專利名稱：實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電變量測試領(lǐng)域，尤其涉及在電變量測試中，用于實現(xiàn)通斷測試的測試設(shè)備和方法。
背景技術(shù)：
測試測量設(shè)備中，尤其是各種類型的數(shù)字萬用表都具有通斷測試功能，通斷測試功能主要是用來快速判斷測量線路對象的通斷，是電子檢修的必備功能。數(shù)字萬用表是靈便型測量儀器，可以測量交、直流電壓和交、直流電流，電阻、出于安全考慮、小型萬用表通常不能測量電流。除了這些基本測量功能外，大多數(shù)型號具有二極管檢查功能以及通斷測試功能。部份新款產(chǎn)品具有測量頻率、電容容量功能。部份型號具有附加的功能，如最大和最小值鎖定和相對值測量，以及數(shù)據(jù)鎖定和量程鎖定功能現(xiàn)有技術(shù)中，通斷測試功能是按如下方法實現(xiàn)的，輸入的模擬信號經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換器之后，變成離散的數(shù)字信號，數(shù)字萬用表根據(jù)當(dāng)前的測量設(shè)置將這些離散的數(shù)字信號轉(zhuǎn)換成一個對應(yīng)的測量值，然后將該測量值與數(shù)字萬用表中固定的一個測試閾值做比較，如果小于該測試閾值，檢測為通，顯示測量值并使蜂鳴器鳴叫；如果大于該測試閾值，但是沒有超出數(shù)字萬用表的測量量程，則顯示測量值，但是蜂鳴器不鳴叫；如果大于該測試閾值，并且超出了數(shù)字萬用表的測量量程，則檢測為斷。由于現(xiàn)有技術(shù)中的測試閾值往往采用幾個固定的經(jīng)驗值，在數(shù)字萬用表出廠時就已經(jīng)被固定設(shè)置，該測試閾值對用戶來說是不可任意編輯的，即不能任意更改，這雖然可以滿足很多使用者的通斷測試需求，但是當(dāng)使用者的測試對象比較特殊的時候，比如在電路通電的情況下進行通斷測試，此時利用固定設(shè)定的測試閾值就不能正確地反映被測電路的通斷了。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，實現(xiàn)測試閾值可調(diào)，尤其是該測試閾值對于用戶來說是可以任意設(shè)定的，以方便地滿足用戶不同的通斷測試需求。解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備。本發(fā)明的實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備，包括一個測量部件，一個存儲單元，一個控制部件，一個顯示部件，一個鍵盤單元，所述測量部件用于產(chǎn)生測量值，所述存儲單元用于存儲一個用于通斷測試的測試閾值，所述的控制部件用于將所述測量值與所述測試閾值相比較，依據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生通斷測試的結(jié)果，所述鍵盤單元還用于發(fā)出測試閾值設(shè)定指令，所述顯示部件還用于響應(yīng)所述測試閾值設(shè)定指令，顯示一個用于設(shè)定所述測試閾值的閾值設(shè)定窗口，所述控制部件還用于將所述測試閾值刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口重新設(shè)定的測試閾值。所述控制部件響應(yīng)一個測試閾值確認指令，將所述測試閾值刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口重新設(shè)定的測試閾值。
所述測試閾值確認指令可以是由鍵盤單元發(fā)出的。所述鍵盤單元可以是物理按鍵。所述鍵盤單元可以是菜單軟按鍵。解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的方法。本發(fā)明的實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的方法，包括以下步驟響應(yīng)一個測試閾值設(shè)定指令；重新設(shè)定測試閾值；將所述測試閾值刷新為重新設(shè)定的測試閾值；依據(jù)所述重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試。所述重新設(shè)定測試閾值是在1 Ω至2000 Ω范圍內(nèi)設(shè)定。所述依據(jù)重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試包括如下步驟將所述測量值與所述重新設(shè)定的測試閾值比較；如果所述測量值小于所述重新設(shè)定的測試閾值，檢測為“通”；如果所述測量值大于所述重新設(shè)定的測試閾值且小于測試量程，則顯示測量值；如果所述測量值大于所述重新設(shè)定的測試閾值且大于測試量程，檢測為“斷”。本發(fā)明的實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備和方法，實現(xiàn)了測試閾值可由用戶自由設(shè)定的效果，從而可以滿足用戶各種不同的通斷測試需求。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)通斷測試的流程2是本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的測試設(shè)備示意3是本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的測試設(shè)備的前面板示意4是本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的設(shè)定測試閾值的方法流程5是本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的依據(jù)設(shè)定的測試閾值進行通斷測試的方法流程圖
