專利名稱：電壓檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置，且特別涉及一種電壓檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)需檢測(cè)主機(jī)板(motherboard)上的中央處理器 (centralprocessing unit,CPU)插槽的電壓時(shí)，通常會(huì)將中央處理器直接插設(shè)于中央處理 器插槽，然后使用萬(wàn)用表手動(dòng)測(cè)量中央處理器插槽的電壓。然而，若中央處理器插設(shè)于不良 的主機(jī)板的中央處理器插槽，當(dāng)主機(jī)板通電后會(huì)存在燒毀中央處理器的風(fēng)險(xiǎn)。此外，采用萬(wàn) 用表測(cè)量不僅不易找到測(cè)量點(diǎn)而且測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種電壓檢測(cè)裝置，能夠解決所述問題。為解決所述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是本實(shí)用新型提供一種電壓檢測(cè)裝置，用于插設(shè)于主機(jī)板的中央處理器插槽以檢測(cè) 中央處理器插槽的電壓。電壓檢測(cè)裝置包括電源供應(yīng)單元以及電壓比較單元。電源供應(yīng)單 元耦接中央處理器插槽且自主機(jī)板接收工作電壓。電壓比較單元耦接中央處理器插槽與電 源供應(yīng)單元。電壓比較單元比較中央處理器插槽的電壓與基準(zhǔn)電壓以得到比較結(jié)果。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果可以是相較于先前技術(shù)，本實(shí)用新型提供的電壓檢測(cè)裝置可代替實(shí)際的中央處理器直接 插設(shè)于主機(jī)板的中央處理器插槽以檢測(cè)電壓。而且，本實(shí)用新型提供的電壓檢測(cè)裝置由主 機(jī)板直接供電，無(wú)需另外連接外部電源，并可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)。此外，本實(shí)用新型提供的電壓 檢測(cè)裝置的測(cè)試時(shí)間短，測(cè)量精度高，更便于操作。為讓本實(shí)用新型的所述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí) 施例，并配合附圖，作詳細(xì)說(shuō)明如下。

圖1為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的電壓檢測(cè)裝置的功能方塊圖。圖2為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的電壓檢測(cè)裝置的局部電路圖。
具體實(shí)施方式
圖1為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的電壓檢測(cè)裝置的功能方塊圖。圖2為本實(shí)用 新型的一較佳實(shí)施例的電壓檢測(cè)裝置的局部電路圖。請(qǐng)參考圖1及圖2。本實(shí)施例所提供的電壓檢測(cè)裝置1用于插設(shè)于主機(jī)板2的中央處理器插槽20以 檢測(cè)中央處理器插槽20的電壓。在本實(shí)施例中，電壓檢測(cè)裝置1用于檢測(cè)P7系列主機(jī)板 的LGA1156中央處理器插槽的電壓。然而，本實(shí)用新型并不限定于此。在其它實(shí)施例中，電 壓檢測(cè)裝置1亦可用于檢測(cè)其它類型主機(jī)板的其它類型的中央處理器插槽的電壓。[0013]在本實(shí)施例中，電壓檢測(cè)裝置1包括電壓識(shí)別單元10、電源供應(yīng)單元12、電壓比較 單元14以及顯示單元16。其中，電壓識(shí)別單元10、電源供應(yīng)單元12以及電壓比較單元14 耦接中央處理器插槽20，且電源供應(yīng)單元12自主機(jī)板2接收工作電壓Vin。電壓比較單元 14耦接電源供應(yīng)單元12。顯示單元16耦接電壓比較單元14以及電源供應(yīng)單元12。在本實(shí)施例中，如圖1所示，電壓檢測(cè)裝置1為與中央處理器具有類似形狀的電路 板。電壓檢測(cè)裝置1的背面設(shè)有多個(gè)接腳(圖未示)可對(duì)應(yīng)地插設(shè)于中央處理器插槽20 中。