專利名稱：無源光網(wǎng)絡(luò)測試儀的制作方法
無源光網(wǎng)絡(luò)測試儀
背景技術(shù)：
本發(fā)明涉及光時(shí)域反射儀，更具體地涉及用于檢查無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)中的單模光 纖的微型手持儀器的分支領(lǐng)域。光時(shí)域反射儀(OTDR)被用在電信行業(yè)中，用于對(duì)光纜進(jìn)行測試、故障檢修、以及 特性表征，以測量光纜屬性，例如斷裂、連接器損失、接合損失、光纖衰減、衰減系數(shù)、光纖長 度、以及影響通過該光纜的信號(hào)傳輸質(zhì)量的其它參數(shù)。用OTDR檢查光纖時(shí)，從脈沖激光二極管以低占空比(duty cycle)將光學(xué)脈沖射 入被測光纖中。在光學(xué)脈沖傳輸期間，從該被測光纖返回的光以與事件(例如連接器)相 關(guān)的反向散射和反射的形式反射回來，并且隨后轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并被處理以進(jìn)行顯示。該信 號(hào)在分貝-長度圖中被顯示為振幅，表示逐漸減少的反向散射能量水平，反射事件表現(xiàn)為 反向散射上的脈沖。利用OTDR技術(shù)的儀器有兩種主要類型。第一種是全功能的迷你0TDR，而第二種是 功能更低的光學(xué)故障探測器。這兩種都采用返回到源頭的信號(hào)或波的反向散射、反射來進(jìn) 行測量。第三種利用OTDR技術(shù)的儀器類型是不使用反向散射的反射探測器。這種類型的 儀器非常廉價(jià)，具有相對(duì)高的空間分辨率，但不能定位非反射事件，例如開放的APC(角磨 光連接器)。迷你OTDR是更復(fù)雜、成本更高的儀器，其由經(jīng)過訓(xùn)練的技術(shù)人員使用以對(duì)光纜進(jìn) 行故障檢修。在PON安裝期間，采用迷你OTDR來驗(yàn)證在建設(shè)階段完成了正確的安裝并且驗(yàn) 證服務(wù)質(zhì)量是高的。這些OTDR具有高動(dòng)態(tài)范圍以克服用于將支線光纖(feeder fibers)分 配到個(gè)人客戶的分光器的損失。這些OTDR也具有高空間分辨率，使得可以分離并測量各個(gè) 客戶的光網(wǎng)絡(luò)終端產(chǎn)生的反射。該設(shè)計(jì)抵消了光故障探測器的優(yōu)點(diǎn)，例如為了空間分辨率 而犧牲了成本削減，使得這種類型的儀器對(duì)于PON測試來說不是好的選擇。第三種類型的 不使用反向散射的測試儀具有只能探測到沿著光纖的反射的缺點(diǎn)。當(dāng)其用于定位故障時(shí)， 這種類型的測試儀不能提供實(shí)現(xiàn)PON測試的足夠信息。在PON網(wǎng)絡(luò)中，需要采用反向散射 進(jìn)行測量，例如定位開放APC。APC即使提供反射也是極少的。通常地，具有不同類型的磨 光，例如超物理接觸(UPC)的開放連接器會(huì)提供很強(qiáng)的反射。在PON中，必須識(shí)別分配點(diǎn)處 的開放APC。需要一種易于使用、低成本、高分辨率、小尺寸的儀器以測試客戶和提供連接信息 或開放位置的第一分配點(diǎn)之間的單模PON網(wǎng)絡(luò)。該儀器可以被用于建設(shè)階段之后、維護(hù)過 程中、或用于簡單的故障檢修。它可以被更廣泛地部署，操作需要的技能更少。受過訓(xùn)練的 OTDR技術(shù)人員將僅需要處理更復(fù)雜的問題。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種在單模PON光纜系統(tǒng)中進(jìn)行單模光纖檢查的高分辨率光 纖長度計(jì)、現(xiàn)場光纖探測儀、以及反射測試儀，其具有低功率、長波長光源，該光源生成以用 來測試反射率的窄脈沖形式的光功率和以用來測試APC連接器的寬光脈沖形式的光功率。單模耦合器分配向外的和向內(nèi)的光能量。與低功率、長波長光源相兼容的光檢測器與單模 耦合器相耦合以接收來自于被測光纖的反射光。