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共模電容的測量設(shè)備及方法

文檔序號:5874392閱讀:412來源:國知局
專利名稱:共模電容的測量設(shè)備及方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種開關(guān)電源供應(yīng)器,尤其涉及一種應(yīng)用于測量切換式電源供應(yīng)器兩 隔離元件間共模電容的測量設(shè)備及方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)今,電器與電子設(shè)備欲導(dǎo)入市場,需符合一些由美國聯(lián)邦通信委員會(Federal Communications Commission, FCC)或國際無線電干擾特另丨J委員會(Commission Internationale Specialedes Perturbations Radio, CISPR)所制定的電磁干擾 (Electromagnetic Interference, EMI)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。通常EMI電磁干擾可區(qū)分為差模噪聲 (differential-mode (DM)noise)與共模噪聲(common-mode (CM)noise)。其中差模噪聲的 電流路徑介于火線(Line,L)與中性線(Neutral,N)兩線之間,而其噪聲電平由電源供應(yīng)輸 入端的噪聲電流所決定。而共模噪聲的電流路徑則是介于電源線與接地線之間,通過電壓 跳變點與接地線間寄生電容的充電及放電所生成,其中電壓跳變點的電壓在EMI測試頻率 范圍內(nèi)的電路中快速跳動而得。通常,共模電流并非僅由單一電容決定。圖1揭示一具有反激(flyback)式轉(zhuǎn) 換器的電源供應(yīng)器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。圖1中的反激式轉(zhuǎn)換器100包含有一橋式整流器110、一濾 波電容器112與該橋式整流器110并聯(lián)、一具有初級繞組(primary winding) N100及次 級繞組(secondary winding) S100的變壓器T100、一開關(guān)114連接至該初級繞組N100、 一整流二極管116連接至該次級繞組S100、以及一輸出電容118。而該反激式轉(zhuǎn)換器100 架構(gòu)于供應(yīng)電源至一負(fù)載120。又,一標(biāo)準(zhǔn)的電源傳輸阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(Line Impedance StabilizingNetwork, LISN) 130也提供連接至該反激式轉(zhuǎn)換器100輸入端,并架構(gòu)于以提 供該轉(zhuǎn)換器固定阻抗以測量EMI噪聲,且使被測設(shè)備(Equipment Under Test,EUT)能與電 源線的環(huán)繞噪聲隔絕。該開關(guān)114的開/關(guān)運作會在電路中的P點產(chǎn)生高dv/dt值;而P 點即為電壓跳變點(hot-voltage point)。B點和S點是同名端。共模電流3通過初級側(cè) 電容CP、變壓器寄生電容CPS及次級側(cè)電容CS_G而抵達(dá)接地線,其中,初級側(cè)電容CP與次 級側(cè)電容〔3_6介于電源供應(yīng)器與接地線間的電容。如圖1所示,而該電源供應(yīng)電路的等效 共模電容即等同于為次級側(cè)電容CS_G與變壓器寄生電容CPS串聯(lián)后再與初級側(cè)電容CP并 聯(lián)。已有許多的技術(shù)可用以減小初級側(cè)電容CP ;—旦次級側(cè)電容CS_G大于變壓器寄生電 容CPS許多,與變壓器寄生電容CPS串聯(lián)的次級側(cè)電容CS G電容值則取決于該變壓器寄生 電容CPS。所以,等效共模電容最后主要終由的變壓器寄生電容CPS值所決定。若越早得知 變壓器寄生電容CPS的電容,則越有利于設(shè)計EMI濾波電路。因此若可以獲致準(zhǔn)確的變壓 器寄生電容CPS值,則量產(chǎn)的品質(zhì)將可獲得改善。通常獲寄生電容CPS有兩種方法。一為計算,另一則為測試。眾所都知,在變壓器 結(jié)構(gòu)的模型建立后,在靜電場中變壓器初級側(cè)與次級側(cè)間的寄生電容可被算出。然而結(jié)果 卻與事實不符,因為當(dāng)開關(guān)電源供應(yīng)器運作時,沿著線圈的電壓發(fā)生變化,因此變壓器線圈 每一繞圈的電壓并不同。然而在靜電場中計算寄生電容并未考慮此點。因此并沒有一種簡
