專利名稱：一種pcb板質(zhì)量檢測(cè)方法、系統(tǒng)及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子元器件與PCB板的質(zhì)量檢測(cè)控制領(lǐng)域，尤其涉及到通過PCB板通 電下的溫度紅外熱圖像檢測(cè)樣品的質(zhì)量的方法、系統(tǒng)及裝置。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)地，對(duì)于通過手工插件方式焊接在PCB板上的電子元器件來說，由于焊接質(zhì) 量問題容易導(dǎo)致電子元器件的焊接管腳出現(xiàn)焊接不良，使得連接處的電阻值變大，從而在 使用過程中會(huì)產(chǎn)生比較大的熱量。出現(xiàn)此種現(xiàn)象的產(chǎn)品即便能夠正常使用，然而由于產(chǎn)生 的熱量比較大，一方面會(huì)造成產(chǎn)品質(zhì)量不穩(wěn)定，另一方面也浪費(fèi)了電能，更危險(xiǎn)的是，熱量 的累積可能造成產(chǎn)品起火。現(xiàn)有技術(shù)提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法是通過紅外線溫度記錄法來檢測(cè)待測(cè)電子 元器件的性能。具體地，由步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)紅外掃描儀在一定距離內(nèi)掃描待測(cè)電子元器件，通 過檢測(cè)待測(cè)電子元器件在通電狀態(tài)下某個(gè)時(shí)間點(diǎn)的溫度熱狀況進(jìn)行檢測(cè)。由于該種檢測(cè)方 法是由步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)溫度掃描儀移動(dòng)來實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的，而溫度掃描儀一次只能檢測(cè)電子元器 件的某一點(diǎn)的溫度，檢測(cè)效率低、檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜且成本較高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)提供 的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法是通過紅外線溫度記錄法來檢測(cè)待測(cè)電子元器件的性能，該方法對(duì) PCB電路板焊接質(zhì)量檢測(cè)效率低、檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜且成本較高的問題。本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法，所述方法包括以下步驟接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)；根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù) 分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；將所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素 數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；將熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可視圖像；根據(jù)比較結(jié)果在轉(zhuǎn)換后的所述可視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的溫度值。本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括圖像數(shù)據(jù)接收單元，用于接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像 的圖像數(shù)據(jù)；溫度值轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的每一圖像數(shù)據(jù)中多個(gè) 像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與所述多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；比較單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分 別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較；圖像轉(zhuǎn)換單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可視圖像；顯示單元，用于根據(jù)所述比較單元的比較結(jié)果，在所述圖像轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的所 述可視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的相應(yīng)的溫度值。本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置，所述裝置包括熱成 像系統(tǒng)，以及一 PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，所述PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)包括圖像數(shù)據(jù)接收單元，用于接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像 的圖像數(shù)據(jù)；溫度值轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的每一圖像數(shù)據(jù)中多個(gè) 像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與所述多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；比較單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分 別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較；圖像轉(zhuǎn)換單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述熱成像圖像的圖像數(shù) 據(jù)轉(zhuǎn)換為可視圖像；顯示單元，用于根據(jù)所述比較單元的比較結(jié)果，在所述圖像轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的所 述可視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的相應(yīng)的溫度值。