因此，本發(fā)明的目的是提供一種改進(jìn)的用于無源光纖網(wǎng)絡(luò)的測試儀器。本發(fā)明的另一目的是提供一種改進(jìn)的采用手持結(jié)構(gòu)的光纖網(wǎng)絡(luò)測試儀器。本發(fā)明的另一目的是提供一種改進(jìn)的光纖測試儀器，其成本低，且利用反向散射 來探測APC連接器并定位被測光纖中的反射。本發(fā)明的主題在本說明書的結(jié)尾部分中被特別指出并明確地要求保護(hù)。然而，參 照附圖的以下相關(guān)說明，可以最佳地理解本發(fā)明的構(gòu)造和操作方法，以及本發(fā)明的其它優(yōu) 點(diǎn)和目的，附圖中相同的標(biāo)號(hào)指代相同的要素。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的儀器的光拓?fù)淇驁D；圖2是例示連接到中間有破裂的光纖的儀器的圖，其所得到的信號(hào)采用5ns脈沖 且前置放大器設(shè)置為低增益；圖3是示出連接到未受損傷但在遠(yuǎn)端具有開放APC連接器的光纖的儀器的圖，其 采用500ns脈沖且前置放大器設(shè)置為高增益；圖4是例示利用兩段單模光纖來建立高增益值而進(jìn)行的儀器校準(zhǔn)的圖；圖5是例示利用兩段單模光纖來建立低增益值而進(jìn)行的儀器校準(zhǔn)的圖；圖6是顯示為δ 2的實(shí)際信號(hào)和顯示為δ 3的虛擬反向散射信號(hào)的圖形表示；以 及圖7是以手持形式提供的儀器的圖。
具體實(shí)施例方式根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式的系統(tǒng)包括基于OTDR技術(shù)的用于測試單模PON的小 尺寸測試儀器。該儀器能夠測量由APC(角磨光連接器)或標(biāo)準(zhǔn)連接器(即UPC)終結(jié)的光 纖的長度，到光纖破裂處的距離，并且檢測實(shí)時(shí)通信量。該儀器能夠用于測試連接性和網(wǎng)絡(luò) 問題。該測試儀通過自動(dòng)進(jìn)行三項(xiàng)測量來工作。首先，利用光敏二極管來測量被測光纖上 的能量以確定該光纖是否正在工作。第二，其測量具有寬脈沖的反向散射。最后，其使用具 有短死區(qū)的窄脈沖以進(jìn)行反射的測量，并使用校準(zhǔn)的增益差來測量反射率。參考圖1，其是根據(jù)本發(fā)明的儀器10的光拓?fù)淇驁D，本發(fā)明的高分辨率光纖計(jì)10 被設(shè)計(jì)用來檢查近距離電信系統(tǒng)中的單模光纖，該近距離電信系統(tǒng)例如是PON網(wǎng)絡(luò)，其中 光纖連接器不是緊密地間隔開。為了檢測如網(wǎng)絡(luò)中的開口的問題，測試儀器在反向散射模 式和反射探測模式中均能工作是很重要的。圖1所示的光拓?fù)浒ǖ凸β?、長波長的光源 12，其通過單模光纖14與耦合器16耦合，該耦合器16的輸出光纖是在接頭連接器20處終 結(jié)的光延遲器18。單模光耦合器16的第二輸入端口經(jīng)由光纖22終結(jié)至PIN光敏二極管 24。PIN光敏二極管作為光檢測器來工作，以將反射光轉(zhuǎn)換為電能，該電能被提供給運(yùn)算放 大器26 (前置放大器)并由運(yùn)算放大器26 (前置放大器)放大，該運(yùn)算放大器26的增益能 從高狀態(tài)到低狀態(tài)變化(通過操作增益開關(guān)30)，用于檢測反向散射或沒有反向散射的反 射。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器28將模 信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，該數(shù)字信號(hào)隨后被進(jìn)行信號(hào)平均以提高信噪比。一個(gè)或更多個(gè)微處理器(CPU 32)控制設(shè)備的操作，記憶/存儲(chǔ)器34用于數(shù)據(jù)和 命令的存儲(chǔ)。