在本實(shí)施例中，電壓檢測(cè)裝置1的電壓識(shí)別單元10包括多個(gè)電壓識(shí)別(Voltage Identification Digital,VID)接腳。當(dāng)電壓檢測(cè)裝置1插設(shè)于中央處理器插槽20后，主 機(jī)板2可根據(jù)該些電壓識(shí)別接腳的電壓準(zhǔn)位自動(dòng)為電壓檢測(cè)裝置1提供工作電壓Vin。在 本實(shí)施例中，電壓識(shí)別接腳的數(shù)目為七個(gè)。主機(jī)板2的中央處理器供電控制電路會(huì)編譯轉(zhuǎn) 換該些電壓識(shí)別接腳傳遞的電壓識(shí)別信號(hào)，然后根據(jù)電壓識(shí)別信號(hào)為電壓檢測(cè)裝置1提供 工作電壓Vin。然而，本實(shí)用新型并不限定于此。在本實(shí)施例中，中央處理器插槽20為L(zhǎng)GA1156中央處理器插槽。因此，主機(jī)板2 會(huì)為中央處理器插槽20提供四組電壓(包括Vcore，VCCPL，VDDQ以及VTT)。由上述四組 電壓的特點(diǎn)可知，其中VCCPL比較穩(wěn)定且電壓值較大。據(jù)此，工作電壓Vin可為VCCPL。然 而，本實(shí)用新型并不限定于此。在其它實(shí)施例中，工作電壓Vin亦可選擇自VCCPL與VDDQ 的其中之一。其中，當(dāng)VCCPL存在異常時(shí)，電壓檢測(cè)裝置1仍可檢測(cè)出異常，不會(huì)影響其檢 測(cè)的準(zhǔn)確性。在本實(shí)施例中，電壓檢測(cè)裝置1的電源供應(yīng)單元12包括電壓轉(zhuǎn)換元件122。電壓 轉(zhuǎn)換元件122耦接于中央處理器插槽20與電壓比較單元14。電源供應(yīng)單元12自主機(jī)板2 接收工作電壓Vin。然而，由于主機(jī)板2提供的工作電壓Vin不一定符合電壓比較單元14 以及顯示單元16所需的電壓，因此，利用電壓轉(zhuǎn)換元件122可將自主機(jī)板2接收到的工作 電壓Vin轉(zhuǎn)換為電壓比較單元14以及顯示單元16所需的電壓(例如，3. 3V)。在此，電壓 轉(zhuǎn)換元件122例如可為TPS61(^8芯片，經(jīng)由工作電壓Vin轉(zhuǎn)換得到的電壓可通過(guò)TPS61(^8 芯片的第二接腳輸出。此外，電壓檢測(cè)裝置1中各元件所需的電壓均由主機(jī)板2提供，無(wú)需 另外設(shè)置外部電源，從而方便使用。在本實(shí)施例中，電壓比較單元14接收中央處理器插槽20的四組電壓(包括 Vcore, VCCPL, VDDQ以及VTT)，且電壓比較單元14分別將其與基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較以得到比 較結(jié)果。然后，顯示單元16接收并顯示比較結(jié)果。然而，本實(shí)用新型并不限定于此。在其 它實(shí)施例中，當(dāng)電壓檢測(cè)裝置1應(yīng)用于其它類型的中央處理器插槽時(shí)，電壓比較單元14可 比較其它組數(shù)(例如，五組或七組)的電壓。此外，如圖2所示，在本實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓由 主機(jī)板2提供的工作電壓Vin通過(guò)電阻R分壓而得到。例如，如圖2所示，三個(gè)電阻R串聯(lián) 連接后，其一端耦接電源供應(yīng)單元12的電壓轉(zhuǎn)換元件122(TPS61(^8芯片)的第二接腳，另 一端則接地。然后，其中一個(gè)電阻R的一端耦接至電壓比較單元14用以將工作電壓Vin轉(zhuǎn) 換為基準(zhǔn)電壓。然而，本實(shí)用新型亦并不限定于此。在本實(shí)施例中，電壓比較單元14可包括比較器141(例如，LM339APW芯片，每個(gè) LM339APW芯片可比較兩組電壓)與反相器142 (例如，MC74LCX04芯片)。在本實(shí)施例中，由 于需要比較四組電壓，因此比較器141的數(shù)目為兩個(gè)。其中，圖2中僅繪示一個(gè)比較器141用于比較Vcore與基準(zhǔn)電壓。然而，本實(shí)用新型并不限定于此。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，可根據(jù)需要 比較的電壓組數(shù)設(shè)置不同數(shù)目的比較器。在本實(shí)施例中，顯示單元16包括多個(gè)發(fā)光二極管(light-emitting diode, LED) 指示燈160。