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法是利用了熱成像單元來收集元件的熱 成像圖像數(shù)據(jù)，通過對(duì)該圖像數(shù)據(jù)的分析，得到元件上各像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值并顯示。由于 熱成像圖像的一次檢測(cè)涵蓋了對(duì)元件上所有像素點(diǎn)的檢測(cè)，避免了采用步進(jìn)電機(jī)等檢測(cè)方 式，提高了檢測(cè)效率的同時(shí)，降低了檢測(cè)的復(fù)雜度且降低了檢測(cè)成本。


圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法的流程圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì) 本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并 不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法是利用熱成像單元來收集元件的熱成 像圖像數(shù)據(jù)，通過對(duì)該圖像數(shù)據(jù)的分析，得到元件上各像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值并顯示的。圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法的流程。在步驟S101中，接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像的圖像 數(shù)據(jù)。該熱成像單元是指現(xiàn)有的利用目標(biāo)輻射的熱效應(yīng)對(duì)熱敏電阻的電學(xué)性質(zhì)的影響而工 作的各種熱電探測(cè)器，如紅外成像儀等。本發(fā)明實(shí)施例在步驟S101之前還包括以下步驟熱成像單元對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行至 少一次探測(cè)，每次均收集待測(cè)元件的紅外信號(hào)，該熱成像單元的工作波段優(yōu)選為3-5 y m或 8-145 u m，為了獲得足夠的靈敏度，還需對(duì)該熱成像單元中的探測(cè)器進(jìn)行冷卻；熱成像單元 將每次收集到的紅外信號(hào)進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，并將光電轉(zhuǎn)換后的電信號(hào)進(jìn)行放大處理后，生成 某一圖像格式下的熱成像圖像，并輸出圖像數(shù)據(jù)。該圖像數(shù)據(jù)包括了該熱成像圖像中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，該像素?cái)?shù)據(jù)的內(nèi)容由熱成像圖像的格式?jīng)Q定，例如，當(dāng)該 熱成像圖像為一帶有灰度的圖像時(shí)，該像素?cái)?shù)據(jù)為相應(yīng)像素點(diǎn)的灰度值；當(dāng)該熱成像圖像 為一帶有色彩的圖像時(shí)，該像素?cái)?shù)據(jù)為相應(yīng)像素點(diǎn)的色度值或色溫值。在步驟S102中，根據(jù)每一熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè) 像素?cái)?shù)據(jù)，得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值。由于熱成像圖像的像素?cái)?shù)據(jù)，如灰度值、色溫值等與溫度值之間存在一固定的關(guān) 系，該關(guān)系可以通過公式表現(xiàn)出來，則步驟S102具體可以為根據(jù)該圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素 點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，通過計(jì)算得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值。為了 提高檢測(cè)效率，還可以預(yù)先將多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)與相應(yīng)的溫度值進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)，則步驟S102還 可以為根據(jù)該圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，查找分別與多個(gè)像素?cái)?shù) 據(jù)預(yù)先關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的溫度值，即為多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值。在步驟S103中，將每一熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像 素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較，將熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可視圖像， 并根據(jù)比較結(jié)果在轉(zhuǎn)換后的可視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的溫度值。