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細說明，參照圖2，是本發(fā)明實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的一個優(yōu)選實施例的測試設(shè)備，包括一個測量部件21，一個存儲單元22，一個控制部件23，一個顯示部件24，一個鍵盤單元25， 所述測量部件21用于產(chǎn)生測量值，所述存儲單元22用于存儲一個用于通斷測試的測試閾值，所述的控制部件23用于將所述測量值與所述測試閾值相比較，依據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生通斷測試的結(jié)果，所述鍵盤單元25還用于發(fā)出測試閾值設(shè)定指令，所述顯示部件M還用于響應(yīng)所述測試閾值設(shè)定指令，顯示一個用于設(shè)定所述測試閾值的閾值設(shè)定窗口 26，所述控制部件23還用于將所述測試閾值刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口沈重新設(shè)定的測試閾值。作為舉例說明，所述的控制部件23可以是單片機、CPU或FPGA可編程邏輯門陣列等，本優(yōu)選實施例中的控制部件采用了 CPU來完成。參照圖3，是本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的測試設(shè)備的前面板示意圖，當(dāng)按下物理按鍵27時，所述的顯示部件M立即顯示一個用于設(shè)定所述測試閾值的閾值設(shè)定窗口沈，所述閾值設(shè)定窗口 26中顯示系統(tǒng)默認的10 Ω測試閾值，此時用戶通過按動左輸入按鍵觀和按動右輸入按鍵四選擇設(shè)定測試閾值的位，通過按動上輸入按鍵31來增加測試閾值，通過按動下輸入按鍵32來減小測試閾值，從而完成了對測試閾值的設(shè)定，重新設(shè)定的值可以是任意值，本實施例是在1 Ω至2000 Ω范圍內(nèi)設(shè)定的，設(shè)定完成后，再次按下物理按鍵27，此時系統(tǒng)的測試閾值就刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口沈重新設(shè)定的測試閾值。通常對應(yīng)按鍵的操作取決于屏幕顯示菜單的時候，這個按鍵就可以定義為菜單軟按鍵，而物理按鍵與屏幕顯示的菜單不相關(guān)。作為舉例說明，物理按鍵27可以是單一功能按鍵，也可以是多功能按鍵。作為舉例說明，當(dāng)按下物理按鍵27時，所述的顯示部件對可以延時一段時間再顯示一個用于設(shè)定所述測試閾值的閾值設(shè)定窗口 26。作為舉例說明，當(dāng)按下菜單軟按鍵30時，所述的顯示部件M立即顯示或延時一段時間再顯示一個用于設(shè)定所述測試閾值的閾值設(shè)定窗口 26。作為舉例說明，所述閾值設(shè)定窗口沈中可以顯示系統(tǒng)默認的其他測試閾值，或不顯示測試閾值，只等待用戶設(shè)置。作為舉例說明，設(shè)定完成后，可以不必再次按下物理按鍵27，而是等待一個時間閾值，時間閾值過后，系統(tǒng)的測試閾值就自動刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口 26重新設(shè)定的測試閾值。參見圖4，是本發(fā)明的實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的優(yōu)選實施例的一種方法，本優(yōu)選實施例的方法，包括以下步驟步驟S31響應(yīng)一個測試閾值設(shè)定指令；步驟S32重新設(shè)定測試閾值；步驟S33將所述測試閾值刷新為重新設(shè)定的測試閾值；步驟S34依據(jù)所述重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試。作為舉例說明，所述步驟S32重新設(shè)定測試閾值可以在任意范圍設(shè)定，本優(yōu)選實施例是在1 Ω至2000 Ω范圍內(nèi)設(shè)定。作為舉例說明，在執(zhí)行所述步驟S33將所述測試閾值刷新為重新設(shè)定的測試閾值之前，還可以有一個計時步驟，統(tǒng)計所述測試閾值設(shè)定指令的時間，還具有一個判斷步驟， 判斷所述測試閾值設(shè)定指令的時間是否超出一個時間閾值，如果超出所述時間閾值，執(zhí)行所述存儲重新設(shè)定的測試閾值的步驟，如果沒有超出所述時間閾值，執(zhí)行所述響應(yīng)測試閾值設(shè)定指令步驟。參照圖5，所述步驟S34依據(jù)重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試包括如下步驟將所述測量值與所述重新設(shè)定的測試閾值比較；如果所述測量值小于所述重新設(shè)定的測試閾值，檢測為“通”，可以同時使蜂鳴器鳴叫；如果所述測量值大于所述重新設(shè)定的測試閾值且小于測試量程，則顯示測量值；如果所述測量值大于所述重新設(shè)定的測試閾值且大于測試量程，檢測為“斷”。本發(fā)明的實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備和方法，實現(xiàn)了測試閾值可由用戶自由設(shè)定的效果，從而可以滿足用戶各種不同的通斷測試需求，從而解決了現(xiàn)有技術(shù)的技術(shù)問題。
