專利名稱：用于s波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，尤其是微波組件測試系統(tǒng)用的信號轉(zhuǎn)接 設(shè)備，具體地說是用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備。
背景技術(shù)：
雷達(dá)微波組件測試系統(tǒng)中，射頻模塊種類多，設(shè)備量大，此類模塊結(jié)構(gòu)復(fù)雜，并要 求嚴(yán)格的加電順序和控制時序，需要測試的參數(shù)包括增益、相位、功率、頻率、駐波、噪聲系 數(shù)、頻譜等，因此給測試帶來了極大的困難。以前傳統(tǒng)測試方法是利用單臺或幾臺儀器進(jìn)行 微波射頻模塊單個技術(shù)指標(biāo)的手動測試，測試時間長，效率低，易受到人為因素的干擾，測 試重復(fù)性差。因此，現(xiàn)有的測試系統(tǒng)無法滿足實時切換、靈活和可擴(kuò)展的要求。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是針對雷達(dá)微波組件測試系統(tǒng)中，射頻模塊種類多，設(shè)備量大， 此類模塊結(jié)構(gòu)復(fù)雜，并要求嚴(yán)格的加電順序和控制時序的問題，提出一種用于S波段雷達(dá) 微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備。本實用新型的技術(shù)方案是一種用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，它包括激勵信號控制單 元、被測件DUT、測試信號控制單元、現(xiàn)場可編程門陣列FPGA，激勵信號控制單元作為用于S 波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸入接收源信號，激勵信號控制單元的信號 輸出端與被測件DUT的信號輸出端相連，被測件DUT的信號輸出端與測試信號控制單元的 信號輸入端相連，激勵信號控制單元、被測件DUT和測試信號控制單元的控制信號輸入端 與現(xiàn)場可編程門陣列FPGA對應(yīng)的各控制信號輸出端相連，測試信號控制單元的信號輸出 端作為用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸出輸出各測試信號與相應(yīng) 的測試儀器相連。本實用新型的激勵信號控制單元包括信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊，所 述的信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊的信號輸入端分別作為激勵信號控制單元的 輸入接收各自對應(yīng)的源信號，信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊的各信號輸出端作為 激勵信號控制單元的輸出與被測件DUT的信號輸入端相連。本實用新型的測試信號控制單元包括通道駐波改善模塊、第一開關(guān)矩陣、衰減器 和第二開關(guān)矩陣，所述的通道駐波改善模塊作為測試信號控制單元的信號輸入端與被測件 DUT的信號輸出端相連，通道駐波改善模塊的信號輸出端與第一開關(guān)矩陣的信號輸入端相 連，第一開關(guān)矩陣的信號輸出端與衰減器的信號輸入端相連，衰減器的信號輸出端與第二 開關(guān)矩陣的信號輸入端相連，第二開關(guān)矩陣的信號輸出端作為測試信號控制單元的輸出即 用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸出輸出各測試信號與相應(yīng)的測試 儀器相連。本實用新型的有益效果
3[0009]本實用新型的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備是基于自動化測試思路來設(shè)計的，信號轉(zhuǎn)接專用 設(shè)備是構(gòu)建S波段雷達(dá)微波組件自動測試系統(tǒng)時實現(xiàn)開放性、靈活性和可擴(kuò)展性的關(guān)鍵設(shè) 備。信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備主要完成測試通道建立、信號調(diào)理、信號采集和取樣、測試端口適配 和被測件電源分配等功能。本實用新型的通道駐波改善模塊，使得通路駐波小于1. 2，通過駐波的改善，提高 了測試精度。本實用新型可實現(xiàn)微波模塊參數(shù)的自動測量功能，具有方便、靈活和可擴(kuò)展性高 的優(yōu)點。

圖1是本實用新型的原理框圖。圖2是本實用新型信號通道選擇模塊的電原理圖。圖3是本實用新型信號功能擴(kuò)展模塊的電原理圖。圖4是本實用新型通道駐波改善模塊的電原理圖。圖5是本實用新型第一開關(guān)矩陣、衰減器和第二開關(guān)矩陣的電原理圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進(jìn)一步的說明。如圖1所示，一種用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，它包括 激勵信號控制單元、被測件DUT、測試信號控制單元、現(xiàn)場可編程門陣列FPGA(型號為 EP2C8Q208)，激勵信號控制單元作為用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的 輸入接收源信號，激勵信號控制單元的信號輸出端與被測件DUT的信號輸出端相連，被測 件DUT的信號輸出端與測試信號控制單元的信號輸入端相連，激勵信號控制單元、被測件 DUT和測試信號控制單元的控制信號輸入端與現(xiàn)場可編程門陣列FPGA對應(yīng)的各控制信號 輸出端相連，測試信號控制單元的信號輸出端作為用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn) 接專用設(shè)備的輸出各測試信號與相應(yīng)的測試儀器相連。所述的被測件DUT為各種微波組 件，如發(fā)射模塊、接收模塊等。