其中，將每一熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別 與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較的步驟具體可以為將每一熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)中多個(gè) 像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)相減并取絕對(duì)值，絕對(duì)值大于 預(yù)設(shè)值的像素點(diǎn)即為質(zhì)量異常的像素點(diǎn)。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法利用了熱成像單元來收集元件的熱成 像圖像數(shù)據(jù)，通過對(duì)該圖像數(shù)據(jù)的分析，得到元件上各像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值并顯示出現(xiàn)溫 度異常的像素點(diǎn)。由于熱成像圖像的一次檢測(cè)涵蓋了對(duì)元件上所有像素點(diǎn)的檢測(cè)，避免了 采用步進(jìn)電機(jī)，提高了檢測(cè)效率的同時(shí)，降低了檢測(cè)的復(fù)雜度且降低了檢測(cè)成本。本發(fā)明實(shí)施例在步驟S102之后還可以包括以下步驟將每一圖像數(shù)據(jù)中像素點(diǎn) 對(duì)應(yīng)的溫度值和在熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)，形成一查找鏈表，多個(gè)圖像 數(shù)據(jù)形成的多個(gè)查找鏈表存儲(chǔ)于一圖像鏈表中。其中的坐標(biāo)值優(yōu)選采用極坐標(biāo)，極坐標(biāo)的 極徑為像素點(diǎn)與極點(diǎn)之間的線段長(zhǎng)度，極坐標(biāo)的極角為極徑與極軸之間的角度，以使得像 素點(diǎn)的空間位置表示更加直觀并易于控制。為了進(jìn)一步方便數(shù)據(jù)的查找，多個(gè)像素點(diǎn)分別 在熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的多個(gè)坐標(biāo)值按照極徑和/或極角有小到大的順序存儲(chǔ)于查找鏈表 中。為了可以直觀的顯示多次熱成像中元件上某一坐標(biāo)點(diǎn)的溫度變化情況，本發(fā)明實(shí) 施例中，在形成一查找鏈表，多個(gè)圖像數(shù)據(jù)形成的多個(gè)查找鏈表存儲(chǔ)于一圖像鏈表中的步 驟之后，本發(fā)明實(shí)施例還可以包括以下步驟接收用戶在待測(cè)元件的熱成像圖像或其它靜 態(tài)圖像上選取的坐標(biāo)值，并根據(jù)該坐標(biāo)值分別在圖像鏈表的多個(gè)查找鏈表中獲取與該坐標(biāo) 值關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的溫度值，并將獲取的多個(gè)溫度值以曲線方式顯示。例如，假設(shè)待測(cè)元件從上電 開始到使用穩(wěn)定的時(shí)間內(nèi)，熱成像單元共進(jìn)行了 20次探測(cè)，相應(yīng)地，圖像鏈表中會(huì)存儲(chǔ)有 20個(gè)查找鏈表，顯示時(shí)，根據(jù)用戶選取的坐標(biāo)點(diǎn)，分別在20個(gè)查找鏈表中獲取與用戶選取 的坐標(biāo)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值，獲取得到的多個(gè)溫度值即反映了該坐標(biāo)點(diǎn)在待測(cè)元件從上電開始 到使用穩(wěn)定的時(shí)間內(nèi)隨時(shí)間增加而溫度上升的變化過程，將得到的多個(gè)溫度值以曲線圖的 形式顯示出來，即可以直觀的顯示該坐標(biāo)點(diǎn)在上電后隨時(shí)間推移的變化。
此時(shí)，上述的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)可通過預(yù)存一標(biāo)準(zhǔn)參考圖像實(shí)現(xiàn)，該標(biāo)準(zhǔn)參考圖像既 可以是符合溫度標(biāo)準(zhǔn)的元件在通電狀態(tài)下的熱成像圖像，也可以是通過熱成像單元對(duì)元件 進(jìn)行多次探測(cè)并形成上述的圖像鏈表后，將該圖像鏈表中的多個(gè)查找鏈表中存儲(chǔ)的相同坐 標(biāo)點(diǎn)的溫度值取平均值，將每一平均值轉(zhuǎn)換為像素?cái)?shù)據(jù)后形成的熱成像圖像。圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖，為了便于說明，僅示 出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)包括圖像數(shù)據(jù)接收單元11，用于接收 熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)，該熱成像單元是指現(xiàn)有的 利用目標(biāo)輻射的熱效應(yīng)對(duì)熱敏電阻的電學(xué)性質(zhì)的影響而工作的各種熱電探測(cè)器，如紅外 成像儀等；溫度值轉(zhuǎn)換單元12，用于根據(jù)圖像數(shù)據(jù)接收單元11接收到的每一熱成像圖像的 圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫 度值；比較單元17，用于將圖像數(shù)據(jù)接收單元11接收到的每一熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)中 多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較；圖像轉(zhuǎn)換單元 18，用于將圖像數(shù)據(jù)接收單元11接收到的熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可視圖像；顯示單 元13，用于根據(jù)比較單元17的比較結(jié)果，在圖像轉(zhuǎn)換單元18轉(zhuǎn)換后的可視圖像上顯示出現(xiàn) 質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的相應(yīng)的溫度值。其中，比較單元17具體是將圖像數(shù)據(jù)接收單元11接收到的每一熱成像圖像的圖 像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)相減并取絕對(duì) 值，絕對(duì)值大于預(yù)設(shè)值的像素點(diǎn)即為質(zhì)量異常的像素點(diǎn)。