4單的方法可以準(zhǔn)確地計算出在工程應(yīng)用上的等效共模電容。圖2A及圖2B揭示公知計算共模電容的測量設(shè)備,其中圖2A揭示測量設(shè)備的內(nèi)部 架構(gòu);而圖2B則揭示測量設(shè)備與變壓器一起的測量架構(gòu)。該測量設(shè)備7為一典型的阻抗分 析儀(Impedance analyzer)或阻抗測試器(LCRmeter)。由典型測量設(shè)備7所完成的計算 并不準(zhǔn)確,因為不論是阻抗分析儀或阻抗測試器僅為具有兩端點8及9的單端口網(wǎng)絡(luò)。該測 量設(shè)備7的內(nèi)部電壓源10通過端點8及9而連接至被測設(shè)備11。在獲得響應(yīng)電流12與響 應(yīng)電壓13后,該被測設(shè)備11的阻抗特性即可被計算出來。然而顯見地,在該單一端口網(wǎng)絡(luò) 7中,電壓源10與響應(yīng)電流12、響應(yīng)電壓13均由相同的端點8及9所獲得。在圖2B中,阻 抗分析儀或阻抗測試器可精確地測量一介于初級繞組15與次級繞組16間的寄生電容14。 但介于初級繞組15與次級繞組16間的共模電流為位移電流(displacement current),其 與如圖3A、圖3B中所示繞組間的壓降有關(guān)。圖3A揭示無屏蔽的變壓器結(jié)構(gòu);而圖3B則揭 示具有屏蔽的變壓器結(jié)構(gòu)。假設(shè)繞組15的繞圈匝數(shù)(turns)大于繞組16的匝數(shù),且底部 繞圈17通常連接至圖1中的B點,該處于EMI測試頻率范圍內(nèi)電壓幾乎是穩(wěn)定的,我們稱 其為靜地點(quiet point)。頂部繞圈18則通常接至圖1中的熱電壓點電壓跳變點P,該 處的電壓跳動快速。并且繞圈18及20具有相同極性,為同名端。很明顯地,繞圈17及19 間的電壓差幾乎是零,因此繞圈17及19該處間便幾乎無共模位移電流。而繞圈18及20 間的電壓差最大,因此該處間則有最大的共模位移電流。圖2B中的電容14無法顯示如此 的現(xiàn)象,所以其并非我們所要的電容。換句話說,由于在圖2所示的方法下,并未考慮繞組 15或16沿頂部線圈至底部線圈的電壓變化,而繞圈17及19間的電壓差幾乎是零,這樣,繞 組15及16之間電壓差幾乎為零。如果繞組15及繞組16間沒有電壓差,則即使電容14存 在,位移電流iCM仍為零,故電容14對共模電流毫無貢獻(xiàn)可言。電容14顯然非前述關(guān)鍵的 共模電容CPS。若變壓器內(nèi)初級繞組15與次級繞組16間具有一屏蔽層21,則單端口網(wǎng)絡(luò) 僅可測量介于屏蔽層21與次級繞組16間的寄生電容22。而寄生電容22也無法代表等效 共模電容CPS。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明發(fā)明人有鑒于前述公知技術(shù)的限制與缺陷,乃經(jīng)悉心試驗與研究,提出一 具有雙端口網(wǎng)絡(luò)測量等效參數(shù)的測量設(shè)備。該測量設(shè)備不僅可用于已完成產(chǎn)品的測試,也 可于早期設(shè)計周期獲致精確的寄生參數(shù),進(jìn)而輔助設(shè)計一開關(guān)電源供應(yīng)器的EMI濾波器。 同時也可用于作為變壓器量產(chǎn)時的品質(zhì)管控,有效地降低管控的費用。因此開發(fā)一種用于 電源轉(zhuǎn)換器的共模電容的測試設(shè)備及方法,即可處理解決前述公知限制與缺陷。本發(fā)明的目的在于提供一種可準(zhǔn)確測量存在于一第一元件及與該第一元件隔離 的一第二元件間共模電容的測量設(shè)備。