電源模塊36提供電源以操作儀器，適合的電池電源用于便攜式手持使用。I/ 0 38提供與設(shè)備使用者的接口，且可以包括顯示和輸入設(shè)備，例如光標(biāo)控制鍵和其它用于 允許使用者操作和顯示/輸出結(jié)果的鍵。在優(yōu)選實(shí)施方式中，光源12是安裝在具有單模光纖作為尾纖的印刷電路板上的 13IOnm長波長激光二極管。該13IOnm激光器12發(fā)出低功率光脈沖，其范圍從25mW到50mW， 脈沖持續(xù)時(shí)間從5ns變化到高達(dá)lus。脈沖的占空比小于1%。來自激光器12的光功率通 過激光器和耦合器的單模光纖尾纖并采用熔接接合的方式而耦合到單模耦合器16的輸入 端口。單模耦合器是熔接的雙錐器件，其被設(shè)計(jì)用來平均分配該器件的各支線(leg)的光 功率。單模耦合器輸出端口具有在耦合器16和接頭連接器20之間的光延遲器18，以在 激光脈沖觸發(fā)開關(guān)噪聲和從接頭連接器傳出的第一反射脈沖之間產(chǎn)生分離。如果測試時(shí)在 儀器附近有反射事件，則這點(diǎn)是需要的。來自于激光器12的光能量通過接頭連接器20射 入被測光纖40中。從被測光纖反射的光通過單模耦合器16而耦合并導(dǎo)向PIN光敏二極管24。光檢測 器24是InGaAs型器件，其與由激光器12生成的1310nm波長的光兼容。PIN光敏二極管被 用在該優(yōu)選實(shí)施方式中，因?yàn)槠洳灰笙衿毡橛糜贠TDR中以提高接收器靈敏度的APD (雪 崩光電檢測器)一樣的復(fù)雜性、空間、溫度補(bǔ)償和成本。由于對(duì)于該設(shè)備的典型測試環(huán)境中 的2km到3km的短光纜需要小的動(dòng)態(tài)范圍，PIN光敏二極管是更優(yōu)選的。此外，PIN檢測器 的存儲(chǔ)效果低于例如InGaAs APD的單模檢測器的存儲(chǔ)效果，在與事件相關(guān)的反射脈沖的下 降沿產(chǎn)生更小的檢測器拖尾(detector tail)，因而提高了儀器的事件分辨率。光敏二極管24以互阻抗(transimpedance)的結(jié)構(gòu)連接到前置放大器26以提高 響應(yīng)速度。用于前置放大器26中的運(yùn)算放大器優(yōu)選地具有很快的過載響應(yīng)，使得接收到 的強(qiáng)反射不會(huì)引起如不具有該特征的運(yùn)算放大器所表現(xiàn)出的脈沖展寬和恢復(fù)。德州儀器 (Texas Instruments)的0PA699寬帶、高增益電壓限制放大器是這樣的一種設(shè)備，其具有 輸出電壓箝位且恢復(fù)時(shí)間少于幾納秒。幾納秒在時(shí)間或距離測量中代表幾分之一米。IOns 的恢復(fù)時(shí)間代表1米的距離。光敏二極管24采用雙重增益開關(guān)方法以放大反向散射信號(hào) 或反射信號(hào)。由于反向散射信號(hào)至少是反射峰以下的45dB，所以前置放大器增益中需要大 的差值。這種情況下，用于前置放大器的200千歐姆增益設(shè)置電阻器適于在保持可觀的帶 寬的同時(shí)檢測足夠的反向散射。為了更高的分辨率和更低的增益，4千歐姆增益設(shè)置電阻器 是足夠的。前置放大器26的輸出隨后被供給到低成本的A/D轉(zhuǎn)換器28，使得能夠繼續(xù)進(jìn)一 步的數(shù)字信號(hào)處理，例如轉(zhuǎn)換為對(duì)數(shù)域，信號(hào)平均，以及顯示?，F(xiàn)在參考圖2，儀器被示出為連接到中間有破裂44的光纖42，并且示出了從該儀 器向光纖42發(fā)射5ns脈沖而得到的信號(hào)，其中前置放大器設(shè)置為低增益。這種情況下，沒 有可測量的反向散射。在圖3中，儀器10被示出為連接到未受損傷的光纖46，而在光纖46的遠(yuǎn)端有開放 APC連接器48。500ns脈沖入射到光纖46中且前置放大器設(shè)置為高增益。在這種情況下， 有可測量的反向散射并且能夠發(fā)APC開放。
