專(zhuān)利名稱(chēng)：透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及透鏡性能量測(cè)系統(tǒng)及方法，尤其涉及一種透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
隨著科技的發(fā)展，人們對(duì)能源的需求不斷的增加，隨著石油價(jià)格的節(jié)節(jié)攀高，人們漸漸地意識(shí)到，開(kāi)發(fā)其它替代能源的重要性。各種替代能源中，太陽(yáng)能發(fā)電因其利用太陽(yáng)光能轉(zhuǎn)換成電能，具有無(wú)污染、無(wú)公害、取之不竭、用之不盡等等優(yōu)點(diǎn)，已成為各國(guó)所極力研究的替代能源之一。聚光型太陽(yáng)能發(fā)電一般需采用聚光透鏡將太陽(yáng)光聚集于光電轉(zhuǎn)換元件上，聚光透鏡的性能(如透射光均勻度等)好壞將會(huì)大幅影響太陽(yáng)能發(fā)電的效率。目前，太陽(yáng)能聚光透鏡制作完成后，一般通過(guò)面形測(cè)量的方式來(lái)判斷聚光透鏡的透射光的均勻度，然而此測(cè)量方式相當(dāng)費(fèi)時(shí)且缺乏效率。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種效率較高的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)及方法。一種透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其包括一光源、一屏幕、一取像裝置及一處理器。所述光源用于發(fā)射平行光到待測(cè)透鏡上。所述屏幕用于承載所述光源發(fā)射到待測(cè)透鏡上的平行光經(jīng)過(guò)待測(cè)透鏡會(huì)聚后形成的光斑。所述取像裝置用于獲取所述屏幕上的光斑的圖像。所述處理器用于分析取像裝置獲取的光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到待測(cè)透鏡的透射光的均勻度。一種透鏡透射光均勻度量測(cè)方法，包括以下步驟提供一光源及一屏幕，該光源能夠發(fā)射平行光到待測(cè)透鏡上；將待測(cè)透鏡放于所述光源與屏幕之間，使得該光源照射到待測(cè)透鏡上的的平行光經(jīng)過(guò)待測(cè)透鏡會(huì)聚后在屏幕上能夠形成光斑；獲取所述屏幕上的光斑的圖像；分析所述光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到待測(cè)透鏡的透射光的均勻度。本實(shí)施方式提供的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)及方法中，僅需對(duì)光斑進(jìn)行一次拍攝即可得到整個(gè)光斑圖像的光照度分布情況，從而能夠簡(jiǎn)單、方便、快速的量測(cè)到透鏡透射光的均勻度。


圖1是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)示意圖。圖2是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種透鏡透射光均勻度量測(cè)方法流程圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)100光源10屏幕20
取像裝置30處理器40顯示器50透鏡200
具體實(shí)施例方式以下將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。請(qǐng)參閱圖1，為本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)100，該透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)100用于量測(cè)一透鏡200的透射光的均勻度。所述透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)100包括光源10、屏幕20、取像裝置30及處理器40。所述光源10和屏幕20分別設(shè)置于透鏡200的相對(duì)的兩側(cè)。光源10用于發(fā)射平行光到透鏡200上。本實(shí)施方式中，光源10為高壓氣體放電燈，優(yōu)選地，該高壓氣體放電燈與透鏡200之間的距離大于透鏡200的最大徑的10倍，從而能夠確保照射到透鏡200上的為近似平行光。所述屏幕20垂直于光源10射向透鏡200的光線(xiàn)。從光源10發(fā)射到透鏡 200上的平行光經(jīng)過(guò)透鏡200會(huì)聚后在屏幕20上能夠形成光斑。所述取像裝置30用于獲取屏幕20上的光斑的圖像。該取像裝置30可以為數(shù)碼相機(jī)、具有攝像頭的手機(jī)等。本實(shí)施方式中，取像裝置30獲取屏幕20上的光斑的圖像時(shí)， 所述光斑僅有部分光線(xiàn)能夠進(jìn)入取像裝置30內(nèi)，從而可以避免由于光斑太亮而導(dǎo)致光斑圖像失真的現(xiàn)象。所述處理器40與取像裝置30電連接，用于分析取像裝置30獲取的光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到透鏡200的透射光的均勻度。優(yōu)選地，該處理器40還能夠?qū)⒐獍邎D像分成多個(gè)區(qū)域，并計(jì)算出各個(gè)區(qū)域的光照度值。優(yōu)選地，所述透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)100還包括一個(gè)與所述處理器40電連接的顯示器50，用于顯示出光斑圖像各個(gè)區(qū)域的光照度值。