為達(dá)上述目的,本發(fā)明的一較廣義實施方式為提供一種應(yīng)用于測量存在于一第一 元件及與該第一元件隔離的一第二元件間共模電容的測量設(shè)備。其測量設(shè)備的結(jié)構(gòu)包括一 信號產(chǎn)生器,連接至該第一元件,并具有一內(nèi)部信號源串聯(lián)至一第一內(nèi)電阻,用以傳送一信 號至該第一元件;以及一信號接收器,連接于該第二元件與該第一元件間,并具有一第二內(nèi) 電阻,用以測量該第一元件與第二元件間的一信號響應(yīng),進(jìn)而基于該信號響應(yīng)而計算出存 在于該第一元件與該第二元件間的共模電容。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明的另一較廣義實施方式為提供一種應(yīng)用于測量存在于一第 一元件及與該第一元件隔離的一第二元件間共模電容的測量方法,其包括步驟提供一信 號產(chǎn)生器及一信號接收器,其中該信號產(chǎn)生器連接至該第一元件且具有一內(nèi)部信號源串聯(lián) 至一第一內(nèi)電阻;以及該信號接收器連接于該第二元件與該第一元件間且具有一第二內(nèi)電 阻;通過該信號產(chǎn)生器的該內(nèi)部信號源提供一信號至該第一元件;以及通過該信號接收器 測量該第一元件與該第二元件間的一信號響應(yīng),以及基于該信號響應(yīng)計算存在于該第一元 件與該第二元件間的該共模電容。本發(fā)明提供一種具有雙端口網(wǎng)絡(luò)測量共模寄生電容的測量設(shè)備。該測量設(shè)備除了 可作為完成品的測試外,也可于早期設(shè)計周期時先行獲知精確的寄生參數(shù),進(jìn)而輔助設(shè)計 一開關(guān)電源供應(yīng)器的EMI濾波器。同時更可做為變壓器量產(chǎn)時的品質(zhì)管控,有效地降低管 控的費用。另一方面,本發(fā)明的測量設(shè)備更可廣泛地應(yīng)用于任兩點間的寄生參數(shù)測量,此為 公知技術(shù)所無法實現(xiàn)。本發(fā)明的前述及其他技術(shù)特征、功效及優(yōu)點將由下述實施例及


而可以進(jìn)
一步了解。

圖1 揭示一具有反激式轉(zhuǎn)換器的電源供應(yīng)器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。圖2A 揭示公知技術(shù)應(yīng)用于計算共模電容的測量設(shè)備的內(nèi)部架構(gòu)示意圖。圖2B 揭示公知技術(shù)的測量設(shè)備與變電器一同的測量架構(gòu)示意圖。圖3A 揭示公知技術(shù)無屏蔽層的變壓器結(jié)構(gòu)示意圖。圖3B 揭示公知技術(shù)具屏蔽層的變壓器結(jié)構(gòu)示意圖。圖4A 揭示本發(fā)明一較佳實施例的等效共模寄生電容的測量設(shè)備示意圖。圖4B 揭示圖4A中該測量設(shè)備的等效電路圖。圖5A:揭示本發(fā)明較佳實施例的測量設(shè)備配置有一 EMI測量接收機(jī)的結(jié)構(gòu)示意 圖。圖5B 揭示本發(fā)明較佳實施例的測量設(shè)備配置有一網(wǎng)絡(luò)分析儀的結(jié)構(gòu)示意圖。圖6A 揭示本發(fā)明較廣義實施方式的測量設(shè)備方框圖。圖6B 揭示圖6A較佳實施例的等效電路圖。圖7 揭示本發(fā)明再一較佳實施例的測量設(shè)備示意圖。圖8A及圖8B 揭示本發(fā)明應(yīng)用于測量一移相全橋式轉(zhuǎn)換器的變壓器的測量設(shè)備 電路示意圖。圖9A 揭示本發(fā)明應(yīng)用于具有多個初級繞組及一次級繞組變壓器的測量設(shè)備電 路示意圖。圖9B 揭示本發(fā)明應(yīng)用于具有多個初級繞組及多個次級繞組變壓器的測量設(shè)備 電路示意圖。圖IOA 揭示本發(fā)明應(yīng)用于測量MOSFET漏極與其散熱器間的寄生參數(shù)的測量設(shè)備 電路示意圖。圖IOB 揭示本發(fā)明應(yīng)用于測量光耦合器的初級側(cè)與次級側(cè)間的寄生參數(shù)的測量 設(shè)備電路示意圖。
