專利名稱：用于控制掃描路徑的動態(tài)修改的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，更具體而言，涉及印刷電路板、片上系統(tǒng)和系統(tǒng)的測試。
背景技術(shù)：
聯(lián)合測試行動組(JTAG)是指用于使用邊界掃描來測試印刷電路板的測試訪問端 口的IEEE 1149標(biāo)準(zhǔn)。自動測試生成(ATG)工具使用JTAG來測試印刷電路板?，F(xiàn)在正在 對工具JTAG (IJTAG)標(biāo)準(zhǔn)化(稱為IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn))，以克服現(xiàn)有的與從電路板級JTAG到 芯片級JTAG的改變相關(guān)聯(lián)的JTAG局限性。IJTAG建議在使用動態(tài)等級單元(例如稱為選 擇工具位(SIB)單元的單元)的數(shù)據(jù)寄存器內(nèi)包括動態(tài)等級路徑。使用動態(tài)等級路徑允許 根據(jù)需要來接通或斷開掃描路徑的各個部分。因此，通過使用諸如SIB等單元而使能的動 態(tài)等級路徑是很有價值的測試資源，因為掃描路徑中的元件數(shù)量對于確定測試時間而言是 很重要的，小心地使用等級可以用來減少測試時間。如所建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中描述的那樣，掃描鏈?zhǔn)蔷€性掃描鏈，插入掃描鏈的 每個SIB單元被插入以將等級引入掃描鏈。因此，由于掃描鏈?zhǔn)蔷€性的，線性掃描鏈中包括 的每個SIB單元必須經(jīng)由掃描鏈而被線性訪問以激活掃描鏈中的等級，因此掃描鏈的長度 直接決定了修改和實現(xiàn)活動等級所需的訪問時間量。雖然在掃描鏈僅包括幾個單元的示例 中，該限制可能顯得無關(guān)緊要，但是在掃描鏈可能包括幾百甚至幾千個單元的實際系統(tǒng)中， 這可能成為一個關(guān)鍵限制。雖然可以通過使用測試過程的精確調(diào)度來減小該問題的影響， 但是簡單地通過使用測試過程的調(diào)度并不能完全避免該問題。

發(fā)明內(nèi)容
通過用于使用片上系統(tǒng)的獨立的控制掃描路徑來控制片上系統(tǒng)的測試掃描路徑 的設(shè)備和相關(guān)聯(lián)的方法，來解決現(xiàn)有技術(shù)的諸多缺陷。在一個實施例中，一種設(shè)備包括測試掃描路徑，具有包括至少一個等級使能測試 組件的多個測試組件；和控制掃描路徑，包括與測試掃描路徑的所述至少一個等級使能測 試組件耦接的至少一個控制組件，其中所述至少一個控制組件適用于以動態(tài)修改測試掃描 路徑的方式來控制所述至少一個等級使能測試組件。在一個實施例中，一種設(shè)備包括測試掃描路徑，具有多個非等級使能測試組件和 至少一個等級使能組件；和控制掃描路徑，包括所述至少一個等級使能組件，其中所述至少 一個等級使能組件適用于使用控制掃描路徑來動態(tài)修改測試掃描路徑。在一個實施例中，一種方法包括將測試比特流施加到片上系統(tǒng)的測試掃描路徑， 其中測試掃描路徑支持等級；和將控制比特流施加到片上系統(tǒng)的控制掃描路徑，其中控制 比特流適用于動態(tài)修改測試掃描路徑的等級。


通過結(jié)合附圖考慮以下的詳細(xì)說明，可以容易理解本發(fā)明的教導(dǎo)，其中
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圖1圖示了測試環(huán)境的高級框圖；圖2圖示了適于在圖1的測試環(huán)境中使用的示例性片上系統(tǒng)的高級框圖；圖3圖示了示例性片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)具有包括由等級使能組件控 制的兩個等級級別的等級掃描路徑；圖4圖示了片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)包括適用于動態(tài)修改片上系統(tǒng)的掃 描路徑的等級使能組件；圖5圖示了等級片上系統(tǒng)的高級框圖，該等級片上系統(tǒng)包括測試控制器和等級測 試掃描路徑；圖6圖示了片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)包括使用獨立的物理組件實現(xiàn)的測 試掃描路徑和控制掃描路徑；圖7圖示了等級使能測試組件和等級控制組件的高級框圖，所述等級使能測試組 件和等級控制組件適于在圖6的片上系統(tǒng)的測試掃描路徑和控制掃描路徑中使用；圖8圖示了片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)包括使用組合的物理組件實現(xiàn)的測 試掃描路徑和控制掃描路徑；圖9圖示了等級使能組件的高級框圖，該等級使能組件適于支持圖8的片上系統(tǒng) 的測試掃描路徑和控制掃描路徑；圖10圖示了使用獨立的測試和控制掃描路徑來測試片上系統(tǒng)的方法的一個實施 例；圖11圖示了使用獨立的測試和控制掃描路徑來測試片上系統(tǒng)的示例性方法；圖12圖示了測試環(huán)境的高級框圖，其中使用測試系統(tǒng)來測試兩個片上系統(tǒng)；圖13圖示了測試環(huán)境的高級框圖，其中使用測試系統(tǒng)來測試其上嵌入有片上系 統(tǒng)的片上系統(tǒng)；圖14圖示了測試環(huán)境的高級框圖，其中使用測試系統(tǒng)來測試片上系統(tǒng)，該片上系 統(tǒng)嵌入有包括嵌入式片上系統(tǒng)的片上系統(tǒng)；圖15圖示了圖5的片上系統(tǒng)的高級框圖，其中將片上系統(tǒng)嵌入等級級別之一中； 以及圖16圖示了適用于執(zhí)行本文描述的功能的通用計算機的高級框圖。為了便于理解，盡可能使用相同的附圖標(biāo)記來指示各附圖中共有的相同部分。
具體實施例方式提供了一種使用片上系統(tǒng)的獨立的控制掃描路徑實現(xiàn)對片上系統(tǒng)的測試掃描路 徑的控制的設(shè)備和方法，從而減少用于等級掃描路徑的訪問時間，進(jìn)而減小測試時間。控制 掃描路徑以動態(tài)修改測試掃描路徑(例如通過根據(jù)期望/需要實現(xiàn)測試掃描路徑的一個或 多個等級級別的動態(tài)激活/解除激活，來修改測試掃描路徑的等級)的方式實現(xiàn)了對測試 掃描路徑的控制。雖然本文主要參考線性控制掃描路徑進(jìn)行圖示和描述，但是控制掃描路 徑可以包括用于控制測試掃描路徑的多個等級級別。圖1圖示了測試環(huán)境的高級框圖。具體地，測試環(huán)境100包括片上系統(tǒng)(S-o-C) 110 和測試系統(tǒng)(TS) 120。TS 120測試S-o-C 110 (例如測試S_0_C 110的獨立組件(包括組 件的功能)、S-o-C 110上的組件之間的互連、S-o-C 110的系統(tǒng)級功能等以及以上項目的各種組合)。如圖1所示，TS 120使用包括輸入端口 115工(記為TDI)和輸出端口 115。(記 為TD0)的測試訪問接口 115來與S-o-C 110相接口。在一個實施例中，在根據(jù)所建議的IEEE P1678標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境中，測試訪問接口 115 可以實現(xiàn)為IEEE 1149. 1標(biāo)準(zhǔn)所定義的測試訪問端口(TAP)。在一個這樣的實施例中，雖 然本文主要使用TDI/TD0端口進(jìn)行圖示和描述，但是接口 115可以包括其他控制端口，例如 TCK端口、TMS端口、TRST端口等以及可能需要的其他新控制接口(為了清楚起見，這些端 口 /接口均被省略)。雖然主要參考使用IEEE 1149. 1標(biāo)準(zhǔn)所定義的TAP實現(xiàn)的接口進(jìn)行 圖示和描述，但是可以以多種其他方式來實現(xiàn)接口 115。S-o-C 110支持測試掃描路徑和控制掃描路徑。測試掃描路徑支持測試比特流的 傳播。控制掃描路徑支持控制比特流的傳播。測試掃描路徑是包括第一等級級別和第二等 級級別的等級掃描路徑?？刂茠呙杪窂娇梢允?，也可以不是等級掃描路徑。TS 120經(jīng)由輸 入端口 115工和輸出端口 115。(即經(jīng)由TDI/TD0)來訪問測試掃描路徑。TS 120經(jīng)由輸入端 口 115工和輸出端口 115。(即經(jīng)由TDI/TD0)來訪問控制掃描路徑。S-o-C 110包括測試控 制器(TC)lll。TC 111經(jīng)由輸入端口 115工從15 120接收輸入比特流。TC 111 (經(jīng)由內(nèi)部測試輸 入接口 ITDI)控制對S-o-C 110的測試掃描路徑施加輸入比特流，并且(經(jīng)由內(nèi)部控制輸 入接口 HTDI)控制對S-o-C 110的控制掃描路徑施加輸入比特流。