然而，本實(shí)用新型對(duì)此不作任何限定。在其它實(shí)施例中，顯示單元16可包括其 它類型的指示元件(例如，蜂鳴器)。在本實(shí)施例中，發(fā)光二極管指示燈160的數(shù)目為八個(gè)，其中包括四個(gè)紅色的發(fā)光 二極管指示燈以及四個(gè)綠色的發(fā)光二極管指示燈。一個(gè)紅色發(fā)光二極管指示燈與一個(gè)綠色 發(fā)光二極管指示燈為一組，對(duì)應(yīng)地用于顯示一組電壓的比較結(jié)果。然而，本實(shí)用新型并不限 定發(fā)光二極管指示燈160的數(shù)目(例如，可為四個(gè))與顏色(例如，可為藍(lán)色或黃色)。其 中，圖2中僅繪示一個(gè)紅色的發(fā)光二極管指示燈Ll以及一個(gè)綠色的發(fā)光二極管指示燈L2 用于顯示Vcore的比較結(jié)果。以下僅以Vcore為例說(shuō)明電壓比較單元14的操作原理。在本實(shí)施例中，電壓比 較單元14的比較器141的基準(zhǔn)電壓包括最大電壓Vmax與最小電壓Vmin，分別連接至比較 器141的第七接腳與第四接腳。另外，Vcore可連接至比較器141的第五接腳與第六接腳。 Vcore與Vmax以及Vcore與Vmin的比較結(jié)果分別由比較器141的第一接腳與第二接腳輸 出。比較器141得到的最終比較結(jié)果由第二接腳連接至第一接腳通過(guò)第一接腳一并輸出。 然而，本實(shí)用新型對(duì)此不作任何限定。在本實(shí)施例中，當(dāng)比較器141比較Vcore與基準(zhǔn)電壓后得到Vcore介于最大電壓 Vmax與最小電壓Vmin之間時(shí)，比較器141判斷Vcore為正常。當(dāng)比較器141比較Vcore與 基準(zhǔn)電壓后得到Vcore大于最大電壓Vmax或者小于最小電壓Vmin時(shí)，則比較器141判斷 Vcore存在異常。然而，本實(shí)用新型并不限定于此。在其它實(shí)施例中，比較器141的基準(zhǔn)電 壓可僅包括一個(gè)電壓值。此時(shí)，電壓比較單元14可通過(guò)判斷Vcore相對(duì)于基準(zhǔn)電壓的浮動(dòng) 范圍是否符合要求，從而確定Vcore是否正常。在本實(shí)施例中，當(dāng)比較器141得到的比較結(jié)果為Vcore正常時(shí)，可通過(guò)第一接腳輸 出高電平信號(hào)。然而，本實(shí)用新型對(duì)此不作任何限定。在其它實(shí)施例中，亦可輸出低電平信 號(hào)。在本實(shí)施例中，紅色發(fā)光二極管指示燈Ll與綠色發(fā)光二極管指示燈L2可設(shè)置為低電平 信號(hào)驅(qū)動(dòng)發(fā)光。因此，第一接腳輸出的高電平信號(hào)在經(jīng)過(guò)反相器142后，變成低電平信號(hào)， 因此，顯示單元16中對(duì)應(yīng)于Vcore的綠色發(fā)光二極管指示燈L2發(fā)光。紅色發(fā)光二極管指 示燈Ll則由于直接受第一接腳輸出的高電平信號(hào)驅(qū)動(dòng)而不發(fā)光。反之，當(dāng)電壓比較單元14 得到的比較結(jié)果為Vcore存在異常時(shí)，顯示單元16中對(duì)應(yīng)于Vcore的紅色發(fā)光二極管指示 燈Ll發(fā)光。然而，本實(shí)用新型并不限定于此。在其它實(shí)施例中，亦可將紅色發(fā)光二極管指 示燈Ll與綠色發(fā)光二極管指示燈L2設(shè)置為高電平信號(hào)驅(qū)動(dòng)發(fā)光。在實(shí)際應(yīng)用中，還可根 據(jù)需要為顯示單元16設(shè)計(jì)不同的顯示效果。此外，在本實(shí)施例中，當(dāng)比較中央處理器插槽20的其它三組電壓時(shí)，可根據(jù)需要 通過(guò)電阻分壓得到其它三組基準(zhǔn)電壓，然后再分別比較中央處理器插槽20的其它三組電 壓與其對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)電壓。其中，中央處理器插槽20的其它三組電壓的檢測(cè)原理及顯示效果 與Vcore的檢測(cè)原理及顯示效果一致，故在此不再贅述。綜上所述，相較于先前技術(shù)，本實(shí)用新型較佳實(shí)施例所提供的電壓檢測(cè)裝置可代 替實(shí)際的中央處理器直接插設(shè)于主機(jī)板的中央處理器插槽以檢測(cè)中央處理器插槽的電壓。而且，電壓檢測(cè)裝置由主機(jī)板直接供電，無(wú)需另外連接外部電源，并可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)。此外， 本實(shí)用新型較佳實(shí)施例提供的電壓檢測(cè)裝置的測(cè)試時(shí)間短，測(cè)量精度高，亦便于操作。
雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本實(shí)用新型，任何 熟知此技藝者，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本實(shí) 用新型的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求書所限定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種電壓檢測(cè)裝置，用于插設(shè)于主機(jī)板的中央處理器插槽以檢測(cè)所述中央處理器插 槽的電壓，其特征是，所述電壓檢測(cè)裝置包括電源供應(yīng)單元，耦接所述中央處理器插槽且自所述主機(jī)板接收工作電壓；以及電壓比較單元，耦接所述中央處理器插槽與所述電源供應(yīng)單元，所述電壓比較單元比 較所述中央處理器插槽的電壓與基準(zhǔn)電壓以得到比較結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓檢測(cè)裝置，其特征是，所述電源供應(yīng)單元包括電壓轉(zhuǎn)換 元件，耦接所述中央處理器插槽與所述電壓比較單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓檢測(cè)裝置，其特征是，所述電壓檢測(cè)裝置還包括顯示單 元，耦接于所述電壓比較單元，用于顯示所述比較結(jié)果。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓檢測(cè)裝置，其特征是，所述顯示單元包括多個(gè)發(fā)光二極 管指示燈。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓檢測(cè)裝置，其特征是，所述電壓檢測(cè)裝置還包括電壓識(shí) 別單元，耦接所述中央處理器插槽。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓檢測(cè)裝置，其特征是，所述電壓比較單元包括比較器與 反相器，所述比較器耦接所述中央處理器插槽與所述電源供應(yīng)單元，所述反相器耦接所述 比較器與所述電源供應(yīng)單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓檢測(cè)裝置，其特征是，所述電壓檢測(cè)裝置還包括多個(gè)電 阻，所述這些電阻串聯(lián)連接后耦接所述電源供應(yīng)單元、所述電壓比較單元及接地，用于分壓 所述工作電壓以得到所述基準(zhǔn)電壓。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種電壓檢測(cè)裝置，用于插設(shè)于主機(jī)板的中央處理器插槽以檢測(cè)中央處理器插槽的電壓。電壓檢測(cè)裝置包括電源供應(yīng)單元以及電壓比較單元。電源供應(yīng)單元耦接中央處理器插槽且自主機(jī)板接收工作電壓。電壓比較單元耦接中央處理器插槽與電源供應(yīng)單元。電壓比較單元比較中央處理器插槽的電壓與基準(zhǔn)電壓以得到比較結(jié)果。本實(shí)用新型提供的電壓檢測(cè)裝置可代替實(shí)際的中央處理器直接插設(shè)于主機(jī)板的中央處理器插槽以檢測(cè)電壓。而且，本實(shí)用新型提供的電壓檢測(cè)裝置由主機(jī)板直接供電，無(wú)需另外連接外部電源，并可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)。
文檔編號(hào)G01R19/00GK201845039SQ20102019708
公開日2011年5月25日 申請(qǐng)日期2010年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月18日
發(fā)明者朱曉亞, 李光中, 王圣虎, 胡建明 申請(qǐng)人:名碩電腦(蘇州)有限公司, 和碩聯(lián)合科技股份有限公司