在圖4中，利用兩段單模光纖50，52來進(jìn)行儀器10的校準(zhǔn)，所述兩段單模光纖50， 52例如每段100米，并通過連接器54 (圖示中的UPC連接器)連接，該連接器54具有合理 的低反射率以使得當(dāng)進(jìn)行測量時(shí)信號(hào)不飽和。前置放大器26設(shè)置為高增益且使用最寬的 脈沖寬度來激勵(lì)盡可能多的反向散射。測量S 1且利用下式1來計(jì)算反射率，R = Bns+101og[(10H/5-l)*PW]式 1其中R是已知的反射率，Bns是對(duì)于13IOnm在Ins處的反向散射系數(shù)，H是反向散 射水平之上的反射的高度，并且PW是脈沖寬度。這是在OTDR中使用的用于計(jì)算事件反射 率的基本式。該測量建立了高增益值。接下來，參考圖5，采用與前面相同的脈沖寬度，前置放大器26的增益減小為低增 益。結(jié)果顯示在本底噪聲中出現(xiàn)了反射。對(duì)與圖4所示相同的已知幅值的反射進(jìn)行δ2的 測量。該測量建立了低增益值并使得能夠在放大器線性區(qū)域內(nèi)測量高幅值脈沖。在該測量 過程中H值是未知的，因?yàn)闆]有反向散射作為參考，但反射率沒有改變。在圖6中，描繪了顯示為δ 2的實(shí)際信號(hào)和顯示為δ 3的虛擬反向散射信號(hào)的圖 形表示。由于利用式1而得知校準(zhǔn)的反射率且所有其它參數(shù)已知，所以能夠解出H。既然知 道了 H，就能夠利用下式來解出δ 3并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中H= δ 2+ δ 3式 2由于δ 3被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，在現(xiàn)場測試未知反射率依賴于測量δ 2，計(jì)算H，以及 解出反射率公式1，因?yàn)锽ns，H，δ 2，δ 3和脈沖寬度是已知的。該方法不需要對(duì)前置放大器 的實(shí)際增益比進(jìn)行電子測量。因此，該儀器填補(bǔ)了對(duì)于易于使用、低成本、高分辨率、小尺寸的用于測試客戶與 提供連接性信息或開放位置的第一分配點(diǎn)之間的單模PON網(wǎng)絡(luò)的儀器的需要。由于其需要 的范圍小且不需要通過分光計(jì)進(jìn)行測試，且需要更小的動(dòng)態(tài)范圍，所以可以使用較低成本 的部件(例如PIN光敏二極管)。單波長操作、簡化的電子器件、更少的信號(hào)平均、以及更少 的處理也降低了成本。其也可以在診斷之前進(jìn)行現(xiàn)場光纖檢測。該儀器適宜地被提供為手持形式，例如圖7中所示，其中測試儀器10’包括尺寸設(shè) 計(jì)為用戶手持的外殼56，顯示器58，和用戶輸入控制60，該用戶輸入控制60可以包括例如 光標(biāo)控制鍵，按鈕和選擇旋鈕。盡管已經(jīng)示出并描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員明顯的是， 可以在不脫離本發(fā)明的寬廣范圍的情況下進(jìn)行很多改變和修改。所附的權(quán)利要求因此旨在 涵蓋所有這些落入本發(fā)明的實(shí)際精神和范圍中的改變和修改。
權(quán)利要求
一種用于檢查被測單模光纖的儀器，其中光脈沖被輸入到所述被測單模光纖中并且從所述被測單模光纖接收返回光信號(hào)，所述儀器包括低功率、長波長光功率源，其用于產(chǎn)生所述光脈沖；與所述低功率、長波長光功率源兼容的光檢測器，其用于從所述被測單模光纖接收所述返回光信號(hào)；具有兩個(gè)輸入端口和一個(gè)輸出端口的單模光耦合器，來自所述光功率源的所述光脈沖在一個(gè)輸入端口處被發(fā)射并被耦合到與所述輸出端口連接的輸出單模光纖，而所述返回光信號(hào)在第二個(gè)輸入端口處被接收并耦合到所述光檢測器，所述單模光耦合器對(duì)來自所述光源的光功率和所述返回光信號(hào)在相關(guān)聯(lián)的輸出端口和輸入端口之間進(jìn)行均分；附接到所述單模光耦合器的所述輸出端口和輸出光纖連接器的一段單模光纖，其用于產(chǎn)生光延遲，使得由激光觸發(fā)引起的電開關(guān)噪聲與第一個(gè)返