TC 111經(jīng)由輸出端口 115。向TC 120發(fā)送輸出比特流。TC 111(經(jīng)由內(nèi)部測試輸出接口 ITD0)控制從S-o-C 110 的測試掃描路徑選擇輸出比特流，并且(經(jīng)由內(nèi)部控制輸出接口 HTD0)控制從S-o-C 110 的控制掃描路徑選擇輸出比特流，以用于傳播到TS 120。參考圖6-圖10可以更好地理解 獨立的測試和控制掃描路徑的使用。TS 120使用測試過程來執(zhí)行對S-o-C 110的測試。TS 120可以使用一個或多個測 試過程來執(zhí)行一個或多個測試。測試過程可以用于測試組件的一部分(例如組件的功能、 組件的功能集合、依賴性等)、組件、組件組(例如組件之間的互連、組件間的依賴性等)、一 個或多個系統(tǒng)級功能等以及以上項目的各種組合。測試過程可以用于執(zhí)行可能在片上系統(tǒng) 上執(zhí)行的任何其他類型的測試。TS 120生成對S-o-C 110的測試過程。測試過程規(guī)定測試S_0_C 110所需的信 息。針對S-o-C 110的測試過程可以規(guī)定對S-o-C 110的描述(包括對S-o-C 110的每個 獨立組件的描述，以及S-o-C 110的系統(tǒng)級描述)。測試過程可以規(guī)定(要施加到掃描路徑 的)輸入測試矢量以及(預(yù)期從測試掃描路徑接收的)預(yù)期輸出測試矢量。測試過程還可 以規(guī)定(要施加到片上系統(tǒng)的)一個或多個控制信號。測試過程可以包括與測試相關(guān)聯(lián)的 任何其他信息(例如估計的測試所需時間、針對測試的輸出數(shù)據(jù)處理等以及以上項目的各 種組合)。TS 120通過對S-o-C 110執(zhí)行一個或多個測試過程來測試S-o-CllO。TS 120針 對所執(zhí)行的每個測試生成輸入測試比特流和預(yù)期測試結(jié)果(例如預(yù)期輸出比特值或比特 流)。TS還生成控制信號。TS 120將輸入測試比特流(即輸入測試矢量)施加到TDI輸 入端口 115It) TS 120從TD0輸出端口 115。接收對應(yīng)的輸出測試比特流(稱為輸出測試矢 量)。TS 120將輸出測試比特流與預(yù)期測試結(jié)果相比較，以確定測試結(jié)果。TS 120可以以任何方式處理來自所執(zhí)行的測試過程的測試結(jié)果。在各個實施例中，例如，TS 120可以經(jīng)由顯示界面呈現(xiàn)測試結(jié)果、在存儲器中存儲測試結(jié)果、將測試結(jié)果 傳播到一個或多個其他系統(tǒng)等等以及以上操作的各種組合。TS 120可以以任何其他方式來 處理來自所執(zhí)行的測試過程的測試結(jié)果。TS 120還可以以類似方式(例如呈現(xiàn)、存儲、傳播 等以及以上項目的各種組合)來處理對測試的一些或所有輸入。TS 120可以執(zhí)行一個或多個測試過程以測試S-o-C 110。TS 120可以組織多個測 試過程的執(zhí)行，以便使得執(zhí)行測試所需的總測試時間最小化(因為不同的調(diào)度判決將導(dǎo)致 針對同一測試過程集合的不同測試完成時間)。TS 120可以規(guī)定測試調(diào)度(即規(guī)定了執(zhí)行 不同測試過程所必須依照的順序的調(diào)度)。TS 120可以執(zhí)行與片上系統(tǒng)的測試相關(guān)聯(lián)的各 種其他功能。圖2圖示了適于在圖1的測試環(huán)境中使用的示例性片上系統(tǒng)的高級框圖。如圖 2所示，S-o-C 110包括通過多個組件互連220 (總稱為組件互連220)來互連的多個組件 210A-210E (總稱為組件210)。應(yīng)當(dāng)理解，參考圖2圖示和描述的的S-o-C 110僅構(gòu)成片上 系統(tǒng)的一個示例(即S-o-C 110可以包括能夠以各種其他方式配置的各種其他組件)。如圖2所示，每個組件210包括多個內(nèi)部寄存器，具體而言，組件210A包括三個寄 存器(A0, A,, A2)，組件210b包括六個寄存器(B0, B2, B3，B4, B5)，組件210c包括五個寄存 器(CQ，Q，C2，C3，C4)，組件210d包括三個寄存器(D。，Dp D2)，組件210e包括四個寄存器(E。， E” E2，E3)。每個組件210的寄存器形成用于該組件210的內(nèi)部掃描路徑。如圖2所示，每個組件210支持至少一個功能。具體而言，組件210a支持三個功 能，組件210b支持四個功能，組件210e支持三個功能，組件210d支持兩個功能，組件210e支 持一個功能。每個組件210所支持的功能可以分別使用每個組件210的寄存器(即內(nèi)部掃 描路徑)。如圖2所示，經(jīng)由S-o-C 110的組件互連220來連接S_0_C 110的組件210。組件 210(即組件210的內(nèi)部掃描路徑)和組件210之間的組件互連220形成從S-o-C 110的輸 入測試端口(TDI)到S-o-C 110的輸出測試端口(TD0)的測試掃描路徑。S-o-C 110除了 支持測試掃描路徑之外，還支持控制掃描路徑。由于可以以多種方式提供獨立的測試和控 制掃描路徑的實現(xiàn)，為了清楚起見，圖2省略了控制掃描路徑的細(xì)節(jié)(參考圖6-圖9可以 更好地理解這些細(xì)節(jié))。組件210包括片上系統(tǒng)型系統(tǒng)中可以包括的任何組件。在一個實施例中，在根據(jù) 所建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)實現(xiàn)的系統(tǒng)中，組件210可以包括知識產(chǎn)權(quán)器件(IP)和/或工 具。由于IP/工具可能非常類似，本文可以交互使用這兩個術(shù)語。此外，由于IP和工具可 以用作片上系統(tǒng)的組件，IP和工具在本文中可以更普遍地稱為組件。在其他實施例中，在 根據(jù)其他標(biāo)準(zhǔn)的系統(tǒng)中，組件210可以包括其他類型的組件。組件210可以包括一個或多個等級使能組件。等級使能組件是(例如通過動態(tài)激 活/解除激活片上系統(tǒng)的測試掃描路徑的一個或多個等級級別的組件)支持片上系統(tǒng)的掃 描路徑的動態(tài)修改的組件。一般而言，等級改進(jìn)了片上系統(tǒng)的組件的測試。例如，等級實現(xiàn) 了測試期間活動系統(tǒng)掃描路徑的最小化和和組件的隔離，從而減小了對片上系統(tǒng)的組件的 訪問時間。參考圖3可以更好地理解片上系統(tǒng)中對等級使能組件的使用。圖3圖示了示例性片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)具有包括由等級使能組件控 制的兩個等級級別的等級掃描路徑。具體而言，圖3的片上系統(tǒng)300包括經(jīng)由等級使能組件320互連的第一測試組件(記為組件AO)和第二測試組件3102 (記為組件A1)，等級 使能組件320動態(tài)控制對第三測試組件3103 (記為組件B0)和第四測試組件3104(記為組 件B1)的訪問。第一和第二測試組件以及等級使能組件320形成了測試掃描 路徑的第一等級級別。第三和第四測試組件3103和3104形成了測試掃描路徑的第二等級 級別。可以選擇等級使能組件320，以激活活動測試掃描路徑的第二等級級別(即，將第 二等級級別添加到活動測試掃描路徑)，可以取消對等級使能組件320的選擇，以解除活動 測試掃描路徑的第二等級級別(即，從活動測試掃描路徑去除第二等級級別)的激活。例 如，當(dāng)取消對等級使能組件320的選擇時，等級使能組件320作為通路組件而操作，從而測 試掃描路徑包括TDI — AO — HC — A1 — TD0。例如，當(dāng)?shù)燃壥鼓芙M件320被激活時，等級使 能組件320將第二等級級別添加到活動測試掃描路徑，使得測試掃描路徑包括以下序列 TDI、AO、HC、BO、Bl、HC、AU TD0?？梢砸赃m于動態(tài)修改片上系統(tǒng)的測試掃描路徑的等級的 任何方式來實現(xiàn)等級使能組件320。等級使能組件320是適于支持掃描路徑的動態(tài)修改的任何組件。在一個實施例 中，例如，等級使能組件320可以包括所建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)的選擇工具位(SIB)的修改 版本。等級使能組件320還可以包括更復(fù)雜的等級使能組件(本文稱為交叉(crossroad) 器件)。為了清楚地描述獨立的測試和控制掃描路徑的使用，本文主要在下述實施例的上下 文中圖示和描述獨立的測試和控制掃描路徑，在所述實施例中，將等級使能組件實現(xiàn)為所 建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)的SIB單元的修改版本(但是，獨立的測試和控制掃描路徑的實現(xiàn) 不限于使用修改的SIB)。