其中，熱成像單元具體是對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行至少一次探測(cè)，每次均收集待測(cè)元件的 紅外信號(hào)，之后將每次收集到的紅外信號(hào)進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，并將光電轉(zhuǎn)換后的電信號(hào)進(jìn)行放 大處理后，生成某一圖像格式下的熱成像圖像，并輸出圖像數(shù)據(jù)。該圖像數(shù)據(jù)包括了該熱成 像圖像中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，該像素?cái)?shù)據(jù)的內(nèi)容由熱成像圖像的格式?jīng)Q 定，例如，當(dāng)該熱成像圖像為一帶有灰度的圖像時(shí)，該像素?cái)?shù)據(jù)為相應(yīng)像素點(diǎn)的灰度值；當(dāng) 該熱成像圖像為一帶有色彩的圖像時(shí)，該像素?cái)?shù)據(jù)為相應(yīng)像素點(diǎn)的色度值或色溫值。熱成 像單元的工作波段優(yōu)選為3-5 y m或8-145 u m，為了獲得足夠的靈敏度，還需對(duì)該熱成像單 元中的探測(cè)器進(jìn)行冷卻。由于熱成像圖像的像素?cái)?shù)據(jù)，如灰度值、色溫值等與溫度值之間存在一固定的關(guān) 系，該關(guān)系可以通過公式表現(xiàn)出來，則溫度值轉(zhuǎn)換單元12既可以根據(jù)該圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像 素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，通過計(jì)算得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值，也 可以根據(jù)該圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，查找分別與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)預(yù) 先關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的溫度值，即為多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)利用了熱成像單元來收集元件的熱成 像圖像數(shù)據(jù)，通過對(duì)該圖像數(shù)據(jù)的分析，得到元件上各像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值并顯示出現(xiàn)溫 度異常的像素點(diǎn)。由于熱成像圖像的一次檢測(cè)涵蓋了對(duì)元件上所有像素點(diǎn)的檢測(cè)，避免了 采用步進(jìn)電機(jī)，提高了檢測(cè)效率的同時(shí)，降低了檢測(cè)系統(tǒng)的復(fù)雜度且降低了檢測(cè)系統(tǒng)的成 本。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)還可以包括存儲(chǔ)單元16，用于將溫度 值轉(zhuǎn)換單元12得到的每一圖像數(shù)據(jù)中像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值和在熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)，形成一查找鏈表，多個(gè)圖像數(shù)據(jù)形成的多個(gè)查找鏈表形成一圖像鏈表。其 中的坐標(biāo)值優(yōu)選采用極坐標(biāo)，極坐標(biāo)的極徑為像素點(diǎn)與極點(diǎn)之間的線段長(zhǎng)度，極坐標(biāo)的極 角為極徑與極軸之間的角度，以使得像素點(diǎn)的空間位置表示更加直觀并易于控制。為了進(jìn) 一步方便數(shù)據(jù)的查找，多個(gè)像素點(diǎn)分別在熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的多個(gè)坐標(biāo)值按照極徑和/或 極角有小到大的順序存儲(chǔ)于查找鏈表中。為了可以直觀的顯示多次熱成像中元件上某一坐標(biāo)點(diǎn)的溫度變化情況，本發(fā)明實(shí) 施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)還可以包括坐標(biāo)值接收單元14，用于接收用戶在待測(cè)元 件的熱成像圖像或其它靜態(tài)圖像上選取的坐標(biāo)值；獲取單元15，用于根據(jù)坐標(biāo)值接收單元 14接收到的坐標(biāo)值分別在圖像鏈表的多個(gè)查找鏈表中獲取與該坐標(biāo)值關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的溫度值； 顯示單元13還用于將獲取單元15獲取到的多個(gè)溫度值以曲線方式顯示。例如，假設(shè)待測(cè) 元件從上電開始到使用穩(wěn)定的時(shí)間內(nèi)，熱成像單元共進(jìn)行了 20次探測(cè)，相應(yīng)地，圖像鏈表 中會(huì)存儲(chǔ)有20個(gè)查找鏈表，顯示單元13可以根據(jù)用戶選取的坐標(biāo)點(diǎn)，分別在存儲(chǔ)單元16 存儲(chǔ)的20個(gè)查找鏈表中獲取與用戶選取的坐標(biāo)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值，獲取得到的多個(gè)溫度值 即反映了該坐標(biāo)點(diǎn)在待測(cè)元件從上電開始到使用穩(wěn)定的時(shí)間內(nèi)隨時(shí)間增加而溫度上升的 變化過程，將得到的多個(gè)溫度值以曲線圖的形式顯示出來，即可以直觀的顯示該坐標(biāo)點(diǎn)在 上電后隨時(shí)間推移的變化。同樣地，上述的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)可通過預(yù)存一標(biāo)準(zhǔn)參考圖像實(shí)現(xiàn)，該標(biāo)準(zhǔn)參考圖像 既可以是符合溫度標(biāo)準(zhǔn)的元件在通電狀態(tài)下的熱成像圖像，也可以是通過熱成像單元對(duì)元 件進(jìn)行多次探測(cè)并形成上述的圖像鏈表后，將該圖像鏈表中的多個(gè)查找鏈表中存儲(chǔ)的相同 坐標(biāo)點(diǎn)的溫度值取平均值，將每一平均值轉(zhuǎn)換為像素?cái)?shù)據(jù)后形成的熱成像圖像。