本實用新型的激勵信號控制單元包括信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊，所 述的信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊的信號輸入端分別作為激勵信號控制單元的 輸入接收各自對應(yīng)的源信號，信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊的各信號輸出端作為 激勵信號控制單元的輸出與被測件DUT的信號輸入端相連。本實用新型的測試信號控制單元包括通道駐波改善模塊、第一開關(guān)矩陣、衰減器 和第二開關(guān)矩陣，所述的通道駐波改善模塊作為測試信號控制單元的信號輸入端與被測件 DUT的信號輸出端相連，通道駐波改善模塊的信號輸出端與第一開關(guān)矩陣的信號輸入端相 連，第一開關(guān)矩陣的信號輸出端與衰減器的信號輸入端相連，衰減器的信號輸出端與第二 開關(guān)矩陣的信號輸入端相連，第二開關(guān)矩陣的信號輸出端作為測試信號控制單元的輸出即 用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸出各測試信號與相應(yīng)的測試儀器 相連。信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的前面板設(shè)計了 4個激勵輸入端口和2個輸出端口。4路激勵輸入是考慮到測試混頻器件時滿足其最多需要的激勵輸入信號通道，2路輸出端口是考慮 到小功率信號和大功率信號輸出，通過配置不同承受功率的衰減器和開關(guān)通道控制，用戶 可得到適當(dāng)?shù)男盘栞斎牍β屎洼敵龉β?。后面板設(shè)計了 5個源信號端口和8個測試信號輸 出端口，用戶可根據(jù)需要任意擴(kuò)展或減少源信號和測試信號端口。5個源信號通道是將S波 段微波模塊測試中可能用到的源信號，如信號源、矢網(wǎng)、噪聲源、脈沖信號發(fā)生器、可程控線 性放大器，通過激勵信號控制單元由前面板4激勵輸入端口組合輸出。8個測試信號端口接 到測試用儀器上如頻譜儀、功率計、頻率計、萬用表等。在S波段微波通路中，端口駐波是一 項非常重要的指標(biāo)要求，在本專用設(shè)備中根據(jù)頻段不同，采用了通道駐波改善模塊，使得通 路駐波小于1. 2，通過駐波的改善，提高了測試精度。本實用新型還包括電源單元，電源單元為被測件提供各組正負(fù)電壓，程控電源的 輸出電壓只能是單向電壓，通過電源單元電路可實現(xiàn)極性轉(zhuǎn)換。在操作上，用戶只需連接相 應(yīng)的輸入輸出端口，通過計算機(jī)的USB 口控制各測試儀器的GPIB或LAN接口，設(shè)置各儀器 的工作狀態(tài)，可實現(xiàn)微波模塊參數(shù)的自動測量功能。方便、靈活、可擴(kuò)展。本實用新型未涉及部分均與現(xiàn)有技術(shù)相同或可采用現(xiàn)有技術(shù)加以實現(xiàn)。
權(quán)利要求一種用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，其特征是它包括激勵信號控制單元、被測件DUT、測試信號控制單元、現(xiàn)場可編程門陣列FPGA，激勵信號控制單元作為用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸入接收源信號，激勵信號控制單元的信號輸出端與被測件DUT的信號輸出端相連，被測件DUT的信號輸出端與測試信號控制單元的信號輸入端相連，激勵信號控制單元、被測件DUT和測試信號控制單元的控制信號輸入端與現(xiàn)場可編程門陣列FPGA對應(yīng)的各控制信號輸出端相連，測試信號控制單元的信號輸出端作為用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸出輸出各測試信號與相應(yīng)的測試儀器相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，其特征 是所述的激勵信號控制單元包括信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊，所述的信號通道 選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊的信號輸入端分別作為激勵信號控制單元的輸入接收各自 對應(yīng)的源信號，信號通道選擇模塊和信號功能擴(kuò)展模塊的各信號輸出端作為激勵信號控制 單元的輸出與被測件DUT的信號輸入端相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，其特征 是所述的測試信號控制單元包括通道駐波改善模塊、第一開關(guān)矩陣、衰減器和第二開關(guān)矩 陣，所述的通道駐波改善模塊作為測試信號控制單元的信號輸入端與被測件DUT的信號輸 出端相連，通道駐波改善模塊的信號輸出端與第一開關(guān)矩陣的信號輸入端相連，第一開關(guān) 矩陣的信號輸出端與衰減器的信號輸入端相連，衰減器的信號輸出端與第二開關(guān)矩陣的信 號輸入端相連，第二開關(guān)矩陣的信號輸出端作為測試信號控制單元的輸出即用于S波段雷 達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸出輸出各測試信號與相應(yīng)的測試儀器相連。
專利摘要一種用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備，它包括激勵信號控制單元、被測件、測試信號控制單元、現(xiàn)場可編程門陣列FPGA，激勵信號控制單元作為用于S波段雷達(dá)微波組件測試的信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸入接收源信號，激勵信號控制單元的信號輸出端與被測件DUT的信號輸出端相連，被測件的信號輸出端與測試信號控制單元的信號輸入端相連，激勵信號控制單元、被測件和測試信號控制單元的控制信號輸入端與FPGA對應(yīng)的各控制信號輸出端相連，測試信號控制單元的信號輸出端作為信號轉(zhuǎn)接專用設(shè)備的輸出與相應(yīng)的測試儀器相連。本實用新型可實現(xiàn)微波模塊參數(shù)的自動測量功能，具有方便、靈活和可擴(kuò)展性高的優(yōu)點。
文檔編號G01S7/40GK201637844SQ20092028274
公開日2010年11月17日 申請日期2009年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月30日
發(fā)明者倪亦君, 楊為祿 申請人:南京國睿安泰信科技股份有限公司