如圖3所示，除了支持測試掃描路徑(包括A0，HC，Al，B0和B1)之外，片上系統(tǒng) 300還支持控制掃描路徑(為了清楚地描述測試掃描路徑，圖3省略了控制掃描路徑)。如 本文所述，片上系統(tǒng)300經(jīng)由TDI輸入(從測試系統(tǒng))接收測試比特流和控制比特流，并經(jīng) 由TD0輸出(向測試系統(tǒng))返回測試比特流和控制比特流。片上系統(tǒng)300使用測試控制器 (為清楚起見而省略)來控制獨立的測試和控制掃描路徑。參考圖5-圖9可以更好地理解 片上系統(tǒng)上的控制掃描路徑的實現(xiàn)和使用控制掃描路徑來動態(tài)控制對測試掃描路徑的修 改。圖4圖示了片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)包括適用于動態(tài)修改片上系統(tǒng)的掃 描路徑的等級使能組件。具體而言，片上系統(tǒng)400代表圖3的片上系統(tǒng)300的實現(xiàn)，其中等 級使能組件320被實現(xiàn)為所建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中定義的選擇工具位(SIB)單元。具 體而言，圖4的片上系統(tǒng)400包括作為等級使能組件操作的SIB單元420。如圖4所示，SIB單元420支持測試掃描路徑的第一等級級別(經(jīng)由TDI輸入和 TD0輸出)，以及測試掃描路徑的第二等級級別(經(jīng)由與邊界掃描單元B0的TDI輸入耦接 的WSIo端口和與邊界掃描單元B1的TD0輸出耦接的WSOi端口)。SIB單元420包括選擇 工具位(SIB)寄存器422、更新SIB(UpSIB)寄存器424和輸出MUX 426。SIB寄存器422具 有控制對SIB寄存器422的輸入的相關(guān)聯(lián)的SIB輸入MUX 421。UpSIB寄存器424具有控 制對UpSIB寄存器424的輸入的相關(guān)聯(lián)的UpSIB輸入MUX 423。與SIB寄存器422相關(guān)聯(lián)的SIB輸入MUX 421控制對SIB寄存器422的輸入。SIB 輸入MUX 421包括兩個輸入端口。SIB輸入MUX 421接受(例如來自掃描路徑中的在前組件的)TDI輸入和SIB寄存器422的輸出作為輸入。SIB輸入MUX 421由移位DR(ShDR)控 制信號控制，該ShDR控制信號被施加到SIB輸入MUX 421的控制端口。當(dāng)ShDR控制信號 是“1”時，SIB輸入MUX 421將信號從TDI輸入傳遞到SIB寄存器422中。當(dāng)ShDR控制信 號是“0”時，SIB輸入MUX 421將信號從SIB寄存器422的輸出傳遞到SIB寄存器422中。SIB寄存器422從SIB輸入MUX 421的輸出接受輸入。SIB寄存器422由施加到 SIB寄存器422的控制端口的時鐘信號(記為TCK)控制。SIB寄存器422的輸出耦接到以 下中的每一個對SIB輸入MUX 421的輸入、對UpSIB輸入MUX 423的輸入、對輸出MUX 426 的輸入以及WSIo端口(其提供對第二(或更低)等級級別的組件的訪問，以便在選擇激活 第二等級級別時將信號傳播到第二等級級別)。與UpSIB寄存器424相關(guān)聯(lián)的UpSIB輸入MUX 423控制對UpSIB寄存器424的輸 入。UpSIB輸入MUX 423包括兩個輸入端口。UpSIB輸入MUX 423接受來自SIB寄存器422 的輸出和來自UpSIB寄存器424的輸出作為輸入。UpSIB輸入MUX 423由施加到UpSIB輸 入MUX 423的控制端口的更新DR(UpDR)控制信號控制。當(dāng)UpDR控制信號是“ 1 ”時，UpSIB 輸入MUX 423將信號從SIB寄存器422的輸出傳遞到UpSIB寄存器424中。當(dāng)UpDR控制 信號是“0”時，UpSIB輸入MUX 423將信號從UpSIB寄存器424的輸出傳遞到UpSIB寄存 器424中。UpSIB寄存器424從UpSIB輸入MUX 423的輸出接受輸入。UpSIB寄存器424由 施加到UpSIB寄存器424的控制端口的時鐘信號(記為TCK)控制。UpSIB寄存器424的 輸出耦接到以下中的每一個對UpSIB輸入MUX 423的輸入、輸出MUX 426的控制端口以及 Select_Instr信令路徑。將UpSIB寄存器424的輸出施加到輸出MUX 426的控制端口實 現(xiàn)了測試掃描路徑的等級的控制(即實現(xiàn)了第二(或更低)等級級別的動態(tài)選擇/取消選 擇，使得動態(tài)激活/解除激活第二等級級別)。輸出MUX 426包括兩個輸入端口。輸出MUX 426接受來自SIB寄存器422的輸出 和經(jīng)由WSOi端口來自更低等級級別的輸入(在本示例中例如是邊界掃描單元B1的TD0輸 出)作為輸入。輸出MUX 426的輸出耦接到SIB單元420的TD0輸出(以傳播到掃描路徑 的第一等級級別中的后續(xù)組件，在本示例中是邊界掃描單元A1)。輸出MUX 426的輸出由施 加到輸出MUX 426的控制端口的控制信號確定。UpSIB寄存器424的輸出耦接到輸出MUX 426的控制端口。如圖4所示，UpSIB寄存器424的值確定選擇第二等級級別(即作為掃描路徑的一 部分)還是取消選擇第二等級級別(即不作為掃描路徑的一部分)。當(dāng)取消選擇第二等級 級別時(即UpSIB寄存器424的值是“0”)，輸出MUX 426將SIB寄存器422的輸出傳遞到 SIB單元420的TD0輸出，并且忽略來自WSOi端口的值。當(dāng)選擇第二等級級別時(即UpSIB 寄存器424的值是“1”)，輸出MUX 426將信號從更低等級級別(即從WSOi端口)傳遞到 SIB單元420的TD0輸出。如本文所述，除了支持測試掃描路徑(包括AO，SIB, Al，B0和B1)，片上系統(tǒng)400 還支持控制掃描路徑(為了清楚地描述測試掃描路徑，圖4省略了控制掃描路徑)。片上系 統(tǒng)400使用測試控制器(為了清楚起見而省略)來控制獨立的測試和控制掃描路徑。參考 圖5-圖9可以更好地理解片上系統(tǒng)上的控制掃描路徑的實現(xiàn)和使用控制掃描路徑來動態(tài) 控制對測試掃描路徑的修改。
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圖5圖示了等級片上系統(tǒng)的高級框圖，該等級片上系統(tǒng)包括測試控制器和等級測 試掃描路徑。測試控制器511控制片上系統(tǒng)500的測試。片上系統(tǒng)500支持等級測試掃描 路徑(記為測試掃描路徑521)和控制掃描路徑(記為控制掃描路徑526，但是，為了清楚起 見，圖5省略了控制掃描路徑526，因為如本文所述，可以以若干不同方式實現(xiàn)獨立的控制 掃描路徑，如本文參考圖6-圖9圖示和描述的那樣)。如圖5所示，在一個實施例中，測試控制器511是支持TCK、XTRST、TMS和輸入/輸 出信號的1149. 1JTAG TAP測試控制器。測試控制器511支持與測試系統(tǒng)(例如圖1的TS 120)的輸出耦接的外部輸入(TDI)和與測試系統(tǒng)(例如圖1的TS 120)的輸入耦接的外部 輸出(TD0)。測試控制器511支持內(nèi)部輸入，所述內(nèi)部輸入耦接到適于控制將來自外部TDI 輸入的輸入比特流施加到測試掃描路徑521和控制掃描路徑526的控制邏輯。測試控制器 511支持內(nèi)部輸出，所述內(nèi)部輸出耦接到適于控制選擇來自測試掃描路徑521和控制掃描 路徑526的輸出比特流(以便提供到外部TD0輸出)的控制邏輯。如圖5所示，由于片上系統(tǒng)500支持兩個掃描路徑(即測試掃描路徑521和控制 掃描路徑526)，其中比特流必須被施加到所述掃描路徑以便測試片上系統(tǒng)500，所以片上 系統(tǒng)500支持片上系統(tǒng)500內(nèi)的兩個內(nèi)部輸入和兩個內(nèi)部輸出。片上系統(tǒng)500支持與對測 試掃描路徑521的輸入耦接的第一內(nèi)部輸入(ITDI)和與從測試掃描路徑521的輸出耦接 的第一內(nèi)部輸出(ITD0)。片上系統(tǒng)500支持與對控制掃描路徑526的輸入耦接的第二內(nèi)部 輸入(HTDI)和與從控制掃描路徑526的輸出耦接的第二內(nèi)部輸出(HTD0)。片上系統(tǒng)500包括輸入控制DEMUX 513。輸入控制DEMUX 513包括與測試控制器 511的TDI端口耦接的輸入端口。輸入控制DEMUX包括兩個輸出端口 與對測試掃描路徑 521的輸入耦接的第一輸出端口(記為ITDI)和與對控制掃描路徑526的輸入耦接的第二 輸出端口(記為HTDI)。測試控制器511將在片上系統(tǒng)500的TDI輸入處接收的輸入比特 流施加到輸入控制DEMUX 513的輸入端口。輸入控制DEMUX513適于根據(jù)期望/需要將經(jīng) 由TDI輸入接收的輸入比特流耦接到測試掃描路徑521或控制掃描路徑526。片上系統(tǒng)500包括輸出控制MUX 514。