本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置，包括一熱成像單元以及如上所 述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)。本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法是利用了熱成像單元來收集元件的熱 成像圖像數(shù)據(jù)，通過對(duì)該圖像數(shù)據(jù)的分析，得到元件上各像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值并顯示出現(xiàn) 溫度異常的像素點(diǎn)。由于熱成像圖像的一次檢測(cè)涵蓋了對(duì)元件上所有像素點(diǎn)的檢測(cè)，避免 了采用步進(jìn)電機(jī)，提高了檢測(cè)效率的同時(shí)，降低了檢測(cè)的復(fù)雜度且降低了檢測(cè)成本；再有， 為了可以直觀的顯示多次熱成像中元件上某一坐標(biāo)點(diǎn)的溫度變化情況，將多個(gè)查找鏈表中 相同坐標(biāo)點(diǎn)的多個(gè)溫度值提取出來，并由顯示單元以曲線的形式顯示，即可直觀的顯示坐 標(biāo)點(diǎn)在上電后隨時(shí)間推移的變化情況；再有，通過預(yù)設(shè)溫度變化范圍值以及標(biāo)準(zhǔn)參考圖像， 可以在檢測(cè)時(shí)通過比對(duì)獲得溫度過高或者過低的坐標(biāo)點(diǎn)，并通過顯示單元顯示，以及時(shí)發(fā) 現(xiàn)產(chǎn)品不良。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以 通過程序來控制相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以在存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中， 所述的存儲(chǔ)介質(zhì)，如ROM/RAM、磁盤、光盤等。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精 神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)；根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；將所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較；將熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可視圖像；根據(jù)比較結(jié)果在轉(zhuǎn)換后的所述可視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的溫度值。
2.如權(quán)利要求1所述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法，其特征在于，在所述根據(jù)該圖像數(shù)據(jù)中多 個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值的步驟之 前，所述方法步驟還包括以下步驟將每一圖像數(shù)據(jù)中像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述溫度值和在所述熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值進(jìn) 行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)，形成一查找鏈表，多個(gè)圖像數(shù)據(jù)形成的多個(gè)查找鏈表存儲(chǔ)于一圖像鏈表中。
3.如權(quán)利要求2所述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)方法，其特征在于，在所述多個(gè)圖像數(shù)據(jù)形成的 多個(gè)查找鏈表存儲(chǔ)于一圖像鏈表中的步驟之后，所述方法還包括以下步驟接收用戶選取的坐標(biāo)值，并根據(jù)所述坐標(biāo)值分別在所述圖像鏈表的所述多個(gè)查找鏈表 中獲取與選取的所述坐標(biāo)值關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的溫度值，并將獲取的多個(gè)溫度值以曲線方式顯示。
4.一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括圖像數(shù)據(jù)接收單元，用于接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像的圖 像數(shù)據(jù)；溫度值轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的每一圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素 點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與所述多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；比較單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì) 應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較；圖像轉(zhuǎn)換單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn) 換為可視圖像；顯示單元，用于根據(jù)所述比較單元的比較結(jié)果，在所述圖像轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的所述可 視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的相應(yīng)的溫度值。
