù) 據(jù)處理器TO的通訊端10、11腳(RXD管腳、TXD管腳)。通訊芯片可采用型號(hào)為MAX232的 通訊芯片。
權(quán)利要求一種全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于包括數(shù)據(jù)處理器、驅(qū)動(dòng)單元、介損檔位控制電路，數(shù)據(jù)處理器的控制信號(hào)輸出端連接驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸入端，驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸出端連接介損檔位控制電路的控制端，介損檔位控制電路的高壓信號(hào)輸入端用于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，介損檔位控制電路的測量結(jié)果輸出端用于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的低壓取樣輸入端。
2.如權(quán)利要求1所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于該檢定裝 置還包括存儲(chǔ)單元，存儲(chǔ)單元連接在數(shù)據(jù)處理器的存儲(chǔ)端口。
3.如權(quán)利要求1或2所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于所述 的介損檔位控制電路包括至少兩個(gè)檔位檢測電路，各檔位檢測電路的高壓輸入端之間以及 各檔位檢測電路的測量信號(hào)輸出端之間均連接有繼電器控制接點(diǎn)；各檔位檢測電路均包括 一定值電容、一鉗位電容、至少兩個(gè)依次串接的繼電器控制接點(diǎn)，定值電容與各繼電器控制 接點(diǎn)相串接，鉗位電容連接于定值電容負(fù)極與地之間；各繼電器控制接點(diǎn)兩端均用于并接 相應(yīng)阻值的電阻。
4.如權(quán)利要求3所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于各繼電器 控制接點(diǎn)兩端所并接的相應(yīng)檔位阻值的電阻單元；各電阻單元均包括相互串接的定值電阻 和微調(diào)電位器，各電阻單元中的定值電阻的阻值遠(yuǎn)大于微調(diào)電位器的阻值。
5.如權(quán)利要求4所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于所述的介 損檔位控制電路包括第一、第二、第三檔位檢測電路，所述待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓 信號(hào)輸出端連接第一繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)的輸入接腳，第一檔位檢測電路的高壓輸入端 連接第一繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳，第一繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳連接第二 繼電器單刀雙檔接點(diǎn)的輸入接腳，第二繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳連接第二檔位檢測 電路的高壓輸入端，第二繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳連接第三檔位檢測電路的高壓輸 入端；第一檔位檢測電路的測量信號(hào)輸出端連接第三繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉接腳，第 三繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)的輸出接腳用于輸出測量結(jié)果信號(hào)，第四繼電器的單刀雙檔接點(diǎn) 的輸出接腳連接第三繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常開接腳，第四繼電器的單刀雙檔接點(diǎn)常閉、 常開接腳分別對(duì)應(yīng)連接第二、第三檔位檢測電路的測量信號(hào)輸出端；第一檔位檢測電路的包括第一定值電容、第一鉗位電容、第一 第六檢測繼電器常閉 接點(diǎn)，第一定值電容與第一 第六檢測繼電器常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第一鉗位電容連接于第 一定值電容負(fù)極與地之間；第一 第六檢測繼電器常閉接點(diǎn)的兩端分別并聯(lián)有相應(yīng)檔位的 電阻單元；第二檔位檢測電路的包括第二定值電容、第二鉗位電容、第七 第十二檢測繼電器常 閉接點(diǎn)，第二定值電容與第七 第十二檢測繼電器常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第二鉗位電容連接 于第二定值電容負(fù)極與地之間；第七 第十二檢測繼電器常閉接點(diǎn)的兩端分別并聯(lián)有相應(yīng) 檔位的電阻單元；第三檔位檢測電路的包括第三定值電容、第三鉗位電容、第十三 第十八檢測繼電器 常閉接點(diǎn)，第三定值電容與第十三 第十八檢測繼電器常閉接點(diǎn)依次串聯(lián)，第三鉗位電容 連接于第三定值電容負(fù)極與地之間；第十三 第十八檢測繼電器常閉接點(diǎn)的兩端分別并聯(lián) 有相應(yīng)檔位的電阻單元；各電阻單元均包括相互串接的相應(yīng)檔位阻值的電阻和微調(diào)電位器，各電阻單元中的電阻的阻值遠(yuǎn)大于微調(diào)電位器的阻值。
6.如權(quán)利要求5所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于所述的驅(qū) 動(dòng)單元包括移位寄存器和達(dá)林頓管，移位寄存器的信號(hào)輸入端連接數(shù)據(jù)處理器的控制信號(hào) 輸出端，移位寄存器的信號(hào)輸出端連接達(dá)林頓管的信號(hào)輸入端，達(dá)林頓管的信號(hào)輸出端各 管腳對(duì)應(yīng)控制相應(yīng)繼電器線圈的上電。
7.如權(quán)利要求6所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于該檢定裝 置還包括顯示單元和操控單元，顯示單元的信號(hào)輸入端用于連接所述數(shù)據(jù)處理器的顯示信 號(hào)輸出端，操控單元的信號(hào)輸出端用于連接所述數(shù)據(jù)處理器的操控信號(hào)輸入端。
8.如權(quán)利要求6所述的全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其特征在于該檢定裝 置還包括用于與上位機(jī)連接通訊的通訊單元，通訊單元的數(shù)據(jù)輸入/輸出端連接所述數(shù)據(jù) 處理器的通訊端。
專利摘要一種全自動(dòng)高壓介質(zhì)損耗測試儀檢定裝置，其中包括數(shù)據(jù)處理器、存儲(chǔ)單元、驅(qū)動(dòng)單元、介損檔位控制電路，存儲(chǔ)單元連接在數(shù)據(jù)處理器的存儲(chǔ)端口，數(shù)據(jù)處理器的控制信號(hào)輸出端連接驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸入端，驅(qū)動(dòng)單元的信號(hào)輸出端連接介損檔位控制電路的控制端，介損檔位控制電路的高壓信號(hào)輸入端用于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的高壓信號(hào)輸出端，介損檔位控制電路的測量結(jié)果輸出端用于連接待測高壓介質(zhì)損耗測試儀的低壓取樣輸入端。
文檔編號(hào)G01R35/00GK201707434SQ20102024718
公開日2011年1月12日 申請日期2010年7月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月5日
發(fā)明者劉瑋蔚, 蔡洪貴, 陳卓婭, 馬磊 申請人:河南電力試驗(yàn)研究院