輸出控制MUX 514包括兩個輸入端口 與從 測試掃描路徑521的輸出耦接的第一輸入端口(記為ITD0)和與從控制掃描路徑526的輸 出耦接的第二輸入端口(記為HTD0)。輸出控制MUX 514包括與測試控制器511的TD0端 口耦接的輸出端口。輸出控制MUX 514適于根據(jù)期望/需要，將來自測試掃描路徑521的 輸出比特流或來自控制掃描路徑526的輸出比特流(經(jīng)由測試控制器511)耦接到TD0輸 出o輸入控制DEMUX 513和輸出控制MUX 514每個均由內(nèi)部寄存器(IR) 515控制。根 據(jù)期望/需要，IR 515加載有控制值，以控制輸入控制DEMUX 513和輸出控制MUX 514?？?以通過測試控制器511 (例如使用從相關(guān)聯(lián)的測試系統(tǒng)(例如圖1的TS 120)接收的控制信 號)來將控制值加載到IR 515中。雖然將IR 515圖示并描述為被包括在測試控制器511 中，但是在其他實施例中，IR 515可以在測試控制器511之外實現(xiàn)。雖然主要參考一個IR 進(jìn)行圖示和描述，但是在其他實施例中，可以使用兩個(或更多個)IR (例如，一個輸入控制 DEMUX 513和另一個輸出控制MUX 514)。內(nèi)部寄存器515的輸出耦接到輸入控制DEMUX 513的控制端口，以控制將輸入比 特流施加到測試掃描路徑521和控制掃描路徑526 (即，針對每個輸入比特值，判定將輸入比特值施加到測試掃描路徑521、控制掃描路徑526還是測試掃描路徑521和控制掃描路徑 526兩者)。IR515的輸出耦接到輸出控制MUX 514的控制端口，以控制選擇來自測試掃描 路徑521和控制掃描路徑526的輸出比特流(即，針對每個輸出比特時隙，判定選擇可從測 試掃描路徑521獲得的輸出比特值，還是選擇可從控制掃描路徑526獲得的輸出比特值)。輸入控制DEMUX 513、輸出控制MUX 514和IR 515在本文中可以統(tǒng)稱為控制邏輯 512。雖然本文主要參考其中使用輸入控制DEMUX來控制將輸入比特流施加到測試掃 描路徑521和控制掃描路徑526的實施例進(jìn)行圖示和描述，但是在其他實施例中，輸入控制 DEMUX可以省略。在一個實施例中，例如，輸入測試比特流可以簡單地施加到測試掃描路徑 521和控制掃描路徑526兩者。在該實施例中，IR 515的輸出僅耦接到輸出控制MUX 514 的控制端口。雖然本文主要參考使用控制DEMUX和控制MUX進(jìn)行圖示和描述，但是可以使 用其他類型的控制邏輯來實現(xiàn)獨立的測試和控制掃描路徑。如圖5所示，測試掃描路徑521包括63個組件。測試掃描路徑521包括57個非 等級使能測試組件522 (使用整數(shù)進(jìn)行標(biāo)記)和6個等級使能組件523 (記為等級使能組件 HC00，HC01，HC10，HC11，HC20和HC21)。如圖5所示，測試掃描路徑521的63個組件被串行 布置，并且包括4個等級級別。等級使能組件HC00和HC01提供從第一等級級別到第二等 級級別的訪問。等級使能組件HC10和HC11提供從第二等級級別到第三等級級別的訪問。 等級使能組件HC20和HC21提供從第三等級級別到第四等級級別的訪問。可以根據(jù)期望/需要來動態(tài)控制等級使能組件，以修改測試掃描路徑521 (即向活 動測試掃描路徑521添加等級級別/從活動測試掃描路徑521去除等級級別)。例如，當(dāng) 取消對等級使能組件HC00和HC01的選擇時，活動測試掃描路徑521是TDI、1、HC00、2、3、 4、HC01、5、6、TD0。例如，當(dāng)選擇HC00時(同時HC10、HC11和HC01均保持取消選擇)，活動 測試掃描路徑 521 是TDI、1、HC00、1、2、3、4、5、HC10、6、7、8、9、10、11、12、HC11、13、14、15、 16、HC00、2、3、4、HCO1、5、6、TDO。以此方式，可以通過對不同的等級使能組件進(jìn)行動態(tài)選擇 或取消選擇來動態(tài)激活或解除激活測試掃描路徑521的不同等級級別，從而將其添加到活 動測試掃描路徑521或從活動測試掃描路徑521去除。使用獨立于測試掃描路徑的控制掃描路徑，來實現(xiàn)以動態(tài)修改測試掃描路徑的方 式對一個或多個等級使能組件的控制。可以以任何方式實現(xiàn)獨立的測試和控制掃描路徑。在一個實施例中，可以使用獨立的物理組件來實現(xiàn)測試掃描路徑和控制掃描路 徑。在一個實施例中，例如，測試掃描路徑包括多個非等級測試組件和至少一個等級測試組 件，控制掃描路徑包括至少一個等級控制組件。在該實施例中，形成控制掃描路徑的至少一 個等級控制組件與形成測試掃描路徑的一部分的至少一個等級測試組件相交互，以動態(tài)控 制測試掃描路徑的修改。參考圖6和圖7所圖示和描述的示例，可以更好地理解該實施例。在一個實施例中，可以使用組合物理組件來實現(xiàn)測試掃描路徑和控制掃描路徑。 在一個實施例中，例如，片上系統(tǒng)包括多個非等級測試組件和至少一個等級使能組件。非等 級使能測試組件和至少一個等級使能組件(即至少一個等級使能組件中每一個的第一部 分)形成測試掃描路徑。至少一個等級使能組件(即至少一個等級使能組件中每一個的第 二部分)形成控制掃描路徑。至少一個等級使能組件中每一個的相應(yīng)的第一部分和第二部 分彼此交互，以動態(tài)控制測試掃描路徑的修改。參考圖8和圖9所圖示和描述的示例，可以更好地理解該實施例。圖6圖示了包括使用獨立的物理組件實現(xiàn)的測試掃描路徑和控制掃描路徑的片 上系統(tǒng)的高級框圖。片上系統(tǒng)600包括參考圖5圖示和描述的片上系統(tǒng)500的實現(xiàn)。圖6 的片上系統(tǒng)600包括測試控制器611，其以與圖5的測試控制器511類似的方式操作。片上 系統(tǒng)還包括控制邏輯612，其以與圖5的控制邏輯512類似的方式操作。片上系統(tǒng)600包括 測試掃描路徑621和控制掃描路徑626，測試掃描路徑621和控制掃描路徑626中的每一個 可以由測試控制器611獨立訪問，以測試片上系統(tǒng)600。測試掃描路徑621用于執(zhí)行對片上系統(tǒng)600的測試。測試掃描路徑621由多個非 等級使能測試組件622 (總稱為非等級使能測試組件622，也可以稱為非等級使能組件)和 多個等級使能測試組件623 (總稱為等級使能測試組件623，也可以稱為等級使能組件)構(gòu) 成。非等級使能測試組件622是不支持動態(tài)修改片上系統(tǒng)600的測試掃描路徑621的能力 的組件。等級使能測試組件623是支持動態(tài)修改片上系統(tǒng)600的測試掃描路徑621的能力 的組件。 如圖6所示，測試掃描路徑621包括63個組件，這63個組件包括57個非等級使能 測試組件(使用整數(shù)進(jìn)行標(biāo)記)和6個等級使能組件(記為等級使能測試組件TC00，TC01， TC10, TC11，TC20和TC21)。測試掃描路徑621的63個組件被串行布置，并且包括4個等 級級別。等級使能測試組件TC00和TC01提供從第一等級級別到第二等級級別的訪問。等 級使能測試組件TC10和TC11提供從第二等級級別到第三等級級別的訪問。等級使能組件 TC20和TC21提供從第三等級級別到第四等級級別的訪問?？刂茠呙杪窂?26是添加到片上系統(tǒng)600的附加掃描路徑(除了當(dāng)前用作測試掃 描路徑621的片上系統(tǒng)上典型可用的系統(tǒng)掃描路徑以外)?？刂茠呙杪窂?26適于動態(tài)控 制片上系統(tǒng)600的測試掃描路徑621?？刂茠呙杪窂?26包括多個等級控制組件627 (總稱 為等級控制組件627)。等級控制組件627是適于控制至少一個等級使能測試組件623以動 態(tài)修改片上系統(tǒng)600的測試掃描路徑621的組件。如圖6所示，控制掃描路徑626包括6個等級控制組件(記為等級控制組件CC00， CC01，CC10, CC11，CC20和CC21)?？刂茠呙杪窂?26的6個等級控制組件被串行布置。形 成控制掃描路徑626的6個等級控制組件(例如CC00, CC01，CC10，CC11，CC20和CC21)分 別使用6個耦接路徑624(可以總稱為耦接路徑624)耦接到形成測試掃描路徑621的一部 分的6個等級使能測試組件(例如TC00，TC01，TC10，TC11，TC20和TC21)，從而以實現(xiàn)片上 系統(tǒng)600的測試掃描路徑621的動態(tài)修改的方式控制6個等級使能測試組件。測試控制器611使用控制邏輯612 (以與參考圖5所圖示和描述的類似方式)與 測試掃描路徑621和控制掃描路徑626相接口。測試系統(tǒng)(為了清楚起見而省略)可以使 用輸入測試矢量和輸入控制矢量執(zhí)行對片上系統(tǒng)600的測試。輸入測試矢量是施加到測試 掃描路徑621的測試比特流。輸入控制矢量是施加到用于控制測試掃描路徑的等級(即， 用于動態(tài)控制輸入測試矢量經(jīng)由其傳播的測試掃描路徑621的測試組件)的控制掃描路徑 626的控制比特流。將輸入測試矢量施加到測試掃描路徑621導(dǎo)致測試控制器611經(jīng)由耦 接到測試掃描路徑621的輸出的內(nèi)部ITD0輸出從測試掃描路徑621接收輸出測試矢量。測 試控制器611將輸出測試矢量傳播到測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)處理輸出測試矢量，以確定測試 結(jié)果。