5.如權(quán)利要求4所述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括存儲(chǔ)單元，用于將所述溫度值轉(zhuǎn)換單元得到的每一圖像數(shù)據(jù)中像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值和 在熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)，形成一查找鏈表，多個(gè)圖像數(shù)據(jù)形成的多個(gè) 查找鏈表形成一圖像鏈表。
6.如權(quán)利要求5所述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括坐標(biāo)值接收單元，用于接收用戶選取的坐標(biāo)值；獲取單元，用于根據(jù)所述坐標(biāo)值接收單元接收到的坐標(biāo)值分別在所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的 所述圖像鏈表的所述多個(gè)查找鏈表中獲取與所述坐標(biāo)值接收單元接收到的坐標(biāo)值關(guān)聯(lián)存 儲(chǔ)的溫度值；所述顯示單元還用于將所述獲取單元獲取到的同一個(gè)PCB板在開始通電到穩(wěn)定使用 的過程中同一個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)，不同時(shí)段的多個(gè)溫度值以曲線方式顯示。
7.—種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括熱成像系統(tǒng)，以及一 PCB板質(zhì) 量檢測(cè)系統(tǒng)，所述PCB板質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)包括圖像數(shù)據(jù)接收單元，用于接收熱成像單元輸出的待測(cè)元件的至少一個(gè)熱成像圖像的圖 像數(shù)據(jù)；溫度值轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的每一圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素 點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與所述多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；比較單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì) 應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別與預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)像素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行比較；圖像轉(zhuǎn)換單元，用于將所述圖像數(shù)據(jù)接收單元接收到的所述熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn) 換為可視圖像；顯示單元，用于根據(jù)所述比較單元的比較結(jié)果，在所述圖像轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的所述可 視圖像上顯示出現(xiàn)質(zhì)量異常的像素點(diǎn)的相應(yīng)的溫度值。
8.如權(quán)利要求7所述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括存儲(chǔ)單元，用于將所述溫度值轉(zhuǎn)換單元得到的每一圖像數(shù)據(jù)中像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的溫度值和 在熱成像圖像上對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)，形成一查找鏈表，多個(gè)圖像數(shù)據(jù)形成的多個(gè) 查找鏈表形成一圖像鏈表。
9.如權(quán)利要求8所述的PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括坐標(biāo)值接收單元，用于接收用戶選取的坐標(biāo)值；獲取單元，用于根據(jù)所述坐標(biāo)值接收單元接收到的坐標(biāo)值分別在所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的 所述圖像鏈表的所述多個(gè)查找鏈表中獲取與所述坐標(biāo)值接收單元接收到的坐標(biāo)值關(guān)聯(lián)存 儲(chǔ)的溫度值；所述顯示單元還用于將所述獲取單元獲取到的同一個(gè)PCB板在開始通電到穩(wěn)定使用 的過程中同一個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)，不同時(shí)段的多個(gè)溫度值以曲線方式顯示。
全文摘要
本發(fā)明適用于電子PCB電路板的質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種通過樣品在通電下的溫度紅外熱圖像檢測(cè)樣品的質(zhì)量的方法、系統(tǒng)及裝置。其中方法包括接收熱成像單元輸出的待測(cè)樣品的至少一個(gè)熱成像圖像的圖像數(shù)據(jù)；根據(jù)每一圖像數(shù)據(jù)中多個(gè)像素點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，得到與多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)溫度值；并由電路板區(qū)域溫度情況得出區(qū)域焊接質(zhì)量狀況；顯示PCB紅外拍攝得出的熱灰度圖像并且顯示PCB電路板焊接異常的區(qū)域。由于熱成像圖像的一次檢測(cè)涵蓋了對(duì)元件上所有像素點(diǎn)的檢測(cè)，提高了檢測(cè)效率的同時(shí)，降低了檢測(cè)的復(fù)雜度且降低了檢測(cè)成本。
文檔編號(hào)G01J5/10GK101832950SQ201010164189
公開日2010年9月15日 申請(qǐng)日期2010年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月28日
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