上述附圖中的附圖標(biāo)記說明如下
100反激式轉(zhuǎn)換器110 橋式整流器
112濾波電容器114 開關(guān)
116整流二極管118 輸出電容
120負(fù)載130 電源傳輸阻抗穩(wěn)
3 共模電流7 測量設(shè)備
8 端點9 端點
10 電壓源11 被測設(shè)備
12 反應(yīng)電流13 反應(yīng)電壓
14 寄生電容15 初級繞組
16 次級繞組17 底部繞圈
18 頂部繞圈19 底部繞圈
20 頂部繞圈21 屏蔽層
22 寄生電容400 測量設(shè)備
410信號產(chǎn)生器412 信號接收器
500=EMI測量接收機(jī)510 網(wǎng)絡(luò)分析儀
600被測設(shè)備601 第一元件
602第二元件610 信號產(chǎn)生器
612信號接收器620 電壓跳變點
630靜地點640 靜地點
710信號產(chǎn)生器712 信號接收器
720電壓跳變點730 靜地點
740電壓點750 靜地點
810信號產(chǎn)生器812 信號接收器
910信號產(chǎn)生器912 信號接收器
940第一共同節(jié)點960 第二共同節(jié)點
1000 測量設(shè)備1010 信號產(chǎn)生器
1012 信號接收器1020 =MOSFET
1021 漏極1022 源極
1030 散熱器1100 測量設(shè)備
1110:信號產(chǎn)生器1112:信號接收器
1120 光耦合器1121 初級側(cè)
1122 次級側(cè)B 靜地點
CP 初級側(cè)電容CPS 變壓器寄生電容
CPSl 共模寄生電容CPS2 共模寄生電容
CSjG 次級側(cè)電容C13 共模寄生電容
IL 穿透損耗NlOO 初級繞組
NP400 初級繞組NP600 初級繞組
NP700 初級繞組NP800 初級繞組
7
NP910 初級繞組NP920 初級繞組
NS400 次級繞組NS600 次級繞組
NS700 次級繞組NS800 次級繞組
NS900 次級繞組P 電壓跳變點
P,.占 ; WNPl 第一電壓跳變點
P2第二電壓跳變點SlOO 次級繞組
S 靜地點TlOO 變壓器
Kl靜地點K2 靜地點
UP輸出電壓U,P 信號源
US輸入電壓UA 輸出電壓
UB輸入電壓VP 電壓
VS電壓ZA 內(nèi)電阻
ZB內(nèi)電阻ZP 內(nèi)電阻
ZS內(nèi)電阻f 測量頻率
iCM 共模位移電流
具體實施例方式體現(xiàn)本發(fā)明特征與優(yōu)點的一些典型實施例將在后段的說明中詳細(xì)敘述。應(yīng)理解的 是本發(fā)明能夠在不同的方式上具有各種的變化,其都不脫離本發(fā)明的范圍,且其中的說明 及附圖在本質(zhì)上當(dāng)作說明之用,而非用以限制本發(fā)明。本發(fā)明揭示一種具雙端口網(wǎng)絡(luò)機(jī)制的等效共模電容的測量設(shè)備。如圖4A及圖4B 所示,本發(fā)明的測量設(shè)備400包含一信號產(chǎn)生器410及一信號接收器412。其中圖4A揭示 本發(fā)明一較佳實施例的等效共模寄生電容的測量設(shè)備,設(shè)置于初級側(cè)電壓跳變點P與次級 側(cè)靜地點S間。該信號產(chǎn)生器410連接至變壓器初級繞組NP400的點P及P’。而該信號接 收器412則連接于該初級側(cè)繞組NP400的點P’與該次級側(cè)繞組NS400的點S間。對于該信 號接收器412而言,其可以一頻譜分析儀(Spectrum analyzer)替代之。此測量機(jī)制模擬 一于開關(guān)電源供應(yīng)器內(nèi)變壓器的實際運作狀態(tài)。這表示信號源被注入該初級側(cè)繞組NP400, 而于該初級側(cè)與次級側(cè)間的響應(yīng)可被該信號接收器412所測得。其信號源與響應(yīng)位于不同 的端口 ;不同于單端口網(wǎng)絡(luò)測量者的信號源與響應(yīng)均在同一端口。所以其可準(zhǔn)確的測量出 等效共模寄生電容CPS。圖4B為圖4A中該測量設(shè)備的等效電路圖。如圖4A所示,該信號產(chǎn)生器410內(nèi)的 內(nèi)電阻ZP與該信號接收器412內(nèi)的內(nèi)電阻ZS均為50 Ω,則該信號產(chǎn)生器410的輸出電壓 UP參照于該內(nèi)電阻ZP上的電壓,而非內(nèi)部信號源U,P的實際幅值。通常U’ P = 2UP,或以 分貝(dB)為單位則U,P|dB = UP|dB+6。根據(jù)歐姆定律(Ohm,s law), CPS可由下列算式 (1)計算而得。