如本文所述，在使用獨立的物理組件實現(xiàn)測試掃描路徑和控制掃描路徑的實施例 中(例如本文參考圖6所圖示和描述的那樣)，可以使用任何等級使能組件(例如使用所建 議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中定義的SIB單元的修改版本、使用其他等級使能組件(例如交叉器 件)等以及以上各項的各種組合)來實現(xiàn)等級使能測試組件和相關(guān)聯(lián)的等級控制組件。參 考圖7圖示和描述示例性實施例，其中使用所建議的IEEEP1687標(biāo)準(zhǔn)的SIB單元的修改版 本來實現(xiàn)等級使能測試組件和相關(guān)聯(lián)的等級控制組件。圖7圖示了等級使能測試組件和等級控制組件的高級框圖，所述等級使能測試組 件和等級控制組件適于在圖6的片上系統(tǒng)的測試掃描路徑和控制掃描路徑中使用。如圖 7所示，等級使能測試組件710和等級控制組件720協(xié)作以支持片上系統(tǒng)的測試掃描路徑 (例如參考圖6圖示和描述的測試掃描路徑621)的動態(tài)修改。如參考圖6圖示和描述的那樣，等級使能測試組件710形成測試掃描路徑(例如 測試掃描路徑621)的一部分，等級控制組件720形成控制掃描路徑(例如控制掃描路徑 626)的一部分。例如，等級使能測試組件710可以是圖6的等級使能測試組件623之一(例 如等級使能測試組件TC00)，等級控制組件720可以是圖6的等級控制組件627之一(例如 控制等級使能測試組件TC00的等級控制組件C00)。如本文所述，可以以任何方式來實現(xiàn)等級使能測試組件710和等級控制組件720， 以使用獨立的測試和控制掃描路徑支持掃描路徑的動態(tài)修改。如圖7所示，在一個實施例 中，可以通過重復(fù)利用所建議的IEEEP1687標(biāo)準(zhǔn)中定義的SIB單元的設(shè)計的一部分來實現(xiàn) 等級使能測試組件710和等級控制組件720 (應(yīng)當(dāng)注意，雖然為了清楚起見提供了該示例性 實現(xiàn)方式，但是可以使用任何等級使能組件來實現(xiàn)等級使能測試組件710和等級控制組件 720)。經(jīng)由信令路徑730 (記為Seljnstr信令路徑)耦接等級使能測試組件710和等級 控制組件720。Sel_Instr信令路徑730對應(yīng)于圖6的耦接路徑624之一。如圖7所示，等級使能測試組件710包括TDI輸入711、WSIo輸入TUpWSOi輸出 712。、MUX 713和TD0輸出714。TDI輸入711耦接到測試掃描路徑的在前組件(為了清楚 起見而省略)的輸出，TD0輸出714耦接到測試掃描路徑中后續(xù)組件(為了清楚起見而省 略)的輸入。TDI輸入711耦接到MUX 713的第一輸入端口和WSIo輸入712工。WSOi輸出 712。耦接到MUX 713的第二輸入端口。通過從等級控制組件720施加到MUX 713的控制端 口的選擇信號來控制在MUX713處在來自TDI輸入711的信號和來自WSOi輸出712。的信 號之間的選擇。如圖7所示，等級控制組件720類似于圖4的SIB單元420。但是，(如參考等級 使能測試組件710所描述的那樣，為測試掃描路徑保留的)TDI輸入和TD0輸出被替換為 HTDI輸入721和HTD0輸出722 (用于控制掃描路徑)。HTDI輸入721耦接到控制掃描路徑 的在前組件(為了清楚起見而省略)的輸出，HTD0輸出722耦接到控制掃描路徑的后續(xù)組 件(為了清楚起見而省略)的輸入。如圖7所示，等級控制組件720包括SIB輸入MUX 725、SIB寄存器726、UpSIB輸 入 MUX 727，和 UpSIB 寄存器 728。SIB輸入MUX 725和SIB寄存器726以與圖4的SIB輸入MUX 421和SIB寄存器 422類似的方式操作，但是具有一些區(qū)別。第一區(qū)別在于對SIB輸入MUX 421的TDI輸入被 替換為對SIB輸入MUX 725的HTDI輸入721。第二區(qū)別在于從SIB寄存器726的輸出連接
12到HTD0輸出722(相反，在SIB單元420中，SIB寄存器422的輸出耦接到對輸出MUX 426 的輸入)。UpSIB 輸入MUX 727 和 UpSIB 寄存器 728 以與圖 4 的 UpSIB 輸入 MUX 423 禾PUpSIB 寄存器424類似的方式操作，但是具有一個區(qū)別。該區(qū)別在于當(dāng)UpSIB寄存器728的輸 出仍耦接到Seljnstr信令路徑時，UpSIB寄存器728的輸出不作為控制信號耦接到輸出 MUX(因為等級控制組件720中不存在輸出MUX 426)。如圖7所示，UpSIB寄存器728的輸出耦接到Sel_InStr信令路徑730。來自UpSIB 寄存器728的輸出的Sel_InStr信令路徑730耦接到等級使能測試組件710的MUX 713的 控制端口。從等級控制組件720到等級使能測試組件710的Seljnstr信令路徑730使得 等級控制組件720能夠控制在來自TDI輸入711的信號和來自WSOi輸出712。的信號之間 進(jìn)行選擇，以傳遞到TD0輸出714 (即，動態(tài)控制對活動測試掃描路徑添加/從活動測試掃 描路徑去除測試組件)。如圖7所示，當(dāng)激活等級控制組件720的UpSIB寄存器728時(例如設(shè)置為“ 1”)， 信號經(jīng)由Seljnstr信令路徑730從等級控制組件720的UpSIB寄存器728傳播到等級使 能測試組件710的MUX 713的控制端口。在接收到激活信號時，等級使能測試組件710的 MUX 713從選擇來自TDI輸入711的信號切換到選擇來自WSOi輸出712。的信號。以此方 式，等級使能測試組件710不再充當(dāng)來自TDI輸入711的信號的通路。相反，將連接到WSIo 輸入712工和WSOi輸出71、的任何組件動態(tài)地添加到活動測試掃描路徑(即，使用等級控 制組件720和等級使能測試組件710的組合來動態(tài)修改測試掃描路徑)。例如，參考圖6，假設(shè)等級使能測試組件710是等級使能測試組件TC00，等級控制 組件720是等級控制組件CC00。在該示例中，當(dāng)取消對等級使能測試組件TC00的選擇時， TC00將測試比特從非等級使能測試組件1傳遞到非等級使能測試組件2 ( S卩，其作為通路而 操作)。在該示例中，當(dāng)(例如經(jīng)由UpSIB寄存器728和Seljnstr信令路徑730)通過來 自等級控制組件CC00的控制信號激活等級使能測試組件TC00時，下一等級級別被動態(tài)添 加到活動測試掃描路徑，從而TC00 (經(jīng)由TC00的TDIo)將測試比特從非等級使能測試組件 1傳遞到非等級使能測試組件1、通過非等級使能組件2到16和等級使能測試組件TC10和 TC11，然后(經(jīng)由TC00的TDOi)到達(dá)非等級使能測試組件2。圖8圖示了片上系統(tǒng)的高級框圖，該片上系統(tǒng)包括使用組合的物理組件實現(xiàn)的測 試掃描路徑和控制掃描路徑。片上系統(tǒng)800包括參考圖5圖示和描述的片上系統(tǒng)500的實 現(xiàn)。圖8的片上系統(tǒng)800包括以類似于圖5的測試控制器511的方式操作的測試控制器 811。片上系統(tǒng)還包括以類似于圖5的控制邏輯512的方式操作的控制邏輯812。片上系統(tǒng) 800包括測試掃描路徑821和控制掃描路徑823，測試掃描路徑821和控制掃描路徑823均 可以被測試控制器811獨立地訪問，以便測試片上系統(tǒng)600。測試掃描路徑821用于執(zhí)行對片上系統(tǒng)800的測試。測試掃描路徑821由多個非 等級使能測試組件822 (總稱為非等級使能測試組件822，本文中也可以稱為非等級使能組 件)和多個等級使能組件825 (總稱為等級使能組件825)組成?？刂茠呙杪窂?23由多個 等級使能組件825(即，還形成測試掃描路徑821的一部分的等級使能組件825)組成。換 言之，每個等級使能組件825適于以使測試掃描路徑821或控制掃描路徑823能夠動態(tài)地 控制測試掃描路徑821的方式來支持測試掃描路徑821和控制掃描路徑823。