回光脈沖分離開；光接收器，其由帶寬運(yùn)算放大器組成，該帶寬運(yùn)算放大器被配置為在兩個(gè)不同的增益設(shè)置下工作，其中一個(gè)增益設(shè)置是高增益和靈敏度，而另一個(gè)增益設(shè)置是低增益和高帶寬；至少一個(gè)微處理器，其用來控制電子器件，獲得信號(hào)，以及處理所述信號(hào)；顯示器，其用于報(bào)告實(shí)時(shí)光纖結(jié)果以及到反射和光纖端部的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中所述高功率、短波長光功率源是具有1310納米的 范圍內(nèi)的光輸出的激光二極管。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中所述光檢測器是基本上不產(chǎn)生內(nèi)部電流增益的低 成本、高速InGaAs PIN器件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中具有輸入端口和輸出端口的所述單模光纖耦合器 是50/50耦合比的器件，在所述耦合器和輸出端口連接器之間具有至少2米的光纖。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中所述接收器是高速運(yùn)算放大器，該高速運(yùn)算放大 器的內(nèi)部電壓箝位防止脈沖展寬以保持高分辨率，該高速運(yùn)算放大器具有用于實(shí)現(xiàn)非反射 APC的定位所需的反向散射信號(hào)高倍放大的大反饋電阻器，以及保持反射事件之間的高空 間分辨率的低值反饋電阻器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的儀器，其中所述大反饋電阻器具有200千歐姆。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的儀器，其中所述大反饋電阻器具有4千歐姆。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中當(dāng)所述激光脈沖處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)所述接收器被激 活，使得存在于光纜上的任何通信量都能夠被所述接收器檢測到，從而有通信量的光纜將 不會(huì)被施加激光脈沖。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中通過比較和計(jì)算利用反向散射的已知反射和沒有 反向散射的未知反射之間的差，并且利用反向散射反射式和放大器增益比來確定未知反射 率值，來在進(jìn)行無反向散射的反射率測量時(shí)對(duì)所述儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的儀器，其中所述光接收器在運(yùn)行診斷測試之前對(duì)實(shí)時(shí)光纖 通信量進(jìn)行測試。
11.一種用于檢查被測單模光纖的方法，其中光脈沖被輸入到所述被測單模光纖中并 且從所述被測單模光纖接收返回光信號(hào)，所述方法包括以下步驟提供低功率、長波長光功率源，該低功率、長波長光功率源用于產(chǎn)生光脈沖；提供與所述低功率、長波長光功率源兼容的光檢測器，該光檢測器用于從所述被測單 模光纖接收所述返回光信號(hào)；提供具有兩個(gè)輸入端口和一個(gè)輸出端口的單模光耦合器，來自所述光功率源的所述光 脈沖在一個(gè)輸入端口處被發(fā)送并耦合到與所述輸出端口連接的輸出單模光纖，而所述返回 光信號(hào)在第二個(gè)輸入端口處被接收并耦合到所述光檢測器，所述單模光耦合器對(duì)來自所述 光源的光功率和所述返回光信號(hào)在相關(guān)聯(lián)的輸出端口和輸入端口之間進(jìn)行均分；提供附接到所述單模光耦合器的輸出端口和輸出光纖連接器的一段單模光纖，其用于 產(chǎn)生光延遲，使得由激光觸發(fā)器引起的電開關(guān)噪聲與第一個(gè)返回光脈沖分離開；提供光接收器，該光接收器由帶寬運(yùn)算放大器組成，該帶寬運(yùn)算放大器被配置為在兩 個(gè)不同的增益設(shè)置下工作，其中一個(gè)增益設(shè)置是高增益和靈敏度，而另一個(gè)增益設(shè)置是低 增益和高帶寬；提供至少一個(gè)微處理器，所述至少一個(gè)微處理器用來控制電子器件，獲得信號(hào)，以及處 理所述信號(hào)；提供顯示器，該顯示器用于報(bào)告實(shí)時(shí)光纖結(jié)果以及到反射和光纖端部的距離。