權(quán)利要求
一種應(yīng)用于測量存在于一第一元件及與該第一元件隔離的一第二元件間共模電容的測量設(shè)備,其結(jié)構(gòu)包括一信號產(chǎn)生器,連接至該第一元件,并具有一內(nèi)部信號源串聯(lián)至一第一內(nèi)電阻,用以傳送一信號至該第一元件;以及一信號接收器,連接于該第二元件與該第一元件間,并具有一第二內(nèi)電阻,用以測量該第一元件與第二元件間的一信號響應(yīng),進(jìn)而基于該信號響應(yīng)而計算出存在于該第一元件與該第二元件間的共模電容。
2.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該信號接收器包含有一頻譜分析儀。
3.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該信號產(chǎn)生器及該信號接收器配置 于一 EMI測量接收機(jī)或一網(wǎng)絡(luò)分析儀。
4.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該第一元件包含有一變壓器初級繞 組;該第二元件包含有一變壓器次級繞組。
5.如權(quán)利要求4所述的共模電容的測量設(shè)備,還包含一屏蔽層,連接至該第一元件,并 設(shè)置于該第一元件與該第二元件間,用以降低該第一元件與該第二元件間的一共模電流。
6.如權(quán)利要求4所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該信號產(chǎn)生器連接于該變壓器初級 繞組的一電壓跳變點與一靜地點間;而該信號接收器則連接于該變壓器次級繞組的一靜地 點與該變壓器初級繞組的該靜地點間。
7.如權(quán)利要求4所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該信號產(chǎn)生器連接于該變壓器初級 繞組的一電壓跳變點與位于該電壓跳變點及該變壓器初級繞組一靜地點之間一電壓點間; 而該信號接收器則連接于該變壓器次級繞組的一靜地點與該變壓器初級繞組的該靜地點 間。
8.如權(quán)利要求4所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該變壓器初級繞組與該變壓器次級 繞組均配置于一反激式轉(zhuǎn)換器。
9.如權(quán)利要求4所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該變壓器初級繞組與該變壓器次級 繞組均配置于一移相全橋式轉(zhuǎn)換器。
10.如權(quán)利要求9所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該信號產(chǎn)生器連接于該變壓器初 級繞組的一第一電壓跳變點與一第二電壓跳變點間;而該信號接收器則連接于該變壓器次 級繞組的一靜地點與該變壓器初級繞組的該第一電壓跳變點間。
11.如權(quán)利要求9所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該信號產(chǎn)生器連接于該變壓器初 級繞組的一第一電壓跳變點與一第二電壓跳變點間;而該信號接收器則連接于該變壓器次 級繞組的一靜地點與該變壓器初級繞組的該第二電壓跳變點間。
12.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該第一元件包含有多個變壓器初 級繞組;該第二元件包含有一變壓器次級繞組。