非等級使能測試組件822是不支持動態(tài)修改片上系統(tǒng)800的測試掃描路徑821的 能力的組件。等級使能組件825是支持動態(tài)修改片上系統(tǒng)800的測試掃描路徑821的能力 的組件。可以以任何方式實現(xiàn)等級使能組件825。在一個實施例中，例如，每個等級使能組 件825包括形成測試掃描路徑821的一部分的第一部分，和形成控制掃描路徑823的一部 分的第二部分(即，使用公共物理組件組來支持測試掃描路徑821和控制掃描路徑823)。測試掃描路徑821包括63個組件，這63個組件包括57個非等級使能測試組件 (使用整數(shù)進(jìn)行標(biāo)記)和6個等級使能組件(記為HC00、HC01、HC10、HC11、HC20和HC21)。 測試掃描路徑621的63個組件包括四個等級級別。等級使能組件HC00和HC01提供從第 一等級級別到第二等級級別的訪問。等級使能組件HC10和HC11提供從第二等級級別到第 三等級級別的訪問。等級使能組件HC20和HC21提供從第三等級級別到第四等級級別的訪 問?？梢允褂脺y試掃描路徑821來動態(tài)控制測試掃描路徑821 (即，控制將等級級別添加到 活動測試掃描路徑821/從活動測試掃描路徑821去除等級級別)。(除了片上系統(tǒng)上典型可用的系統(tǒng)掃描路徑之外，其中，由于添加了控制掃描路徑 823，該系統(tǒng)掃描路徑被用作為測試掃描路徑821)控制掃描路徑823是添加到片上系統(tǒng)800 的附加掃描路徑。控制掃描路徑823可以用于動態(tài)控制測試掃描路徑821(即，控制將等級 級別添加到活動測試掃描路徑821/從活動測試掃描路徑821去除等級級別)?？刂茠呙杪?徑823穿過等級使能組件825 (即，測試掃描路徑821和控制掃描路徑823共享每個等級使 能組件825)。等級使能組件825的控制部分以使能動態(tài)修改片上系統(tǒng)800的測試掃描路徑 821的方式來(在內(nèi)部)控制等級使能組件825的相應(yīng)測試部分。如圖8所示，使用以下組件序列形成控制掃描路徑823 HC00 — HC01 — HC10 — HC20 — HC21 — HC11。控制掃描路徑823的組件序列僅是可以使用 的等級使能組件825的序列的一個示例(即，由于測試控制器811可以以任何順序?qū)刂?掃描路徑823施加控制比特，可以以任何順序連接等級使能組件825以形成控制掃描路徑 823)。例如，可以將備選序列 HTDI、HC20、HC21、HC11、HC10、HC00、HC01、HTDI 用于控制掃 描路徑823。類似地，例如可以將備選序列HTDI、HC21、HC10、HC00、HC11、HC20、HC01、HTDI 用于控制掃描路徑823。測試控制器811 (以類似于參考圖5所圖示和描述的方式)使用控制邏輯812與 測試掃描路徑821和控制掃描路徑823相接口。測試系統(tǒng)(為了清楚起見而省略)可以使 用輸入測試矢量和輸入控制矢量執(zhí)行對片上系統(tǒng)600的測試。輸入測試矢量是施加到用 于執(zhí)行一個或多個測試(以及可選地控制測試掃描路徑821的等級)的測試掃描路徑821 的測試比特流。輸入控制矢量是施加到用于控制測試掃描路徑的等級(即，用于動態(tài)控制 輸入測試矢量經(jīng)由其傳播的測試掃描路徑821的測試組件)的控制掃描路徑823的控制比 特流。將輸入測試矢量施加到測試掃描路徑821導(dǎo)致測試控制器811經(jīng)由與測試掃描路徑 821的輸出耦接的內(nèi)部ITD0輸出從測試掃描路徑821接收輸出測試矢量。測試控制器811 將輸出測試矢量傳播到測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)處理輸出測試矢量，以確定測試結(jié)果。如參考圖8所圖示和描述的那樣，測試掃描路徑821和控制掃描路徑823共享物 理組件提供了可以修改測試掃描路徑821的等級的兩種方式(即，通過經(jīng)由測試掃描路徑 821訪問等級使能組件825，或經(jīng)由控制掃描路徑823訪問等級使能組件825)。這使得測試 系統(tǒng)能夠判定，在任意給定時刻，訪問等級使能組件825的兩種方式中的哪一種更有利，并且使用更有利的訪問方式控制測試掃描路徑821的等級。如本文所述，在通過共享物理組件來實現(xiàn)測試掃描路徑和控制掃描路徑的實施例 中(如本文中參考圖8所圖示和描述的那樣)，可以使用任何等級使能組件(例如，使用所 建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中定義的SIB單元的修改版本、使用其他等級使能組件(例如交叉 器件)等以及以上項目的各種組合)實現(xiàn)等級使能組件。參考圖9圖示和描述了使用所建 議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中定義的SIB單元的修改版本實現(xiàn)等級使能組件的示例性實施例。圖9圖示了適于支持圖8的片上系統(tǒng)的測試掃描路徑和控制掃描路徑的等級使能 組件的高級框圖。如圖9所示，等級使能組件910適于形成測試掃描路徑的一部分和形成 控制掃描路徑的一部分，從而測試掃描路徑部分或測試掃描路徑部分可以以動態(tài)修改片上 系統(tǒng)的測試掃描路徑(例如動態(tài)修改片上系統(tǒng)的等級)的方式控制測試掃描路徑部分。如參考圖8圖示和描述的那樣，等級使能組件910形成測試掃描路徑(例如，測試 掃描路徑821)的一部分以及形成控制掃描路徑(例如，控制掃描路徑823)的一部分。例 如，等級使能組件910可以是圖8的等級使能組件825中的任意一個(例如，等級使能組件 HC00、等級使能組件HC01等)。可以以任何方式實現(xiàn)等級使能組件910，以支持獨立的測試 和控制掃描路徑。如圖9所示，在一個實施例中，可以使用所建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中定義的SIB 單元的修改版本實現(xiàn)等級使能組件910 (應(yīng)當(dāng)注意，雖然為了清楚起見提供該示例性實現(xiàn) 方式，但是可以使用任何等級使能組件實現(xiàn)等級使能組件910)。在一個這種實施例中，標(biāo)準(zhǔn) SIB單元被修改為包括(1)用于控制掃描路徑的附加輸入/輸出接口(即HTDI/HTD0輸入 /輸出接口)和(2)用于支持獨立的測試和控制掃描路徑的邏輯。如圖9所示，等級使能組件910是SIB單元(例如本文中參考圖4圖示和描述的 SIB單元420)的修改版本。在圖9的修改的SIB單元910中，圖4的SIB單元420已被修 改為包括兩個附加輸入信號(記為HDTI和Select)、一個附加輸出信號(記為HTD0)和一 個附加信號選擇邏輯組件(例如輸入控制MUX 915)。SIB單元910包括SIB輸入MUX 911、 SIB寄存器912、UpSIB輸入MUX 913、UpSIB寄存器914和輸出MUX916，它們分別以類似于 SIB 單元 420 的 SIB 輸入 MUX 421、SIB 寄存器 422、UpSIB 輸入 MUX 423、UpSIB 寄存器 424 和輸出MUX 426的方式操作(除了下面描述的一些區(qū)別之外)。在圖4的SIB單元420中，TDI輸入耦接到SIB輸入MUX 421的輸入端口之一。在 圖9的修改的SIB單元910中，TDI輸入(與測試掃描路徑相關(guān)聯(lián))耦接到輸入控制MUX 915的一個輸入，新的HTDI輸入(與控制掃描路徑相關(guān)聯(lián))耦接到輸入控制MUX 915的另 一輸入。使用施加到輸入控制MUX 915的控制端口的新的SELECT信號來控制由輸入控制 MUX 915在TDI輸入和HDTI輸出之間進(jìn)行的選擇。在一個實施例中，施加到修改的SIB單 元910的SELECT信號與施加到圖8的控制邏輯812的輸入控制DEMUX 513和輸出控制MUX 514的控制端口的信號相同。在圖4的SIB單元420中，TDI輸入耦接到SIB輸入MUX 421的一個輸入端口，SIB 輸入MUX 421控制通過SIB單元傳遞哪個信號。在圖9的修改的SIB單元910中，將輸入控 制MUX 915的輸出(取代TDI輸入)施加到SIB輸入MUX 911的輸入端口。因此，不是將 TDI輸入施加到SIB寄存器912，相反，可以通過控制輸入控制MUX 915和SIB輸入MUX911 來根據(jù)期望/需要將TDI輸入和HTDI中的每一個交替施加到SIB寄存器912，其中SIB輸入MUX 911最終控制將哪個信號傳遞到SIB寄存器912中。在圖4的SIB單元420中，SIB寄存器422的輸出耦接到對SIB輸入MUX 421的 輸入、對UpSIB輸入MUX 423的輸入、(對第二等級層的)WSIo輸入以及對輸出MUX 426的 一個輸入，輸出MUX 426控制在SIB寄存器422的輸出和(來自第二等級層的)WS0i輸出 之間的選擇。在圖9的修改的SIB單元910中，SIB寄存器912的輸出耦接到對SIB輸入 MUX 911的輸入、對UpSIB輸入MUX 913的輸入、(對第二等級層的)WSIo輸入、對控制在 SIB寄存器912的輸出和(來自第二等級層的)WS0i輸出之間的選擇的輸出MUX 916的一 個輸入，并且還耦接到HTD0輸出。