專利名稱：曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及機(jī)械加工領(lǐng)域的檢具，特別是一種曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具。
背景技術(shù)：
對于PL/BD型發(fā)動機(jī)的曲軸，其包括位于長軸及短軸，而且，長軸與短軸為偏心設(shè)置。在生產(chǎn)制造過程中需要對長軸及短軸的偏心值進(jìn)行檢測。現(xiàn)有的測量方式具有測量操作繁瑣、測量困難，時間長，效率低等不足，影響生產(chǎn)效率及生產(chǎn)質(zhì)量。目前，沒有專用于曲軸測長軸與短軸偏心測量的工具。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種設(shè)計(jì)合理、操作簡單、測量準(zhǔn)確的曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具。本發(fā)明解決其技術(shù)問題是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具，由檢具主體及百分表構(gòu)成，其特征在于檢具主體由底座、工件定位塊及百分表固定塊構(gòu)成，工作定位塊橫向固裝于底座上部，在工件定位塊上制有橫向的曲軸長軸卡槽，百分表定位塊縱向固定在底座上并位于工件定位塊的一端，在該百分表定位塊的下部制有通槽，在該百分表定位塊的上部安裝百分表，該百分表的測頭縱向穿裝至通槽內(nèi)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和有益效果為本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理、操作簡便、測量準(zhǔn)確，可大幅提高對曲軸長軸與短軸偏心值的檢測效率，較傳統(tǒng)測量方式提高5倍以上，從而有效提高生產(chǎn)效率，同時提高生產(chǎn)質(zhì)量。


圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖(操作示意圖)。
具體實(shí)施例方式下面通過具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳述，以下實(shí)施例只是描述性的，不是限定性的，不能以此限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。一種曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具，由檢具主體及百分表1構(gòu)成，其特征在于 檢具主體由底座5、工件定位塊6及百分表固定塊2構(gòu)成，工作定位塊橫向固裝于底座上部， 在工件定位塊上部制有橫向的曲軸長軸卡槽7，百分表定位塊縱向固定在底座上并位于工件定位塊的一端，在該百分表定位塊的下部制有通槽3，在該百分表定位塊的上部安裝百分表，該百分表的測頭縱向穿裝至通槽內(nèi)。本發(fā)明的使用方式為測量時將曲軸4的長軸固定于工件定位塊的卡槽內(nèi)，曲軸的短軸伸入至百分表下部的通槽內(nèi)，百分表測頭接觸曲軸的短軸外壁，從而確定長軸與短軸的偏心距離是否合格。
權(quán)利要求
1. 一種曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具，由檢具主體及百分表構(gòu)成，其特征在于檢具主體由底座、工件定位塊及百分表固定塊構(gòu)成，工作定位塊橫向固裝于底座上部，在工件定位塊上制有橫向的曲軸長軸卡槽，百分表定位塊縱向固定在底座上并位于工件定位塊的一端，在該百分表定位塊的下部制有通槽，在該百分表定位塊的上部安裝百分表，該百分表的測頭縱向穿裝至通槽內(nèi)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種曲軸測長軸與短軸偏心專用檢具，由檢具主體及百分表構(gòu)成，檢具主體由底座、工件定位塊及百分表固定塊構(gòu)成，工作定位塊橫向固裝于底座上部，在工件定位塊上制有橫向的曲軸長軸卡槽，百分表定位塊縱向固定在底座上并位于工件定位塊的一端，在該百分表定位塊的下部制有通槽，在該百分表定位塊的上部安裝百分表，該百分表的測頭縱向穿裝至通槽內(nèi)。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理、操作簡便、測量準(zhǔn)確，可大幅提高對曲軸長軸與短軸偏心值的檢測效率，較傳統(tǒng)測量方式提高5倍以上，從而有效提高生產(chǎn)效率，同時提高生產(chǎn)質(zhì)量。
文檔編號G01B5/252GK102466459SQ20101053978
公開日2012年5月23日 申請日期2010年11月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月11日
發(fā)明者崔建濤, 崔文來 申請人:天津市寶淶精密機(jī)械有限公司