雖然結(jié)合附圖描述了本發(fā)明的實施方式，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)做出各種變形和修改。
權(quán)利要求
1.一種實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備，包括一個測量部件，一個存儲單元，一個控制部件，一個顯示部件，一個鍵盤單元，所述測量部件用于產(chǎn)生測量值，所述存儲單元用于存儲一個用于通斷測試的測試閾值，所述的控制部件用于將所述測量值與所述測試閾值相比較，依據(jù)比較結(jié)果，產(chǎn)生通斷測試的結(jié)果， 其特征在于所述鍵盤單元還用于發(fā)出測試閾值設(shè)定指令，所述顯示部件還用于響應(yīng)所述測試閾值設(shè)定指令，顯示一個用于設(shè)定所述測試閾值的閾值設(shè)定窗口，所述控制部件還用于將所述測試閾值刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口重新設(shè)定的測試閾值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于所述控制部件響應(yīng)一個測試閾值確認指令，將所述測試閾值刷新為經(jīng)所述閾值設(shè)定窗口重新設(shè)定的測試閾值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試設(shè)備，其特征在于所述測試閾值確認指令是由鍵盤單元發(fā)出的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的測試設(shè)備，其特征在于所述鍵盤單元是物理按鍵。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的測試設(shè)備，其特征在于所述鍵盤單元是菜單軟按鍵。
6.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的測試設(shè)備，其特征在于所述測試設(shè)備是數(shù)字萬用表。
7.一種實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的方法，用于權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于包括以下步驟響應(yīng)一個測試閾值設(shè)定指令； 重新設(shè)定測試閾值；將所述測試閾值刷新為重新設(shè)定的測試閾值； 依據(jù)所述重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所述重新設(shè)定測試閾值是在1Ω至 2000 Ω范圍內(nèi)設(shè)定。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的方法，其特征在于所述依據(jù)重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試包括如下步驟將所述測量值與所述重新設(shè)定的測試閾值比較； 如果所述測量值小于所述重新設(shè)定的測試閾值，檢測為“通”； 如果所述測量值大于所述重新設(shè)定的測試閾值且小于測試量程，則顯示測量值； 如果所述測量值大于所述重新設(shè)定的測試閾值且大于測試量程，檢測為“斷”。
全文摘要
本發(fā)明提供一種實現(xiàn)閾值可調(diào)的通斷測試的測試設(shè)備和方法，該設(shè)備包括一測量部件，一存儲單元，一控制部件，一顯示部件，一鍵盤單元，測量部件用于產(chǎn)生測量值，存儲單元存儲一個測試閾值，控制部件將該測量值與該測試閾值相比較，鍵盤單元發(fā)出測試閾值設(shè)定指令，顯示部件響應(yīng)該測試閾值設(shè)定指令，顯示一個用于設(shè)定該測試閾值的閾值設(shè)定窗口，控制部件還將該測試閾值刷新為經(jīng)該閾值設(shè)定窗口重新設(shè)定的測試閾值。該方法包括響應(yīng)一個測試閾值設(shè)定指令；重新設(shè)定測試閾值；將該測試閾值刷新為重新設(shè)定的測試閾值；依據(jù)該重新設(shè)定的測試閾值進行通斷測試。本發(fā)明實現(xiàn)了測試閾值可由用戶自由設(shè)定的效果，從而可以滿足用戶各種不同的通斷測試需求。
文檔編號G01R31/02GK102466769SQ201010534840
公開日2012年5月23日 申請日期2010年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月3日
發(fā)明者李維森, 王悅, 王鐵軍 申請人:北京普源精電科技有限公司