如圖9所示，修改的SIB單元910適于支持(使用TDI/TD0輸入/輸出接口，并且 包括使用作為控制器的UpSIB寄存器，通過向活動測試掃描路徑添加WSIo和WSOi/從活動 測試掃描路徑去除WSIo和WSOi，來動態(tài)修改測試掃描路徑的能力的)測試掃描路徑和(使 用HTDI/HTD0輸入/輸出接口的)控制掃描路徑二者。TDI輸入和TD0輸出分別耦接到測 試掃描路徑中的在前組件和后續(xù)組件。HDTI輸入和HTD0分別耦接到控制掃描路徑中的在 前組件和后續(xù)組件。例如，返回圖8，假設(shè)修改的SIB單元910是等級使能組件HC00。在該示例中，TDI 測試輸入耦接到非等級使能測試組件1，TD0測試輸出耦接到非等級使能測試組件2。在該 示例中，HTDI控制輸入耦接到測試控制器910的HTDI端口，HTD0控制輸出耦接到等級使能 組件HC00的HTDI輸入(即，每個等級使能組件的控制端口直接連接到控制掃描路徑中的 相鄰等級使能組件的控制端口，從而可以直接在等級使能組件之間傳遞控制比特，而不需 要通過可能布置在等級使能組件之間的非等級使能測試組件傳遞控制比特)。圖10示出了根據(jù)一個實施例的方法。具體而言，圖10的方法1000包括使用獨立 的測試和控制掃描路徑來測試片上系統(tǒng)的方法，其中使用獨立的物理組件實現(xiàn)測試和控制 掃描路徑(例如參考圖6和圖7圖示和描述的那樣)。測試系統(tǒng)執(zhí)行測試，測試控制器輔助 測試。雖然圖10的方法1000的步驟被圖示和描述為順序執(zhí)行，但是這些步驟的至少一部 分可以同時執(zhí)行，或者以不同于參考圖10圖示和描述的順序來執(zhí)行。方法1000開始于步 驟1002，并進(jìn)行到步驟1004。在步驟1004，將輸入測試比特流施加到片上系統(tǒng)的測試掃描路徑。在步驟1006， 將輸入控制比特流施加到片上系統(tǒng)的控制掃描路徑。輸入測試比特流適用于執(zhí)行對片上系 統(tǒng)的一個或多個測試。輸入控制比特流適于動態(tài)修改測試掃描路徑的等級(從而修改輸入 測試比特流的至少一部分所經(jīng)過的路徑)。通過測試控制器將輸入比特流施加到片上系統(tǒng)。在步驟1008，方法1000結(jié)束。雖然圖示和描述了結(jié)束，但是如本文所述，從片上系 統(tǒng)捕獲第一輸出比特流(與輸入比特流相關(guān)聯(lián))，從片上系統(tǒng)捕獲第二輸出比特流(與控制 比特流相關(guān)聯(lián))。測試控制器從片上系統(tǒng)捕獲輸出比特流。然后，測試控制器可以處理輸出 比特流以確定測試結(jié)果。圖11圖示了根據(jù)一個實施例的方法。具體而言，圖11的示例性方法1100包括使 用獨立的測試和控制掃描路徑來測試片上系統(tǒng)的方法，其中使用組合的物理組件來實現(xiàn)測 試和控制掃描路徑(例如參考圖8和圖9圖示和描述的那樣)。測試系統(tǒng)執(zhí)行測試，測試控 制器輔助測試。雖然圖11的方法1100的步驟被圖示和描述為順序執(zhí)行，但是這些步驟的 至少一部分可以同時執(zhí)行，或者以不同于參考圖11圖示和描述的順序來執(zhí)行。方法1100開始于步驟1102，并進(jìn)行到步驟1104。在步驟1104，將輸入測試比特流施加到片上系統(tǒng)的測試掃描路徑。在步驟1106，確定經(jīng)由測試掃描路徑還是控制掃描路徑訪問等級使能組件?？梢?基于一個或多個因素(例如，基于當(dāng)前執(zhí)行的一個或多個測試、訪問等級使能組件所需的 時間等以及以上項目的各種組合)進(jìn)行該確定。如果確定應(yīng)當(dāng)經(jīng)由測試掃描路徑訪問等級使能組件，則方法1100進(jìn)行到步驟 1108T，在此處將輸入控制比特流施加到測試掃描路徑。如果確定應(yīng)當(dāng)經(jīng)由控制掃描路徑訪 問等級使能組件，則方法1100進(jìn)行到步驟1108e，在此處將輸入控制比特流施加到控制掃描路徑。輸入測試比特流適用于執(zhí)行對片上系統(tǒng)的一個或多個測試。輸入控制比特流適于 訪問一個或多個等級使能組件，以便動態(tài)修改測試掃描路徑的等級(從而修改輸入測試比 特流的至少一部分所經(jīng)過的路徑)。測試控制器經(jīng)由片上系統(tǒng)的測試控制器將輸入比特流 施加到片上系統(tǒng)。在步驟1110，方法1100結(jié)束。雖然圖示和描述了結(jié)束，但是如本文所述，從片上系 統(tǒng)捕獲第一輸出比特流(與輸入比特流相關(guān)聯(lián))，從片上系統(tǒng)捕獲第二輸出比特流(與控制 比特流相關(guān)聯(lián))。測試控制器從片上系統(tǒng)捕獲輸出比特流。然后，測試控制器可以處理輸出 比特流以確定測試結(jié)果。雖然本文主要關(guān)于使用特定的等級使能組件實現(xiàn)片上系統(tǒng)上的獨立的測試和控 制掃描路徑(即所建議的IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)定義的SIB單元)來進(jìn)行圖示和描述，但是可以 使用任何等級使能組件來實現(xiàn)片上系統(tǒng)上的獨立的測試和控制掃描路徑。在一個實施例中，例如，用于支持獨立的測試和控制掃描路徑的等級使能組件可 以是支持可用于支持至少兩個等級級別的交換結(jié)構(gòu)的任何組件。例如，支持交換結(jié)構(gòu)的等 級使能組件可以是具有至少兩個輸入和至少兩個輸出的組件，所述至少兩個輸入和至少兩 個輸出適于被連接以形成不同控制路徑。在另一實施例中，例如，用于支持獨立的測試和控制掃描路徑的等級使能組件可 以是支持可用于支持總線結(jié)構(gòu)的組件，所述總線結(jié)構(gòu)用于支持至少兩個等級級別。例如，支 持總線結(jié)構(gòu)的等級使能組件可以包括連接到至少一個從組件的通道(gateway)組件(例 如，通過通道組件與至少一個從組件之間的事務(wù)提供事務(wù)等級)?？梢砸愿鞣N其他方式實現(xiàn)用于實現(xiàn)獨立的測試和控制掃描路徑的等級使能組件。雖然本文主要關(guān)于測試環(huán)境進(jìn)行圖示和描述，在所述測試環(huán)境下測試系統(tǒng)對支持 獨立的測試和控制掃描路徑的一個片上系統(tǒng)進(jìn)行測試并且從等級的項級級別提供獨立的 掃描路徑的控制，但是在其他實施例中，可以通過測試系統(tǒng)測試多個片上系統(tǒng)組件(每個 片上系統(tǒng)組件支持獨立的測試和控制掃描路徑)。在這些實施例中，(例如，當(dāng)一個或多個 片上系統(tǒng)嵌入在掃描鏈中時)，可以從頂級等級級別和/或從其他等級級別提供各個片上 系統(tǒng)的獨立的掃描路徑的控制。參考圖12-圖15圖示和描述了一些示例性實施例。圖12圖示了其中使用測試系統(tǒng)來測試兩個片上系統(tǒng)的測試環(huán)境的高級框圖。具 體而言，在測試環(huán)境1200中，使用測試系統(tǒng)1220來測試兩個片上系統(tǒng)1210i和12102 (總稱 為片上系統(tǒng)1210)。如圖12所示，片上系統(tǒng)121(^和12102分別包括測試控制器1211工和 12112，每個片上系統(tǒng)1210支持獨立的測試掃描路徑和控制掃描路徑。例如，每個片上系統(tǒng)1210以類似于圖5的片上系統(tǒng)500的方式進(jìn)行操作。在測試系統(tǒng)1200中，每個測試控制 器1211:和12112適于控制來自測試系統(tǒng)1220的TDI/TD0信號，以支持用于相應(yīng)的片上系 統(tǒng)1210:和12102的獨立測試和控制掃描路徑(ITDI/ITD0和HTDI/HTD0)。圖13圖示了測試環(huán)境的高級框圖，其中使用測試系統(tǒng)來測試其上嵌入有片上系 統(tǒng)的片上系統(tǒng)。具體而言，在測試環(huán)境1300中，使用測試系統(tǒng)1320來測試其上嵌入有嵌入 式片上系統(tǒng)1330的片上系統(tǒng)1310。片上系統(tǒng)1310包括測試控制器1311。片上系統(tǒng)1310 支持獨立的測試和控制掃描路徑。如圖13所示，嵌入式片上系統(tǒng)1330包括通道1331，經(jīng)由 來自片上系統(tǒng)1310的測試控制器1311的測試掃描路徑(經(jīng)由ITDI/ITD0)訪問嵌入式片上 系統(tǒng)1330。片上系統(tǒng)1310的ITDI是對嵌入式片上系統(tǒng)1330的TDI輸入，片上系統(tǒng)1310 的ITD0是從片上系統(tǒng)1310的TD0輸出。來自/去往片上系統(tǒng)1310的測試控制器1311的 ITDI/ITD0測試掃描路徑信號是去往/來自嵌入式片上系統(tǒng)1330的通道1331的輸入/輸 出信號。嵌入式片上系統(tǒng)1330支持獨立的測試和控制掃描路徑。因此，片上系統(tǒng)1310和 嵌入式片上系統(tǒng)1330均以類似于圖5的片上系統(tǒng)500的方式操作。