專利名稱：發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法。
背景技術(shù)：
電廠發(fā)電機(jī)組運(yùn)行中，需檢測(cè)多個(gè)至關(guān)重要的溫度信號(hào)，這些信號(hào)準(zhǔn)確與否將直接影響到機(jī)組的正常運(yùn)行。如發(fā)電機(jī)上的線圈溫度信號(hào)，鍋爐上的主蒸汽溫度信號(hào)以及汽輪機(jī)上的軸承溫度信號(hào)等等。它們都是十分直觀地顯示出了機(jī)組在運(yùn)行狀態(tài)下各個(gè)環(huán)節(jié)的溫度狀況，以便運(yùn)行人員參考，對(duì)機(jī)組狀態(tài)正常與否做出判斷。上述的溫度信號(hào)通常采用溫度元件實(shí)施檢測(cè)，各溫度元件直接關(guān)系到溫度檢測(cè)的準(zhǔn)確性；因此溫度元件的定檢和校驗(yàn)顯得尤為重要。一般溫度元件的校驗(yàn)采用干體爐，如約克公司的G700LRI干體爐，該爐加熱的溫度范圍為50°C 700°C，爐徑為64mm，爐深為160mm，可以滿足溫度元件的校驗(yàn)條件。校驗(yàn)過程中，由于爐內(nèi)溫度不均勻，爐內(nèi)溫度不是平衡狀態(tài)，因此將等溫塊設(shè)置于爐內(nèi)，等溫塊上開有多個(gè)通孔，多個(gè)被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭插入等溫塊的多個(gè)通孔內(nèi)隨干體爐加溫，且保證被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭位于同一平面，以保證溫度的一致性；通過處理被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭輸出信號(hào)即可實(shí)施溫度元件的校驗(yàn)。等溫塊的采用保證了溫度的一致性，但也存在一定的缺陷，發(fā)電機(jī)組中溫度元件有多種規(guī)格型號(hào)，因此必須制作多個(gè)適應(yīng)溫度元件規(guī)格型號(hào)的等溫塊，提高了校驗(yàn)作業(yè)的成本；同時(shí)在溫度元件更換校驗(yàn)或重復(fù)校驗(yàn)時(shí)，需等候等溫塊冷卻，以便實(shí)施下一次校驗(yàn)，但等溫塊冷卻緩慢，耗時(shí)較長(zhǎng)，嚴(yán)重影響了溫度元件的校驗(yàn)效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法，本方法避免制作多個(gè)適應(yīng)溫度元件規(guī)格型號(hào)的等溫塊，降低了溫度元件校驗(yàn)作業(yè)成本，且有效縮短校驗(yàn)間隔時(shí)間，提高了溫度元件的校驗(yàn)效率。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法，包括校驗(yàn)用干體爐，將被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭插入所述干體爐內(nèi)，所述干體爐自上向下注入鐵屑至爐口并充滿干體爐內(nèi)腔，啟動(dòng)干體爐加溫，干體爐內(nèi)鐵屑傳熱被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭實(shí)施加溫，被校溫度元件與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭的溫度信號(hào)比較實(shí)施校驗(yàn)。上述鐵屑的顆粒大小為1-18目。由于本發(fā)明發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法采用了上述技術(shù)方案，即將被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭插入干體爐內(nèi)，然后干體爐自上向下注入鐵屑至爐口并充滿干體爐內(nèi)腔，啟動(dòng)干體爐加溫同時(shí)，鐵屑傳熱被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭實(shí)施加溫，被校溫度元件與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭的溫度信號(hào)比較實(shí)施校驗(yàn)。本方法避免制作多個(gè)適應(yīng)溫度元件規(guī)格型號(hào)的等溫塊，降低了溫度元件校驗(yàn)作業(yè)成本，且有效縮短校驗(yàn)間隔時(shí)間，提高了溫度元件的校驗(yàn)效率。


下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明圖1為本方法中干體爐的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，本發(fā)明發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法，包括校驗(yàn)用干體爐1，將被校溫度元件3和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭4插入所述干體爐1內(nèi)，所述干體爐1自上向下注入鐵屑 2至爐口并充滿干體爐1內(nèi)腔，啟動(dòng)干體爐1加溫，干體爐1內(nèi)鐵屑2傳熱被校溫度元件3 和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭4實(shí)施加溫，被校溫度元件3與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭4的溫度信號(hào)比較實(shí)施校驗(yàn)。為了使鐵屑充分地填滿干體爐，并且使得被校溫度元件以及標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭能夠充分地接觸，對(duì)鐵屑的顆粒大小有一定的要求。其顆粒大小選用1-18目，這樣的鐵屑才能符合充分填滿整個(gè)干體爐的要求，使得被校溫度元件以及標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭與鐵屑之間接觸緊密、不存在空氣，保證了被校溫度元件、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭以及干體爐溫度的一致性。本方法采用鐵屑代替?zhèn)鹘y(tǒng)的等溫塊，僅需將鐵屑注入干體爐內(nèi)腔，以包裹插入干體爐的溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭，起到了等溫塊同樣的溫度一致的效果，且無需根據(jù)溫度元件規(guī)格型號(hào)制作多個(gè)等溫塊待用，節(jié)省了校驗(yàn)成本；同時(shí)在需溫度元件更換或重復(fù)校驗(yàn)時(shí)，只需將干體爐內(nèi)的鐵屑倒出爐腔，而倒出爐腔的鐵屑將快速冷卻，在被校的溫度元件在干體爐上重新布置好后，注入冷卻的鐵屑即可再次開始校驗(yàn)作業(yè)，如此避免了等溫塊的長(zhǎng)時(shí)間冷卻，明顯提高了溫度元件的校驗(yàn)效率。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法，包括校驗(yàn)用干體爐，其特征在于將被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭插入所述干體爐內(nèi)，所述干體爐自上向下注入鐵屑至爐口并充滿干體爐內(nèi)腔，啟動(dòng)干體爐加溫，干體爐內(nèi)鐵屑傳熱被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭實(shí)施加溫， 被校溫度元件與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭的溫度信號(hào)比較實(shí)施校驗(yàn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法，其特征在于所述鐵屑的顆粒大小為1-18目。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種發(fā)電機(jī)組溫度元件校驗(yàn)的加溫方法，即將被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭插入干體爐內(nèi)，然后干體爐自上向下注入鐵屑至爐口并充滿干體爐內(nèi)腔，啟動(dòng)干體爐加溫同時(shí)，鐵屑傳熱被校溫度元件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭實(shí)施加溫，對(duì)被校溫度元件與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)溫探頭的溫度信號(hào)比較實(shí)施校驗(yàn)。本方法避免制作多個(gè)適應(yīng)溫度元件規(guī)格型號(hào)的等溫塊，降低了溫度元件校驗(yàn)作業(yè)成本，且有效縮短校驗(yàn)間隔時(shí)間，提高了溫度元件的校驗(yàn)效率。
文檔編號(hào)G01K15/00GK102455227SQ20101052267
公開日2012年5月16日 申請(qǐng)日期2010年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月27日
發(fā)明者施學(xué)龍, 范俊杰 申請(qǐng)人:上海寶鋼設(shè)備檢修有限公司