請(qǐng)參閱圖2，其為本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種的透鏡透射光均勻度量測(cè)方法流程圖，其包括以下步驟步驟S301，提供一光源10及一屏幕20。該光源10能夠發(fā)射平行光到透鏡200上。步驟S303，將透鏡200放于光源10與屏幕20之間，使得光源10照射到透鏡200 上的的平行光經(jīng)過(guò)透鏡200會(huì)聚后在屏幕20上能夠形成光斑。步驟S305，獲取所述屏幕20上的光斑的圖像。步驟S307，分析所述光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到透鏡200的透射光的均勻度。所述透鏡透射光均勻度量測(cè)方法中，還可進(jìn)一步將所述光斑圖像中的光照度分布情況通過(guò)顯示器50顯示出來(lái)。本實(shí)施方式提供的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)及方法中，僅需對(duì)光斑進(jìn)行一次拍攝即可得到整個(gè)光斑圖像的光照度分布情況，從而能夠簡(jiǎn)單、方便、快速的量測(cè)到透鏡透射光的均勻度?？梢岳斫獾氖牵瑢?duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做出其它各種像應(yīng)的改變與變形，而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其包括一光源，用于發(fā)射平行光到待測(cè)透鏡上； 一屏幕，用于承載所述光源發(fā)射到待測(cè)透鏡上的平行光經(jīng)過(guò)待測(cè)透鏡會(huì)聚后形成的光斑； 一取像裝置，用于獲取所述屏幕上的光斑的圖像；以及一處理器，用于分析取像裝置獲取的光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到待測(cè)透鏡的透射光的均勻度。
2.如權(quán)利要求1所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述光源為高壓氣體放電燈。
3.如權(quán)利要求1所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述光源與待測(cè)透鏡之間的距離大于所述待測(cè)透鏡最大徑的10倍。
4.如權(quán)利要求1所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述屏幕垂直于所述光源射向待測(cè)透鏡的光線(xiàn)。
5.如權(quán)利要求1所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述處理器還能夠?qū)⒐獍邎D像分成多個(gè)區(qū)域，并計(jì)算出各個(gè)區(qū)域的光照度值，所述透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)還包括一顯示器，用于顯示出光斑圖像各個(gè)區(qū)域的光照度值。
6.一種透鏡透射光均勻度量測(cè)方法，包括以下步驟提供一光源及一屏幕，該光源能夠發(fā)射平行光到待測(cè)透鏡上；將待測(cè)透鏡放于所述光源與屏幕之間，使得該光源照射到待測(cè)透鏡上的平行光經(jīng)過(guò)待測(cè)透鏡會(huì)聚后在屏幕上能夠形成光斑；獲取所述屏幕上的光斑的圖像；分析所述光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到待測(cè)透鏡的透射光的均勻度。
7.如權(quán)利要求6所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)方法，其特征在于所述光源為高壓氣體放電燈。
8.如權(quán)利要求6所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)方法，其特征在于所述光源與待測(cè)透鏡之間的距離大于所述待測(cè)透鏡最大徑的10倍。
9.如權(quán)利要求6所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)方法，其特征在于所述屏幕垂直于所述光源射向待測(cè)透鏡的光線(xiàn)。
10.如權(quán)利要求6所述的透鏡透射光均勻度量測(cè)方法，其特征在于所述透鏡透射光均勻度量測(cè)方法中，還進(jìn)一步將所述光斑圖像中的光照度分布情況通過(guò)一顯示器顯示出來(lái)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種透鏡透射光均勻度量測(cè)系統(tǒng)，其包括一光源、一屏幕、一取像裝置及一處理器。所述光源用于發(fā)射平行光到待測(cè)透鏡上。所述屏幕用于承載所述光源發(fā)射到待測(cè)透鏡上的平行光經(jīng)過(guò)待測(cè)透鏡會(huì)聚后形成的光斑。所述取像裝置用于獲取所述屏幕上的光斑的圖像。所述處理器用于分析取像裝置獲取的光斑圖像中的光照度分布情況，從而得到待測(cè)透鏡的透射光的均勻度。本發(fā)明還涉及一種透鏡透射光均勻度量測(cè)方法。
文檔編號(hào)G01M11/02GK102200472SQ20101013188
公開(kāi)日2011年9月28日 申請(qǐng)日期2010年3月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月25日
發(fā)明者楊宏彬, 蕭明揚(yáng), 陳昱樹(shù), 韋安琪 申請(qǐng)人:富士邁半導(dǎo)體精密工業(yè)(上海)有限公司, 沛鑫能源科技股份有限公司