圖14圖示了測試環(huán)境的高級框圖，其中使用測試系統(tǒng)來測試片上系統(tǒng)，該片上系 統(tǒng)嵌入有包括嵌入式片上系統(tǒng)的片上系統(tǒng)。如圖14所示，圖14的測試環(huán)境1400類似于圖 13的測試環(huán)境1300，其中嵌入式片上系統(tǒng)1330還包括嵌入式片上系統(tǒng)1430。嵌入式片上 系統(tǒng)1430包括通道1431。使用嵌入式片上系統(tǒng)1330的測試掃描路徑作為對通道1431的 TDI輸入和從通道1431的TD0輸出。換言之，嵌入式片上系統(tǒng)1330的ITDI是對嵌入式片 上系統(tǒng)1430的TDI輸入，嵌入式片上系統(tǒng)1330的ITD0輸出是從嵌入式片上系統(tǒng)1430的 TD0輸出。嵌入式片上系統(tǒng)1430還支持獨立的測試和控制掃描路徑。因此，片上系統(tǒng)1310 和嵌入式片上系統(tǒng)1330、1430均以類似于圖5的片上系統(tǒng)500的形式操作。圖15圖示了圖5的片上系統(tǒng)的高級框圖，其中將片上系統(tǒng)嵌入等級級別之一中。 具體而言，圖15的片上系統(tǒng)1500是圖5的片上系統(tǒng)500，其中先前經(jīng)由等級使能組件HC20 可訪問的邊界掃描單元鏈被替換為提供對片上系統(tǒng)1510的訪問的嵌入式片上系統(tǒng)1510。 嵌入式片上系統(tǒng)1510包括通道1511。如圖15所示，不是從測試控制器511 (即等級的頂 級級別)提供對嵌入式片上系統(tǒng)1510的訪問，相反，從等級的更低級別(例如經(jīng)由HC20和 通道1511)提供對嵌入式片上系統(tǒng)1510的訪問。片上系統(tǒng)1500的測試掃描路徑(ITDI/ ITD0)提供用于嵌入式片上系統(tǒng)1510的輸入/輸出。換言之，片上系統(tǒng)1500的測試掃描路 徑的ITDI是對通道1511的TDI輸入(例如經(jīng)由HC20的WSIo)，片上系統(tǒng)1500的測試掃描 路徑的ITD0輸出是從通道1511的TD0輸出(例如經(jīng)由HC20的WSOi)。如圖13、圖14和圖15所示，可以以多種方式實現(xiàn)嵌入式片上系統(tǒng)的通道(例如嵌 入式片上系統(tǒng)1330、1430和1510的通道1331、1431和1511)。在一個實施例中，可以將通 道實現(xiàn)為控制邏輯，所述控制邏輯適于根據(jù)期望/需要來在測試和控制掃描路徑上分割輸 入比特流，并且根據(jù)期望/需要選擇來自測試和控制掃描路徑輸出的輸出比特流。在一個 這樣的實施例中，例如，可以以類似于圖5的控制邏輯512的方式實現(xiàn)通道。在一個實施例 中，可以將通道實現(xiàn)為測試控制器(例如參考圖5所圖示和描述的測試控制器511)。在一 個實施例中，可以將通道實現(xiàn)為等級使能組件(例如SIB、交叉器件等)?？梢砸愿鞣N其他 方式實現(xiàn)通道。如圖12-15的示例性實施例所示，可以使用任意數(shù)量的等級級別支持模塊化。這使得能夠以任意數(shù)量的等級級別實現(xiàn)任意數(shù)量的片上系統(tǒng)設(shè)備，并且還使得能夠從任何等 級級別控制任意數(shù)量的片上系統(tǒng)設(shè)備。這使得(例如從一個等級級別的掃描路徑分割出 來的)測試掃描路徑能夠被進(jìn)一步分割，以形成另一等級級別的獨立的測試和控制掃描路 徑。因此，可以支持任意級別的模塊化，所述任意級別的模塊化支持任意數(shù)量的等級級別和 任意數(shù)量的測試和控制掃描路徑級別。圖16圖示了適用于執(zhí)行本文描述的功能的通用計算機的高級框圖。如圖16所示， 系統(tǒng)1600包括處理器元件1602 (例如CPU)、存儲器1604 (例如隨機存取存儲器(RAM)和/ 或只讀存儲器(ROM))、測試模塊1605以及各種輸入/輸出設(shè)備1606 (例如存儲設(shè)備(包括 但不限于磁帶驅(qū)動器、軟盤驅(qū)動器、硬盤驅(qū)動器或光盤驅(qū)動器)、接收機、發(fā)射機、揚聲器、顯 示器、輸出端口和用戶輸入設(shè)備(例如鍵盤、小鍵盤、鼠標(biāo)等))。應(yīng)當(dāng)注意，可以以軟件和/或以軟件和硬件的組合(例如使用專用集成電路 (ASIC)、通用計算機或任何其他硬件等同物)來實現(xiàn)本發(fā)明。在一個實施例中，本測試過程 1605可以被載入存儲器1604，并被處理器1602執(zhí)行，以實現(xiàn)如上所討論的功能。因此，本 發(fā)明的測試過程1605 (包括相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu))可以存儲在計算機可讀介質(zhì)或載體上，例 如RAM存儲器、磁或光驅(qū)動器或盤片，等等。雖然文本詳細(xì)示出和描述了包含本發(fā)明教導(dǎo)的各種實施例，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員 可以容易設(shè)想包含這些教導(dǎo)的很多其他變型實施例。
權(quán)利要求
一種片上系統(tǒng)設(shè)備，包括測試掃描路徑，包括多個測試組件，所述多個測試組件包括至少一個等級使能測試組件；以及控制掃描路徑，包括至少一個控制組件，所述至少一個控制組件耦接到所述測試掃描路徑的所述至少一個等級使能測試組件；其中所述至少一個控制組件以動態(tài)修改所述測試掃描路徑的方式，控制所述至少一個等級使能測試組件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述測試掃描路徑包括具有第一等級級別和第 二等級級別的等級，其中動態(tài)修改所述測試掃描路徑包括動態(tài)修改所述測試掃描路徑的等 級。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備，其中動態(tài)修改所述測試掃描路徑的等級包括以下操作 之一選擇所述第二等級級別以激活所述第二等級級別，和取消對所述第二等級級別的選 擇以解除所述第二等級級別的激活。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述測試掃描路徑用于傳播測試比特流，其中所 述控制掃描路徑用于傳播控制比特流。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中控制組件用于提供用于控制所述等級使能測試組 件的邏輯元件的控制信號。
6.一種片上系統(tǒng)設(shè)備，包括測試掃描路徑，包括多個非等級使能測試組件和至少一個等級使能組件；以及控制掃描路徑，包括所述至少一個等級使能組件；其中所述至少一個等級使能組件適于使用所述控制掃描路徑來動態(tài)修改所述測試掃 描路徑。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述測試掃描路徑包括具有第一等級級別和第 二等級級別的等級，其中動態(tài)修改所述測試掃描路徑包括動態(tài)修改所述測試掃描路徑的等 級。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述測試掃描路徑用于傳播測試比特流，其中所 述控制掃描路徑用于傳播控制比特流。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述至少一個等級使能組件中的每一個均包括用 于在測試比特流和控制比特流之間進(jìn)行選擇的選擇元件。
10.一種片上系統(tǒng)設(shè)備，包括測試掃描路徑，用于傳播測試比特流；以及控制掃描路徑，用于傳播控制比特流；其中控制比特流用于修改測試掃描路徑中的測試比特流的傳播。全文摘要
本發(fā)明包括用于使用控制掃描路徑來控制測試掃描路徑的動態(tài)修改的設(shè)備和相關(guān)聯(lián)的方法。在一個實施例中，一種設(shè)備包括測試掃描路徑和控制掃描路徑。測試掃描路徑包括測試組件和至少一個等級使能組件。在一個實施例中，控制掃描路徑包括至少一個控制組件，所述至少一個控制組件耦接到至少一個等級使能組件以控制測試掃描路徑的動態(tài)修改。在一個實施例中，控制掃描路徑包括至少一個等級使能組件，其中至少一個等級使能組件用于使用控制掃描路徑來動態(tài)修改測試掃描路徑。測試掃描路徑的動態(tài)修改可以包括修改測試掃描路徑的等級，例如選擇測試掃描路徑的一個或多個等級級別或取消對測試掃描路徑的一個或多個等級級別的選擇。
文檔編號G01R31/3185GK101932946SQ200980103733
公開日2010年12月29日 申請日期2009年1月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月30日
發(fā)明者塔潘·喬蒂·查克拉伯蒂, 姜辰煥, 布拉德?！ぜ鳌し短乇R勒, 米歇爾·波多蘭, 蘇勒什·戈雅爾 申請人:阿爾卡特朗訊美國公司