13.如權(quán)利要求12所述的共模電容的測量設(shè)備,其中所述多個變壓器初級繞組的靜地 點均彼此連接至一共同節(jié)點;而該信號產(chǎn)生器連接于所述多個變壓器初級繞組中一主要繞 組的一電壓跳變點與所述多個變壓器初級繞組的該共同節(jié)點間;且該信號接收器則連接于 該變壓器次級繞組的一靜地點與所述多個變壓器初級繞組的該共同節(jié)點間。
14.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該第一元件包含有多個變壓器初級繞組;該第二元件包含有多個變壓器次級繞組。
15.如權(quán)利要求14所述的共模電容的測量設(shè)備,其中所述多個變壓器初級繞組的靜地 點均彼此連接至一第一共同節(jié)點;而所述多個變壓器次級繞組的靜地點均彼此連接至一第 二共同節(jié)點;該信號產(chǎn)生器連接于所述多個變壓器初級繞組中一主要繞組的一電壓跳變點 與所述多個變壓器初級繞組的該第一共同節(jié)點間;且該信號接收器則連接于所述多個變壓 器次級繞組的該第二共同節(jié)點與所述多個變壓器初級繞組的該第一共同節(jié)點間。
16.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該第一元件包含有一開關(guān);而該第 二元件包含有一散熱器。
17.如權(quán)利要求1所述的共模電容的測量設(shè)備,其中該第一元件包含有一光耦合器的 一次側(cè);該第二元件包含有該光耦合器的一次級側(cè)。
18.一種應(yīng)用于測量存在于一第一元件及與該第一元件隔離的一第二元件間共模電容 的測量方法,其包括步驟提供一信號產(chǎn)生器及一信號接收器,其中該信號產(chǎn)生器連接至該第一元件且具有一內(nèi) 部信號源串聯(lián)至一第一內(nèi)電阻;以及該信號接收器連接于該第二元件與該第一元件間且具 有一第二內(nèi)電阻;通過該信號產(chǎn)生器的該內(nèi)部信號源提供一信號至該第一元件;以及通過該信號接收器測量該第一元件與該第二元件間的一信號響應(yīng),以及基于該信號響 應(yīng)計算存在于該第一元件與該第二元件間的該共模電容。
19.如權(quán)利要求18所述的共模電容的測量方法,其中該第一元件包含有一變壓器初級 繞組;該第二元件包含有一變壓器次級繞組。
20.如權(quán)利要求19所述的共模電容的測量方法,其中該信號產(chǎn)生器連接于該變壓器初 級繞組的一電壓跳變點與一靜地點間;而該信號接收器則連接于該變壓器次級繞組的一靜 地點與該變壓器初級繞組的該靜地點間。
21.如權(quán)利要求19所述的共模電容的測量方法,其中該信號產(chǎn)生器連接于該變壓器初 級繞組的一電壓跳變點與位于該電壓跳變點及該變壓器初級繞組一靜地點之間一電壓點 間;而該信號接收器則連接于該變壓器次級繞組的一靜地點與該變壓器初級繞組的該靜地 點間。
全文摘要
本發(fā)明公開一種應(yīng)用于測量存在于一第一元件及與該第一元件隔離的一第二元件間共模電容的測量設(shè)備機(jī)器方法。該測量設(shè)備的結(jié)構(gòu)包括一信號產(chǎn)生器,連接至該第一元件,并具有一內(nèi)部信號源串聯(lián)至一第一內(nèi)電阻,用以傳送一信號至該第一元件;以及一信號接收器,連接于該第二元件與該第一元件間,并具有一第二內(nèi)電阻,用以測量該第一元件與第二元件間的一信號響應(yīng),進(jìn)而基于該信號響應(yīng)而計算出存在于該第一元件與該第二元件間的共模電容。本發(fā)明除了可作為完成品的測試外,也可于早期設(shè)計周期時先行獲知精確的寄生參數(shù),進(jìn)而輔助設(shè)計一開關(guān)電源供應(yīng)器的EMI濾波器。同時更可做為變壓器量產(chǎn)時的品質(zhì)管控,有效地降低管控的費用。
文檔編號G01R27/26GK101943717SQ20101022113
公開日2011年1月12日 申請日期2010年7月1日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月1日
發(fā)明者周敏, 周錦平, 應(yīng)建平, 謝毅聰 申請人:臺達(dá)電子工業(yè)股份有限公司
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