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述高功率、短波長光功率源是具有1310納米 的范圍內(nèi)的光輸出的激光二極管。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述光檢測器是基本上不產(chǎn)生內(nèi)部電流增益的 低成本、高速InGaAs PIN器件。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中具有輸入端口和輸出端口的所述單模光纖耦合 器是50/50耦合比的器件，在所述耦合器和輸出端口連接器之間具有至少2米的光纖。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述接收器是高速運(yùn)算放大器，該高速運(yùn)算放 大器的內(nèi)部電壓箝位防止脈沖展寬以保持高分辨率，該高速運(yùn)算放大器具有用于實(shí)現(xiàn)非反 射性APC的定位所需的反向散射信號(hào)高倍放大的大反饋電阻器，以及保持反射事件之間的 高空間分辨率的低值反饋電阻器。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述大反饋電阻器具有200千歐姆。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述大反饋電阻器具有4千歐姆。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中當(dāng)所述激光脈沖處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)所述接收器被 激活，使得任何存在于光纜上的通信量都能夠被所述接收器檢測到，從而使有通信量的電 纜連接不會(huì)被施加激光脈沖。
19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中通過比較和計(jì)算利用反向散射的已知反射和沒 有反向散射的未知反射之間的差，并且利用反向散射反射式和放大器增益比以確定未知反 射率值，來在進(jìn)行無反向散射的反射率測量時(shí)使用校準(zhǔn)方法。
20.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述光接收器在運(yùn)行診斷測試之前對(duì)實(shí)時(shí)光纖 通信量進(jìn)行測試。
全文摘要
無源光網(wǎng)絡(luò)測試儀。本發(fā)明涉及用于單模應(yīng)用的高分辨率光纖長度計(jì)、現(xiàn)場光纖檢測器、和反射率測試儀(儀器)，其使用了低功率、長波長激光器，該激光器用于產(chǎn)生射入被測單模光纖中的寬光脈沖和窄光脈沖。激光器輸出光纖尾纖被熔接到單模耦合器，該單模耦合器的輸出連接到儀器的接頭連接器。PIN光敏二極管被熔接到單模耦合器以接收來自被測光纖的反射光。高分辨率手持儀器用于檢查單模無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)。
文檔編號(hào)G01J1/42GK101951289SQ20101017688
公開日2011年1月19日 申請(qǐng)日期2010年3月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月4日
發(fā)明者哈蘭·卡斯勒, 西摩爾·戈?duì)柎奶?申請(qǐng)人:弗蘭克公司